- •Этапы формирования качества продукции. Виды контроля качества продукции.
- •Предварительная обработка статических данных. Основные определения.
- •Выборочный метод контроля. Статическая оценка параметров распределения генеральной совокупности.
- •Проверка статистических гипотез
- •Методы случайного отбора выборок штучной продукции.
- •6. Статистические методы анализа производства. Стратификация, графики
- •7. Статистические методы анализа производства. Методы выявления доминирующих причин снижения качества продукции (диаграмма Парето)
- •8. Статистические методы анализа производства. Методы выявления доминирующих причин снижения качества продукции (причинно-следственная диаграмма)
- •9. Статистические методы анализа производства. Методы выявления доминирующих причин снижения качества продукции (гистограмма)
- •10. Статистические методы анализа производства. Методы выявления доминирующих причин снижения качества продукции (диаграмма разброса)
- •11. Контрольные карты при анализе и контроле технологических процессов по количественному признаку
- •12. Контрольные карты при анализе и контроле технологических процессов по альтернативному признаку
- •13. Статистическое регулирование тп. Предварительный анализ стояния тп.
- •14. Статистическое регулирование тп. Выбор плана контроля для статистического регулирования методом средних арифметических и медиан.
- •15. Статистическое регулирование тп. Выбор плана контроля для статистического регулирования методом средних квадратичных отклонений (ско) и размахов.
- •16. Показатели возможностей процессов.
- •17. Последовательный анализ. Критерий Вальда
- •18. Статистическое регулирование тп методом кумулятивных сумм. Кк кумулятивных сумм для среднего значения.
- •19. Статистическое регулирование тп методом кумулятивных сумм. Кк кумулятивных сумм выборочных характеристик рассеивания.
- •20. Одноступенчатый план выборочного контроля по альтернативному признаку при биномиальном распределении. Оперативная характеристика плана.
- •21.Одноступенчатый план выборочного контроля по альтернативному признаку при распределении Пуассона. Оперативная характеристика плана.
- •22. Многоступенчатый план выборочного контроля по альтернативному признаку.
- •23. Последовательный план выборочного контроля по альтернативному признаку при биномиальном распределении.
- •24. Последовательный план выборочного контроля по альтернативному признаку при распределении Пуассона.
- •25. Сравнение одно, двух многоступенчатых и последовательных планов выборочного контроля.
- •26. Принципы применения стандартов статистический приемочный контроль по альтернативному признаку.
- •27.Статистический приемочный контроль по количественному признаку.
- •28 Статистический приемочный контроль по количественному признаку. Контроль по одному количественному признаку при двустороннем допуске и известной дисперсии.
- •29 Статистический приемочный контроль по количественному признаку. Контроль по одному количественному признаку при одностороннем допуске и известном коэффициенте вариации.
- •30 Статистический приемочный контроль по количественному признаку. Контроль по одному количественному признаку при одностороннем допуске и неизвестной дисперсии
- •31 Статистический приемочный контроль по количественному признаку. Контроль по одному количественному признаку при двустороннем допуске и неизвестной дисперсии
- •32 Статистический приемочный контроль по количественному признаку. Контроль нескольких количественных параметров
- •33.Преимущества и недостатки статистического приемочного контроля по количественному признаку.
- •34 Принципы применения стандарта на статистический приемочный контроль по количественному признаку.
12. Контрольные карты при анализе и контроле технологических процессов по альтернативному признаку
Типы КК по альтернативному признаку
1) доли несоответствия: - р-карта – доля дефектных изделий
- u-карта – число дефектов на единицу продукции
2) числа несоответствия: np-карта – числа дефектных изделий
- с-карта – КК суммарного числа дефектов
Приведем границы регулир-ия:
Карта доли
деф.прод-ции (р-карта):
Карта числа
деф.изд-ий (np-карта):
Карта числа дефектов
(с-карта):
Карта числа дефектов
на ед.продукции (u-карта):
Рекомендации по применению кК по альтернативному признаку:
- КК доли дефектов изделий р-карта применяется при контроле, анализе и регулирование ТП путем проверки изделий и разделения на годные и брак, кол-во дефектов в каждом изделии не учит-ся, непостоянный объем выборки (n=var);
- КК числа дефектных изделий nр-карта применяется в тех случаях что и p-карта, но для пост-ого объема выборки, постоянный объем выборки (n=const);
- КК суммарного числа дефектов с-карта применяется в тех случаях когда необходимо определить кол-во дефектов в каждом изделии, постоянный объем выборки (n=const);
- КК числа дефектов на единицу продукции u-карта применяется в тех же случаях, что и c-карта, но является более инф-ой и не треб-ет пост-ого объема выборок (n=var).
13. Статистическое регулирование тп. Предварительный анализ стояния тп.
Статистическое регулирование процессов состоит в выявлении неслучайных нарушении процесса. При этом управляющие действия применяются тогда, когда выпускаемая продукция ещё удовлетворяет заданным требованиям, но некоторые статистические показатели дают основание предполагать о наличии неслучайных причин, которые могут привести к нарушению процесса. Процесс считается статически управляемым, если он стабилен.
Основная задача статистического регулирования технологическими процессами состоит в том, чтобы на основе результатов выборочного контроля принять решение «ТП налажен» или «ТП разлажен».
Опр-ся это на основе проверки гипотез:
-ТП налажен;
-ТП разлажен.
Гипотеза принимается а основе опр-го критерия по результатам выборочных данных. При регулированни ТП прим-ют КК и их различные модификации:
КК ШУхарта (простые)
КК кумулятивных сумм (КУСУМ карта)
КК экспоненциального сглаживания.
На стадии
предварительного анализа опр-ся оценки
МО (
)
и СКО (
)
1) Оценка параметра :
2) Оценка параметра
а) наиболее точный
б) менее точен, но
более прост
С4 – поправочный коэффициент, опр-ся по табл., зависит от объема выборки
в) наиболее простой,
наименее точный
Определение доли дефектных изделий:
На практике наиболее часто встречается нормальный закон распределения показателей, ф-ция распределения имеет вид:
,
,
то нормальное распределение называется
стандартным нормальным распределение
(нормированным). В этом случае ф-ция
распределения имеет вид:
Ф(-х) = 1 - Ф(х) – ни четная ни нечетная
Функция Лапласа:
- нечетная
Ф(-х) = - Ф (х)
Функция норм-ого распределения и ф-ция станд-ого норм-ого рапределения связаны зависимостью
Тн
Тв
-
доля годной продукции
q = 1 – p – доля дефектной продукции
Тн
Тв
Чем больше , тем больше доля деф-ой пр-ции, чем меньше - тем меньше доля деф.пр.
При постоянном поле допуска для уменьшения доли деф.изделий необходимо:
значение не отклонялось от значения 0, которое обычно принимает значение равным середине поля допуска
значение не увеличивалось
