- •1. Основные понятия и определения технической диагностики
- •2. Задачи технического диагностирования
- •4. Поиск неисправностей (дефектов) при которых решается проблема точного указания в объекте элемента или множества элементов, среди которых находится неисправный элемент.
- •Диагностирование в жизненном цикле технических объектов.
- •Энтропия системы
- •2. Если система, имеет n равновероятных состояний, то очевидно, что с увеличением числа состояний энтропия возрастает, но гораздо медленнее, чем число состояний.
- •3. Если система а имеет n возможных состояний, то энтропия будет максимальной в том случае, когда все состояния равновероятны.
- •Измерение информации
- •Диагностическая ценность признаков.
- •Математические модели аналоговых объектов.
- •Логические модели
- •Диаграммы прохождения сигналов
- •Топологические модели
- •9. Математические модели дискретных комбинационных объектов
- •10. Математические модели дискретных устройств с памятью
- •11. Тестовое диагностирование
- •12. Функциональное диагностирование
- •13. Функциональные схемы систем диагностирования
- •14. Алгоритмы диагностирования и методы их построения
- •15. Диагностические признаки и условия работоспособности
- •Определено множество состояний объекта s, т.Е. Совокупность диагностических признаков θ.
- •Существуют номинальные лучшие состояния, т.Е. Определены θном.
- •Отклонения работоспособных состояний от номинальных допускаются в определенных пределах , соответствующих диапазону (н - нижнее, в- верхнее значение).
- •16. Степени работоспособности
- •17. Методы контроля работоспособности
- •Метод, основанный на контроле совокупности диагностических параметров
- •Метод, основанный на контроле обобщенного диагностического параметра
- •Метод сравнения реакции объекта диагностирования и эквивалентной модели
- •18. Признаки и методы обнаружения дефектов
- •19. Алгоритмы поиска дефектов
- •20. Методы построения алгоритмов поиска дефектов. Методы, основанные на показателях надежности
- •Методы, основанные на анализе таблиц состояний
- •22. Человек-оператор в системе диагностирования
- •23. Типовые структуры и показатели систем диагностирования
- •24. Аппаратное обеспечение отказоустойчивости
- •1. Аппаратурное резервирование
- •2. Алгоритмическое обеспечение отказоустойчивости
- •Мажоритарные избыточные структуры.
- •1) Синтез многосвязных автоматических систем с жесткой структурой
- •2) Синтез многосвязных автоматических систем с гибкой структурой
- •26. Общие вопросы прогнозирования изменения технического состояния объектов
- •1) Прямое и обратное
- •27. Выбор прогнозирующих параметров
- •29. Диагностирование логических схем на функциональных элементах.
- •30. Диагностирование релейно-контактных схем.
- •31. Методы построения тестов для комбинационных схем.
- •32. Обнаружение коротких замыканий.
- •2. Последовательностный поиск, при котором кз, содержащее контур ос с четным числом инверсий, обнаруживается на последовательности входных наборов.
- •33. Контроль исправности электрического монтажа логических устройств
- •34. Обнаружение неисправностей вида «временная задержка»
- •35. Вероятностное тестирование
- •36. Диагностирование дискретных устройств с памятью. Построение диагностических и проверяющих тестов
- •37. Сигнатурный анализ
- •38. Методы сканирования
- •39. Структурные схемы функционального диагностирования комбинационных схем
- •1) Контроля входного вектора – выходы z1 и z2 принимают значения (0,1) или (1,0), если на входе тестера присутствует вектор кода nRp, и принимают значения (0,0) или (1,1) в противном случае;
- •2) Самопроверки – для любой неисправности схемы тестера из заданного класса существует входной вектор кода nRp, на котором выходы z1 и z2 принимают значения (0,0) или (1,1).
- •1) Синтез дополнительного блока g(X) с наименьшей сложностью.
- •40. Методы контроля, использующие свойства кода.
- •41. Обнаружение неисправностей в схемах с памятью.
- •42. Организация тестового диагностирования мпс
- •43. Тестирование программ.
- •44. Средства функционального диагностирования мпс
- •45. Постановка задачи диагностирования.
- •46. Вероятностные методы.(метод байеса)
- •47. Логическая модель непрерывной системы.
46. Вероятностные методы.(метод байеса)
Одним из наиболее простых и эффективных вероятностных методов технической диагностики при наличии достаточного объема статистических данных является метод, основанный на использовании обобщенной формулы Байеса.
