- •1. Основные понятия и определения технической диагностики
- •2. Задачи технического диагностирования
- •4. Поиск неисправностей (дефектов) при которых решается проблема точного указания в объекте элемента или множества элементов, среди которых находится неисправный элемент.
- •Диагностирование в жизненном цикле технических объектов.
- •Энтропия системы
- •2. Если система, имеет n равновероятных состояний, то очевидно, что с увеличением числа состояний энтропия возрастает, но гораздо медленнее, чем число состояний.
- •3. Если система а имеет n возможных состояний, то энтропия будет максимальной в том случае, когда все состояния равновероятны.
- •Измерение информации
- •Диагностическая ценность признаков.
- •Математические модели аналоговых объектов.
- •Логические модели
- •Диаграммы прохождения сигналов
- •Топологические модели
- •9. Математические модели дискретных комбинационных объектов
- •10. Математические модели дискретных устройств с памятью
- •11. Тестовое диагностирование
- •12. Функциональное диагностирование
- •13. Функциональные схемы систем диагностирования
- •14. Алгоритмы диагностирования и методы их построения
- •15. Диагностические признаки и условия работоспособности
- •Определено множество состояний объекта s, т.Е. Совокупность диагностических признаков θ.
- •Существуют номинальные лучшие состояния, т.Е. Определены θном.
- •Отклонения работоспособных состояний от номинальных допускаются в определенных пределах , соответствующих диапазону (н - нижнее, в- верхнее значение).
- •16. Степени работоспособности
- •17. Методы контроля работоспособности
- •Метод, основанный на контроле совокупности диагностических параметров
- •Метод, основанный на контроле обобщенного диагностического параметра
- •Метод сравнения реакции объекта диагностирования и эквивалентной модели
- •18. Признаки и методы обнаружения дефектов
- •19. Алгоритмы поиска дефектов
- •20. Методы построения алгоритмов поиска дефектов. Методы, основанные на показателях надежности
- •Методы, основанные на анализе таблиц состояний
- •22. Человек-оператор в системе диагностирования
- •23. Типовые структуры и показатели систем диагностирования
- •24. Аппаратное обеспечение отказоустойчивости
- •1. Аппаратурное резервирование
- •2. Алгоритмическое обеспечение отказоустойчивости
- •Мажоритарные избыточные структуры.
- •1) Синтез многосвязных автоматических систем с жесткой структурой
- •2) Синтез многосвязных автоматических систем с гибкой структурой
- •26. Общие вопросы прогнозирования изменения технического состояния объектов
- •1) Прямое и обратное
- •27. Выбор прогнозирующих параметров
- •29. Диагностирование логических схем на функциональных элементах.
- •30. Диагностирование релейно-контактных схем.
- •31. Методы построения тестов для комбинационных схем.
- •32. Обнаружение коротких замыканий.
- •2. Последовательностный поиск, при котором кз, содержащее контур ос с четным числом инверсий, обнаруживается на последовательности входных наборов.
- •33. Контроль исправности электрического монтажа логических устройств
- •34. Обнаружение неисправностей вида «временная задержка»
- •35. Вероятностное тестирование
- •36. Диагностирование дискретных устройств с памятью. Построение диагностических и проверяющих тестов
- •37. Сигнатурный анализ
- •38. Методы сканирования
- •39. Структурные схемы функционального диагностирования комбинационных схем
- •1) Контроля входного вектора – выходы z1 и z2 принимают значения (0,1) или (1,0), если на входе тестера присутствует вектор кода nRp, и принимают значения (0,0) или (1,1) в противном случае;
- •2) Самопроверки – для любой неисправности схемы тестера из заданного класса существует входной вектор кода nRp, на котором выходы z1 и z2 принимают значения (0,0) или (1,1).
- •1) Синтез дополнительного блока g(X) с наименьшей сложностью.
- •40. Методы контроля, использующие свойства кода.
- •41. Обнаружение неисправностей в схемах с памятью.
- •42. Организация тестового диагностирования мпс
- •43. Тестирование программ.
- •44. Средства функционального диагностирования мпс
- •45. Постановка задачи диагностирования.
- •46. Вероятностные методы.(метод байеса)
- •47. Логическая модель непрерывной системы.
2) Самопроверки – для любой неисправности схемы тестера из заданного класса существует входной вектор кода nRp, на котором выходы z1 и z2 принимают значения (0,0) или (1,1).
С функциональной точки зрения СПТ представляет собой комбинационную схему, осуществляющую преобразование кода nRp в равновесный код «1 из 2» (код 2Сl).
Рисунок 4 – Самопроверяемый тестер
Для тестеров введены следующие характеристики:
- сложность L – суммарное число входов логических элементов, входящих в структуру тестера;
- число уровней схемы r (характеризует быстродействие) – максимальное число элементов, через которые проходит путь в схеме тестера, связывающий его вход с выходом;
- длина проверяющего теста t (характеризует контролепригодность) – число слов кода пRp, поступление которых на вход тестера обеспечивает обнаружение в его структуре всех неисправностей из заданного класса на основе свойства самопроверки.
При построении структур функционального диагностирования КС решаются следующие основные проблемы:
1) Синтез дополнительного блока g(X) с наименьшей сложностью.
2) Обеспечение обнаружения максимального числа неисправностей в основном блоке f(х), а также по возможности и в блоке g(х) и компараторе. При этом учитывается, что неисправности в блоке g(x) и компараторе не оказывают непосредственного влияния на рабочие выходы (см. рисунок 1) всего устройства, а следовательно, и на работу объектов управления. Поэтому обеспечение обнаружения неисправностей в основном блоке f(х) рассматривается как основная задача.
3) Обеспечение полного контроля компаратора. Эта задача важна, так как компаратор в системе контроля является «последним сторожем». Для ее решения требуется поступление на вход компаратора проверяющего теста, который формируется на выходах блоков f(х) и g(x).
4) Обеспечение необходимого быстродействия схемы контроля. Как видно из рисунка 1, компаратор может выработать сигнал ошибки только после того, как на его входы поступят сигналы с выходов основного блока f(х), которые также непосредственно подаются на рабочие выходы y1, …, ym всего устройства. Поэтому время формирования сигнала ошибки должно быть меньше времени восприятия объектами управления сигналов с рабочих выходов. При этом решающее значение имеет быстродействие компаратора.
На практике часто ограничиваются требованием обнаружения одиночных константных неисправностей, так как при рабочем функционировании устройства одновременное возникновение двух и более неисправностей маловероятно. Кроме того, увеличение кратности обнаруживаемых неисправностей вызывает, как правило, усложнение структуры дополнительного блока g(x). Допускается также применение несамопроверяемого компаратора, если сложность самопроверяемого компаратора оказывается очень большой. С другой стороны, если сложность компаратора во много раз меньше сложности исходного блока f(х), то вероятностью отказа компаратора можно пренебречь и также применить несамопроверяемый компаратор.
