- •1.1 Основні теоретичні відомості
- •1.2 Етапи виконання роботи
- •1.3 Контрольні питання
- •2.1 Основні теоретичні відомості
- •2.2 Етапи виконання роботи
- •2.3 Контрольні питання
- •3.1 Основні відомості
- •4 Лабораторна робота №4
- •4.1 Основні теоретичні відомості
- •3.2 Етапи виконання роботи
- •3.3 Контрольні питання
- •4.2 Хід роботи:
- •4.3 Контрольні питання:
- •5.1 Основні теоретичні відомості
- •5.2 Етапи виконання роботи
- •5.3 Контрольні питання
- •6.1 Основні теоретичні відомості
- •6.2 Етапи виконання роботи
- •6.3 Контрольні питання
- •7.1 Основні теоретичні відомості
- •7.2 Етапи виконання роботи
- •7.3 Контрольні питання:
- •8.1 Основні теоретичні відомості
- •8.2 Етапи виконання роботи
- •8.3 Контрольні питання
- •9.1 Основні теоретичні відомості
- •9.2 Етапи виконання роботи
- •9.3 Контрольні питання:
- •10.1 Основні теоретичні відомості
- •10.2 Етапи виконання роботи
- •10.3 Контрольні питання:
- •11.1 Основні відомості
- •11.2 Етапи виконання роботи
- •11.3 Контрольні питання:
- •12.1 Основні відомості
- •12.2 Етапи виконання аналізу Монте-Карло:
- •12.3 Контрольні питання
- •13 Лабораторна робота №13
- •13.1 Основні теоретичні відомості
- •13.1.3 Аналіз по розкиду температури
- •13.2 Етапи виконання роботи
- •13.3 Контрольні питання
- •14.Лабораторна робота №14
- •13.2 Етапи виконання роботи
- •14.3 Контрольні питання
- •15 Лабораторна робота №15
- •15.1 Основні теоретичні відомості
- •15.2 Етапи виконання роботи
- •15.3 Контрольні питання
- •Схеми для лабораторної роботи №4
- •Питання першого рівню складності
- •Питання другого рівню складності
- •Питання першого рівню складності
- •Питання другого рівню складності
- •1 Розрахунок статичного режиму ключа методом Ньютона.
- •2 Розрахунок перехідного процесу в ключі методом Ейлера.
15.2 Етапи виконання роботи
Для синтеза логического устройства, заданного логическим выражением необходимо произвести следующие действия.
1. Ознайомитися із структурою бібліотеки цифрових компонентів програми МС.
2. Ознайомитися із структурою та параметрами моделей основних логічних елементів з бібліотеки цифрових примітивів програми МС.
3. Дослідити характеристики схеми змішаного типу з бібліотечного файлу програми МС mixed4.cir. Визначити типи вузлів, логіку роботи цього пристрою, особливості представлення графиків в поспроцесорі.
15.3 Контрольні питання
1. Структура бібліотеки цифрових компонентів програми МС.
2. Структура та параметри моделей основних логічних елементів.
3. Порівняти моделі аналогових елементів і цифрових.
4. Особливості моделювання аналогово-цифрових пристроїв.
5. Багатозначна логіка, дискретизація рівнів сигналу та часу.
6. Сутність подійного моделювання.
список рекомендованої літератури
Основна:
Системы автоматизированного проектирования в радиоэлектронике / Справочник под ред. Норенкова И.П. – М.: Радио и связь, 1986. – 368 с.
Амелина М.А., Амелин С. А. Программа схемотехнического моделирования Micro Cap 8. / Справочное издание. – М: Горячая линия-Телеком, 2007. – 464 с.
Карлащук В.И. Электронная лаборатория на IBM PC . – М.: Солон-Р., 1999. – 506 с.
Бессоннов Л.А. Теоретические основы электротехники. – М.: Высш. школа, 1978. – 528 с.
Руденко, В. С. Основы промышленной электроники / В. С. Руденко, В. И. Сенько, В. В. Трифонюк. – К.: Вища школа, 1985. – 400 с.
