Методика дефектоскопии
Одна стенка – одно изображение (Single Wall, Single Image (SWSI))
Данная методика является стандартным и наиболее часто применяемым методом радиографии. Она может использоваться как для плоских образцов, так и для труб. Методика, применяемая для труб, включает панорамный, «источник внутри – пленка снаружи» метод или, в случае, если геометрия объекта не позволяет расположить источник таким образом, он располагается на расстоянии от центра отверстия, в данном случае для полного охвата потребуется несколько экспозиций. Допустимо также располагать пленку внутри, а источник снаружи.
Две стенки – два изображения (Double Wall, Double Image (DWDI))
Данная методика применима для труб с наружным диаметром до 90мм. Данная методика предусматривает плоское размещение пленки и размещение источника радиации со смещением от перпендикуляра к сварному шву примерно на 1/5 SFD (расстояние от пленки до источника). Излучение проходит сквозь обе стенки наклонно, образуя эллиптическое изображение, позволяющее проанализировать обе стороны сварного шва. Обычно требуется три экспозиции под углом 120, но ряд технологий предусматривает большее количество экспозиций.
Две стенки – одно изображение
Для труб, наружный диаметр которых превышает 90мм и доступ внутрь отверстия невозможен, применимы две методики: контактный метод (источник непосредственно рядом с трубой) и метод со смещением источника (offset method). В любом случае пленка располагается на наиболее удаленной стороне трубы, а источник располагается таким образом, чтобы изображение сварного шва на стороне источника не попадало на снимок, и на снимке появлялось бы только изображение сварного шва на стенке трубы, обращенной к пленке.
Контактный метод применим для труб с большим внутренним диаметром.
Охват исследуемой области
Вследствие кривизны поверхности труб длина диагностической пленки ограничена вследствие потери оптической плотности за счет увеличения толщины образца, через которую должно проходить излучение. При расчете количества снимков следует обращаться к соответствующим стандартам. Следует принять во внимание следующие параметры SFD OFD и толщину стенок. Для обеспечения полного охвата все пленки должны быть уложены внахлест, и, по меньшей мере, на 35 мм заходить друг на друга.
Методика использования нескольких пленок (multiple film technique)
Несколько пленок обычно используются в том случае, когда необходимо получить радиографическое изображение образца, имеющего различную толщину, за одну экспозицию. В кассету может быть заложено более двух пленок одинаковой или различной светочувствительности. При использовании пленок одинаковой светочувствительности, пленка, которая дальше от источника может засвечиваться слабее из-за дополнительной защиты и, следовательно, может быть использована для анализа более тонкого участка объекта. При использовании различных пленок, пленка с меньшей светочувствительностью может быть использована для анализа более тонких участков объекта, а пленка с большей светочувствительностью – для более толстых. Дополнительным преимуществом от использования нескольких пленок является меньшая вероятность повреждения большего количества пленок и, следовательно, большая вероятность получения качественных снимков.
В ряде случаев закладка нескольких пленок в одну кассету является не только возможным, но и необходимым. Может быть заложено более двух пленок одинаковой или различной светочувствительности в различных комбинациях в зависимости от причин использования многопленочной методики.
Методика использования нескольких пленок должна применяться в следующих случаях:
Чтобы избежать повреждения всех снимков при проявке
Для предоставления одинаковых снимков клиенту и проверяющей стороне.
Для отображения образца, имеющего различную толщину за одну экспозицию. Для данного метода используется две или более пленки с различной светочувствительностью для различных участков образца, Для дешифровки затем будет использоваться только участки пленок, на которые попали соответствующие по толщине участки образца.
Дифракция
Дифракция – это эффект рассеяния пуска радиации внутри образца. Обычно это явление наблюдается для излучения малой энергии в крупнозернистых структурах, таких как отливки или изделия из нержавеющей стали.
Последствия дифракции могут проявляться на снимках либо как эффект пылинок, либо как резкие дефекты, похожие на трещины.
Обычно влияние дифракции снижается путем повышения энергии излучения.