- •Предисловие
- •Введение
- •Часть I Методы
- •Оглавление
- •1. Оптические методы
- •1.1. Введение в кристаллооптику
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.2. Поляризационный микроскоп
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.2.2. Шлиф
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.3. Свойства минералов, определяемые при одном николе
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.4. Свойства минералов, определяемые при скрещенных николях в параллельном свете
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •1.4.3. Характер и угол угасания
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •1.4.4. Удлинение
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5. Свойства минералов, определяемые при скрещенных николях в сходящемся свете (коноскопический метод)
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5.3. Разрез, параллельный оптической оси одноосного кристалла
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.5.5. Разрез, перпендикулярный оптической оси двуосного кристалла
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1.6. Специальные оптические методы исследования минералов
- •1.6.1. Федоровский метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •1 .6.2. Иммерсионный метод
- •1. Оптические методы исследования минералов
- •Дополнительная литература
- •2. Диагностические оптические
- •2.1. Группа оливина
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.2. Группа пироксенов
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.3. Группа амфиболов
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.4. Группа слюд
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •2.5. Группа полевых шпатов
- •2.5.1. Плагиоклазы
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.5.2. Щелочные полевые шпаты
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.6. Группа фельдшпатоидов
- •2.6.1. Нефелин
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.6.2. Лейцит
- •2.7. Минералы кремнезема
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.8. Андалузит, кианит, силлиманит
- •Часть I. Методы петрофафических исследований
- •2.9. Хлоритоид, ставролит, кордиерит
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.10. Группа граната
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.11. Группа шпинели
- •2.12. Акцессорные минералы
- •2.12.1.Апатит
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.12.2. Циркон
- •Часть I. Методы петрографических исследований
- •2.12.3. Сфен (титанит)
- •2.12.4. Рутил
- •2.12.5. Монацит
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •2.13. Непрозрачные минералы
- •Дополнительная литература
- •3.1. Локальный микроанализ
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •3. Лабораторные методы
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •3 .2. Методы изотопной геологии
- •3.3. Микровключения в минералах
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Часть 1. Методы петрографических исследовании
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •4.1. Глазомерные методы
- •4.1.2. Планиметрический метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4.1.3. Линейный метод
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •4.1.4. Точечный метод
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •4.2. Автоматические интеграционные устройства и анализаторы изображения 1
- •4. Методы изучения минеральных агрегатов
- •Часть 1. Методы петрографических исследований
- •Дополнительная литература
- •Раздел 3.1
- •Раздел 3.2
- •Раздел 3.3
- •Раздел 4
Часть 1. Методы петрографических исследований
(энергии) характеристических линий спектра, свойственных тем или иным химическим элементам, а сравнение интенсивности этих линий с эталонами — концентрации этих элементов в образце. При исследовании сложных минералов и стёкол в качестве эталонов используют гомогенные природные или синтетические образцы со средним атомным номером входящих в них элементов, близким к среднему атомному номеру исследуемых объектов.
В систему, управляющую электронным зондом, встроен оптический микроскоп с увеличением 300-400, с помощью которого можно визуально наблюдать объект анализа.
Перемещая образец при неподвижном электронном зонде или, наоборот, перемещая зонд при неподвижном образце, можно осуществить линейное сканирование и получить концентрационные кривые, характеризующие распределение химических элементов вдоль определенных линий (рис. 3.2).
118
Рис. 3.2. Концентрационные профили через зерно граната, полученные с помощью рентгеноспектрального микроанализатора
3. Лабораторные методы исследований минералов и горных пород
С овременные приборы представляют собой комбинацию рентге-носпектрального микроанализатора и растрового электронного микроскопа. Они позволяют не только анализировать микрообъекты, но и получать их изображения путем фиксации обратнорассеянных (отраженных), вторичных и поглощенных электронов. Обратное рассеяние электронов вызывается упругими столкновениями с атомами мишени, в результате которого часть первичных электронов пучка выходит обратно из образца, образуя зону рассеяния. Ко вторичным относят электроны, которые находились в атомах мишени, главным образом на внешних энергетических уровнях, но под воздействием электронного пучка покинули образец. Поглощенные электроны — это те, которые потеряли энергию в процессе ионизации атомов. Электронный пучок сканирует (обегает) некоторую площадь поверхности образца и синхронно ему сканирует луч электронно-лучевой трубки, на катод которой подается сигнал, пропорциональный количеству тех или иных электронов в каждой точке. В результате на экране трубки возникает изображение, состоящее из множества точек с разной яркостью и отражающее вещественную неоднородность объекта.
Если на катод электронно-лучевой трубки подать сигнал со спектрометра, настроенного на аналитическую линию выбранного химического элемента, то на экране получим изображение объекта в характеристическом рентгеновском излучении. Участки с разным содержанием этого элемента выделяются неодинаковой плотностью точек на единицу площади. С помощью фотографической камеры можно получить снимки электронно-микроскопических изображений (рис. 3.3).
Для электронно-зондового микроанализа нужны полированные шлифы (прозрачные или непрозрачные) либо аншлифы в виде брикетов, которые готовят, заливая зерна исследуемых минералов эпоксидной смолой или запрессовывая их в полистирол. Затем верхнюю поверхность брикета полируют. Форма и размер шлифов и брикетов определяется конструкцией держателя прибора. Минералы, не проводящие электричества, перед исследованием покрывают тонкой пленкой графита или другого проводящего материала, что необходимо для стекания электронов и предотвращения появления электрического заряда на поверхности образца. После напыления эту поверхность соединяют полоской проводящей серебряной краски с металлическим корпусом прибора.
Необходимым условием для выполнения рентгеноспектраль-ного микроанализа и получения хороших электронно-микроскопи-
119