Забродин Ю.С. Промышленная электроника. – М.: Высш. школа, 1982, с. 287-314.
Горбачов Г.Н., Чаплыгин Е.Е. Промышленная электроника. – М.: Енергоатомиздат, 1988, с. 189-210, 215-218.
Сигорский В.П. Основы анализа электронных схем. – К.: Вища школа, 1971. – 567с.
Тугов Н.Н., Глебов Б.А., Чарыков Н.А. Полупроводниковые приборы – М.: Энергоиздат, 1990 – 676 с.
Переверзєв А.В., Василенко О.В. Моделювання в електроніці. Учбовий посібник для студентів напрямку Електроніка». — Запоріжжя: ЗДІА, 2003. — 160с., іл.
Додаткова:
Разевиг В.Д. Система схемотехнического моделирования Мicro-Cap7. –М.: Солон, 2003. – 368 с.
Разевиг В.Д. Система сквозного проектирования электронных устройств DesignLab8.0. – М.: Солон, 1999. – 698с.
Семенов Б.Ю. Силовая электроника: от простого к сложному. – М.: Солон-Пресс, 2005.– 415 с.
Василенко О.В. Конспект лекцій по курсу „Аналіз електронних схем” – Запоріжжя: ЗДІА, 2002. – 72 с.
Переверзєв А.В., Василенко О.В. Конспект лекцій по курсу „Автоматизація схемотехнічного проектування” – Запоріжжя: ЗДІА, 2002. – 72 с.
Electronic Circuit Analysis Program. Reference Manual. – Spectrum Software, 2007. – 916 с.
Додаток А
Схеми для лабораторної роботи №4
Схема №1 Схема №2
Схема №3 Схема №4
Схема №5 Схема №6
Схема №7 Схема №8
Додаток Б
Таблиця Б.1 – Параметри моделі діода
Назва парам. |
Параметр |
Знач. по умовч. |
Од. вимір. |
IS |
Струм насичення при температурі 27°С |
10-14 |
А |
RS |
Об’ємний опір |
0 |
Ом |
N |
Коефіцієнт інжекції |
1 |
|
ISR |
Параметр струму рекомбінації |
0 |
А |
NR |
Коефіцієнт емісії для струму ISR |
2 |
|
IKF |
Граничний струм при високім рівні інжекції |
∞ |
А |
TT |
Час переносу заряду |
0 |
с |
CJO |
Бар’єрна ємність при нульовому зміщенні |
0 |
Ф |
VJ |
Контактна різність потенціалів |
1 |
В |
M |
Коефіцієнт лавинного множення |
0,5 |
|
EG |
Ширина забороненої зони |
1,11 |
еВ |
FC |
Коефіцієнт нелінійності бар’єрної ємності прямозміщеного переходу |
0,5 |
|
BV |
Зворотна напруга пробою (позитивна величина) |
∞ |
В |
IBV |
Початковий струм пробою, відповідний напрузі BV (позитивна величина) |
10-10 |
А |
NBV |
Коефіцієнт неідеальності на ділянці пробою |
1 |
|
IBVL |
Початковий струм пробою низького рівня |
0 |
А |
NBVL |
Коефіцієнт неідеальности на ділянці пробою низького рівня |
1 |
|
XTI |
Температурний коефіцієнт струму насичення |
3 |
|
TIKF |
Лінійний температурний коефіцієнт IKF |
0 |
°С -1 |
TBV1 |
Лінійний температурний коефіцієнт BV |
0 |
°С -1 |
TBV2 |
Квадратичний температурний коефіцієнт BV |
0 |
°С-2 |
TRS1 |
Лінійний температурний коефіцієнт RS |
0 |
°С-1 |
TRS2 |
Квадратичний температурний коефіцієнт RS |
0 |
°С-2 |
KF |
коефіцієнт флікер-шуму |
0 |
|
AF |
Показник степені у формулі флікер-шумі |
1 |
|
T_ MEASURD |
Температура вимірювань |
|
°С |
T_ABS |
Абсолютна температура |
|
°С |
T_REL_ GLOBAL |
