- •Общая теория измерений
- •1.1. Формально-логические принципы создания образов реального мира 6
- •1.2. Физические шкалы и неоднозначность образов действительности 20
- •Введение
- •1. Алгоритмизация процесса познания
- •1.1. Формально-логические принципы создания образов реального мира
- •1.1.1. Формы познания
- •1.1.2. Объекты познания и их образы
- •1.1.3. Формализм познания
- •1.1.4. Основные соотношения характеристик
- •1.1.5. Основные и производные величины.
- •1.1.6. Проблема измеримости и неизмеримости величин. Виды шкал
- •1.1.7. Шкалы цвета
- •Для того чтобы охарактеризовать цвет, достаточно знать компоненты вектора, соответствующие условию (1.15).
- •1.1.8. Шкала замутненности воды
- •1.1.9. Проблема расширения метрической системы
- •1.2. Физические шкалы и неоднозначность образов действительности
- •1.2.1. Неоднозначность отображения
- •1.2.2. Правила выбора элементов
- •1.2.3. Критерии соответствия отображений
- •1.2.4. Неопределенность обратного отображения
- •1.2.5. Способы характеризации неопределенности. Отклонение элементов множества
- •1.2.6. Меры множеств
- •1.2.7. Виды отклонений. Общий случай
- •1.2.8. Интервальные меры
- •1.2.9. Энтропия
- •Контрольные вопросы к разделу 1
- •2. Эталоны и их воспроизведение
- •2.1. Установление эталонов единиц измерения
- •2.2. Воспроизведение эталонов
- •2.2.1. Понятие эталонов и их свойства
- •2.2.2. Одноразовое сравнение
- •2.2.5. Вторичный элемент, имеющий m-кратную меру1
- •2.2.6. Вторичный эталон, имеющий 1/m-кратную меру
- •2.2.7. Схема иерархии эталонов
- •2.3. Образцы материалов
- •2.3.1. Подобие характеристик
- •2.3.2. Виды образцов материалов. Качественная категория
- •2.3.3. Количественная характеристика материала. Мера образцов
- •2.3.4. Образцовые газы
- •2.3.5. Образец электролита
- •2.3.6. Определение меры образца на основании пробы.
- •Контрольные вопросы к разделу 2
- •3. Моделирование измерительных систем
- •3.1. Общие принципы моделирования
- •3.2. Моделирование характеристик ис
- •3.2.1. Статическая модель
- •3.2.2. Динамические модели
- •3.2.3. Модели ис с дискретным временем
- •3.3. Моделирование источников погрешностей. Вероятностные модели
- •3.3.1. Нелинейные элементы
- •3.3.2. Нестационарные источники погрешностей
- •3.4. Обобщенная модель погрешностей
- •3.4.1. Модель с непрерывным временем
- •3.4.2. Модель с дискретным временем
- •3.5. Идентификация модели измерительной системы
- •3.5.1. Определение независимых переменных модели
- •3.5.2. Корреляционный анализ
- •3.5.3. Регрессионный анализ
- •3.5.4. Метод наименьших квадратов
- •3.5.5. Другие методы
- •Контрольные вопросы к разделу 3
- •Библиографический список
- •Общая теория измерений
- •620002, Екатеринбург, ул. Мира, 19
- •620002, Екатеринбург, ул. Мира, 19
Контрольные вопросы к разделу 3
Какого типа бывают элементы измерительных систем? По какому признаку они различаются?
Каковы отличительные особенности моделирования в метрологии?
Какие задачи моделирования вы знаете?
Какие преобразования происходят в измерительной системе?
Какие факторы учитываются при моделировании измерительной системы?
В чем заключается процедура градуировки? Каково ее назначение?
По каким признакам классифицируют модели характеристик измерительных систем?
Что такое статическая модель?
Какие способы линеаризации нелинейных характеристик измерительных систем вы знаете?
Чем динамическая модель отличается от статической?
Каково назначение модулятора амплитуды?
Опишите принцип действия модулятора частоты.
Какие отличительные особенности имеют модели с дискретным временем?
Для чего в цифровом вольтметре с двойным интегрированием применяется второе интегрирование?
Какого рода факторы учитывают при моделировании источников погрешностей?
Чем явления молекулярного характера отличаются от процессов старения и износа в плане их влияния на погрешность измерительных систем?
Какие этапы моделирования нелинейных элементов измерительных систем вы знаете?
Перечислите виды нестационарных источников погрешностей.
В чем отличие нестационарного элемента и нестационарного источника погрешностей?
Что такое дисперсия погрешности?
Чем отличаются распределения погрешностей магнитоэлектрического и электромагнитного приборов?
Какие параметры модели определяются при корреляционном анализе?
Чем отличается регрессия первого рода от регрессии второго рода?
В чем заключается метод наименьших квадратов?
Каковы отличительные особенности метода средневзвешенных наименьших квадратов?
Является ли метод наименьших квадратов регрессионным методом? Это одно и то же?
В чем отличительные особенности численных методов моделирования? В каких случаях применение таких моделей выгодно?
Библиографический список
1. Теория измерений для инженеров / Я. Пиотровский. М.: Машиностроение, 1989
2. Основы теории статических измерений / Э.И. Цветков. М.: Машиностроение, 1986.
3. Оценка погрешностей результатов измерений / П.В. Новицкий. М.: Машиностроение, 1985.
4. Модели в науке и технике /Я.Г. Науймин. Л.: Наука, 1984.
5. Теоретические основы информационно-измерительной техники / П.П. Орнатский. М.: Издательство Стандартов, 1985.
6. Моделирование операций контроля и управления точностью / М.И. Коченов. М.: Машиностроение, 1984.
7. Основы теории и расчета информационно-измерительных систем / М.И. Коченов. М.: Машиностроение, 1980.
Учебное издание
Общая теория измерений
Автор-составитель Бирюков Дмитрий Юрьевич
Редактор Н.П.Кубыщенко
Верстка Д.Ю.Бирюкова
ИД №06263 от 12.11.2001 г.
___________________________________________________________
Подписано в печать 30.06.2006 Формат 60x84 1/16
Бумага типографская Офсетная печать Усл.печ.л. 5,81
Уч.-изд.л. 5,8 Тираж 50 экз. Заказ Цена "С"
___________________________________________________________________________________________
Редакционно-издательский отдел ГОУ ВПО УГТУ-УПИ