- •Электроны в твердых телах Мурзакаев а.М.
- •Глава 1 Элементы квантовой механики.
- •Глава 2. Зонная теория твердых тел.
- •Глава 3. Статистика носителей заряда в твердых телах.
- •Глава 4. Электропроводность твердых тел.
- •Глава 1. Элементы квантовой механики
- •1.1. Экспериментальные и теоретические предпосылки квантовой механики
- •1.2. Гипотеза де Бройля. Корпускулярно-волновой дуализм микрочастиц
- •1.3. Волновая функция свободного электрона. Статистический смысл волновой функции
- •1.4. Соотношения неопределенностей Гейзенберга
- •1.5. Уравнение Шредингера
- •1.6. Частица в одномерной прямоугольной потенциальной яме
- •1.7. Квантовый гармонический осциллятор
- •1.8. Прохождение частиц через потенциальный барьер. Туннельный эффект
- •1.9. Водородоподобные атомы
- •Глава 2 зонная теория твердых тел
- •2.1. Движение электронов в периодическом поле кристалла. Уравнение Шредингера для кристалла
- •2.2. Энергетические зоны в приближении сильной связи
- •2.3. Общие свойства волновой функции электрона в периодическом потенциале. Теорема Блоха
- •2.4. Модель Кронига-Пенни
- •2.5. Энергетические зоны в модели Кронига-Пенни
- •2.6. Заполнение энергетических зон электронами. Металлы, диэлектрики и полупроводники
- •2.7. Эффективная масса электрона в кристалле и ее физический смысл
- •2.8. Собственные полупроводники. Понятие о дырках
- •2.9. Примесные полупроводники
- •Глава 3 статистика носителей заряда в твердых телах
- •3.1. Статистическое описание коллектива частиц.
- •Функция распределения частиц по состояниям. Фермионы и бозоны
- •3.2. Функция распределения Ферми-Дирака. Уровень Ферми. Энергия Ферми. Влияние температуры на распределение Ферми-Дирака
- •3.3. Функция плотности состояний электронов и дырок
- •3.4. Концентрации электронов и дырок в полупроводнике. Закон действующих масс. Невырожденный газ электронов и дырок
- •3.5. Уровень Ферми в полупроводниках
- •3.6. Равновесные и неравновесные носители заряда. Квазиуровни Ферми
- •Глава 4 электропроводность твердых тел
- •4.1. Дрейф свободных носителей заряда в электрическом поле
- •4.2. Электропроводность металлов
- •4.3. Электропроводность собственных полупроводников
- •4.4. Электропроводность примесных полупроводников
2.9. Примесные полупроводники
В реальных кристаллах полупроводников всегда присутствуют, пусть и в небольших количествах, дефекты, примеси, некоторые из которых оказывают существенное влияние на их электропроводность. Например, добавление в кремний бора в количестве одного атома на 105 атомов кремния увеличивает его электропроводность при комнатной температуре в 1000 раз. Полупроводники, содержащие примеси, существенно влияющие на его электропроводность, называются примесными полупроводниками, а их электропроводность - примесной электропроводностью.
Рассмотрим механизм примесной
проводимости на примере полупроводникового
кристалла кремния с примесными атомами
фосфора. Четыре валентных электрона
кремния образуют в химически чистом
кристалле парные ковалентные связи с
четырьмя своими ближайшими соседями
(рис. 2.14,а). Примесный атом фосфора
замещает один из атомов кремния в узле
кристаллической решетки. У атома фосфора
пять валентных электронов, четыре из
которых поддерживают связи с соседними
атомами кремния, а пятый остается
свободным (рис. 2.14,б). Этот избыточный
электрон может перейти в зону проводимости
кремния и "участвовать" в создании
электрического тока. Примеси, поставляющие
в зону проводимости дополнительное
количество электронов, называются
донорными примесями, а полупроводники
с такими примесями - донорными
полупроводниками или полупроводниками
n-типа. Наиболее распространенными
донорными примесями в кристаллах кремния
и германия являются атомы пятой группы
периодической системы элементов Д. И.
