- •Министерство образования и науки украины Национальний аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского «Харьковский авиационный институт»
- •Рекомендации по методике проведения лабораторных работ
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •2 2 Dsin . Следовательно, разность фаз суммарных колебаний от
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения задания 1
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения задания 1
- •Порядок выполнения задания 2
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •6. Для каждой определенной длины волны вычислить постоянную Ридберга
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы Задание 1. Измерение вах фотосопротивления
- •Основные физические постоянные
- •Библиографический список
- •Мігаль Валерій Павлович, Луньов Ігор Валентинович, Абашин Сергій Леонідович та ін.
Порядок выполнения работы
Собрать на оптической скамье установку согласно рис. 5.2. Щель поместить на расстоянии 10…20 см от лазера, экран – на противополож-ном конце скамьи.
Включить лазер. Юстировочными винтами крепления лазера направить его луч на щель. При правильном освещении щели дифракци-онная картина на экране должна быть симметричной относительно центра картины.
Установить микрометром такую ширину щели, чтобы ширина цен-трального максимума была приблизительно 10 мм и при этом наблюда-лось бы не менее двух боковых максимумов с каждой стороны.
Фоторезистор установить непосредственно перед экраном. Ввести фоторезистор в центральный дифракционный максимум. Включить мик-роамперметр. Микроамперметр имеет ряд переключателей чувствитель-ности, что позволяет проводить измерения тока в широком диапазоне ин-тенсивности света. Подобрав соответствующий диапазон измерения тока, начиная с самого грубого, чтобы не испортить прибор, следует отрегули-ровать установку резистора по высоте. Для этого резистор плавно пере-мещают по высоте с помощью гайки на рейтере и находят такое положе-
14
ние резистора, при котором показание прибора будет максимальным.
Перемещая резистор вдоль дифракционной картины, снять зави-симость тока от положения резистора x с шагом в 1 мм. Измерения долж-ны охватить центральный максимум и один-два боковых максимума с каждой стороны. Построить график зависимости I(x).
Пользуясь графиком, определить положение хm всех зафиксиро-ванных минимумов и по формуле (5.3) вычислить ширину щели b. Найти среднее значение b.
Определить по графику значения интенсивностей центрального и боковых максимумов и сравнить их соотношения с теоретическими значе-
ниями (5.1).
Проанализировать полученные результаты и сделать выводы.
Контрольные вопросы
Вариант 1
Что называется дифракцией? Перечислите виды дифракции.
Сформулируйте принцип Гюйгенса – Френеля.
Выведите условия дифракционных минимумов для дифракции Фраунгофера на одной щели.
Выведите рабочую формулу для определения ширины щели.
Вариант 2
1. Запишите аналитическое выражение принципа Гюйгенса – Френе-
ля.
Выведите выражение для амплитуды результирующей волны, ди-фрагированной на щели под углом .
Есть ли принципиальное отличие дифракции в параллельных лу-чах (Фраунгофера) от дифракции в расходящихся лучах (Френеля)?
Перечислите основные свойства излучения лазера.
Лабораторная работа № 3-06
ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ ФРАУНГОФЕРА НА ОДНОЙ И ДВУХ ЩЕЛЯХ
Цель работы: получить дифракционные картины и определить ши-рину щели и расстояние между центрами щелей двойной щели.
Приборы и принадлежности: лазер типа ЛГ-72 ( = 6328Å); диск со щелью; диск с двумя близко расположенными щелями одинаковой шири-ны; экран с миллиметровой шкалой.
15
Теоретическое введение
Согласно принципу Гюйгенса – Френеля амплитуду светового коле-бания в любой точке экрана можно найти, сложив колебания, вызванные вторичными волнами от всех элементов щели. Выполнив сложение коле-баний от всех элементов одной щели, получим
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||||||
|
|
sin |
|
|
|
bsin |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
A |
A |
|
|
|
|
|
, |
(6.1) |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||
|
0 |
|
|
|
|
bsin |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||
где A0 – амплитуда суммарного колебания при = 0.
Разность хода любой пары лучей от соответствующих элементов двух щелей составляет dsin , где d – расстояние между центрами щелей
(рис. 6.1).
Рис. 6.1
Соответствующая оптической разности хода разность фаз