Пусть диагностируемая система может находиться в одном из состояний (диагнозах) D1, D2, ... , Dn, которые образуют полную группу несовместных событий. Это означает, что одновременно может быть поставлен только один диагноз Di. Из опыта эксплуатации подобных систем известны вероятности P(Di) нахождения системы в состоянии Di. Вероятность P(Di) называется априорной вероятностью диагноза. Так, если ранее наблюдалось N систем и у Ni систем имелось состояние Di, то
P(Di) = Ni/N. (8.1)
При этом
(8.2)
Пусть работа данной системы характеризуется диагностическим параметром yj. Событие (признак) kj («выход параметра yj за допустимые пределы») возникает при переходе системы в некоторые состояния Di (при возникновении дефектов). Из опыта эксплуатации должны быть известны вероятности P(kj / Di) появления признака kj у системы в состоянии Di. Так, если ранее среди Ni систем, имеющих диагноз Di, признак kj наблюдался у Nij систем, то
P(kj / Di) = Nij / Ni. (8.3)
Теперь задача диагноза может быть сформулирована следующим образом. У системы наблюдается признак kj, т.е. отклонился за допустимые пределы диагностический параметр yj. В каком состоянии Di находится система с наибольшей вероятностью?
Обозначим через P(Di / kj) — вероятность того, что система находится в состоянии Di, если наблюдается признак kj. Эта вероятность называется апостериорной вероятностью диагноза. Ее определение и является целью диагноза. Вероятность того, что система находится в состоянии Di и имеет признак kj), обозначим через P(Di kj). Тогда имеет место равенство
P(Di kj) = P(Di)∙P(kj / Di) = P(kj)∙P(Di / kj) (8.4)
где P(kj) — вероятность появления признака kj независимо от состояния системы.
Из формулы (8.4) следует формула Байеса
P(Di / kj) = P(Di)∙P(kj / Di) / P(kj) (8.5)
В формуле (8.5) величины P(Di) и P(kj / Di) должны быть известны из статистических данных, полученных в процессе эксплуатации. Найдем величину P(kj). Событие kj возникает вместе с одним из несовместных событий D1, D2, ... , Dn. Поэтому
P(kj)
= P(D1
kj)
+ P(D2
kj)
+ … + P(Dn
kj)
=
.
(8.7)
Формула (8.7) является формулой полной вероятности события kj, происходящего вместе с полной группой независимых событий. С учетом (8.7) формула Байеса принимает вид (8.8):
Из (8.8) следует, что (8.9):
т. е. сумма апостериорных вероятностей диагноза для данного признака kj равна 1.
Обобщенная формула Байеса применяется, если диагностируемая система характеризуется множеством параметров {y1,y2,… yj…,yn} и в результате измерений становится известен вектор признаков К* = (k1*, k2*,… kj*…, kn*). Здесь знак «*» означает конкретную реализацию признака kj. Тогда формула (8.8) принимает вид (обобщенная формула Байеса) (8.11):
где P(Di /К*) – апостериорная вероятность диагноза после того, как стали известны результаты измерений по вектору признаков K. При условии независимости диагностических признаков величина P(K*/Dj) рассчитывается по формуле: P(K* / Di) = P(K1* / Di)∙ P(K2* / Di)… P(Kn* / Di) (8.12)
При использовании метода Байеса составляется диагностическая таблица на основе статистического материала. В ней для каждого диагноза Di указывается значение априорной вероятности этого диагноза [в столбце P(Di)] и вероятностей появления разрядов признаков [в столбцах P(kjs / Di)].
Если обследуется новая система и устанавливается ее диагноз Dt (t {1, 2,...,n}), то производится корректировка прежних априорных вероятностей диагнозов по формулам (8.13):
Таким образом, решающее правило, в соответствии с которым принимается решение о диагнозе в методе Байеса, состоит в следующем: система с вектором признаков K* относится к диагнозу Di с наибольшей (апостериорной) вероятностью P(Di /К*), т.е. для диагноза Di выполняется условие
P(Di /К*) = max. (8.15)
Условие (8.15) может быть дополнено пороговым значением для вероятности диагноза:
P(Di /К*) ≥ Pi, (8.16)
где Pi – установленный уровень распознавания для диагноза Di.
