Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Migal_Optika (2).DOCX
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
  • двух щелей?

    1. Объясните, как в данной работе определяется расстояние между центрами двойной щели.

    Вариант 2

    1. Сформулируйте принцип Гюйгенса – Френеля.

    2. Выведите рабочую формулу для определения ширины щели в данной

    работе.

    1. Как выглядит дифракционная картина, если щель освещена па-раллельными лучами белого света?

    1. Какое свойство излучения лазера позволяет наблюдать дифрак-цию на простой установке, описанной в данной работе?

    19

    Лабораторная работа № 3-07

    ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ С ПОМОЩЬЮ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ, ОПТИЧЕСКОЙ СКАМЬИ И ДВУХ ЩЕЛЕЙ

    Цель работы: определить длину световой волны с помощью ди-фракционной решетки.

    Приборы и принадлежности: оптическая скамья; фонарь с двумя щелями; дифракционная решетка; светофильтры.

    Теоретическое введение

    В результате интерференции световых лучей, прошедших через ди-фракционную решетку, наблюдается усиление света при условии, что раз-ность хода лучей, идущих из соседних щелей решетки, равна целому числу волн:

    d sin m (m = 0, ±1, ±2,…), (7.1)

    где d – постоянная решетки.

    Для вычисления длины волны нужно знать sin , где – угол, соот-ветствующий дифракционному максимуму.

    Рассмотрим метод, с помощью которого определяется длина световой волны в данной лабораторной работе.

    На рис. 7.1 изображена схема наблюдения интерференционной кар-тины, здесь АО – оптическая ось; RR – дифракционная решетка.

    Рис. 7.1

    Световые потоки от щелей S1 и S2 (рис. 7.1, а) при прохождении че-рез дифракционную решетку дают два дифракционных спектра, смещен-ных относительно друг друга (рис. 7.1, б).

    Перемещая дифракционную решетку вдоль оптической скамьи, можно добиться совмещения левого дифракционного изображения щели S1 с правым дифракционным изображением щели S2. Совместим спектр

    20

    первого порядка одной щели со спектром m = -1 порядка другой щели (см. рис. 7.1, б). В этом случае положение совмещенных изображений ще-лей в глазе наблюдателя находится как раз на оси оптической скамьи. Мнимое изображение совмещенных спектров наблюдатель видит посере-дине между S1 и S2. Из прямоугольного треугольника OS1A определим

    tg

    OS1

    S1 S 2

    .

    (7.2)

    AO

    2AO

    По полученному значению tg находим , а с помощью таблиц – sin . Общий вид установки изображен на рис. 7. 2, где 1 – фонарь с двумя вырезами; 2 – оптическая скамья; 3 – дифракционная решетка; 4 – свето-

    фильтр.

    Рис. 7.2

    Источником света является фонарь, имеющий два выреза в виде уз-ких щелей S1 и S2. Щели расположены на равном расстоянии от оптиче-ской скамьи слева и справа. Для удобства наблюдений они прорезаны на разной высоте. Низ верхней щели лежит на том же уровне, что и верх нижней щели. Дифракционная решетка укреплена на подвижном рейтере.

    Порядок выполнения работы

    1. Включить фонарь, поставить светофильтр перед дифракционной ре-шеткой 3.

    2. Глядя через дифракционную решетку и поверх нее, установить, какие два изображения щелей соответствуют прямым лучам, т.е. являют-ся спектрами нулевого порядка. Эти лучи наиболее яркие.

    1. Переместить рейтер с дифракционной решетки на такое расстоя-ние от фонаря, чтобы в точке 0 (см. рис. 7.1) мнимые изображения щелей

    первого порядка (m = 1) лежали друг над другом.

    4. Измерить расстояние A0 от фонаря до дифракционной решетки и расстояние S1S2 между центрами щелей. По формуле (7.2) определить tg 1. По значению tg 1 найти sin . Подставив sin в формулу (7.1), вычис-лить длину волны для m = 1.

    5. Повторить опыт таким образом, чтобы спектры второго порядка (m = 2 и m = -2) совпали. По формулам (7.1) и (7.2) вычислить и, если

    21

    возможно, выполнить опыт со спектрами третьего порядка и вычислить

    .

    6. Найти

    .

    ср

    3

    1. Выполнить измерения с другим светофильтром и определить длину волны пропускаемого света.

    1. Убрать светофильтр, зарисовать результат дифракции белого света (нулевого, первого и второго порядков) с соблюдением масштаба и указать цвета.

    1. Проанализировать полученные результаты и сделать выводы. Примечание. Прикасаться пальцами к рабочей поверхности

    дифракционной решетки запрещается. Постоянная d дифракционной решетки указана на оправе решетки.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Что называется дифракцией? Перечислите виды дифракции.

    2. Что называется постоянной дифракционной решетки?

    3. Нарисуйте и объясните дифракционную картину при освещении дифракционной решетки белым светом.

    1. В чем заключается метод зон Френеля?

    Вариант 2

    1. Сформулируйте принцип Гюйгенса – Френеля.

    2. Что будет наблюдаться в центре дифракционной картины при ди-фракции Френеля в расходящихся лучах?

    1. Нарисуйте оптическую схему установки для наблюдения дифрак-ционных спектров. Что выполняет функцию собирающей линзы?

    1. Почему дифракционную решетку для световых лучей нельзя ис-пользовать для рентгеновских лучей?

    Лабораторная работа № 3-08

    ИССЛЕДОВАНИЕ ЯВЛЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТА

    Цель работы: изучить поляризацию света в системе поляризатор – анализатор; проверить закон Малюса; определить степень поляризации света при прохождении через поляризатор; определить показатель пре-ломления стекла с помощью закона Брюстера.

    Приборы и принадлежности: оптическая скамья; лампа накаливания в качестве источника света; источник питания, который позволяет регули-ровать напряжение, подаваемое на источник света; два поляроида; чер-

    22

    ное зеркало на поворотном столике; фотоэлемент, который помещен внутри цилиндрического черного колпачка для защиты от бокового осве-щения; микроамперметр.

    Задание 1. Изучение закона Малюса

    Методика эксперимента

    Схема установки для экспериментальной проверки закона Малюса изображена на рис. 8.1, где 1 – источник света; 2 – поляризатор; 3 – ана-лизатор; 4 – фотоэлемент, 5 – микроамперметр.

    Приемником света является фотоэлемент, величина фототока кото-рого пропорциональна интенсивности падающего на него света.

    Рис. 8.1

    Интенсивность света, прошедшего через систему идеальных поляризатора и анализатора, определяется законом Малюса

    I = I 0 cos2 ,

    где I0 – интенсивность света, прошедшего через поляризатор; – угол

    между главными плоскостями поляризатора 2 и анализатора 3.

    В работе в качестве поляризатора и анализатора применяются по-ляроиды, степень поляризации Р которых порядка 0,99. Так как поляроиды не обеспечивают полной поляризации света, то закон Малюса имеет вид

    I = I 1 + I 0 cos2 ,

    где I1 – интенсивность неполяризованного светового пучка, прошедшего через систему; I0 – интенсивность поляризованного света. При этом сте-пень поляризации света определяется выражением

    P =

    I max - Imin

    ,

    (8.1)

    I max + Imin

    где Imax и Imin – максимальная и минимальная интенсивности света, со-

    ответствующие двум взаимно перпендикулярным направлениям колеба-ний в световом потоке.

    23

    Исследуя зависимость интенсивности света I, прошедшего через си-стему поляризатор – анализатор, от cos2α , можно проверить закон Малю-са.

    Порядок выполнения задания 1

    1. Установить приборы на оптической скамье, как показано на рис. 8.1.

      1. Включить в сеть блок питания источника света 1.

      2. Включить в сеть блок питания фотоэлемента 4, который подключен к микроамперметру 5.

      1. Расположить на оптической скамье источник света, поляроиды и фо-тоэлемент так, чтобы их оптические оси лежали на одной прямой.

      1. Установить расстояние между источником и фотоэлементом не ме-нее 0,3 м.

      1. Подобрать подаваемое на источник света напряжение (регулирует-ся ручкой на блоке питания) и предел измерения микроамперметра (нажа-тием определенной клавиши на нем) так, чтобы стрелка микроамперметра не выходила за пределы шкалы.

      1. Совместить стрелку на оправе анализатора с нулем шкалы, имею-щейся на анализаторе.

      1. Вращая поляризатор, добиться максимальной величины ин-тенсивности света, прошедшего через оба поляроида. Этому соответствует максимальная величина регистрируемого микроамперметром фототока.

      1. Максимальное отклонение стрелки микроамперметра должно находиться в пределах последней четверти шкалы микроамперметра. При необходимости следует вернуться к п. 6.

    1. Поворачивая анализатор в интервале 0 ... 180 , через каждые 10 измерять величину фототока. Полученные данные занести в таблицу.

    1. Построить график зависимости фототока I от cos2α.

    2. По формуле (8.1) вычислить степень поляризации света Р, про-шедшего через анализатор.

    1. Проанализировать зависимость фототока I от cos2α.

    2. Сделать выводы.

    Задание 2. Определение показателя преломления диэлектрика по углу Брюстера

    При падении светового луча, распространяющегося в воздухе, на полированную поверхность диэлектрика под углом Брюстера iБ отражен-

    ный луч становится полностью поляризованным. Угол iБ определяется из закона Брюстера tgi Б = n21, где n21 – показатель преломления диэлектрика относительно воздуха (рис. 8.2).

    24

    Рис. 8.2

    Порядок выполнения работы

    1. Снять анализатор и на его место поставить столик с черным зерка-лом, которое может вращаться вокруг вертикальной оси.

    2. Вращая столик, установить плоскость зеркала перпендикулярно па-дающему лучу, а указатель на лимбе столика за зеркалом на отметке 0

    или 180 .

    1. Повернуть зеркало на некоторый угол (~40...50 ) и, вращая поляри-затор, визуально наблюдать отраженное от зеркала изображение источ-ника света. Зафиксировать поляризатор в положении, при котором интен-сивность отраженного луча будет минимальной.

    1. Вращая столик с черным зеркалом влево – вправо, добиться еще больше-го уменьшения интенсивности изображения источника. Продолжать поочеред-ное вращение поляризатора и столика с черным зеркалом до тех пор, пока интенсивность изображения источника (отраженного луча) станет мини-

    мальной. (Поскольку в данной работе поляризатор не идеален, то мож-но добиться только минимальной интенсивности отраженного луча (вместо полного ее отсутствия). Это возможно при одновременном

    выполнении двух условий: 1) в падающем свете вектор E колеблется в плоскости падения света на зеркало; 2) угол падения равен углу Брю-стера.)

    1. Отметить положение зеркала по указателю на лимбе. Определить угол Брюстера iБ .

    1. Используя закон Брюстера, определить показатель преломления стекла, из которого сделано черное зеркало:

    n= tgiБ .

    7. Оценить погрешность полученного результата.

    25

    8. Провести анализ полученного результата и недостатков метода его получения.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Какой свет называется естественным, линейно поляризованным, частично поляризованным?

    1. Докажите, что интенсивность естественного света, прошедшего через любой идеальный поляризатор, равна половине интенсивности па-дающего света (при отсутствии поглощения в материале поляризатора).

    1. Как поляризован свет при отражении и преломлении на границе раздела двух диэлектриков?

    1. Какие поляризационные явления и устройства используются в аэрокосмической технике?

    Вариант 2

    1. Что называется степенью поляризации света?

    2. Как можно практически отличить естественный свет от линейно поляризованного?

    1. Каким образом на данной установке можно определить направле-ние разрешенных колебаний поляроида?

    1. Назовите области применения поляризованного света.

    Лабораторная работа № 3-09

    ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ САХАРА В РАСТВОРЕ С ПОМОЩЬЮ САХАРИМЕТРА

    Цель работы: ознакомиться с оптическим методом определения концентрации растворов оптически активных веществ по изменению угла поворота плоскости колебаний поляризованного света.

    Приборы и принадлежности: универсальный сахариметр СУ-3; набор кювет с раствором сахара различной концентрации.

    Описание методики эксперимента

    Вращение плоскости поляризации света, прошедшего через оптически активное вещество, обусловлено асимметрией молекул либо асимметричным размещением атомов в кристалле. Используемый в работе прибор СУ-3 позволяет определить угол вращения плоскости колебаний (или плоскости поляризации) в оптически активных растворах.

    26

    Рис. 9.1

    Он пропорционален длине пути луча в растворе l и концентрации раствора С : 0Сl , где 0 – удельное вращение раствора, зависящее от природы растворенного вещества, длины волны и температуры. Измеряя и зная l и 0, можно определить концентрацию

    раствора С. Угол вращения плоскости колебаний измеряется прибором СУ-3, схема которого приведена на рис. 9.1. Свет от лампы 1 проходит через поляризатор 2, исследуемое вещество 3, компенсатор 4, анализатор 5 и окуляр 6.

