- •Кафедра физики Кубанского государственного
- •Доктор физико - математических наук Кубанского
- •В.В. Фомин
- •Введение
- •1. Способы осуществления электростимулированной миграции ионов
- •2. Физические процессы, лежащие в основе электростимулированной миграции ионов
- •3. Анализ профиля поперечного сечения волноводов, изготовленных методом электростимулированной миграции ионов
- •Причем это соответствие устанавливается формулой
- •4. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов
- •4.1. Принципиальная схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
- •4.2. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов серебра
- •4.3. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на форму и геометрические размеры поперечного сечения формируемых волноводов
- •4.4. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на оптические параметры волноводов
- •4.5. Исследование интегрально-оптических волноводов, полученных электростимулированной миграцией ионов из расплава нитрата калия
- •4.6. Изготовление и исследование заглубленных и двухканальных интегрально-оптических волноводов
- •5. Изготовление интегрально-оптических микролинз и исследование их свойств
- •5.1. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.2. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.3. Изготовление и исследование интегральных
- •5.4. Формирование рассеивающих, цилиндрических
- •6. Изготовление матриц микролинз
- •7. Разработка и исследование матриц микролинз с плотной упаковкой
- •7.1. Расчет формы интегральных микролинз в матрицах, получаемых методом электростимулированной миграции ионов в стеклах
- •7.2. Изготовление матриц микролинз с плотной
- •7.3. Разработка и исследование матриц интегральных микролинз для датчика волнового фронта Шака-Гартмана
- •8. Создание и исследование Многоканального микролинзового интегрально-оптического ответвителя излучения
- •Заключение
- •Библиографические ссылки
3. Анализ профиля поперечного сечения волноводов, изготовленных методом электростимулированной миграции ионов
Э
лектростимулированная
миграция ионов осуществляется по
схеме, представленной на рис. 16.
Рис. 16. Схема проведения электростимулированной
миграции ионов в стекло из расплава соли
Стеклянная подложка (1) с нанесенным на ее верхнюю поверхность металлическим электродом (катод 2) помещается в кювету, содержащую расплав соли (3). На нижнюю поверхность подложки нанесена металлическая маска (4), в которой с помощью фотолитографии протравлена полоска, позволяющая осуществлять доступ ионам, содержащимся в расплаве соли, к поверхности стекла. Нижний электрод (анод 5) погружается непосредственно в расплав. К электродам прикладывается стимулирующее электрическое поле, под действием которого и происходит формирование интегрально-оптического волновода.
В качестве маскирующего слоя используется нанесенная методом термического вакуумного напыления пленка алюминия. В результате погружения стеклянной пластинки с алюминиевой маской в расплав соли, являющийся, как правило, сильным окислителем, алюминий покрывается тонкой и плотной оксидной пленкой. Возникшая таким образом оксидная пленка препятствует прямому контакту ионов расплава соли с алюминием, а напыленный алюминиевый слой надежно маскирует стекло от проникновения ионов из расплава соли.
Рассмотрим физические процессы, определяющие картину электрического поля, стимулирующего миграцию ионов в стекле.
В
случае, если маскирующий слой отсутствует,
внутри стекла будет наблюдаться
однородное электрическое поле,
ускоряющее миграцию ионов натрия в
стекле по направлению к катоду и ионов
расплава соли в стекло. Ионы натрия в
стекле, являясь наиболее подвижными
ионами в натрийсиликатных стеклах,
под действием электрического поля
устремятся к катоду, освобождая вакансии
для ионов расплава соли. При этом в
приповерхностном слое стекла будет
формироваться однородная по толщине
область с повышенным содержанием
ионов расплава соли, что в конечном
итоге приведет к созданию планарного
волноводного слоя (рис. 17).
Рис. 17. Распределение электрического поля в стеклянной пластинке, погруженной в расплав, в отсутствии
маскирующего слоя
Необходимо отметить, что распределение ионов, продиффундировавших под действием внешнего электрического поля из расплава в стекло, а следовательно, и изменение показателя преломления сформированного волновода будут иметь ступенчатую форму.
В случае, если маскирующий слой полностью покрывает поверхность стеклянной подложки, соприкасающейся с расплавом соли, произойдет следующее. Катионы расплава соли не смогут достичь поверхности стекла, так как их направленному движению мешает маскирующий слой. В это же время стеклянная подложка находится в однородном электрическом поле, которое воздействует на щелочные ионы стекла и перемещает их по направлению к катоду. Это приводит к образованию объемного пространственного заряда под маской и вызывает уменьшение результирующего тока по экспоненциальному закону. Через некоторое время ток в цепи практически прекратится.
Создание отверстия или щели в металлическом маскирующем слое приводит к появлению электрического тока в цепи и стимулированной миграции ионов металла из расплава соли.
Поскольку металлическая маска приводит к экранированию электрического поля внутри стеклянной пластинки, то движение ионов расплава в стекле будет обусловлено электрическим полем, локализованным между катодом и отверстием в маске. В первый момент времени после включения источника питания и подачи стимулирующего напряжения могут возникать электрические взаимодействия между верхним слоем расплава соли в отверстии маски и самой металлической маской или катодом и маской. Однако эти взаимодействия неустойчивы, так как обуславливающая их разность потенциалов не поддерживается источником питания и легко компенсируется за счет перемещения наиболее подвижных ионов в стекле и ионов металла в соли. В результате в стеклянной подложке возникает стимулирующее электрическое поле, характер которого представлен на рис. 18.
Рис. 18. Конфигурация электрического поля, возникающего
в стеклянной пластинке между катодом и отверстием
в маскирующем слое
Наиболее
подвижные ионы стекла, а также ионы
расплава движутся под действием этого
поля. Известно, что скорость дрейфа
ионов
в
этом случае будет равна
.
(19)
Здесь
–
подвижность ионов в стекле; g
– заряд одного иона;
–
сила, действующая на ион;
–
напряженность электрического поля.
Строго говоря, подвижность ионов, входящих в состав стекла, и ионов, диффундирующих в стекло, различна, поэтому в данном рассмотрении следует использовать некоторую среднюю величину подвижности, которая зависит от соотношения количеств тех и других ионов в стекле.
Электрическое поле, возникающее в стеклянной пластинке и стимулирующее процесс миграции ионов из расплава соли, можно рассчитать методом конформных отображений. Для этого область на рис.18, понимаемую как конформный четырехугольник с вершинами в точках , а, +а, + вещественной оси, отобразим конформно на прямоугольник так, чтобы точки , а, +а, + отвечали вершинам прямоугольника. Искомые конформные отображения можно построить при помощи суперпозиции двух хорошо известных отображений, первое из которых
(20)
преобразует
полосу 0
ImZ
H
в полуплоскость Im
0. Второе порождается интегралом
Кристоффеля-Шварца
W
= const
(21)
и переводит полуплоскость Im 0 в прямоугольник. Ширина прямоугольника может быть специально подобрана за счет выбора значения константы const. Если положить
const
=
,
(22)
то ширина прямоугольника окажется равной U.
Конформное отображение порождает преобразование потенциальной функции поля. Так, например, если потенциальная функция исходного поля в области на рис.18 равна U(z), то при указанном конформном отображении
W = f(z) = W((z)) (23)
области 0 Im z H на прямоугольник, ей соответствует потенциальная функция однородного электрического поля в прямоугольнике
V(W) = Re W. (24)
