- •Предисловие
- •Введение
- •Часть I Методы
- •Оглавление
- •1. Оптические методы
- •1.1. Введение в кристаллооптику
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.2. Поляризационный микроскоп
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.2.2. Шлиф
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.3. Свойства минералов, определяемые при одном николе
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.4. Свойства минералов, определяемые при скрещенных николях в параллельном свете
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •1.4.3. Характер и угол угасания
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •1.4.4. Удлинение
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5. Свойства минералов, определяемые при скрещенных николях в сходящемся свете (коноскопический метод)
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5.3. Разрез, параллельный оптической оси одноосного кристалла
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5.5. Разрез, перпендикулярный оптической оси двуосного кристалла
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.6. Специальные оптические методы исследования минералов
- •1.6.1. Федоровский метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1 .6.2. Иммерсионный метод
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Дополнительная литература
- •2. Диагностические оптические
- •2.1. Группа оливина
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.2. Группа пироксенов
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.3. Группа амфиболов
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.4. Группа слюд
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •2.5. Группа полевых шпатов
- •2.5.1. Плагиоклазы
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.5.2. Щелочные полевые шпаты
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.6. Группа фельдшпатоидов
- •2.6.1. Нефелин
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.6.2. Лейцит
- •2.7. Минералы кремнезема
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.8. Андалузит, кианит, силлиманит
- •Часть I. Методы петрофафических исследований
- •2.9. Хлоритоид, ставролит, кордиерит
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.10. Группа граната
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.11. Группа шпинели
- •2.12. Акцессорные минералы
- •2.12.1.Апатит
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.12.2. Циркон
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.12.3. Сфен (титанит)
- •2.12.4. Рутил
- •2.12.5. Монацит
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •2.13. Непрозрачные минералы
- •Дополнительная литература
- •3.1. Локальный микроанализ
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •3. Лабораторные методы
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •3 .2. Методы изотопной геологии
- •3.3. Микровключения в минералах
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследовании
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •4.1. Глазомерные методы
- •4.1.2. Планиметрический метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4.1.3. Линейный метод
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •4.1.4. Точечный метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4.2. Автоматические интеграционные устройства и анализаторы изображения 1
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Дополнительная литература
- •Раздел 3.1
- •Раздел 3.2
- •Раздел 3.3
- •Раздел 4
Часть 1. Методы петрографических исследований
В направлении, перпендикулярном оптической оси, двойное лучепреломление выражено наиболее резко, и разность пе - n0 достигает максимальной величины. Во всех остальных направлениях показатель преломления, соответствующий необыкновенной волне, имеет промежуточную величину между пе и по и обозначается п'е.
' Как следует из рассмотренных соотношений, индикатриса оптически положительных одноосных кристаллов (пе > по) представляет собой эллипсоид вращения, вытянутый по оптической оси (рис. 1.2, а), а индикатриса отрицательных одноосных кристаллов (ne < n0 ) - эллипсоид вращения, сплюснутый по оптической оси (рис. 1.2, б). В обоих случаях сечение, перпендикулярное оптической оси, имеет форму круга с радиусом п0.
Если максимальный показатель преломления обозначить п , а минимальный — п , то в одноосных оптически положительных кристаллах пе = пg , а п0 =np ; в оптически отрицательных кристаллах, наоборот, пе = пр, а п0 = ng.
Таким образом, элементами индикатрисы одноосного кристалла являются две оси - Ne и No, длина которых пропорциональна показателям преломления пе и п0 соответственно; ось Ne является осью вращения эллипсоида и совпадает с оптической осью кристалла, а ось No—диаметр кругового сечения, которое перпендикулярно оптической оси (см. рис 1.2).
Множество сечений, проходящих через оптическую ось, имеют форму эллипса с осями, пропорциональными пе и п0, множество сечений, наклоненных под острым углом к оптической оси, имеют форму эллипса с осями, пропорциональными п'е и п0. Для оптиче-
Рис. 1.2. Индикатриса оптически одноосных кристаллов: а — положительного, б — отрицательного; точки — круговое сечение индикатрисы
1. Оптические методы исследования минералов
ски положительных кристаллов пe > п'e > п0 , для отрицательных
пe < п'e < п0
Максимальная величина двойного лучепреломления, равная ng-np, наблюдается на разрезе, параллельном оптической оси, т.е. в главном, самом вытянутом эллиптическом сечении индикатрисы с осями Ng и Np. На круговом разрезе, перпендикулярном оптической оси, величина двойного лучепреломления равна нулю. Все остальные разрезы имеют промежуточную величину двойного лучепреломления, меньшую, чем на разрезе, параллельном оптической оси. Эти разрезы имеют форму эллипса, одна ось которого пропорциональна п0, а другая — п'е. Для оптически положительных кристаллов (п'е >п0) величина двупреломления на промежуточном разрезе равна n'g — пр, а для оптически отрицательных кристаллов (п'е < п0) она равна ng— пр'. Если оптический знак кристалла заранее не известен, то величину двойного лучепреломления на промежуточном разрезе принято обозначать ng'— пр'.
Оптически одноосные кристаллы относятся к гексагональной, тетрагональной и тригональной сингониям. Индикатриса этих кристаллов всегда ориентирована таким образом, что оптическая ось совпадаете осью симметрии высшего порядка (L6, L4, L3), т.е. с вертикальной кристаллографической осью с.
1.1.3. Индикатриса оптически двуосных кристаллов
При прохождении света через кристаллы ромбической, моноклинной и триклинной сингоний обе световые волны, возникшие вследствие двойного лучепреломления, распространяются в разных направлениях с неодинаковой скоростью. Другими словами, обе волны являются необыкновенными. Кроме того, в кристаллах низших сингоний имеются два направления, в которых не происходит двойного лучепреломления, т.е. две оптические оси.
Индикатриса оптически двуосных кристаллов имеет форму трехосного эллипсоида с осями Ng, Nm и Np, длина которых пропорциональна показателям ng, nm и пр соответственно (рис. 1.3). В эллипсоиде можно провести три главных плоских сечения: NgNp, NgNm и NmNp . Величина двойного лучепреломления в этих сечениях эллиптической формы равна ng- np, ng-nm и nm - пр соответственно. Кроме того, имеются два симметрично расположенных круговых сечения с радиусом, пропорциональным пт, каждое из которых перпендикулярно одной из оптических осей. Обе оси лежат в главном сечении NgNp , которое носит название плоскости оптических осей.
13