    Компенсатор поворота плоскости поляризации в исследуемом веществе состоит из пластинки правовращающего кварца и подвижного клина из левовращающего кварца. Перемещая клин перпендикулярно оптической оси прибора, можно скомпенсировать любой поворот плоскости поляризации в исследуемом веществе.

    Для большей точности результатов изме-рения анализатор сахариметра состоит из двух склеенных николей. Они ориентированы относи-тельно друг друга так, что их главные плоскости колебаний N1 и N2 (рис. 9.2) составляют между собой небольшой угол . При прохождении ли-нейно поляризованного света через такой анали-затор в поле зрения окуляра образуется граница, которая разделяет два световых поля сравнения.

    В этом случае амплитуды E1 и E2 колебаний, Рис. 9.2

    пропущенных каждым николем, будут различны (рис. 9.2, а). Яркости полей сравнения станут равными, если плоскость ко-

    27

    лебания падающей на николи линейно поляризованной волны будет сим-метрична относительно плоскостей колебаний N1 и N2. Из рис. 9.2, б вид-но, что амплитуды E1 и E2 равны. Это достигается перемещением клина компенсатора.

    Рис. 9.3

    Внешний вид сахариметра изображен на рис. 9.3, где 1 – освети-тельная головка, в которой находятся лампочка, линза, светофильтр и по-ляризатор; 2 – камера, в которую вставляются кюветы с исследуемым раствором; 3 – измерительный блок, в котором находятся компенсатор, анализатор и круговая шкала с нониусом; 4 – лупа для наблюдения шка-

    лы; 5 – окуляр; 6 – рукоятка для перемещения подвижного клина компенсатора и связанной с ним отсчетной шкалы (100 делений отсчетной шкалы соответствует углу поворота плоскости поляризации на 34 37 ).

    Отсчет десятых долей градуса определя-ется тем делением нониуса, которое совпадает с любым делением основной шкалы. При по-ложительном отсчете рассматриваются деле-ния, расположенные вправо от нуля нониуса,

    при отрицательном – влево от него.

    Примеры

    1. На рис. 9.4, а показано положение ос-

    Рис. 9.4

    новной шкалы нониуса, соответствующее от-

    счету +11,8. Нуль нониуса расположен правее

    28

    нуля шкалы на 11 полных делений, и в правой части нониуса с одним из делений шкалы совмещается восьмое деление нониуса.

    2. На рис. 9.4, б показано положение шкалы и нониуса, соответству-ющее отсчету –3.2 (нуль нониуса расположен левее нуля шкалы на три полных деления; в левой части нониуса с одним из делений шкалы совпа-ло второе деление нониуса).

    Порядок выполнения работы

    1. Включить сахариметр в сеть.

    1. Отрегулировать окуляры по глазу наблюдателя так, чтобы четко были видны граница, разделяющая поле зрения на две половинки, а также штри-хи и цифры шкалы.

    1. Вынуть из сахариметра кювету с исследуемым раствором 3, добиться одинаковой яркости полей сравнения в окуляре. Произвести эту операцию не менее 3 раз. Записать показания прибора по отсчетной шкале. Опреде-лить среднее значение этих отсчетов m0, которое принимается за нулевой отсчет прибора. (Далее все измерения проводить трехкратно и вычислять средние значения.)

    1. Кювету длиной lэ, наполненную раствором известной концентрации Cэ, поместить в прибор и добиться четкой фокусировки и равномерной освещенности поля зрения. Снять показания шкалы mэ.

    1. Поместить кювету с раствором неизвестной концентрации в прибор, выполнить аналогичные действия и снять показания шкалы m, вычислить концентрацию раствора С по формуле

    C

    m m o

    lэ

    C

    ,

    m э m o

    длины lэ и l указаны на кюветах.

    l э

    1. Оценить относительную погрешность измерения концентрации рас-твора С.

    1. Проанализировать полученные результаты и метод их получения. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. В чем заключается явление вращения плоскости поляризации?

    2. Какие вещества называются оптически активными?

    3. От чего зависит удельное вращение плоскости поляризации?

    4. Назовите области применения поляриметров.

    Вариант 2

    1. С помощью каких физических явлений можно получить из ес-тественного света линейно поляризованный?

    29

    1. Как в данной работе определить удельное вращение плоскости по-ляризации?

    2. Опишите устройство и принцип действия универсального са-хариметра.

    1. Каковы области применения явления оптической активности?

    Лабораторная работа № 3-10

    ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА УМ-2 И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЕГО ОСНОВНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК

    Цель работы: ознакомиться с устройством монохроматора УМ-2, научиться пользоваться им и определить основные его характеристики.

    Приборы и принадлежности: монохроматор УМ-2; ртутная и неоно-вая лампы в качестве источника света; конденсор.

    Назначение и устройство спектрального прибора УМ-2

    Явление дисперсии ответственно за разложение белого света в спектр при прохождении его через стеклянную призму. Именно это ис-пользуется в монохроматоре.

    Монохроматор УМ-2 выделяет монохроматические участки спектра в видимой и ближней инфракрасной областях в интервале 3800…100000 Å, поэтому его используют для различных спектральных исследований.

    Оптическая схема монохроматора изображена на рис. 10.1.

    Свет от источника 1 проходит конденсоры 2 и 3, входную щель мо-нохроматора 4, объектив коллиматора 5 и падает параллельным пучком на диспергирующую призму 6. Под углом 900 к падающему пучку света распо-ложена выходная труба монохроматора. Световые лучи, прошедшие че-рез диспергирующую призму, попадают в объектив 7, который собирает их в плоскости выходной щели 8. Поворачивая призму, установленную на сто-лике, на разные углы относительно падающего света, получают в выходной щели свет с различной длиной волны.

    Таким образом, монохроматор состоит из коллиматора 11 (рис. 10.2), диспергирующей призмы на столике с поворотным механизмом 12 (закрыт кожухом) и выходной трубы 13.

    Коллиматор состоит из щели и объектива. Ширина раскрытия щели от 0 до 4 мм может регулироваться винтом 14, цена деления на барабане равна 0,01 мм. Ножи входной щели установлены в фокальной плоскости объек-тива коллиматора.

    На барабане длин волн 19 поворотного механизма диспергирующей призмы нанесены относительные деления.

    30

    Рис. 10.1

    • фокальной плоскости окуляра смотровой трубы есть указатель 9. Спектральная линия, подведенная к указателю, должна попадать в вы-ходную щель коллиматора, установленного вместо смотровой трубы. При подведении спектральной линии к указателю можно опередить ее длину волны по показаниям на барабане 19.

    • монохроматоре УМ-2 в качестве диспергирующего элемента ис-пользуют призму постоянного отклонения. Эта призма склеена из трех прямоугольных призм (рис. 10.3): одной равнобедренной с углами 450и двух с острыми углами 300 и 600. Крайние призмы изготовлены из стекла с большой дисперсией и большим показателем преломления (тяжелый флинт – ГТЗ), средняя призма – из крона. Луч S после преломления в точ-ке M в 30-градусной призме под минимальным углом отклонения падает на катет AB средней 45-градусной призмы (не преломляясь), отражается от ее гипотенузы AC под прямым углом на грань BC другой 30-градусной призмы и выходит из нее , преломляясь на другой грани в точке N. Поэто-му лучи S и S’ перпендикулярны друг другу. Средняя 45-градусная призма используется как зеркало и никакого значения для дисперсии светового лу-ча не имеет. Такая призма эквивалентна симметричной трехгранной призме с преломляющим углом 600.

    31

    Рис. 10.3

    Рис. 10.2

    При вращении призмы вокруг оси, перпендикулярной плоскости рисунка, в направлении NS' будут выходить лу-чи с разной длиной волны. Направле-ние выходящих лу-чей всегда перпен-дикулярно направ-лению входящих. Таким образом, коллиматор и смот-ровая труба оста-ются неподвижны-ми, а спектральные

    линии перемещаются в поле зрения окуляра. Положение спектральной линии относительно указателя в окуляре определяют по углу поворота призмы. Угол поворота призмы фиксируется на барабане длин волн 19 (см. рис. 10.2) в делениях.

    В качестве источников света в работе используют ртутную лампу ДРШ, которую подключают к источнику питания, и неоновую лампу МН-5, которую включают непосредственно в сеть.

    32

    Ртутную и неоновую лампы в металлических кожухах устанавливают на оптической скамье. Следует иметь в виду, что ртутная лампа излучает мощный поток ультрафиолетовых лучей. Наблюдать свечение лампы без фильтра или защитных очков нельзя. Во время работы в лампе возникает давление паров ртути до 30 атм, поэтому обращаться с ней надо осто-рожно.

    Источник света 1 проецируется на щель монохроматора с помощью конденсора 2 (см. рис. 10.1).

    Задание 1. Градуировка монохроматора УМ-2

    Градуировка монохроматора, как правило, проводится по нескольким спектральным линиям ртути и неона. Начинать градуировку лучше со спектра ртути, так как небольшое количество линий распределено по всему спектру. Значения длин волн спектра ртути и неона в видимой области приведены в табл. 10.1, а спектры показаны на рис. 10.4.

    Порядок выполнения задания 1

    1. Установить ртутную лампу на оптической скамье и закрепить ее на расстоянии ~ 450 мм от плоскости входной щели монохроматора.

    2. Поставить конденсор на оптической скамье так, чтобы расстояние от его передней плоскости до лампы равнялось ~130 мм.

    1. Подключить шнур лампочки к соответствующему гнезду пульта, включить тумблеры «Сеть», «Лампа ДРШ» и несколько раз нажать кнопку «Пуск», пока лампа не загорится.

    1. Отцентрировать источник света и конденсор так, чтобы входная щель была равномерно освещена. Ширина щели должна быть 0,01…0,02 мм. Проверить видимость спектра.

    1. Установить с помощью маховика 15 нужное положение объектива коллиматора и изменять его в зависимости от длины волны. Данные для установки объектива коллиматора взять из таблицы на установке. При правильной установке объектива коллиматора и указателя спектральные линии, т.е. изображения входной щели прибора, лежат в одной плоскости

    • указателем и видны одинаково четко.

    1. Поворачивая барабан длин волн 19, просмотреть все линии спектра, убедиться в том, что все линии видны четко и не являются слишком широ-кими, а после этого приступить к градуировке.

    1. Указатель смотровой трубы совмещать последовательно со всеми видимыми спектральными линиями ртути, сделать отсчеты по барабану монохроматора и занести их в таблицу.

    1. Построить график = f(z), где z – деления барабана. Соответствую-щие им значения длин волн взять из табл. 10.1.

    33

    Таблица 10.1

    Номер

    Длина волны

    Ин-

    Номер

    Длина волны

    Интен-

    линии

    ртути, Å

    тен-

    линии

    неона, Å

    сив-

    сив-

    ность

    ность

    1

    6907,0

    красная

    6

    1

    6717,04 красная

    2

    6234,3

    красная

    4

    2

    6678,02 красная

    3

    6121,5

    оранжевая

    5

    3

    6598,95 красная

    4

    6072,6

    оранжевая

    4

    4

    6532,88 красная

    20

    5

    5790,7

    желтая

    10

    5

    6506,53 красная

    6

    5769,6

    желтая

    10

    6

    6402,25 ярко-

    7

    5460,7

    зеленая

    10

    красная

    8

    4916,0

    сине-

    7

    6382,99 ярко-

    зеленая

    10

    красная

    9

    4358,3

    синяя

    10

    8

    6334,43 ярко-

    10

    4347,5

    синяя

    6

    красная

    10

    11

    4339,2

    синяя

    6

    9

    6304,79 ярко-

    12

    4077,8

    фиолето-

    красная

    10

    вая

    7

    10

    6266,50 красная

    10

    13

    4046,8

    фиолето-

    11

    6217,28 красная

    вая

    7

    12

    6163,59 красно-

    оранжевая

    13

    6143,06 оранже-

    вая

    14

    6069,10 оранже-

    вая

    15

    6074,34 оранже-

    вая

    16

    6030,00 оранже-

    вая

    5

    17

    5975,53 оранже-

    вая

    10

    18

    5944,83 желто-

    оранжевая

    20

    19

    5881,90 желто-

    оранжевая

    20

    5852,49 желтая

    9. Аналогично сделать измерения спектральных линий неона, по-ставив на оптическую скамью лампу МН-5 и подключив ее к пульту пита-ния. Поскольку спектр неона богат на линии в красном участке спектра, то данные о спектре неона используют для уточнения градуировки графика в этой области спектра.

