- •Лазерные измерения
- •1. Теоретическое описание 23
- •Лабораторная работа № 1. Тепловой метод измерения мощности лазерного излучения
- •Измерение мощности и энергии лазерного излучения
- •Методы измерения энергетических параметров излучения
- •Тепловой метод измерения мощности и энергии лазерного излучения
- •Устройство и принцип действия измерительного преобразователя пи- 7
- •Устройство и принцип действия измерителя средней мощности и энергии лазерного излучения имо–2н
- •Порядок выполнения работы
- •Экспериментальная установка
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 2. Исследование характеристик фотопреобразователей лазерного излучения
- •Теоретическое описание
- •Г Рис. 2.2. Схема включения фотодиода в гальваническом режиме. Альванический режим
- •Вольтаический режим
- •Основные параметры фотодиода
- •Основные характеристики фотодиода
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3. Интерферометр Майкельсона
- •Теоретическое описание
- •П Рис. 3.1. К определению комплексной степени кочгерентности. Араметры, характеризующие временную когерентность источников света
- •И Рис. 3.3. Схема интерферометра Майкельсона. Нтерферометр Майкельсона
- •Экспериментальная установка «Интерферометр Майкельсона»
- •Описание установки
- •Оценка длины временной когерентности
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4. Интерферометр Фабри-Перо
- •Теоретическая часть
- •Эталон Фабри-Перо
- •Разрешающая способность интерферометра Фабри–Перо
- •Дисперсионная область
- •Примеры использования интерферометра Фабри-Перо
- •Экспериментальная установка «Интерферометр Фабри – Перо»
- •Описание установки
- •Измерение разности длин волн
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5. Интерференция поляризованного света
- •Коноскопические картины
- •Интерференция в кристаллических пластинках
- •Интерференционные картины в одноосных кристаллах
- •Интерференционные картины в двуосных кристаллах
- •Применение коноскопических картин для анализа свойств оптически одноосных кристаллов
- •Э Рис. 5.3. Интерференционная картина в двуосном кристалле (бразильский топаз). Кспериментальная установка «Интерференция поляризованного света»
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6. Линейный электрооптический эффект
- •Распространение света в двулучепреломляющих кристаллах и линейный электрооптический эффект
- •Линейный электрооптический затвор (лэз)
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы Основной список
- •Дополнительный список
Контрольные вопросы
1. Что понимается под многолучевой интерференцией?
2. В чем основные отличия картин фиксируемых в случаях двух- и многолучевой интерференции?
3. Чем отличаются полосы равной толщины и равного наклона?
4. Каковы должны быть условия экспериментов для наблюдения полос равной толщины и равного наклона?
5. Определите понятие пространственной когерентности, что понимается под ее радиусом?
6. Какие особенности существуют при оценке временной когерентности излучения реальных лазерных источников?
Лабораторная работа № 4. Интерферометр Фабри-Перо
Цель работы: Изучение устройства и принципа действия интерферометра Фабри-Перо и освоение методов измерения спектральных характеристик излучения.
Теоретическая часть
Эталон Фабри-Перо
Рассмотрим многолучевую
интерференцию на примере интерферометра
Фабри-Перо (ИФП) (рис. 4.1).
Исследуем сначала интерференцию многих
световых волн при прохождении плоской
монохроматической волны через
плоскопараллельную диэлектрическую
пластинку толщиной h и показателем
преломления n. Обозначим {
,
}
амплитудные коэффициенты пропускания
и отражения при входе волны внутрь
пластины, {
,
}
- амплитудные коэффициенты пропускания
и отражения на выходе волны из пластины
наружу. При этом справедливы соотношения:
, (4.1)
г
Рис. 4.1. Полосы равного
наклона при многолучевой интерференции.
и
- энергетические коэффициенты пропускания
и отражения соответственно. Будем
считать углы падения φ и преломления θ
достаточно малыми, поэтому можно считать
коэффициенты отражения и пропускания
независящими от этих углов. Разность
хода ∆ между соседними интерферирующими
волнами на выходе пластины равна:
, (4.2)
а разность фаз равна
. (4.3)
Запаздывание последующей
волны относительно предыдущей за счет
прохождения волны в пластинке учтем
множителем
.
Суммарная амплитуда поля E2
прошедшей волны определяется суперпозицией
всех прошедших пластинку волн:
(4.4)
Интенсивность света определяется следующим образом:
. (4.5)
Эта формула носит название
формулы
Эйри. Вид функции Эйри (4.5)
для трех различных коэффициентов
отражения представлен на рис. 4.2.
Максимумы функции
достигаются при δ = 2πm, где m = 0, 1, 2,..., а
минимумы
при δ = π(2m+1). Условие наблюдения максимумов
можно сформулировать иначе:
. (4.6)
Т.о. видность интерференционной картины (см. лаб. раб. №3) равна:
, (4.7)
т.е. при
,
.
Аналогичные рассуждения можно провести,
рассмотрев волны отраженные от
интерферометра. При этом интерференционные
картины в прошедшем и отраженном свете,
очевидно, будут дополнительными друг
другу, т.е. если в первом случае для
определенного угла падения наблюдается
максимум, то во втором случае будет
минимум и наоборот. В силу осевой
симметрии задачи интерференционная
полоса имеет вид кольца и соответствует
единственному углу падения (полосы
равного наклона). В случае если
интерферометр освещается лучами под
несколькими углами (рассеянный свет),
то картина будет представлять собой
систему концентрических колец. В отличие
от интерференционной схемы Майкельсона
максимальный порядок полосы соответствует
центру картины.
И
Рис. 4.2. Кривые распределения
интенсивности в проходящем свете: 1 –
= 0.04; 2 –
=0.4; 3 –
=0.8.
