- •Раздел 1
- •1 Интенсивность (количество) излучения
- •2 Расстояние
- •3 Толщина
- •4 Плотность материала
- •5 Качество излучения
- •6 Тип пленки
- •7 Усиливающие экраны
- •8 Проявка
- •Методика дефектоскопии
- •Охват исследуемой области
- •Методика использования нескольких пленок (multiple film technique)
- •Размер фокального пятна и геометрические принципы
- •Оценка размеров источника
- •Проекция микроканала
- •Радиационная безопасность Ионизация
- •Симптомы радиационного поражения.
- •Средства защиты
- •Требования к средствам защиты
- •Выявление радиоактивного излучения
- •Единицы измерения радиоактивности
- •Практические меры защиты
- •Определение периметра опасной зоны для радиографических операций на местах
- •Расчет безопасного расстояния от экранированного источника
- •Пример:
1 Интенсивность (количество) излучения
Время экспонирования рассчитывается для конкретного образца после учета всех факторов, перечисленных на предыдущей странице. Очевидно, что источник в 20 кюри даст необходимую плотность за более короткое время, чем источник в 10 кюри. Аналогично чтобы получить заданную плотность пленки для источника 4 мА потребуется меньшее время экспонирования, чем для источника 2 мА. Следовательно, мы будем рассчитывать экспонирование в мА-минутах и кюри-минутах, что в дальнейшем позволит нам использовать любую активность источника или значения мА для получения необходимого сочетания интенсивность x время.
2 Расстояние
Закон уменьшения обратно пропорционально квадрату расстояния
Если расстояние между источником и пленкой изменится, то изменится и количество излучения, падающего на пленку. Это вызвано расхождением луча. Интенсивность излучения в любой точке обратно пропорционально квадрату расстояния от источника.
Как видно из рисунка, при расстоянии 2d от источника луч излучения распространяется, чтобы покрыть участок (b), в четыре раза превышающий расстояние d [участок (a)].
В результате интенсивность излучения на растоянии 2d будет 1/2 расстояния d.
На практике это можно применить с использованием следующей формулы:
Например, если образец был первоначально экспонирован при 2 м с использованием 16 мА-минут и расстояние от источника до пленки (РИП) изменилось до 4 метров, можно рассчитать новое экспонирование:
=16
x
=
16 x
= 64 мА-минутs
3 Толщина
Слой полуцелого значения
При увеличении толщины образца количество излучения, проникающего в образец, снижается из-за поглощения. Слой полуцелого значения (СПЗ) образца – это толщина, необходимая для поглощения половины падающего излучения. Слой полуцелого значения для определенного материала зависит от получаемой энергии излечения.
Слой значения в одну десятую
Это толщина материала, необходимая для снижения интенсивности излучения до 1/10.
-
Энергия
Свинец
Бетон
Сталь
HVT
мм
TVT
мм
HVT
мм
TVT
мм
HVT
мм
TVT
мм
Рентг. лучи
50 кВ
0,07
0,25
9
14
0,5
1,5
Рентг. лучи
100 кВ
0,30
1,0
17
54
2
5,5
Рентг. лучи
150 кВ
0,30
1,0
22
70
4
13
Рентг. лучи
200 кВ
0,45
1,4
26
86
6
19
Рентг. лучи
250 кВ
1,0
3,2
28
90
12
36
Рентг. лучи
300 кВ
1,5
4,9
30
102
15
45
Гамма-лучи
Ir 192
5,5
19,0
43
140
13
43
Гамма-лучи
Co60
11
40
63
203
20
67