Відносна температура |
|
°С |
T_REL_ LOCL |
Різність між температурою діода і моделю-прототипа |
|
°С |
Додаток В
Завдання для лабораторної роботи №7
Прилад
Uпит, В
KT 315
15
KT 814
40
Режими посилення
A,AБ,Б
Схема №1
Прилад
Uпит, В
KT 361
15
KT 815
40
Режими посилення
A,AБ,Б
Схема №2
Прилад
Uпит1,2, В
KT 315+KT361
15
KT 814+KT815
40
Схема №3
Додаток Д
Основні функції для спектрального аналізу в МС9
Назва |
Дія |
Приклад |
HARM(u[,BW]) |
амплітудні значення (середня множина синусних та косинусних функцій) гармонік сигналу u(t). BW - ширина смуги. |
HARM(V(OUT)) – амплітуди гармонік напруги V(OUT); HARM(IC(Q1)) – амплітуди гармонік струму IC(Q1) |
THD(S[,FR]) |
поточний накопичуючий коефіцієнт спотворень спектру S у відсотках відносно амплітуди гармоніки опорної частоти FR; або відносно складової на частоті першої гармоніки (1/Tmax). |
THD(HARM(V(1))) – повний коефіцієнт гармонік напруги V(1); THD(HARM(I(D1))) – повний коефіцієнт гармонік струму I(D1). |
IHD(S[,FR]) |
коефіцієнт нелінійних спотворень окремих складових спектра S у відсотках відносно амплітуди гармоніки опорної частоти FR. |
IHD(HARM(V(A))) – індивідуальні коефіцієнти гармонік напруги V(A); IHD(HARM(IB(Q1))) –струму IB(Q1). |
FFT(u) |
значення класичного прямого перетворення Фур’є дискретних відліків сигналу u(t), тобто ряд коефіцієнтів Фур'є aN, та bN . |
FFT(V(A)) – пряме перетворення Фур’є напруги V(A); FFT(IB(Q1)) – пряме перетворення Фур’є струму бази IB(Q1). |
IFT(S) |
зворотне перетворення Фур’є спектру S. |
IFT(V(5)*I(R10)); IFT(FFT(x(t)))=x(t). |
CONJ(S) |
комплексно пов’язаний спектр для спектру S. |
CONJ(FFT(V(1))). |
AC(u) |
автокореляція сигналу u(t) |
AC(V(OUТ)) |
Додаток Е
Основні вторинні параметри, що оптимізуються в МС9
Ілюстрація |
Функція |
Опис |
|
Rise_Time |
Знайти зміни у виразі X , коли вираз У збільшується
|
|
Fall_Time |
Знайти зміни у виразі X, коли вираз Y зменшується
|
|
Peak_X |
Знайти n-ий локальний максимум у виразі X |
|
Peak_Y |
Знайти n-ий локальний максимум у виразі Y |
|
Valley_X |
Знайти n-ий локальний мінімум у виразі X |
|
Valley_Y |
Знайти n-ий локальний мінімум у виразі YУ |
|
Period |
Знайти n-ий період у виразі Y. |
|
Frequency |
Знайти n-у частоту у виразі Y. |
|
High_X |
Знайти найбільше значення у виразі X у виділеній частині |
|
High_Y |
Знайти найбільше значення у виразі Y у виділеній частині |
|
Low_X |
Знайти найменше значення у виразі X у виділеній частині |
|
Low_Y |
Знайти найменше значення у виразі Y у виділеній частині |
|
X_Range |
Знайти межі Xmin-max в межах n-го випадку вказаного діапазону |
|
Y_Range |
Знайти межі Y min-max в межах n-го випадку вказаного діапазону X |
|
Slope |
Знайти крутизну нахилу (дельта Y/дельта X) у n-ому випадку вказаного значення X |
Додаток Є
Є.1 ПЕРЕЛІК ПИТАНЬ, ЩО ВИНОСЯТЬСЯ НА ПЕРШИЙ МОДУЛЬНИЙ КОНТРОЛЬ