Менделеева: фосфор (P), мышьяк (As), сурьма
(Sb), висмут (Bi). Энергию, которую необходимо
затратить, чтобы перевести электрон
примесного донорного атома в зону
проводимости, называют энергией связи
донорной примеси. Оценить энергию
связи донорной примеси можно из простой
модели, подобной боровской модели атома
водорода. Согласно этой модели примесный
электрон движется по круговой орбите
в кулоновском поле сил иона фосфора
подобно электрону в поле ядра атома
водорода. Различие заключается в том,
что поле примесного иона ослаблено
диэлектрическими свойствами кристалла
полупроводника. Это влияние учитывается
диэлектрической проницаемостью среды,
которая для типичных полупроводников
составляет 5 ... 2000. Необходимо учесть
также тот факт, что эффективная масса
электрона в кристалле отличается от
массы свободного электрона. Для
количественных оценок воспользуемся
результатами, полученными в теории Бора
для атома водорода. Энергия связи
электрона в атоме водорода равна
.
Учитывая диэлектрическую проницаемость
полупроводникаeи заменяя массу
свободного электрона m на его
эффективную массу в кристалле m*,
получим следующее выражение для энергии
ионизации донорной примеси:
|
Рис. 2.14 Схема проводимости в донорном полупроводнике: а - ковалентные связи в чистом полупроводнике кремния; б - примесный атом фосфора; в - зонная структура донорного полупроводника |
.
(2.23)
Энергия
ионизации свободного атома водорода
равна 13,6 эВ. В соответствии с формулой
(2.23) это значение надо умножить на
коэффициент
,
чтобы получить величину Ed.
В кремнии = 11,7; m*/m 0,2. В
результате получим Ed
0,02 эВ.
Экспериментальное значение энергии ионизации фосфора в кремнии составляет 0,044 эВ. Другие донорные примеси имеют в кремнии и германии энергию ионизации того же порядка величины (см. таблицу).
Таблица
-
Примеси
Энергия ионизации, эВ
Германий
Кремний
Доноры
P
0,0120
0,044
As
0,0127
0,049
Sb
0,0096
0,039
Bi
0,069
Акцепторы
B
0,0104
0,045
Al
0,0102
0,057
Ga
0,0108
0,065
In
0,0112
0,16
С точки зрения зонной теории примесному атому фосфора соответствует локальный энергетический уровень, расположенный в запрещенной зоне кремния на величину Ed ниже дна зоны проводимости (рис. 2.14, в). Поскольку эти уровни локализованы вблизи примесных атомов они на зонной диаграмме изображаются штриховыми линиями.
По-иному ведут себя примесные атомы элементов третьей группы периодической системы элементов, такие как B, Al, Ga, In. Например, замещение в решетке кремния одного атома Si на атом бора приводит к тому, что одна из связей остается незаполненной. Эта связь может быть восстановлена, если атом бора “заберет” один электрон из валентной зоны кремния, образуя (рис. 2.15, а) в ней дырку. На зонной диаграмме это соответствует появлению локальных уровней примеси в запрещенной зоне кремния вблизи потолка валентной зоны. Этот уровень свободен, на него могут перейти электроны из валентной зоны кремния. Образовавшиеся в валентной зоне дырки являются носителями электрического тока в такого типа примесных полупроводниках.
Примеси, захватывающие электроны из валентной зоны полупроводников, называют акцепторными примесями, а энергетичекие уровни этих примесей - акцепторными уровнями. Разность между энергией акцепторного уровня и энергией потолка зона проводимости Ea называется энергией активации акцепторной примеси. Полупроводники, содержащие акцепторные примеси, называют акцепторными полупроводниками или полупроводниками р-типа. Часто их называют дырочными полупроводниками.
|
Рис.2.15. Схема проводимости в акцепторном полупроводнике: а - примесный атом бора; б - зонная структура акцепторного полупроводника |


