- •Введение
- •Обзор topas
- •Сравнение topas и topas p
- •Функции topas
- •Пользовательский интерфейс и режим запуска
- •Функции, доступные в gui-режиме и режиме запуска
- •Справочная информация по использованию topas
- •Элементы пользовательского интерфейса
- •Окно сканирования
- •Общая функциональность в gui-режиме и режиме запуска
- •Отображение
- •Окно параметров
- •Ограничения оси y, масштабирование, прокрутка и выделение
- •Функции меню быстрого доступа
- •Функции, доступные только в gui-режиме
- •Окна, относящиеся к окну сканирования
- •Окно быстрого масштабирования
- •Окно круговой диаграммы процентного соотношения весов
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно поиска пиков Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно поиска пиков
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках
- •Диалоговое окно настроек
- •Диалоговое окно настроек
- •Insert Peak («Вставка пика»)
- •Окно подбора
- •Окно подбора
- •Interface Mode («Режим пользовательского интерфейса»)
- •Verbose mode for Kernel output («Расширенный вывод информации для вывода ядра»)
- •Interface and Launch Mode («Режим пользовательского интерфейса и режим запуска»)
- •Окно параметров
- •Элементы окна параметров
- •Для получения подробной информации обо всех параметрах уточнения и атрибутах параметров обратитесь к техническому справочному руководству.
- •Отображение в виде дерева
- •Элементы страницы таблицы
- •Value («Значение»)
- •Выделение в таблице
- •Экспорт данных таблицы
- •Импорт данных таблицы
- •Страницы формата отчета и текста
- •Элементы дерева и соответствующие им страницы таблицы данных
- •Элемент Global
- •Элементы Range
- •Профиль излучения
- •Инструмент
- •Страница Divergent beam («Расходящийся пучок»):
- •Страница дополнительной свертки:
- •Коррекции Страница коррекций:
- •Страница Cylindrical Sample (Sabine) («Цилиндрический образец, Сэбин»):
- •Фаза пика
- •Фаза hkl
- •Структура Примечание.Недоступно в topas p
- •View/Hide Structure («Показать/скрыть структуру»)
- •Элемент Sites
- •Несоблюдение этого правила может привести к серьезным ошибкам в результатах уточнения.
- •Элемент Preferred Orientation
- •Элемент Str Output
- •Structures / hkl Phases («Структуры/фазы hkl»)
- •Страница Values
- •Индицирование
- •Множественные уточнения по методу Поули / Ле Бейля
- •Печать и отчеты
- •Просмотр структуры Примечание. Недоступно в topas p
- •Isolate atom / polyhedra under mouse («Изолировать атом/многогранник под мышью»)
- •Редактор жесткого тела Примечание. Недоступно в topas p
- •Редактор жесткого тела
- •Окно справки
- •Окно справки
- •Работа в gui-режиме и режиме запуска
- •Список литературы
Структура Примечание.Недоступно в topas p
В элементах Structure («Структура») (рис. 4-12) используются все параметры, необходимые для уточнения структуры по Ритвельду и для количественного анализа по Ритвельду. От элемента Structure зависят элементы Sites, PO March-Dollase, PO-Spherical Harmonics и Str Output, описанные ниже.
В таблице данных для элемента Structure содержатся следующие страницы: Structure, Peak Type, hkl_Is и Additional Convolutions.
Страница Structure содержит следующую информацию о структуре:
Название параметра: |
Комментарии: |
|
Включает или исключает фазу при уточнении |
|
Символ или номер пространственной группы. При выделении этого поля по выпадающей кнопке можно получить диалоговое окно для выбора пространственной группы. |
|
Параметры решетки. Условия симметрии пространственной группы автоматически применяются, включая удаление лишних параметров решетки из таблицы. |
|
Коэффициент масштабирования |
Cry Size L Cry Size G LVol-IB LVol-FWHM |
Параметры микроструктуры, относящиеся к размеру кристаллического блока (см. техническое справочное руководство) |
Strain L Strain G e0 |
Параметры микроструктуры, относящиеся к деформациям (см. техническое справочное руководство) |
|
Относительное количество фазы |
|
Относительный вес фазы, если фаза используется в виде контрольного образца, см. раздел 4.2.2.9 |
Wt % in Spiked sample |
Абсолютное количество фазы в контрольном образце после учета аморфной фазы |
Wt % in Original sample |
Абсолютное количество фазы в исходном образце после учета аморфной фазы |
|
Масса ячейки |
|
Объем ячейки |
|
Коэффициент линейного поглощения фазы (для плотности упаковки 1) |
|
Рентгеновская плотность фазы (для плотности упаковки 1) |
|
Значение R-Bragg |
На странице Peak Type можно выбрать функцию формы профиля. Доступные функции: FP, PV_Mod, PV_TCHZ и PVII. Для получения информации об этих функциях формы профиля и их параметрах обратитесь к техническому справочному руководству.
Список всех созданных пиков показан на странице hkl_Is со следующими параметрами: h, k, l, m (множественность), d, 2Θ, and F2 (структурный коэффициент).
На странице Additional Convolutions представлены эмпирические модели формы профиля линий наблюдения. Ее функции идентичны функциям такой же страницы для элемента Instrument (см. раздел 4.2.2.3).
Элемент Structure и связанная с ним таблица, в которой показана страница Structure
Примечание. Левый щелчок мыши по выбранному элементу Structure позволяет непосредственно редактировать его метку.
В меню быстрого доступа для элемента Structure есть следующие функции:
Save Structure in STR Format («Сохранить структуру в формате STR»)
Сохраняет выделенный элемент Structure в формате INP (*.STR)