    Критерием правильности градуировки кривой есть отсутствие изло-мов и перегибов.

    34

    Ртуть

    Неон

    6907,0

    6717,04

    6382,99

    5460,7

    4918,0

    6266,50

    4358,3

    6163,59

    4339,2

    6030,00

    4046,8

    5852,49

    Ртуть

    Неон

    Рис. 10.4

    Задание 2. Определение основных характеристик спектрального прибора

    Основными

    и линейная ( D =

    характеристиками прибора являются угловая ( D = d )

    dλ

    dl = FD ) дисперсии, а также разрешающая способность dλ

    R= λ . Вместо линейной дисперсии на практике используют обратную

    Δ λ

    величину dλ , Å/мм. Обратная линейная дисперсия показывает, какой dl

    спектральный интервал в фокальной плоскости прибора приходится на 1 мм. Эта величина приводится в паспорте прибора.

    Порядок выполнения задания 2

    1. Пользуясь графиком λ= f(z) (задание 1), найти величины dz

    d λ

    вблизи точек с координатами 1 = 6563 Å, 2 = 5893 Å, 3 = 5461 Å,

    4 = 4861 Å, 5 = 4558 Å.

    35

    Δz

    2. Определить значения угловой дисперсии Df = z призмы для 1,

    Δ λ0 0

    2, 3, 4, 5, указанных в п.1, если известно, что цена деления барабана

    длин волн

    z

    0

    =5 10-5

    рад

    .

    дел.

    3. По формуле D = FD определить величины Dl линейной дисперсии

    l

    Dl для тех же значений 1, 2, 3, 4, 5, если F = 280 мм.

    4. Определить значение обратной линейной дисперсии d , Å/мм. dl

    5. По данным табл. 10.2 построить график n = f( ) и найти графическим

    методом

    dn

    для 1, 2, 3, 4, 5.

    d

    Таблица 10.2

    , Å

    6563

    5893

    5461

    4861

    4358

    4340

    n

    1,7014

    1,7172

    1,7240

    1,7347

    1,7490

    1,7497

    Примечание: n – показатель преломления, – длина волны.

    6. Определить разрешающую способность R прибора, если основание

    призмы B = 5 см (R B dn ). d

    7. Проанализировать полученные результаты. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Что характеризуют фазовая и групповая скорости света?

    2. Нарисуйте оптическую схему монохроматора.

    1. Назовите виды дисперсии. Нарисуйте общий вид графика зависимо-сти показателя преломления вещества от частоты излучения.

    1. Приведите основные характеристики монохроматоров и области их применения.

    Вариант 2

    1. Что такое дисперсия света? Как проводится градуировка монохрома-тора?

    1. Что называется линейной дисперсией и как определяют ее в данной ра-боте?

    1. Что называется разрешающей способностью прибора?

    2. Приведите примеры использования дисперсии в науке и технике.

    36

    Рис. 11.1

    Лабораторная работа № 3-11

    ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ И ЖИДКОСТЕЙ

    Цель работы: определить показатели преломления стекла и жид-костей.

    Приборы и принадлежности: микроскоп, светофильтр, плоскопа-раллельная пластинка с метками А и В в виде креста; рефрактометр мар-ки «РЛ»; набор жидкостей.

    Задание 1. Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа

    Методика эксперимента

    В основе метода лежит явление кажущегося уменьшения толщины стеклянной пластинки вследствие преломления световых лучей, прохо-дящих через стекло при рассматривании пластинки нормально к ее по-верхности. Схема прохождения лучей через пластинку приведена на

    рис.11.1.

    Для определения показателя преломле-ния прозрачного твердого тела применяется плоскопараллельная пластинка, изготовлен-ная из этого материала, с меткой. Метка пред-ставляет собой два взаимно перпендикуляр-ных штриха (царапины), один из которых (А) нанесен на нижнюю, а второй (В) – на верх-нюю поверхность пластинки. Пластинка осве-щается монохроматическим светом и рас-сматривается в микроскоп. Лучи АD и АЕ по-сле преломления на границе стекло – воздух идут по направлениям DD1 и ЕЕ1 и попадают в объектив микроскопа. Наблюдатель, который

    смотрит на пластину сверху, видит точку А на пересечении продолжения лучей DD1 и ЕЕ1, т.е. в точке С. Таким образом, точка А кажется наблюда-телю расположенной в точке С. Найдем связь между показателем пре-ломления n материала пластинки, толщиной d и кажущейся толщиной d1 пластинки.

    Из рис. 11.1 видно, что ВD = ВСtgi, BD = АВtgr, откуда tgi AB ,

    t gr BC

    где AB = d – толщина пластинки; ВС = d1 кажущаяся толщина пластинки.

    37

    Если углы i и r малые, то

    tgi

    sini

    ,

    (11.1)

    tgr

    sinr

    т.е.

    sini

    d

    .

    sinr

    d1

    Учитывая закон преломления света, получим

    n

    d

    .

    (11.2)

    d

    d1

    Измерение

    производится с помощью микроскопа.

    d1

    Оптическая схема микроскопа включает в себя объектив и окуляр, вмонтированные в тубус, а также зеркало и съемный светофильтр для подсветки. Фокусировка изображения проводится вращением рукояток, расположенных по обе стороны от тубуса. Одна из рукояток снабжена лимбом.

    Отсчет по лимбу относительно неподвижного указателя определя-ет расстояние h от объектива до предметного столика микроскопа:

    h k . (11.3)

    Коэффициент k указывает, на какую высоту смещается тубус микро-скопа при повороте рукоятки на 1 .

    Диаметр объектива в данной установке мал по сравнению с расстоя-нием h, поэтому крайний луч, который попадает в объектив, образует ма-лый угол i с оптической осью микроскопа. Угол преломления r света в пластинке меньше, чем угол i, т.е. тоже мал, что соответствует условию

    (11.1).

    Порядок выполнения задания 1

    1. Положить пластинку на предметный столик микроскопа так, чтобы точка пересечения штрихов А и В (см. рис. 11.1) находилась в поле зре-ния.

    1. Вращая рукоятку подъемного механизма, поднять тубус в верхнее положение.

    1. Глядя в окуляр, вращением рукоятки опускать тубус микроскопа плавно до тех пор, пока в поле зрения не получится четкое изображение метки В, нанесенной на верхнюю поверхность пластинки. Записать пока-

    зание 1 лимба, которое пропорционально расстоянию h1 от объектива микроскопа до верхней грани пластинки: h1 k 1 (рис. 11.2, а).

    4. Продолжить опускание тубуса плавно до тех пор, пока не получит-ся четкое изображение метки А, которая кажется наблюдателю располо-женной в точке С. Записать новое показание 2 лимба. Расстояние h1 от

    38

    объектива до верхней поверхности пластинки пропорционально 2: h2 k 2 .

    а б Рис. 11.2

    Расстояния от точек В и С до объектива равны, так как наблюдатель видит их одинаково четко. Смещение тубуса h1–h2 равно кажущейся тол-щине пластинки (рис. 11.2, б):

    d 1 h1 h2 k( 1 2 ).

    (11.4)

    5. Измерить толщину

    пластинки d в месте пересече-

    ния штрихов. Для этого под ис-

    следуемую

    пластинку

    1

    (рис. 11.3) поместить вспомо-

    гательную

    стеклянную

    пла-

    стинку 2 и опускать тубус мик-

    Рис. 11.3

    роскопа до тех пор, пока объ-

    е ктив не коснется (слегка) исследуемой пластинки. Отметить показание лимба 1 . Снять исследуемую пластинку и опускать тубус микроскопа до

    тех пор, пока объектив не коснется пластинки 2. Отметить показание 2 . Объектив микроскопа опустится при этом на высоту, равную тол-

    щине исследуемой пластинки, т.е.

    d k( 1

    2 ).

    (11.5)

    6. Вычислить показатель преломления материала пластинки по форму-

    ле

    n

    d

    ( 1

    2 )

    .

    (11.6)

    d 1

    ( 1

    2 )

    1. Повторить все указанные выше измерения 3 – 5 раз, вычислить среднее значение n, абсолютную Δn и относительную Δn/ n погрешности.

    1. Проанализировать полученные результаты и метод измерения.

    39

    Задание 2. Определение показателя преломления жидкостей

    • помощью рефрактометра Методика эксперимента

    Приборы, которые используют для определения показателей пре-ломления, называются рефрактометрами. Общий вид и оптическая схема рефрактометра РЛ приведены на рис. 11.4 и 11.5.

    Измерение показателя преломления жидкостей с помощью рефрактометра РЛ основано на явлении преломления света, прошедшего через границу раздела двух сред с разными показателями преломления.

    Световой пучок (рис. 11.5) от источника 1 (лампа накали-вания или дневной рассеянный свет) с помощью зеркала 2 направляется через окошко в корпусе прибора на двойную призму, состоящую из призм 3 и 4, которые изготовлены из стекла с показателем прелом-

    л ения 1,540.

    Рис. 11.4 Поверхность АА верхней осветительной призмы 3 (рис. 11.6, а) матовая и применяется для осве-щения рассеянным светом жидкости, нанесенной тонким слоем в зазоре между призмами 3 и 4. Свет, рассеянный матовой поверхностью призмы 3, проходит плоскопараллельный слой исследуемой жидкости и падает на диагональную грань ВВ измерительной призмы 4 под различными углами i в пределах от 0о до 90 . Чтобы избежать явления полного внутреннего от-ражения света на поверхности ВВ, показатель преломления исследуемой жидкости должен быть меньше, чем показатель преломления стекла призмы 4, т.е. меньше, чем 1,540.

    Таким образом, с помощью рефрактометра РЛ, в силу его конструк-тивных особенностей, можно измерять показатель преломления жидко-стей в интервале 1,300 … 1,540.

    Луч света, угол падения которого равен 90 , называется скользящим. Скользящий луч, преломляясь на границе жидкость – стекло, пойдет в призме 4 под предельным углом преломления rпр 90о.

    40

    Рис. 11.5

    Преломление скользящего луча в точке Д (рис. 11.6, а) подчиняется закону

    nст/nж = siniпр/sinrпр

    (11.7)

    или

    nж = nстsinrпр ,

    (11.8)

    так как

    siniпр = 1.

    Рис. 11.6

    На поверхности ВС призмы 4 происходит повторное преломление световых лучей, поэтому

    sini пр/sinr пр = 1/ nст ,

    (11.9)

    r пр+i пр = i пр = ,

    (11.10)

    где – преломляющий луч призмы 4.

    41

    Решая совместно систему уравнений (11.8),(11.9),(11.10), можно по-лучить формулу, которая связывает показатель преломления nж исследу-емой жидкости с предельным углом преломления r’пр луча, вышедшего из призмы 4:

    n

    sin n 2

    sin 2 r'

    пр

    cos sinr'

    пр

    .

    (11.11)

    ж

    ст

    Если на пути лучей, вышедших из призмы 4, поставить зрительную трубу, то нижняя часть ее поля зрения будет освещена, а верхняя – тем-ная. Граница раздела светлого и темного полей образована лучами с предельным углом преломления r пр . Лучей с углом преломления мень-шим, чем r пр , в данной системе нет (см. рис. 11.6, б).

    Величина r пр ,следовательно, и положение границы светотени зави-сят только от показателя преломления nж исследуемой жидкости, так как nст и величины в данном приборе постоянные. Зная nст , и r пр , можно по формуле (11.11) рассчитать nж . На практике формула (11.11) исполь-зуется для градуировки шкалы рефрактометра.

    На шкалу 9 (см. рис. 11.4) слева нанесены значения показателя пре-ломления для Д = 5893 Å. Перед окуляром 10 – 11 имеется пластинка 8 с меткой (----). Перемещая окуляр вместе с пластинкой 8 вдоль шкалы, можно добиться совмещения метки с границей раздела темного и светло-го полей зрения. Деление проградуированной шкалы 9 , совпадающее с меткой, дает значение показателя преломления nж исследуемой жидкости. Объектив 6 и окуляр 10 – 11 образуют зрительную трубу. Поворотная призма 7 изменяет ход луча, направляя его в окуляр.

