- •Кафедра физики Кубанского государственного
- •Доктор физико - математических наук Кубанского
- •В.В. Фомин
- •Введение
- •1. Способы осуществления электростимулированной миграции ионов
- •2. Физические процессы, лежащие в основе электростимулированной миграции ионов
- •3. Анализ профиля поперечного сечения волноводов, изготовленных методом электростимулированной миграции ионов
- •Причем это соответствие устанавливается формулой
- •4. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов
- •4.1. Принципиальная схема установки для проведения электростимулированной миграции ионов
- •4.2. Изготовление интегрально-оптических волноводов электростимулированной миграцией ионов серебра
- •4.3. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на форму и геометрические размеры поперечного сечения формируемых волноводов
- •4.4. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на оптические параметры волноводов
- •4.5. Исследование интегрально-оптических волноводов, полученных электростимулированной миграцией ионов из расплава нитрата калия
- •4.6. Изготовление и исследование заглубленных и двухканальных интегрально-оптических волноводов
- •5. Изготовление интегрально-оптических микролинз и исследование их свойств
- •5.1. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.2. Изготовление микролинз электростимулированной миграцией ионов из расплава соли
- •5.3. Изготовление и исследование интегральных
- •5.4. Формирование рассеивающих, цилиндрических
- •6. Изготовление матриц микролинз
- •7. Разработка и исследование матриц микролинз с плотной упаковкой
- •7.1. Расчет формы интегральных микролинз в матрицах, получаемых методом электростимулированной миграции ионов в стеклах
- •7.2. Изготовление матриц микролинз с плотной
- •7.3. Разработка и исследование матриц интегральных микролинз для датчика волнового фронта Шака-Гартмана
- •8. Создание и исследование Многоканального микролинзового интегрально-оптического ответвителя излучения
- •Заключение
- •Библиографические ссылки
4.3. Исследование влияния стимулирующего напряжения и ширины отверстия в маске на форму и геометрические размеры поперечного сечения формируемых волноводов
Для выявления влияния режимов диффузии на параметры формируемых волноводов была проведена серия опытов на образцах с различной шириной отверстий в маске. Варьируя ширину отверстий в маске, величину приложенного стимулирующего напряжения и время миграции, можно получать волноводы с различной формой сечения и с большой глубиной проникновения ионов серебра в материал подложки.
Волноводы изготавливались на стекле от фотопластин в расплаве солей AgNO3 и NaNO3, взятых в молярном отношении (1:10) при температуре 350 2°C и времени миграции 3 мин. При этом маскирующий слой представлял собой алюминиевую пленку толщиной 1,5 мкм с вытравленными в ней полосками шириной 15, 30, 50, 70, 100 мкм и 5 мм.
Изменяющимися параметрами в проводимом эксперименте были ширина зазора в маскирующем слое и стимулирующее напряжение. Торцы сформированных таким образом волноводов полировались и измерялись их геометрические размеры. Все измерения проводились с помощью микроскопа ERGAWAL с микрометром окулярным винтовым МОВ–1–15.
В
процессе эксперимента
к
образцам прикладывалось стимулирующее
напряжение
величиной 10, 20, 30, 40, 50 и 60 В.
При этом было отмечено, что измеряемые
геометрические параметры изменяются
неодинаково в процессе миграции. Размеры
волноводов увеличиваются значительно
быстрее вблизи края маски, что объясняется
большей напряженностью электрического
поля, а следовательно и большей скоростью
миграции ионов в стеклянной подложке.
Рис. 21. Изменение максимальной ширины волновода от величины стимулирующего напряжения
На рис. 21 представлены графики изменения максимальной ширины изготовленных волноводов в зависимости от величины стимулирующего напряжения.
Как видно из графиков, ширина формируемых волноводов практически линейно зависит от величины приложенного внешнего напряжения. Во всех случаях при стимулирующем напряжении 60 В максимальная ширина волноводов на 70 мкм больше ширины полосок в маске, а величина максимального проникновения ионов Ag+ под
м
аску
составила 35 мкм.
Рис 22. Изменение толщины волновода от величины
стимулирующего напряжения
В то же время толщина сформированных волноводов в средней части нелинейно зависит от приложенного внешнего стимулирующего напряжения и имеет тенденцию к замедлению роста с увеличением стимулирующего напряжения и уменьшением ширины отверстия в маске (рис. 22).
Волноводы, сформированные миграцией ионов Ag+ через полоски в маске шириной 15 и 30 мкм, имеют полукруглую форму поперечного сечения и их ширина в два раза больше максимальной толщины.
Из приведенных графиков видно значительное влияние, оказываемое маскирующим слоем на скорость миграции ионов Ag+, стимулированной внешним электрическим полем. Так, например, в стекло от фотопластин, не покрытое маской, ионы Ag+ проникают за 3 мин. на 4 мкм (при температуре ионного обмена 350 2°С); если же приложить внешнее стимулирующее напряжение величиной 60 В, то глубина проникновения ионов составит 15 мкм.
В стеклах, покрытых металлическим маскирующим слоем, величина проникновения ионов Ag+ резко возрастает и достигает 31 мкм (для ширины полоски в маске 100 мкм) и даже 41 мкм (при ширине полоски в маске 15 и 30 мкм) при прочих равных условиях. В отсутствие внешнего стимулирующего поля металлическая маска не оказывает никакого влияния на скорость диффузии ионов Ag+ в стекло. Для различных по ширине полосок в маске скорость диффузии одинакова и равна скорости диффузии в стекле, свободном от маскирующего слоя.
Таким образом, изменением таких параметров миграции, как ширина отверстия в маске, величина стимулирующего напряжения и время диффузии, можно управлять формой поперечного сечения волноводов.
