- •Министерство образования и науки украины Национальний аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского «Харьковский авиационный институт»
- •Рекомендации по методике проведения лабораторных работ
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2 2 Dsin . Следовательно, разность фаз суммарных колебаний от
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения задания 1
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения задания 1
- •Порядок выполнения задания 2
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •6. Для каждой определенной длины волны вычислить постоянную Ридберга
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы Задание 1. Измерение вах фотосопротивления
- •Основные физические постоянные
- •Библиографический список
- •Мігаль Валерій Павлович, Луньов Ігор Валентинович, Абашин Сергій Леонідович та ін.
Рекомендации по методике проведения лабораторных работ
Выполнение работы состоит из трех основных этапов.
Внелабораторная самостоятельная подготовка студентов включает в себя изучение теории, установки, отдельных приборов и узлов по описа-нию, чертежам и схемам, а также поиск информации в Интернете по клю-чевым терминам. Этот этап заканчивается подготовкой информационной части отчета, которая содержит: номер и название работы; цели работы; основные расчетные формулы с расшифровкой величин; составление блок-схемы установки, принципиальных схем отдельных блоков и узлов, форм таблиц для записи результатов измерений и их обработки; милли-метровки для графиков.
Работа в лаборатории начинается с изучения характеристик отдель-ных приборов и узлов, сопоставления их с блок-схемой и уяснения взаи-модействия этих приборов и узлов. Их основные характеристики записы-ваются в отчет. Затем устанавливается оптимальный режим работы при-боров и установки и проводятся измерения с учетом возможностей прибо-ров и ожидаемого результата.
Полученные результаты обрабатываются и анализируются, т.е. со-поставляются с теорией, табличными данными или с оценкой порядка ис-комой величины. Определяются абсолютная и относительная погрешно-сти, а также источники систематических погрешностей. В конце работы делается краткий вывод о том, что и каким методом определялось, приво-дятся данные результатов и измерений (расчетов) с указанием погрешно-стей.
3
Лабораторная работа № 3-01
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ СТЕКЛА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫМ МЕТОДОМ
Цель работы: определить показатель преломления стекла, используя явление интерференции света в стеклянной плоскопараллельной пластине.
Приборы и принадлежности: неоновый лазер ЛГ-72 (длина волны излуче-ния = 6328 Å) с источником питания ИП-13; стеклянная плоскопараллельная пластина; матовый экран с короткофокусной линзой.
Теоретическое введение
Рассмотрим интерференцию света при отражении от тонкой плоскопа-
-
раллельной
пластины
(рис. 1.1).
На пластину толщи-
ной h падает параллель-
ный
монохроматический
пучок
света
1 с длиной
волны . Пластина отра-
жает вверх два параллель-
ных пучка света, один из
которых (пучок 2) образует-
ся в результате отражения
от верхней
поверхности
Рис. 1.1
пластины, другой (пучок 2 )
–
вследствие
отражения от нижней поверхности (на
рисунке каждый из этих пучков представлен
толь-ко одним лучом). При входе в пластину
и при выходе из нее пучок 2 пре-терпевает
преломление. Лучи 2 и 2 когерентны, т.к.
они идут от одного источника света.
Оптические длины путей лучей 1 и 2 до точки наблюдения С отсчи-тываются от фронта падающей волны АВ. Оптическая разность хода этих
лучей |
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
||
2h n 2 sin 2 |
|
|
||||
|
, |
(1.1) |
|
|||
|
|
|||||
2
где h – толщина пластины; n – показатель преломления стеклянной пла-стины; – длина волны света; – угол, под которым луч падает к нор-мали поверхности.
Если разность хода лучей равна четному числу полуволн, то свето-вые лучи при наложении будут усиливать друг друга. Если же равна не-четному числу полуволн, то эти лучи будут взаимно ослабляться. Поэтому
4
условия максимумов и минимумов интенсивности света, отраженного от пло-скопараллельной пластины, имеют такой вид:
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
2h n 2 |
sin 2 |
|
( 2 m 1) |
|
– условие максимума; |
(1.2) |
|
||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|||||||||
2h |
|
n 2 sin 2 |
m – условие минимума, |
(1.3) |
|
||||||||||||||
где m – целое число (m = 0; ±1; ±2…). |
|
|
|||||||||||||||||
На рис. |
1.2 |
изображена |
оптическая схема |
установки, где |
|
||||||||||||||
1
- лазер; 2 - короткофокусная линза; 3 -
экран; 4 - плоскопараллельная пла-стина.
Рис. 1.2
Большая пространственная и временная когерентность лазерного излучения позволяет применять лазерный световой пучок мощностью в несколько милливатт для наблюдения интерференционных полос равного наклона в достаточно толстой плоскопараллельной пластине.
Для наблюдения интерференции в отраженном свете используют со-бирающую линзу 2 и экран 3, расположенный в фокальной плоскости лин-зы (рис 1.2). Если поверхности пластины строго параллельны, то в зави-симости от угла падения монохроматического света на экране будет наблюдаться интерференционная картина, которая имеет вид чередую-щихся темных и светлых полос. Каждой из этих полос соответствует определенное значение угла падения , поэтому образующиеся линии называются линиями равного наклона.
В случае, если оптическая ось линзы перпендикулярна поверхности пластины, полосы равного наклона имеют вид концентрических колец с центром в главном фокусе линзы.
Условие m-минимума при интерференции в отраженном свете мож-но выразить через угол преломления :
-
2hncos m m .
(1.4)
Для другого минимума, отстоящего от m-го на k
порядков, запишем
5
аналогично:
2hncos m k (m k ) .
Взяв разность этих выражений, получим
2hn cos m k cos m k .
Для малых углов m k и m |
функции cos m k |
и cos m |
|
||||
ряд и ограничимся первым приближением cos 1 |
|
2 |
, тогда |
|
|||
|
|
||||||
|
|
|
|||||
2 |
|
||||||
|
|
β 2 m+k β2m |
|
|
|
||
cosβ m+k cosβ m |
= |
. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
2 |
|
|
|
|
|
|
(1.5)
разложим в
(1.6)
Угол преломления связан с углом падения (для малых углов) следу-ющим образом:
n= |
sinαm |
= |
|
αm |
. |
(1.7) |
|
||||||||||
|
|
|
|
||||||||||||||
|
sinβ m |
βm |
|
|
|||||||||||||
Из ОВС, изображенного на рис. 1.2, следует, что |
|
||||||||||||||||
α |
m |
= |
Rm |
, |
(1.8) |
|
|||||||||||
|
|
||||||||||||||||
|
|
|
2L |
|
|
L – расстояние от стек- |
|
||||||||||
где Rm – радиус темного кольца m-гo порядка; |
|
||||||||||||||||
лянной пластины до экрана.
Подставив формулы (1.6) – (1.8) в соотношение (1.5), получим
-
n=
h(R 2
m+k
R 2
m
)
(1.9)
.
4kL2λ
Измерив радиусы двух темных интерференционных колец, толщину пластины и расстояние между пластиной и экраном, по формуле (1.9) можно рассчитать показатель преломления стекла.