    Вследствие дисперсии стекла и исследуемой жидкости вместо чет-кой границы раздела темного и светлого полей при наблюдении в белом свете получается радужная полоска. Для устранения этого эффекта ис-пользуется компенсатор дисперсии 5, установленный перед объективом зрительной трубы. Основная деталь компенсатора – призма, которая склеена из трех призм и может вращаться относительно оси зрительной трубы. Преломляющие углы призмы и их материал подобраны так, что желтый свет с длиной волны Д =5893 Å проходит через них без прелом-ления. Если на пути цветных лучей установить компенсаторную призму так, чтобы ее дисперсия была равна по величине, но противоположна по знаку дисперсии измерительной призмы и жидкости, то суммарная дис-персия будет равна нулю. При этом пучок световых лучей соберется в бе-лый луч, направление которого совпадает с направлением предельного желтого луча. Таким образом, при вращении компенсаторной призмы цветная окраска границы светотени устраняется. Вместе с призмой 5 вра-щается дисперсионный лимб 12 относительно неподвижного указателя (см. рис. 11.4). Угол поворота Z лимба позволяет судить о величине средней дисперсии исследуемой жидкости. Шкала лимба должна быть проградуиро-вана. График прилагается к установке.

    42

    Порядок выполнения задания 2

    1. Приподнять призму 3, на поверхность призмы 4 поместить 1 – 2 капли исследуемой жидкости и опустить призму 3 (см. рис. 11.4).

    2. С помощью рефлектора 2 направить пучок света на призму 3.

    1. Окулярной наводкой добиться резкого изображения шкалы и гра-ницы раздела полей зрения.

    1. Вращая рукоятку 12 компенсатора 5, убрать цветную окраску гра-ницы раздела полей зрения.

    1. Перемещая окуляр вдоль шкалы, совместить метку(----) с грани-цей темного и светлого полей и записать значение показателя жидкости.

    1. Исследовать предложенный набор жидкостей и оценить погреш-ность измерений.

    1. После каждого измерения протирать поверхность призм фильтро-вальной бумагой, смоченной в дистиллированной воде.

    1. Проанализировать полученные результаты и метод измерения.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Дайте определение абсолютного и относительного показателей преломления среды.

    1. Нарисуйте ход лучей через границу раздела двух сред (n2> n1 и

    n2< n1).

    1. Получите соотношение, которое связывает n с толщиной d и ка-

    жущейся толщиной d пластинки.

    4. Каковы другие методы определения показателя преломления твердых тел?

    Вариант 2

    1. В чем состоят явления преломления, дисперсии и полного внутреннего отражения?

    1. Опишите конструкцию и принцип действия рефрактометра РЛ-2.

    2. Объясните функцию компенсатора в рефрактометре.

    3. Каковы области применения рефрактометров?

    Лабораторная работа № 3-12

    ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОСТОЯННОЙ СТЕФАНА – БОЛЬЦМАНА

    Цель работы: ознакомиться с принципом действия оптического пи-рометра, определить температуру нагретого тела и вычислить постоян-ную Стефана – Больцмана.

    43

    Приборы и принадлежности: пирометр ЛОП – 72; вольтметр уни-версальный цифровой; амперметр; вольтметр; накаливаемое тело; авто-трансформатор.

    Методика эксперимента

    Всякое нагретое тело излучает энергию в виде электромагнитных волн различной длины (сплошной спектр). Полная энергия излучения и ее распределение по спектру зависят от температуры тела. Излучение тела, обусловленное возбуждением атомов и молекул, которое совершается в процессе их теплового движения, называется тепловым. Если в процессе теплового излучения энергия, излучаемая телом, точно компенсируется тем количеством теплоты, которое оно получает извне, то такой процесс излучения называют равновесным.

    Тепловое излучение тел может быть охарактеризовано двумя ос-новными величинами: интегральной и монохроматической светимостями.

    Энергетическая светимость Rт – это энергия, излучаемая телом с единицы поверхности за единицу времени во всем интервале длин волн:

    R

    W

    ,

    (12.1)

    St

    где W – полная энергия, излучаемая с поверхности S за время t; W Ф – t

    поток энергии.

    Спектральная плотность энергетической светимости r Т – это энергия, излучаемая телом с единицы поверхности за единицу времени в единичном интервале длин волн :

    r

    dW

    ,

    (12.2)

    Sd

    где dW - энергия, излучаемая телом с поверхности S за единицу времени

    в интервале длин волн от до d .

    Из приведенных определений вытекает связь между энергетической светимостью и спектральной плотностью энергетической светимости:

    R r d .

    (12.3)

    0

    Из всей падающей на тело энергии dW

    монохроматического света

    (т.е. в интервале длин волн от до d ) часть энергии dW'

    поглоща-

    ется телом,

    часть энергии dW''

    отражается. На основе закона сохране-

    ния энергии

    dW

    dW dW .

    (12.4)

    Разделив почленно правую и левую части равенства (12.4) на dW , получим

    44

    dW

    dW

    1

    .

    (12.5)

    dW

    dW

    Величина dW называется монохроматическим коэффициен-dW

    том поглощения тела. Он показывает, какую долю падающего монохро-матического излучения данное тело поглощает.

    Величина dW называется монохроматическим коэффициентом dW

    отражения тела. Он показывает, какую долю падающего монохроматиче-ского излучения данное тело отражает.

    Для формирования закономерностей теплового излучения следует выбрать стандартный излучатель, с которым можно было бы сравнить из-лучение всех других тел. Таким стандартным излучателем выбирают аб-солютно черное тело, т.е. тело, которое поглощает все падающее на него излучение. Для абсолютно черного тела dW 0, = 1. И хотя в природе

    абсолютно черных тел не существует (к ним приближаются платиновая чернь и сажа), однако модель абсолютно черного тела можно построить искусственно. Это может быть почти замкнутая полость с небольшим от-верстием. Луч, падающий на отверстие снаружи, внутри камеры будет претерпевать многократное отражение и полное поглощение. Если внут-ренние стенки полости нагреть до некоторой температуры, то отверстие камеры станет источником излучения, идентичного излучению абсолютно черного тела (а.ч.т.).

    Теоретически и экспериментально установлено, что отношение спектральной плотности энергетической светимости тела к его монохро-матическому коэффициенту поглощения есть величина постоянная для всех тел при данной температуре и для данной длины волны (закон Кирхгофа):

    r

    f ,T .

    (12.6)

    Функция f ( , Т) не зависит от природы тела и является функцией лишь длины волны и температуры. Для абсолютно черного тела = 1, поэтому

    f

    ,T .

    (12.7)

    r

    Таким образом, величина f ( , Т) есть спектральная плотность энер-гетической светимости абсолютно черного тела. Для всех реальных (не-черных) тел < 1 и

    r

    f

    ,T

    ,

    (12.8)

    то есть спектральная плотность энергетической светимости нечерного те-ла меньше светимости абсолютно черного тела при той же температуре Т.

    45

    Равенство (12.6) является выражением закона Кирхгофа в диффе-ренциальной форме. В интегральной форме закон Кирхгофа имеет вид

    R T

    T .

    R

    (12.9)

    AT

    По формуле (12.9) можно определить энергетическую светимость R(T) любого тела, если известен коэффициент теплового излучения А(T), который находят опытным путем. Коэффициент А показывает, во сколько раз энергетическая светимость реального тела меньше энергетической светимости абсолютно черного тела при той же температуре. Значение коэффициента А зависит от природы тела, состояния его поверхности и температуры.

    Энергетическую светимость R*(Т) абсолютно черного тела можно определить опытным путем или теоретически.

    Основываясь на квантовой природе излучения, Планк установил, что f ( , Т) определяется функцией (формулой Планка)

    f ,T

    2 hc2

    1

    ,

    (12.10)

    5

    hc

    kT

    e

    1

    где h – постоянная Планка; с – скорость света в вакууме; k – постоянная Больцмана.

    Формулу Планка называют законом излучения абсолютно черного тела. Она описывает зависимость спектральной плотности энергетической свети-мости от температуры и длины волны теплового излучения (рис. 12.1). Ис-пользуя формулу Планка, можно получить законы Стефана – Больцмана и Вина.

    В результате интегрирования выражения (12.10) по длине волны от 0 до можно получить выражение для R*(T)

    2

    5

    4

    R* T

    f ,T d

    k

    T4,

    (12.11)

    2

    3

    0

    15c h

    или R* T T4 ,

    т.е. энергетическая светимость абсолютно черного тела пропорциональна 4-й степени его температуры. Этот закон называется законом Стефана – Больцмана, он был установлен вначале экспериментально. При этом

    2

    5 k 4

    8 Вт

    5 , 67 10

    ,

    3

    2

    м

    2

    К

    4

    15h c

    где - постоянная Стефана – Больцмана. Энергетическая светимость нечерного тела

    R T A T4 ,

    (12.12)

    где А – коэффициент теплового излучения.

    46

    Максимум спектральной плотности энергетической светимости тела определяется из условия

    dr 0. d

    Отсюда получаем 1-й и 2-й законы Вина:

    C1

    и r

    CT5.

    (12.13)

    T

    m

    max

    2

    1-й закон Вина (закон смещения Вина): длина вол-ны, на которую приходится максимум спектральной плотности энергетической светимости абсолютно черно-

    г о тела r , обратно пропор-

    циональна

    его

    температуре,

    т.е. максимум излучения с

    увеличением

    температуры

    смещается в сторону коротких

    длин волн

    (рис.12.1). Ко-

    Рис. 12.1

    эффициент С1 = 2,9 10-3 м К.

    2-й закон Вина: максимальная спектральная плотность энергетиче-ской светимости абсолютно черного тела пропорциональна 5-й степени абсолютной температуры. Коэффициент

    С2 = 1,3 10-5 Вт/(м3К5).

    Спектральные плотности энергетических яркости b и светимости r абсолютно черного тела, а также тел, которые равномерно рассеивают свет во все стороны, связаны соотношением

    *

    r*

    b

    .

    (12.14)

    Зависимость этих величин для нагретых тел от температуры может быть использована для определения температуры.

    Однако непосредственное измерение спектральной плотности энер-гетической яркости представляет определенные трудности. Поэтому огра-ничиваются сравнением спектральных плотностей энергетических ярко-стей исследуемого и эталонного тел. Температура последнего должна быть известна. Для абсолютно черных тел равенству спектральных плот-ностей энергетических яркостей соответствует равенство их абсолютных температур. Спектральная плотность энергетической светимости реаль-ного тела меньше спектральной плотности энергетической светимости аб-солютно черного тела при той же температуре (см. формулу (12.8)). По-этому реальное тело необходимо нагреть до более высокой температуры по сравнению с абсолютно черным, чтобы их спектральные плотности

    47

    энергетических яркостей стали одинаковыми. Температура реального те-ла, определенная по равенству спектральных плотностей энергетических яркостей реального и абсолютно черного тел, называется яркостной. Яр-костная температура Тя всегда ниже его истинной температуры Т:

    Т = Tя + Т .

    Связь между яркостной и действительной температурами тела уста-навливается соотношением

    CT

    T

    3 я

    ,

    (12.15)

    Tlna

    C

    я

    T

    3

    где C hc 1,432 10-2 м К; h – постоянная Планка; c – скорость света в ва-

    3

    k

    кууме; k – постоянная Больцмана; а Т – монохроматический коэффициент теплового излучения тела, который равен отношению спектральных плот-ностей энергетических светимостей данного и абсолютно черного тел. Величина а Т зависит от материала, длины волны излучения и температу-ры нагретого тела.

    На практике для определения действительной температуры удобнее пользоваться не формулой (12.15), а графиком зависимости T f(T я ),

    которая позволяет найти действительную температуру исследуемого тела по его яркостной температуре. Яркостную температуру исследуемого тела измеряют с помощью оптического пирометра.

    Приборы, которые используют для определения температуры на ос-нове законов теплового излучения, называются пирометрами. Схема ла-бораторной установки приведена на рис. 12.2.

    Рис. 12.2

    Исследуемым накаленным телом является вольфрамовая спираль лампы 1. Электрическая цепь для нагревания вольфрамовой спирали 1 состоит из автотрансформатора 2, включенного в сеть с напряжением 220 В, вольтметра 3 и амперметра 4.

    48

    В электрическую цепь пирометра 5 входят: пирометрическая (эта-лонная) лампа 8, стабилизированный источник питания пирометрической

    л ампы 6,

    миллиамперметр

    7 для измерения тока нака-

    ла пирометрической лампы

    (ток накала измеряют с по-

    мощью цифрового прибора

    В7-22А).

    Общий вид пирометра

    ЛОП-72

    изображен на

    рис. 12.3, где 1 – объектив;

    2 – окуляр; 3,4 – реостаты

    грубой и точной регулиро-

    Рис. 12.3

    вок тока накала пирометри-

    ческой лампы.

    Порядок выполнения работы

    1. Установить пирометр перед объектом, температуру которого из-меряют, на расстоянии 0,6 м.

    1. Проверить, чтобы ручки реостатов 3 и 4 (рис. 12.3) были в крайнем левом положении.

    1. Включить стабилизированный источник питания пирометра и циф-ровой прибор В7-22А.

