- •Лекция 1 Интегральные схемы
- •Классификация интегральных схем
- •1.1.1. Матрицы стандартных ячеек
- •1.1.2. Программируемые логические матрицы
- •1.1.3. Аналоговые матрицы (ам)
- •Классификация параметров интегральных схем
- •Лекция 2 Принципы проектирования Она всегда давала хорошие советы,хотя следовала им нечасто.
- •Классификация методов проектирования
- •Лекция 3 Этапы проектирования ис
- •Особенности проектирования ис
- •Разработка спецификации
- •Проектные процедуры процесса проектирования
- •4.1. Методология разработки
- •О подготовке кадров
- •Классификация сапр
- •4.3.1. По назначению систем
- •По способу организации информационных потоков
- •По специализации программных средств
- •По способу организации внутренней структуры сапр
- •По возможности функционального расширения системы пользователем
- •6.1. Автоматизация проектирования полузаказных бис
- •Автоматизация проектирования заказных бис
- •Лекция 7 Компонентное проектирование Подумать только, что из-за какой-то вещи можно так уменьшится,что превратиться в ничто
- •8.1. Построение математической модели бис
- •Вольт-амперные характеристики двухполюсников
- •8.2. Методы формирования математических моделей ис
- •8.2.1. Пример формирования ммс муп
- •8.3. Специфика математических моделей бис
- •8.4. Основы динамического анализа электронных схем
- •Явный метод Эйлера;
- •Неявный метод Эйлера;
- •Метод трапеций.
- •8.5. Итерационные методы решения систем нелинейных алгебраических уравнений
- •8.6. Методы решения систем линейных уравнений (слау)
- •8.6.1. «Точные» методы
- •8.6.2. Итерационные методы
- •8.6.2.1Метод простых итераций
- •8.6.2.2. Метод Гаусса-Зейделя (метод последовательных замещений)
- •9.1. Функциональные модели
- •9.1.1. Модели комбинационных схем
- •Модели последовательностных схем
- •10.1. Общие принципы логического моделирования
- •10.2. Модели сигналов
- •10.3. Компьютерные модели
- •10.4. Синхронное и асинхронное моделирование
- •10.5. Событийное моделирование
- •10.6. Риски сбоя
- •11.1. Терминология
- •11.2. Правила проектирования топологии Мида-Конвей
- •11.3. Проверка на кто
- •11.4. Проверка соответствия топологии кристалла электрической схеме
- •Лекция 12 сапр Synopsys
- •Системный уровень
- •Логический или вентильный уровень
- •Топологический уровень
Особенности проектирования ис
Учёт большого числа паразитных компонентов
Как правило, электрическая схема, изготовленная в соответствии с разработанной топологией, содержит большое число паразитных компонентов. Это паразитные ёмкости, паразитные n-p-n-p структуры, и т.д. Поэтому возникает задача получения принципиальной электрической схемы, соответствующей реальной топологии (экстракция) и повторное схемотехническое моделирование.
Трудности изготовления больших ёмкостей и индуктивностей
приводят к схемотехническим решениям, отличным от решений для схем на дискретных компонентах, а именно: отказ от их применения и преимущественное использование активных компонентов
Проблема тестируемости
обусловлена тем, что практически невозможно контролировать характеристики ИС посредством измерения параметров элементов схемы. Решение проблемы связано с разработкой схемы, предусматривающей возможность её тестирования.
Методы тестирования предусматривают наличие «наблюдаемых узлов» и их «управляемость». «Наблюдаемый узел» – это узел, связанный с выходом интегральной схемы, так что пользователь может легко определить состояние данного узла. «Управляемость» – это обеспечение возможности задания конкретного состояния для указанного узла.
Полное тестирование логической схемы обеспечивается возможностью установления для любого узла любого логического состояния и проверки того, что данный узел «принял» нужное состояние.
Тестирование можно обеспечить, используя структурно-логические методы, предусматривающие разработку логической структуры, при которой можно задавать и считывать состояния всех элементов схемы. Это позволяет свести задачу тестирования последовательностных схем к тестированию комбинационных схем.
Вопросы генерации тестов для последних достаточно хорошо изучены.Помимо структурно-логических применяются конструктивные методы.
Конструктивные методы предусматривают применение специальных конструктивных решений для ИС.
Заметим, что деление методов на структурно-логические и конструктивные весьма условно.
Очевидно, что разработка интегральных схем любой степени сложности невозможна без применения САПР
Лекция 3 Этапы проектирования ис
Вот видишь, всё куда-тодвижется и во что-то превращается,чем же ты недовольна?
Льюис Кэрролл, «Алиса в Стране чудес»
Проектирование современных сложных технических систем (СТС), представляющих, в том числе и системы на кристалле, включает следующие уровни (этапы):
Системный(процессор – память –коммутатор, ППК);
Микросхемный;
Регистровый.
Примечание: Уровень регистровых передач (англ.Register transfer level, RTL)– в разработке интегральных микросхем–это описание работы синхроннойцифровой схемы. На данном уровне поведение схемы определяется в терминах потоков сигналов (или пересылок данных) между аппаратными регистрами и логических операций над данными сигналами. Абстракция уровня регистровых передач используется в языках описания аппаратуры (HDL), например в Verilog HDL и VHDL для создания высокоуровневых описаний схем, из которых могут быть получены низкоуровневые описания и, в конце концов, прошивка для ПЛИС или маски для изготовления СБИС.
Логический;
Схемотехнический;
Топологический;
Компонентный.
Этапы проектирования целесообразно разделить на следующие группы уровней:
Компонентный, топологический, схемотехнический– сфера интересов только разработчика ИС;
Микросхемный, системный– сфера интересов только разработчика аппаратуры;
Логический, регистровый, микросхемный– сфера интересов обеих сторон.
Проектирование может вестись снизу-вверх, либо наоборот.
Группа уровней (этапов) проектирования, с которыми работает конкретный проектировщик, называется Окном проекта.
Рассмотрим некоторые аспекты, связанные с этапами проектирования.
