Часть 1. Методы петрографических исследований

Рис. 1.3. Индикатриса оптически двуосных кристаллов: а — положительного, б— отрицательного; точки — круговые сечения индика­трисы; О — оптическая ось

Оси индикатрисы N_g и N_p делят углы между оптическими ося­ми пополам и называются биссектрисой острого угла или, сокра­щенно, острой биссектрисой и биссектрисой тупого угла, или тупой биссектрисой. Ось N_m, направленная перпендикулярно к плоскости оптических осей, называется оптической нормалью. Острый угол между оптическими осями называется углом оптических осей и обо­значается 2 V.

Оптически положительными называют те двуосные кристаллы, у которых острой биссектрисой является ось индикатрисы N_g (см. рис. 1.3, а). При этом круговые сечения располагаются ближе к оси N_p, так как (n_g-n_m)>(n_m-n_p).

Оптически отрицательными считают такие кристаллы, у кото­рых острой биссектрисой является ось Np (см. рис. 1.3,6). При этом круговые сечения располагаются ближе к Ng, поскольку (n_g - n_m) < <(п_m-п_р).

Ьсли угол оптических осей равен 90°, то кристалл принято счи­тать оптически нейтральным.

Максимальная величина двойного лучепреломления, равная n_g - n_р, наблюдается на разрезе, параллельном плоскости оптических

14

1. Оптические методы исследования минералов

осей. На разрезе, перпендикулярном тупой биссектрисе, сила двой­ного лучепреломления всегда больше, чем на разрезе, перпендикуляр­ном острой биссектрисе. Это вытекает из соотношений между n_g , n_m

и п_р и справедливо как для оптически положительных, так и оптиче­ски отрицательных кристаллов. На разрезе, перпендикулярном оп­тической оси, сила двойного лучепреломления равна нулю.

В кристаллах ромбической сингонии оси индикатрисы совпада­ют с кристаллографическими осями, причем в разных минералах оси индикатрисы, совпадающие с той или иной кристаллографической осью (a, b или с), могут иметь разные наименования (N_g , N_mили N_p).

В кристаллах моноклинной сингонии одна из осей индикатрисы совпадает с кристаллографической осью b, а две остальные оси ин­дикатрисы лежат в одной плоскости с двумя другими осями кристал­ла, но не совпадают с ними. Часто с осью b совпадает ось N , а пло-скость оптических осей N_gN_p совпадает с кристаллографической плоскостью (010). Оси N_gи N_p, лежащие в этой плоскости, образуют с осями а и с некоторые углы, постоянные для каждого минерала.

В кристаллах триклинной сингонии кристаллографические оси a, b и с не перпендикулярны друг другу, и ни одна из осей индика­трисы не совпадает с кристаллографической осью.

1.2. Поляризационный микроскоп

1.2.1. Устройство поляризационного микроскопа

В петрографической практике используются современные оте­чественные микроскопы серии ПОЛАМ, а также поляризационные микроскопы, изготовленные фирмами Германии и других стран. Во многих лабораториях сохранились старые модели серий МИН и МП, среди которых наиболее удачным был микроскоп МИН-8.

Микроскопы серии ПОЛАМ (рис. 1.4) состоят из осветительной и наблюдательной систем.

Осветительная система включает в себя осветитель 1, закреплен­ный с помощью винта 1а, и конденсорное устройство 2, состоящее из двух линз, верхняя из которых съемная. В фокальной плоскости конденсора помешена диафрагма с рукояткой 3. Конденсорное ус­тройство установлено в кольце кронштейна, который крепится на направляющей. На той же направляющей закреплена откидная ос­ветительная линза в оправе 4. Конденсорное устройство может пе-

15