    1. Увеличивая ток накала пирометрической лампы реостатом 4, обеспечить видимое свечение нити пирометрической лампы, а с помощью окуляра 2 добиться ее четкого изображения.

    1. Включить в сеть с напряжением 220 В автотрансформатор 2 (см. рис. 12.2) и, поворачивая его рукоятку, довести спираль лампы (объ-екта исследования) до накаленного состояния. Вращая тубус объектива 1, добиться четкого изображения спирали. При этом изображения спирали лампы и нити пирометрической лампы, которые наблюдаются с помощью окуляра 2, должны быть одинаково четкими.

    1. Установить сектор светофильтров в положение 1, а сектор погло-тителей – согласно табл. 12.1.

    Таблица 12.1

    Предел

    Диапазон измеряемых

    Положение ручки сектора по-

    измерения

    температур, К (°С)

    глощения

    I

    1173....

    1673

    1

    (900

    1400)

    II

    1673....

    2273 (1400....

    2000)

    2

    III

    2273....

    3273 (2000....

    3000)

    3

    49

      1. Добиться одинаковых яркостей нити пирометрической лампы и вольфрамовой спирали, т.е. исчезновения нити на фоне спирали лампы (объекта исследования), с помощью ручек реостатов 3 и 4.

      1. Измерить силу тока Iн, который проходит по нити пирометрической лампы, с помощью прибора В7-22А.

    Внимание! Ток, проходящий через нить пирометрической лампы, не должен превышать 460 мA. Если при максимальном значении тока, про-ходящего через пирометрическую лампу, яркость объекта измерения больше яркости нити пирометра, нужно установить поглотитель на боль-ший предел измерения (см. табл. 12.1).

    1. Измерить силу тока, проходящего по вольфрамовой спирали лампы, и напряжение на ней с помощью амперметра 4 и вольтметра 3 (см. рис. 12.2) и занести в таблицу измерений.

    10. По силе тока накала Iн и с помощью графика Iн f Tя , который

    дается к пирометру, определить яркостную температуру Тя вольфрамовой спирали лампы.

    11. По яркостной температуре Тя с помощью графика T f Tя , кото-

    рый дается на установке, определить действительную температуру Т. 12. Определить потребляемую, а значит, и излучаемую мощность

    накаленной спирали

    Р = IU.

    (12.16)

    Мощность, излучаемая с единицы поверхности накаленного тела, и

    есть энергетическая светимость

    R

    P

    .

    (12.17)

    S

    13. С помощью формул (12.12), (12,16), (12.17) можно получить вы-ражение для постоянной Стефана – Больцмана, Вт/(м2К4),

    IU . (12.18)

    A ST 4

    Примечание. Площадь S излучающей поверхности вольфрамовой спирали лампы указана на установке. Для вольфрама коэффициенты

    а Т = 0,43, А = 0,15.

    14. Измерения выполнить для трех температур в интервале 1100 – 1500 К. Результаты занести в таблицу измерений, образец которой представлен ниже.

    № п/п

    Iн

    I (A)

    U (B)

    Tя (oC)

    T (oC)

    T (K)

    S (м2)

    А

    (mA)

    1

    2

    3

    50

    15. Определить среднее значение постоянной Стефана – Больцмана

    ср = 1 2 3 .

    3

    16. Оценить погрешность полученных результатов и сделать выво-

    ды.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Дайте определение энергетической светимости и спектральной плотности энергетической светимости тел.

    1. Сформулируйте законы Вина.

    2. Нарисуйте график распределения энергии в спектре излучения абсолютно черного тела.

    1. Сформулируйте закон Кирхгофа для теплового излучения.

    Вариант 2

    1. Дайте определение монохроматических коэффициентов поглощения

    • отражения тел.

    1. Почему температура реального тела, определенная с помощью пирометра ЛОП-72, называется яркостной?

    1. Сформулируйте закон Стефана – Больцмана и выведите его ис-ходя из формулы Планка.

    1. Какое тело называется абсолютно черным? Существуют ли в природе абсолютно черные тела?

    Лабораторная работа № 3-13

    ИЗУЧЕНИЕ ЯВЛЕНИЯ ВНЕШНЕГО ФОТОЭФФЕКТА

    Цель работы: изучить зависимость фототока от освещенности фо-токатода, а также от напряжения между фотокатодом и анодом.

    Приборы и принадлежности: сурьмяно-цезиевый фотоэлемент, мик-роамперметр, вольтметр, реостат, сетевой выпрямитель-стабилизатор напряжения, лампа накаливания с блоком питания.

    Описание установки и методики эксперимента

    Для изучения внешнего фотоэффекта используется вакуумный сурьмяно-цезиевый фотоэлемент с центральным анодом. Фотоэлемент представляет собой откачанный стеклянный сферический баллон. Поло-вина внутренней поверхности баллона покрыта слоями сурьмы и цезия. В этом случае образуется соединение CsSb, которое является материалом

    51

    фотокатода. Металлический анод помещен в центральной части фото-элемента.

    Схема включения вакуумного фотоелемента Ф показана на рис. 13.1. Фотоэлемент, защищенный от попадания дневного света, уста-новлен на оптической скамье. На фотоэлемент подается постоянное напряжение от сетевого выпрямителя-стабилизатора таким образом, что-бы отрицательный потенциал был на фотокатоде К, а положительный – на аноде А. Реостат R позволяет регулировать данное напряжение. За фотоэлементом на оптической скамье расположена осветительная лампа накаливания EL, соединенная с блоком питания. Свет от лампы EL направляется на фотоэлемент Ф, а вольтметр V и микроамперметр A позволяют измерять напряжение и фототок в цепи Ф.

    Рис. 13.1

    Экспериментальное исследование зависимости фототока от осве-щенности фотокатода состоит в том, что при фиксированном напряжении на фотоэлементе удаляют лампу EL от Ф. Полагая, что осветительная лампа накаливания является точечным источником света, освещенность фотокатода в люксах (лк) можно определить по выражению

    E

    IC

    ,

    (13.1)

    r2

    г де IC – сила света точечного источника, в данной работе принимается

    равной 10 кд (кандел); r – расстояние от лампы до фотоэлемента. Изме-ряя для различных расстояний r фототок I , получают зависимость

    I f r .

    Зависимости фототока от напряжения I f U между фотокато-

    дом К и анодом А (т.е. ВАХ – вольт-амперные характеристики) получают для различных расстояний r. При этом для каждого r между Ф и лампой накаливания EL с помощью реостата R варьируется напряжение на фото-элементе и измеряется фототок I .

    Порядок выполнения работы

    1. Ознакомиться с электрической схемой установки (см. рис. 13.1).

    52

    1. Установить осветительную лампу EL на одной высоте с фотоэле-ментом Ф на расстоянии от него r = 15 … 20 см и подать на фотоэлемент напряжение U = 150 В.

    1. Включить питание осветительной лампы накаливания EL.

    2. Измерить зависимость фототока I от расстояния r, удаляя каж-дый раз лампу EL на 3…4 см от фотоэлемента до тех пор, пока значение фототока не перестанет заметно изменяться.

    1. Рассчитать освещенность фотокатода E для каждого r.

    2. Построить график I f E .

    1. Разместить осветительную лампу накаливания на расстоянии 20 см от фотоэлемента и измерить зависимость фототока I от приложен-ного к фотоэлементу напряжения U. Измерения проводить с интервалом 10 В, увеличивая напряжение от 0 до 150 В.

    1. Повторить измерения (п.7) для расстояний r, равных 25 см и

    30 см.

    1. Построить вольт-амперные характеристики вакуумного фотоэле-

    мента I f U для различных освещенностей на одной координатной плоскости.

    1. Оценить порядок силы тока насыщения.

    2. Оценить погрешность полученных результатов.

    1. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. В чем состоит явление внешнего фотоэффекта?

    1. Сформулируйте основные закономерности внешнего фотоэффек-

    та.

    1. Почему кинетическая энергия фотоэлектронов зависит от частоты падающего света?

    1. Где применяется явление внешнего фотоэффекта в технике?

    Вариант 2

    1. Напишите и объясните формулу Эйнштейна для внешнего фотоэф-

    фекта.

    1. Что такое задерживающий потенциал?

    2. Объясните графики зависимости фототока от напряжения. Чему равен фототок насыщения?

    1. Объясните графики зависимости фототока от освещенности.

    53

    Лабораторная работа № 3-14 ИССЛЕДОВАНИЕ СПЕКТРА ВОДОРОДА

    Цель работы: исследовать серию Бальмера излучения атомарного водорода в видимой области спектра и определить постоянную Ридберга.

    Приборы и принадлежности: монохроматор УМ-2, лампа накалива-ния, газоразрядная водородная трубка.

    Теоретическое введение

    При переходе электрона с одного энергетического уровня на другой по второму постулату Бора выделяется или поглощается квант энергии

    me

    4

    Z

    2

    1

    1

    hv E j Ei

    2

    2

    2

    ,

    (14.1)

    h

    2

    8 0

    ni

    nj

    где hv – энергия излучения кванта;

    Ej

    –

    энергия стационарного состоя-

    ния на орбите, с которой уходит электрон; Ei – энергия стационарного состояния на орбите, на которую приходит электрон; me – масса электро-

    на; e – заряд электрона; Z – порядковый номер химического элемента в периодической системе элементов Менделеева; 0 – электрическая по-

    стоянная; h – постоянная Планка; ni , nj = 1, 2, 3… – квантовые числа,

    определяющие принадлежность электрона к той или иной орбите.

    Если электрон переходит, например, со второй орбиты (nj = 2) на первую (ni = 1), то выделяется квант энергии. В обратном случае такой же

    квант поглощается.

    Из соотношения (14.1) можно определить частоту или длину вол-ны c / фотона, который поглощается или излучается:

    me

    4

    Z

    2

    1

    1

    vij

    ;

    (14.2)

    2

    3

    2

    2

    h

    8 0

    ni

    nj

    1

    me

    4

    Z

    2

    1

    1

    2

    3

    2

    2

    ,

    (14.3)

    8 0

    где

    ij

    h

    c

    ni

    nj

    me4

    R,

    (14.4)

    8

    2 h 3 c

    0

    которая является постоянной Ридберга (м 1).

    Учитывая это, длины волн, которые излучаются водородоподобными ионами, определяются по формуле

    1

    1

    1

    = RZ2

    ,

    (14.5)

    2

    2

    λij

    ni

    nj

    из которой очевидно, что линии спектра можно объединить в серии.

    54

    Серия – это совокупность линий, которые описываются формулой ni = const. Серия возникает при переходе электрона из лежащих выше

    орбит, которые имеют квантовое число nj (n j ni ), на орбиту с данным квантовым числом ni . Для водорода ( Z = 1) основные серии таковы:

    ni = 1 – серия Лаймана (ультрафиолетовая область спектра);

    ni = 2 – серия Бальмера (видимая и ультрафиолетовая области

    спектра);

    ni = 3 – серия Пашена

    ni

    = 4 – серия Брэкета

    (инфракрасная область спектра).

    ni = 5 – серия Пфунда ni = 6 – серия Хемфри

    При неограниченном увеличении nj длины волн всех серий сходятся к соответствующим пределам. Предельные длины волн серий при nj

    определяются соотношением

    λ

    =

    n

    2

    .

    (14.6)

    i

    RZ2

    пред

    Линии, которые возникают при переходе электрона с энергетическо-го уровня n j ni 1 на уровень ni , называются главными линиями спек-

    тральной серии.

    Видимая часть линейчатого спектра атомарного водорода для серии Бальмера состоит из четырех линий:

    красная

    H

    (nj = 3);

    голубая

    H

    (nj = 4);

    фиолетовая

    H

    (nj = 5);

    фиолетовая

    H

    (nj = 6).

    Радиус стационарных орбит определяется исходя из первого постулата Бора. Возводя в квадрат обе части формулы mυr = n h и

    2

    2π

    из формулы

    для кинетической энергии

    подставляя значения m

    электрона, получаем

    n 2 h 2ε

    (14.7)

    r =

    0

    πmZ2 e 2 .

    Порядок выполнения работы

    1. Установить лампу накаливания напротив щели монохроматора и, перемещая окуляр, изучить сплошной спектр.

    55

    1. Включить источник питания водородной трубки и получить газовый разряд.

    2. Добиться резкости спектральных линий с помощью окуляра. Поворачивая барабан монохроматора, изучить линейчатый спектр водорода.

    1. Измерить число делений барабана монохроматора для каждой из четырех линий серии Бальмера.

    5. По градуировочному графику определить длины волн ,

    ,

    и

    , которые соответствуют линиям H

    ,

    H

    , H

    и H

    серии Бальмера.

    6. Для каждой определенной длины волны вычислить постоянную Ридберга

    R=

    1

    2

    1

    1

    λi j Z

    2

    2

    ni

    nj

    • определить ее среднее значение.

      1. По формуле (14.6) вычислить длину волны, которая соответствует границе бальмеровской серии.

    1. Пользуясь формулой (14.4), вычислить значение постоянной

    Планка

    h 3

    me4

    8Rc 02

    • сравнить полученный результат с табличным значением.

    1. Вычислить по формуле (14.7) радиус первой орбиты электрона в атоме водорода (“первый боровский радиус”).

    1. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Сформулируйте постулаты Бора.

    2. Спектры каких источников света непрерывные, полосатые, линейчатые?

    1. Какая физическая величина называется волновым числом? В каких единицах она измеряется?

    1. Что называется энергией ионизации атома?

    Вариант 2

    1. Объясните смысл отрицательного значения энергии электрона в атоме.

    1. В чем состоят недостатки теории Бора?

    2. Что такое главное квантовое число? Для чего оно необходимо?

    56

    4. Как связаны между собой длины волн в оптическом спектре водорода? Что такое постоянная Ридберга?

    Лабораторная работа № 3-15

    ИЗМЕРЕНИЕ ШИРИНЫ ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА

    Цель работы: изучить зависимость сопротивления полупроводника от температуры и вычислить ширину запрещенной зоны полупроводника.

    Приборы и принадлежности: термистор, термометр, электронагре-ватель, мост постоянного тока МО-62.

    Описание установки и методики эксперимента

    Для изучения температурной зависимости сопротивления полупро-водникового материала используется экспериментальная установка, схе-ма которой показана на рис. 15.1.

    Рис. 15.1

    Нагревательным элементом резистивного типа является керамический трубчатый проволочный резистор Rн. Терморезистор RK и термометр Т располагаются внутри трубчатого нагревателя Rн. Разогрев резистора Rн осуществляется протеканием электрического тока, который генерируется блоком питания нагревателя. Мост постоянного тока подключен к термо-резистору RK и позволяет измерять сопротивление полупроводника при различных температурах.

    57

    Сопротивление полупроводника уменьшается с ростом температуры согласно закону

    E

    R R e2kT

    ,

    (15.1)

    0

    где R0 – сопротивление полупроводника при высоких температурах; E –

    ширина запрещенной зоны проводника. Выполняя логарифмирование данного выражения, а также дополнительные преобразования, получают выражение

    lg R lg R 2 ,5 E

    103

    (15.2)

    0

    T

    Отсюда следует, что, измерив температурную зависимость сопро-

    103

    тивления полупроводника и представив ее в координатах lg R f ,

    T

    можно графически определить ширину запрещенной зоны полупроводни-ка E . Указанная зависимость представляет собой линию (рис. 15.2), тан-генс угла наклона которой к оси абсцисс tg равен 2 ,5 E .

    Рис. 15.2

    В связи с этим ширина запрещенной зоны, эВ, рассчитывается со-гласно выражению

    E 0 , 4 tg .

    (15.3)

    Порядок выполнения работы

    1. Измерить сопротивление термистора при комнатной температуре

    • помощью моста постоянного тока.

    1. Включить электронагреватель и с ростом температуры измерять его сопротивление через каждые 10 0С.

    58

    103

    3. Построить график lg R f .

    T

    4. Определить tg как отношение lg R

    103

    и (см. рис. 15.2):

    T

    tg

    lgR

    103

    T

    1. Определить ширину запрещенной зоны полупроводника по фор-

    муле (15.3).

    1. Оценить порядок ширины запрещенной зоны полупроводникового материала.

    1. Оценить погрешность полученных результатов.

    2. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Объясните механизм собственной проводимости полупроводника.

    2. Как зависит проводимость чистых (беспримесных) полупроводни-ков от температуры?

    1. Почему металл при температуре 0 К имеет максимальную прово-димость, а полупроводник – проводимость, равную нулю?

    1. По какой причине полностью заполненная зона не дает вклада в прово-димость?

    Вариант 2

    1. Что такое энергетический спектр?

    2. В чем отличие полупроводника от диэлектрика и металла с точки зрения зонной теории?

    1. Запишите выражение зависимости сопротивления полупроводника от температуры.

    1. Каково применение в технике температурной зависимости полу-проводников?

    Лабораторная работа № 3-16

    ИЗМЕРЕНИЕ ВОЛЬТ-АМПЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ (ВАХ) ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ДИОДА И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЕГО ХАРАКТЕРИСТИК

    Цель работы: измерить ВАХ и определить коэффициент выпрямле-ния полупроводникового диода.

    59

    Приборы и принадлежности: полупроводниковый диод, источник по-стоянного напряжения, реостат, вольтметр, миллиамперметр многопре-дельный, двухполюсный переключатель.

    Описание экспериментальной установки

    Для определения коэффициента выпрямления полупроводникового диода используется экспериментальная установка, схема которой показа-на на рис. 16.1. Постоянное напряжение подается на реостат R, который позволяет регулировать разность потенциалов на полупроводниковом ди-оде VD. С помощью двухполюсного переключателя П можно менять по-лярность напряжения на диоде VD. Миллиамперметр и вольтметр необ-ходимы для измерения силы тока и напряжения в цепи полупроводниково-го диода.

    Рис. 16.1

    Порядок выполнения работы

    1. Ознакомиться со схемой для измерения вольт-амперной характеристики полупроводникового диода (рис. 16.1).

    2. Установить переключатель П в положение, соответствующее за-пирающему напряжению, когда положительный потенциал на катоде (К) полупроводникового диода. Переключатель пределов измерения милли-амперметра установить в положение, указанное на установке.

    1. Измерить зависимость тока I от напряжения U. Для этого, изме-няя реостатом R напряжение от 0 до 7 В с интервалом 1 В, записать пока-зания миллиамперметра.

    1. Уменьшить напряжение до 0 В. Переключатель П установить в по-ложение, соответствующее пропускному (прямому) напряжению, когда по-ложительный потенциал на аноде (А) диода. Переключатель пределов измерения миллиамперметра установить в положение, указанное на уста-новке.

    60

    1. Измерить зависимость тока I от напряжения U. Для этого, изме-няя напряжение от 0 до 2 В с интервалом 0,5 В, записать показания мил-лиамперметра.

    1. По полученным данным построить вольт-амперную характеристику

    I=f U для прямого и обратного направлений приложенного напряжения

    на одном графике в одинаковом масштабе. Прямой ток и напряжение счи-тать положительными, обратный ток и напряжение – отрицательными.

    7. Пользуясь законом Ома R=U , вычислить значение сопротивления

    I

    полупроводникового диода для всех точек характеристик. Построить график

    R=f U .

    8. Определить коэффициент выпрямления k для нескольких значений напряжения, указанных преподавателем. Для этого требуется найти отно-шение прямого и обратного токов при одних и тех же значениях прямого и обратного напряжений:

    k= IПР .

    I ОБР

    1. Оценить порядок сопротивления полупроводникового диода для прямого и обратного направлений включения.

    1. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Опишите механизм примесной электронной проводимости полу-проводников.

    2. Нарисуйте и объясните вольт-амперную характеристику полупро-водникового выпрямителя.

    1. Что представляет собой германиевый диод

    1. Каково применение полупроводниковых диодов в технике?

    Вариант 2

    1. Опишите механизм дырочной проводимости полупроводников.

    1. Объясните возникновение потенциального барьера на контакте двух n полупроводников с разными типами проводимости.

    1. Объясните выпрямляющее действие n-р-перехода.

    2. Что называется коэффициентом выпрямления?

    61

    Лабораторная работа № 3-17

    ИЗУЧЕНИЕ РАБОТЫ ФОТОСОПРОТИВЛЕНИЙ

    Цель работы: исследовать вольт-амперные и спектральную харак-

    теристики фотосопротивления.

    Приборы и принадлежности: источник питания, вольтметр,

    микроамперметр, реостат, фотосопротивление ФС-К1 (ФСК-Г1),

    осветительная система, включающая в себя источник белого света и

    монохроматор УМ-2.

    Теоретическое введение

    Фотосопротивлениями (ФС) называются полупроводниковые прибо-

    ры, у которых величина электрического сопротивления уменьшается при

    освещении их светом. Происходит это вследствие внутреннего фотоэф-

    фекта: если энергия фотона, поглощенного электроном в полупроводнике,

    превышает ширину запрещенной зоны, электрон переходит из валентной

    зоны в зону проводимости. В результате появляется дополнительная пара

    свободных носителей заряда – электрон и дырка, что приводит к увеличе-

    нию концентрации свободных носителей заряда и, как следствие, к

    уменьшению электросопротивления материала. Количество образующих-

    ся свободных носителей заряда пропорционально падающему световому

    потоку. В отличие от внешнего фотоэффекта носители тока остаются в

    объеме вещества.

    Конструкция ФС представлена на рис. 17.1. На диэлектрическую

    подложку 1 нанесен тонкий слой из полупроводникового материала 2, на

    поверхности которого

    расположе-

    ны металлические контакты 3. Си-

    3

    стема помещена в пластмассовый

    2

    корпус 4.

    1

    При постоянном напряжении,

    приложенном к ФС, сила тока

    4

    через сопротивление

    зависит от

    величины

    падающего

    светового

    Рис. 17.1

    потока. При возрастании светового

    потока увеличивается ток в цепи

    ФС. Затемненные ФС также пропускают через себя небольшой ток,

    который зависит от сопротивления в темноте, т.е. от темнового

    сопротивления. Оно может быть от десятков килоом до десятков мегаом,

    но значительно меньше, чем в вакуумных элементах. В некоторых

    веществах при переходе от темноты к интенсивному освещению величина

    сопротивления изменяется в десятки и сотни тысяч раз.

    При падении светового потока на поверхность ФС его сопротивление уменьшается. Таким образом, при любой приложенной разности

    62

    потенциалов ток, проходящий через ФС, увеличивается при возрастании интенсивности падающего светового потока и может достигать 30…50 мА. Время работы ФС в нормальном режиме не ограничено. ФС совсем не боится «засветки», т.е. оно не имеет необратимой потери чувствительности при больших освещенностях. Вследствие высоких фотоэлектрических свойств, простоты обращения, низкой стоимости, а также небольшого внутреннего сопротивления и малой рабочей площади ФС широко используют при автоматизации (контроле и управлении) производственных процессов. Значительная температурная зависимость фототока в некоторых ФС является преградой для их применения при больших изменениях температуры.

    Основными характеристиками ФС являются: вольт-амперные харак-теристики (ВАХ), удельная, интегральная и спектральная чувствительно-сти, рабочее напряжение, относительное изменение сопротивления, по-стоянная времени.

    ВАХ – зависимость фототока от напряжения на сопротивлении. По-скольку, даже в отсутствии освещенности, ФС обладает сопротивлением, а значит проводит ток, то под фототоком подразумевают разность токов при данной освещенности и в темноте: I ф I E Iт .

    Удельная чувствительность – отношение фототока к световому потоку при данном напряжении:

    I

    K ф .

    Ф U

    Интегральная чувствительность – отношение фототока к световому потоку, падающему на ФС (определяется произведением удельной чувствительности на приложенное напряжение):

    I

    KU ф .

    Ф

    Спектральная чувствительность

    –

    Iф

    – характеризует

    Ф

    Iф

    изменение

    фототока

    при

    изменении

    длины

    волны

    монохроматического излучения в диапазоне от до + при постоянной величине светового потока Ф. Максимальная спектральная чувствительность для ФС, используемых в данной работе (ФС-К1 или ФСК-Г1), лежит в области видимой части спектра электромагнитного излучения.

    Относительное изменение сопротивления определяется формулой

    R Rm R 1 Im ,

    R Rm I

    63

    где Rm и Im – соответственно сопротивление и ток в темноте (для данного значения напряжения); R и I – сопротивление и ток при освещении фотосопротивления.

    Постоянная времени, характеризующая инерционность фотосопротивления, измеряется временем, в течение которого после прекращения освещения фототок уменьшается в e = 2,7 раз. Приближенно этот процесс можно описать экспоненциальным законом. При увеличении освещенности постоянная времени уменьшается. По сравнению с вакуумными фотоэлементами ФС имеют большую инерционность.

    Наиболее важными характеристиками ФС являются вольт-амперные и световые. Вольт-амперные характеристики выражают зависимость фототока от приложенного напряжения при постоянной величине светового потока (E = const); обычно получают вольт-амперные характеристики I f U в темноте и при разных световых потоках.

    Общий вид ВАХ фотосопротивлений представлен на рис. 17.2.

    Iф

    Е2

    Е1

    Е1 Е2

    0

    U

    Рис. 17.2

    Из вольт-амперных характеристик следует, что, во-первых, ФС является линейным сопротивлением, которое подчиняется закону Ома, во-вторых, относительное изменение сопротивления при данной освещенности не зависит от приложенной разности потенциалов. Но величина фототока и относительное изменение сопротивления зависят от освещенности.

    Вольт-амперная характеристика показывает основное отличие ФС от фотоэлементов с внешним фотоэффектом, которое состоит в том, что фототок ФС не имеет насыщения и, следовательно, их чувствительность пропорциональна приложенному напряжению.

    64

    Световые характеристики, как и вольт-амперные, показывают другое отличие ФС от вакуумных фотоэлементов, которое состоит в отсутствии в ФС прямой пропорциональности между фототоком и освещенностью. При увеличении E фототок стремится к насыщению. Из световой характеристики можно определить интегральную чувствительность ФС.

    Схема установки для исследования характеристик ФС показана на рис. 17.3. Постоянное напряжение от источника питания 1 подается на фотосопротивление 2. В данной работе в качестве фотосопротивления используется ФС-К1 или ФСК-Г1 с сульфид-кадмиевым (CdS) чувстви-тельным слоем. Величина напряжения на ФС регулируется реостатом 3. Величины напряжения и фототока на ФС измеряются с помощью вольт-метра 4 и микроамперметра 5. Облучение ФС осуществляется системой, состоящей из источника белого света 6 (лампы накаливания) и монохро-матора 7. Монохроматор из потока белого света вырезает излучение определенного диапазона длин волн , пучок которого фокусируется на поверхности светочувствительного слоя.

    5

    3

    A

    1

    7

    6

    V

    4

    2

    Рис. 17.3

    Порядок выполнения работы Задание 1. Измерение вах фотосопротивления

    1. Включить источник питания.

    1. Не включая источник света, измерить зависимость силы тока Im от

    напряжения на фотосопротивлении. Напряжение изменять с помощью реостата в диапазоне 0…150 В с шагом 15 В для ФС-К1 либо в диапазоне 0…50 В с шагом 5 В для ФСК-Г1 (см. дополнительные указания на уста-новке).

    3. Включить источник света. На барабане монохроматора установить число делений n = 2000. По градуировочному графику, прилагаемому к монохроматору, определить длину волны , соответствующую данному числу делений барабана.

    4. Измерить зависимость силы тока I от напряжения на фотосопротив-лении аналогично п. 2.

    65

    5. Определить величину фототока I ф I Iт для каждой значения

    напряжения.

    6. Подобно пп. 3 – 5 измерить зависимость фототока I ф I Iт от напряжения на ФС для двух других длин волн (n = 2500, n = 3000).

    1. На одной системе координат построить ВАХ для трех значений длин волн падающего света.

    1. С помощью графиков определить относительное изменение сопро-

    тивления R 1 Im при U = 50 В.

      1. I

    1. Проанализировать полученные результаты, сделать выводы.

    Задание 2. Измерение световой характеристики ФС

    1. Установить на ФС напряжение 100 В для ФС-К1 либо 50 В для ФСК-Г1 (см. дополнительные указания на установке).

    2. Измерить зависимость фототока (см. пп. 2 – 5 в задании 1) от длины

    волны падающего света , меняя положение барабана монохроматора от 1500 до 3000 делений с шагом 100 делений.

    1. Нарисовать график зависимости фототока от длины волны.

    2. Проанализировать полученные результаты, сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. В чем заключается внутренний фотоэффект?

    1. Назовите основные характеристики фотосопротивлений. Дайте их определения.

    1. В чем отличие полупроводника от проводника с точки зрения зонной теории?

    1. Приведите примеры использования фотосопротивлений в науке и технике.

    Вариант 2

    1. Какие виды фотоэффектов Вы знаете?

    1. В чем отличие внутреннего фотоэффекта от внешнего фотоэффек-

    та?

    1. В чем состоит отличие вольт-амперных характеристик ФС и фото-элементов?

    1. Почему ниже определенного значения частоты падающего света внутренний фотоэффект не наблюдается?

    66

    Лабораторная работа № 3-18 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЧИСЛА АВОГАДРО С ПОМОЩЬЮ

    РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЁТКИ

    Цель работы: определить постоянную кристаллической решетки и число Авогадро, используя рентгенограмму, снятую по методу Дебая – Шерера.

    Принадлежности: рентгенограмма, снятая в K Cu-излучении ( = 1,537 Å) от медного образца ( = 8600 кг/м, = 64 кг/моль, кристаллическая решетка гранецентрированная).

    Теоретическое введение

    Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллических решет-ках широко используют для анализа структуры твердых тел.

    Наибольшее распространение получил метод Дебая – Шерера, в ко-тором в качестве образца используется мелкокристаллический порошок исследуемого материала. Такое вещество даже в сравнительно малом (до 1 мм3) объеме содержит огромное число кристалликов, расположенных беспорядочно относительно друг друга.

    Если через такой образец 1 (рис. 18.1) пропустить пучок монохрома-тических рентгеновских лучей 2, то для любой заданной кристаллографи-ческой плоскости 3 с индексами Миллера h, k, l найдутся кристаллики, ориентированные так, что эта плоскость образует с падающим рентгенов-ским пучком угол , удовлетворяющий условию главных дифракционных максимумов Вульфа – Брегга

    2dhklsin = m ,

    (18.1)

    где dhkl – межплоскостное расстояние; – длина волны рентгеновского из-лучения. Целые числа h, k, l, называемые индексами Миллера, использу-ют для определения положения кристаллографической плоскости в кри-сталлической решетке. Если оси координат направить вдоль ребер эле-ментарной ячейки, то значения индексов Миллера будут обратны величи-нам отрезков, отсекаемых кристаллографической плоскостью на осях ко-ординат (рис. 18.2). Штриховкой на рисунке показана плоскость (111).

    Лучи, отраженные от таких кристаллографических плоскостей, обра-зуют дифракционные максимумы в направлении, составляющем угол 2 с падающим лучом. Отраженные лучи будут образовывать поверхность ко-нуса 4 (см. рис. 18.1) с углом раствора в 4 , ось которого совпадает с направлением падающего пучка 2.

    Если на пути лучей расположить плоскую фотопленку 5, то отражен-ные лучи оставят на ней след в виде концентрических колец.

    67

    Рис. 18.1

    Рис. 18.2

    На рис. 18.3 представлена схема установки для рентгеноструктурно-го анализа методом Дебая – Шерера. Источником рентгеновского излуче-ния является рентгеновская трубка 1 (с медным антикатодом в данном случае). Из потока рентгеновского излучения с помощью свинцовой диа-фрагмы 2 вырезается тонкий пучок, направленный на образец 3. Образец

    68

    окружен цилиндрической фотопленкой 4. А и В – точки входа и выхода рент-геновского пучка соответственно.

    Рис. 18.3

    На рис. 18.4 изображен общий вид рентгенограммы, полученной на этой установке. Если же образец окружить цилиндрической узкой фотопленкой, то следы отраженных лучей будут иметь вид дуг кривых, образующихся при пересечении конуса с этим цилиндром. А и В – точки входа и выхода рентгеновского пучка; l1, l2, l3 – расстояния между симметричными линиями (дифракционными максимумами от кристаллографических плоскостей с одинаковыми индексами Миллера h, k, l).

    Рис. 18.4

    После снятия рентгенограммы необходимо ее расшифровать, т. е. определить индексы плоскостей, соответствующих данным дифракционным максимумам, и рассчитать постоянные a, b, c решетки кристалла.

    В общем случае для решеток с малой симметрией (триклинная, моноклинная системы) эта задача представляет большие трудности. Проще всего она решается для кристаллов кубической системы, где периоды кристаллической решетки равны: а = b = c. Межплоскостное расстояние в этом случае определяется выражением

    69

    d

    a

    .

    h 2 k 2

    l2

    Т огда уравнение Вульфа – Брегга (18.1) для m = 1 примет вид

    2asin h 2 k 2 l2 ,

    а период кристаллической решетки

    a

    h 2

    k

    2 l

    2

    .

    (18.2)

    2sin

    Рассчитать углы соответствующих дифракционных линий можно, определив радиус цилиндра R, образованного фотопленкой, и измерив расстояние между симметричными линиями. Как видно из рис. 18.3 и 18.4, длина окружности цилиндра, образованного фотопленкой,

    L = l1+2l2+l3.

    Следовательно, радиус цилиндра

    R

    L

    1

    (l 2l

    l

    ) .

    2

    2 1

    2

    3

    Поскольку угол скольжения мал, то

    1

    l1

    l1

    sin

    sin2

    .

    (18.3)

    4 R

    2 l1 2l 2 l3

    2

    Подставив выражение (18.3) в (18.2), получим формулу для опреде-ления постоянной кристаллической решетки

    Авогадро: m

    l 2l

    l

    a h2 k2 l2

    .

    (18.4)

    1

    2

    3

    NA

    N

    n

    .

    (18.5)

    a3

    A

    При подсчете числа атомов, приходящихся на одну элементарную ячейку, необходимо учитывать, что атомы, расположенные в вершинах куба, одновременно принадлежат восьми элементарным ячейкам, а рас-положенные в центрах граней – двум. Поэтому для простой кубической решетки n = 1, а для гранецентрированной – n = 4.

    Метод определения числа Авогадро по значению постоянной кри-сталлической решетки является наиболее точным из современных мето-дов.

    Порядок выполнения работы

    1. На данной рентгенограмме, полученной для медного образца, из-мерить расстояния l1, l2, l3 для групп максимумов от кристаллографиче-ских плоскостей (111), (200).

    1. Вычислить постоянную решетки меди для этих двух случаев по формуле (18.4) и определить ее среднее значение.

    1. По формуле (18.5) рассчитать число Авогадро.

    2. Проанализировать полученные результаты. Сделать выводы.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Опишите механизм образования рентгеновских лучей в рентге-новской трубке.

    2. Объясните, почему не наблюдается дифракции видимого света на кристаллических решетках.

    1. Приведите примеры использования рентгеновского излучения в науке и технике помимо рентгеноструктурного анализа.

    1. Задача. На грань кристалла падает параллельный пучок рентге-

    новских лучей с длиной волны = 1,47 Å. Расстояние между атомными плос-костями кристалла d = 2,8 Å. Под каким углом скольжения наблюдается ди-фракционный максимум второго порядка?

    Ответ: arcsin m 310 40 . 2d

    Вариант 2

    1. В чем отличие тормозного рентгеновского излучения от характе-ристического? Нарисуйте спектр тормозного рентгеновского излучения.

    2. Выведите формулу Вульфа – Брегга.

    71

    1. Приведите примеры использования рентгеновского излучения в аэрокосмической области.

    2. Задача. Узкий пучок рентгеновских лучей падает на монокристалл NaCl. Наименьший угол скольжения, при котором еще наблюдается зер-кальное отражение от системы кристаллографических плоскостей с меж-

    плоскостным расстоянием d = 2,8 Å, равен 40 6 . Найти напряжение на рентге-новской трубке.

    Ответ: U

    hc

    31 кВ.

    2desin

    Лабораторная работа № 3-19

    ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭЛЕКТРОНОГРАММ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОСТОЯННЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ РЕШЕТОК

    Цель работы: ознакомиться с методом электронографического ис-следования структуры твердых тел (металлов), используя электронограм-мы, определить постоянные кристаллических решеток серебра и меди.

    Приборы и принадлежности: электронограммы тонких поликри-сталлических пленок Al, Aq, Cu.

    Теоретическое введение

    1. Особенности электронографического анализа структуры ве-щества.

    Явление дифракции электронов на кристаллических решетках твер-дых тел имеет очень важное значение в современной науке и технике уже хотя бы потому, что именно в этом явлении впервые были обнаружены волновые свойства микрочастиц. Оно хотя и сходно в «кинетическом» от-ношении с эффектом дифракции рентгеновских лучей, однако имеет ряд особенностей, которые определяют область применения электроногра-фии. К ним прежде всего относятся:

    а) сильное взаимодействие электронов с веществом; б) малая длина их волны.

    Сильное взаимодействие электронов с электрическими полями атом-ных ядер и электронных оболочек атомов приводит к тому, что метод ди-фракции электронов используется для изучения структуры молекул, тон-ких пленок и поверхностных слоев.

    Малая длина волны электронов дает возможность получения ди-фракционной картины со сравнительно тонкими линиями (дифракционны-ми максимумами) от объекта, линейные размеры которого порядка не-скольких межатомных расстояний; рентгенограмма таких объектов обна-руживает весьма размытую «диффузионную» дифракционную картину. Это имеет особое значение при изучении аморфных и жидких веществ.

    72

    Рис. 19.1

    Отрицательной стороной малости длин волн является смещение всей дифракционной картины в область малых углов. Поэтому при иссле-довании веществ, имеющих сложную кристаллическую решетку, на элек-тронограмме может наблюдаться наложение линий, что затрудняет рас-чет кристаллической структуры.

    2. Аппаратура для электронографических исследований.

    Электронографические исследования требуют более сложного тех-ники эксперимента по сравнению с рентгеновскими исследованиями.

    Очень малая длина свободного пробега электронов в воздухе требу-ет, чтобы получение и регистрация картины рассеяния происходили в ва-кууме 10-1 – 10- 3 Па, в связи с чем электронографические исследования производятся в специальных приборах – электронографах, где создается требуемый вакуум.

    Конструкция простейшего электронографа представлена на рис. 19.1. Источником электронов является вольфрамовый термокатод 1. Генерируемый им поток электронов фокусируется электродом 2 в тонкий пучок и ускоряется анодом 3 (разность потенциалов между катодом и анодом составляет 10…100 кВ). Фокусирующая система 4 конденсирует изображение электронного пучка на исследуемый образец 5. Результат дифракции электронов после прохождения через образец с помощью набора электромагнитных линз 6 проецируется на катодолюминисцентный экран 7 (вместо экрана может использоваться фотопластинка). Нужно от-метить, что вид электронограмм может принимать различные формы и

    определяется структурой образца.

    3. Расчет простейших электронограмм.

    Типичная электронограмма от поликристаллического образца представляет собой набор концентрических колец. На рис.

    19.2

    показана

    упрощенная

    схема

    взаимодействия

    электронного

    пучка

    с

    образцом:

    1

    –

    образец;

    2 – кристаллографическая плоскость; 3 – направление первичного пучка электронов; 4 – дифракционное кольцо на экране 5. Определение параметров кристаллической решетки по электронограмме осуществляется на основании уравнения Вульфа – Брегга

    2dsin = m ,

    (19.1)

    где d – расстояние между кристаллографическими плоскостями,

    проведенными через узлы кристаллической решетки; – угол скольжения лучей; – длина волны электронов в падающем пучке; m – порядок

    73

    дифракционного максимума (в данной лабораторной работе равен единице).

    Рис. 19.2

    Межплоскостное расстояние d в общем случае является функцией величин ребер элементарной ячейки a, в, с (см. рис. 18.2). Так, в случае простейшей кубической решетки постоянная кристаллической решетки

    a d h2 2 l2 ,

    (19.2)

    где h, k, l – индексы Миллера(см. описание лабораторной работы 3-18). Так как угол скольжения для быстрых электронов мал (рис. 19.2),

    то его можно определить из соотношения

    rhkl tq2 2 ,

    L

    т.е. rhkl , (19.3)

    2 L

    где L – расстояние от образца до экрана (фотопленки); rhkl – радиус дифракционного кольца на экране (фотопластинке), соответствующего отражению от кристаллографической плоскости с индексами (h, k, l).

    Подставив (19.3) в уравнение (19.1), получим выражение для межплоскостного расстояния

    74

    dhkl

    L

    .

    (19.4)

    r

    hkl

    Таким образом, из уравнений (19.2) и (19.4) следует, что для кубических кристаллов постоянную решетки можно найти по формуле

    a

    L

    h 2 k 2 l

    2

    .

    (19.5)

    rhkl

    Как видно из этой формулы, для определения постоянной решетки необходимо знать постоянную электронографа L (произведение длины волны на расстояние от образца до экрана). Самым распространенным и надежным способом определения величины L является применение «стандартных» образцов. В качестве «стандартного» образца в данной работе используется тонкая пленка алюминия, постоянная решетки которого точно известна.

    Длину волны электрона, ускоренного разностью потенциалов U, можно найти с помощью уравнения де Бройля:

    h

    ,

    (19.6)

    m

    где h – постоянная Планка; m – масса электрона; – скорость электрона.

    Поскольку работа сил электрического поля идет на сообщение электрону кинетической энергии

    eU m 2 ,

    2

    то скорость электрона

    2eU . m

    Подставив скорость электрона в уравнение де Бройля (19.6), получим

    h

    .

    2meU

    Эта формула может быть приведена к более удобной форме:

    12

    , 25

    Å

    (19.7)

    U

    (если U подставить в вольтах, то получится в ангстремах).

    75

    Порядок выполнения работы

    1. С помощью электронограммы тонкой пленки Al (постоянная кристаллической решетки Al а = 4,05 Å) по формуле (19.5) рассчитать постоянную электронографа L для линий (111), (200), (220), (311) и найти её среднее значение.

    2. Зная, что ускоряющее напряжение при съемке электронограмм в электронографе было U = 60 кВ, по формуле (19.7) определить длину волны электронов. Зная постоянную электронографа L и длину волны электронов , определить расстояние L от образца до фотопленки в электронографе.

    1. С помощью электронограммы тонкой пленки Aq (зная постоянную электронографа L) вычислить по формуле (19.5) постоянную кристаллической решетки Aq для линий (111), (200), (220), (311) и найти ее среднее значение.

    1. То же самое выполнить для электронограммы тонкой пленки Си.

    Контрольные вопросы

    Вариант 1

    1. Какое свойство электронов используется в электронографии для анализа структуры твердого тела?

    2. Запишите уравнение де Бройля. Каков его физический смысл?

    3. Приведите примеры использования волновых свойств микрочастиц (кроме электронографии) в науке и технике.

    1. Задача. Параллельный пучок моноэнергетичных электронов падает по нормали на диафрагму с узкой прямоугольной щелью шириной b = 1 мкм. Определить скорость электронов, если на экране, который находится на расстоянии L = 50 см от щели, ширина центрального

    дифракционного максимума х = 0,36 мм.

    Ответ:

    2Lh

    2 106 м/с.

    mb x

    Вариант 2

    1. В чем заключается корпускулярно-волновой дуализм вещества?

    1. Какие виды электронных микроскопов Вы знаете? Каковы общие принципы их работы?

    1. Каковы особенности взаимодействия электронов с веществом по сравнению с электромагнитным излучением? Как это используется в электронной микроскопии?

    1. Задача. Какую ускоряющую разность потенциалов U должен пройти пучок электронов, чтобы при отражении от монокристалла никеля

    76

    с постоянной решетки d = 0,352 нм при угле скольжения = 50 наблюдался максимум интенсивности отраженного пучка первого порядка?

    h2

    Ответ: U 8med 4 sin2 400 В.

    77

    Основные физические постоянные

    Атомная единица массы

    а.е.м. = 1,660540·10-27 кг

    Гравитационная постоянная

    G = 6,67259·10-11 Н·м2·/кг2

    Элементарный заряд

    е = 1,602177·10-19 Кл

    Магнитная постоянная

    μ0 = 4π·10-7 Гн/м = 12,566371·10-7 Гн/м

    Масса покоя электрона

    me = 9,109390·10-31 кг

    Масса покоя протона

    mp = 1,672623·10-27кг

    Универсальная газовая постоянная

    R = 8,314510 Дж/(моль·К)

    Постоянная Авогадро

    NА = 6,022137·1023 моль-1

    Постоянная Больцмана

    k = 1,380658·10-23 Дж/К

    Постоянная Планка

    h = 6,626076·10-34 Дж·с

    Радиус первой Боровской орбиты

    r0 = 0,529177·10-10 м

    Скорость света в вакууме

    с = 2,997925·108 м/с

    Удельный заряд электрона

    e/me = 1,758820·1011 Кл/кг

    Электрическая постоянная

    0 = 8,854188·10-12 Ф/м

    78

    Библиографический список

    Геометрическая и волновая оптика / А. Л. Рвачев, Г. Д. Никишова, О. Н. Либина и др. – Х.: Харьк. авиац. ин-т, 1981. – 105 с.

    Детлаф, А. А. Курс физики / А. А. Детлаф, Б. М. Яворский. – М.:

    Наука, 1989. – 332 с.

    Жуков, Н. Н. Физические основы современных методов исследования металлов: консп. лекций: в 2 ч. / Н. Н. Жуков. – Х.: ХАИ, 1989. – Ч. I. – 53 с.

    Зисман, Г. А. Курс общей физики: в 3 т. / Г. А. Зисман, О. М. Тодес. –

    М.: Наука, 1972. – Т. 3. – 495 с.

    Ландсберг, Г. С. Оптика / Г. С. Ландсберг. – М.: Наука, 1976. – 589 с. Пинес, Б. Я. Лекции по структурному анализу / Б. Я. Пинес. – Х.: ХГУ,

    1967. – 352 с.

    Савельев, И. В. Курс общей физики: в 3 т. / И. В. Савельев. – М.:

    Наука, 1989. – Т. 2. – 462 с.

    Савельев, И. В. Курс общей физики: в 3 т. / И. В. Савельев. – М.:

    Наука, 1987. – Т. 3. – 317 с.

    Шалимов, К. В. Физика полупроводников / К. В. Шалимов. – М.:

    Энергия, 1971. – 311 с.

    79

    СОДЕРЖАНИЕ

    Предисловие…………………………………………………………………

    3

    Лабораторная работа № 3-01. Определение показателя преломле-

    ния стекла интерференционным методом …………………………..

    4

    Лабораторная работа № 3-03. Определение длины волны лазерно-

    го излучения с помощью интерференции света, прошедшего через

    бипризму Френеля …………………………………………………………

    7

    Лабораторная работа № 3-04. Определение длины волны лазерно-

    го излучения с помощью интерференции света от двух щелей …

    10

    Лабораторная работа № 3-05. Изучение дифракции Фраунгофера

    на щели ………………………………………..…………………………….

    12

    Лабораторная работа № 3-06. Изучение дифракции Фраунгофера

    на одной и двух щелях ……………………………………………….….

    15

    Лабораторная работа № 3-07. Определение длины световой волны

    с помощью дифракционной решетки, оптической скамьи и двух

    щелей ………………………………………………………………………..

    20

    Лабораторная работа № 3-08. Исследование явления поляризации

    света …………………………………………………..……………………..

    22

    Лабораторная работа № 3-09. Определение концентрации сахара в

    растворе с помощью сахариметра……………………………………..

    26

    Лабораторная работа № 3-10. Изучение спектрального прибора

    УМ-2 и определение его основных характеристик………….............

    30

    Лабораторная работа № 3-11. Определение показателя преломле-

    ния прозрачных твердых тел и жидкостей…………………………....

    37

    Лабораторная работа № 3-12. Определение постоянной Стефана –

    Больцмана……………………………………….……...…..........................

    44

    Лабораторная работа № 3-13. Изучение явления внешнего фото-

    эффекта ……………………………………………………….…………….

    51

    Лабораторная работа № 3-14. Исследование спектра водорода….

    54

    Лабораторная работа № 3-15. Измерение ширины запрещенной зо-

    ны полупроводника ……………………………….……………………….

    57

    Лабораторная работа № 3-16. Измерение вольт-амперной характе-

    ристики (ВАХ) полупроводникового диода и определение его ха-

    рактеристик …………………………………………………………………

    60

    Лабораторная работа № 3-17. Изучение работы фотосопротивле-

    ний……………………………………………….................

    62

    Лабораторная работа № 3-18. Определение числа Авогадро с по-

    мощью рентгеноструктурного измерения постоянной кристалличе-

    ской решётки …………….………………….…………..………………….

    67

    Лабораторная работа № 3-19. Использование электронограмм для

    определения постоянных кристаллических решеток ……………...

    72

    Основные физические постоянные………………………………………

    77

    Библиографический список………………………………………………

    78

    80

    Навчальне видання

    Мігаль Валерій Павлович, Луньов Ігор Валентинович, Абашин Сергій Леонідович та ін.

    ХВИЛЬОВА ОПТИКА І КВАНТОВА ФІЗИКА

    (Російською мовою)

    Редактор Т. В. Савченко

    Зв. план, 2015 Підписано до видання 10. 12. 2015

    Ум. друк. арк. 4,4. Обл.-вид. арк. 5. Електронний ресурс

    __________________________________________________________

    Видавець і виготовлювач Національний аерокосмічний університет ім. М. Є. Жуковського

    "Х а р к і в с ь к и й а в і а ц і й н и й і н с т и т у т" 61070, Харків-70, вул. Чкалова, 17 http://www.khai.edu

    Видавничий центр "Х А І" 61070, Харків-70, вул. Чкалова, 17 izdat@khai.edu

    Свідоцтво про внесення суб’єкта видавничої справи

    до Державного реєстру видавців, виготовлювачів і розповсюджувачів видавничої продукції сер. ДК № 391 від 30.03.2001

  • Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]