- •Введение
- •Обзор topas
- •Сравнение topas и topas p
- •Функции topas
- •Пользовательский интерфейс и режим запуска
- •Функции, доступные в gui-режиме и режиме запуска
- •Справочная информация по использованию topas
- •Элементы пользовательского интерфейса
- •Окно сканирования
- •Общая функциональность в gui-режиме и режиме запуска
- •Отображение
- •Окно параметров
- •Ограничения оси y, масштабирование, прокрутка и выделение
- •Функции меню быстрого доступа
- •Функции, доступные только в gui-режиме
- •Окна, относящиеся к окну сканирования
- •Окно быстрого масштабирования
- •Окно круговой диаграммы процентного соотношения весов
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно поиска пиков Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно поиска пиков
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках
- •Диалоговое окно настроек
- •Диалоговое окно настроек
- •Insert Peak («Вставка пика»)
- •Окно подбора
- •Окно подбора
- •Interface Mode («Режим пользовательского интерфейса»)
- •Verbose mode for Kernel output («Расширенный вывод информации для вывода ядра»)
- •Interface and Launch Mode («Режим пользовательского интерфейса и режим запуска»)
- •Окно параметров
- •Элементы окна параметров
- •Для получения подробной информации обо всех параметрах уточнения и атрибутах параметров обратитесь к техническому справочному руководству.
- •Отображение в виде дерева
- •Элементы страницы таблицы
- •Value («Значение»)
- •Выделение в таблице
- •Экспорт данных таблицы
- •Импорт данных таблицы
- •Страницы формата отчета и текста
- •Элементы дерева и соответствующие им страницы таблицы данных
- •Элемент Global
- •Элементы Range
- •Профиль излучения
- •Инструмент
- •Страница Divergent beam («Расходящийся пучок»):
- •Страница дополнительной свертки:
- •Коррекции Страница коррекций:
- •Страница Cylindrical Sample (Sabine) («Цилиндрический образец, Сэбин»):
- •Фаза пика
- •Фаза hkl
- •Структура Примечание.Недоступно в topas p
- •View/Hide Structure («Показать/скрыть структуру»)
- •Элемент Sites
- •Несоблюдение этого правила может привести к серьезным ошибкам в результатах уточнения.
- •Элемент Preferred Orientation
- •Элемент Str Output
- •Structures / hkl Phases («Структуры/фазы hkl»)
- •Страница Values
- •Индицирование
- •Множественные уточнения по методу Поули / Ле Бейля
- •Печать и отчеты
- •Просмотр структуры Примечание. Недоступно в topas p
- •Isolate atom / polyhedra under mouse («Изолировать атом/многогранник под мышью»)
- •Редактор жесткого тела Примечание. Недоступно в topas p
- •Редактор жесткого тела
- •Окно справки
- •Окно справки
- •Работа в gui-режиме и режиме запуска
- •Список литературы
Схематическое изображение архитектуры GUI – Запуск – Ядро
Функции, доступные в gui-режиме и режиме запуска
В таблице 1-1 дается обзор функциональности системы TOPAS в режиме пользовательского интерфейса (GUI-режим) и режиме запуска. Обратитесь к техническому справочному руководству для получения подробной информации.
Таблица 1-1. Функциональность TOPAS. Функции, отмеченные, как GUI, доступны в GUI-режиме (режим графического пользовательского интерфейса). Функции, отсутствующие в TOPAS P помечены значком =P=.
Функции |
||
Методы подбора профиля и их применение |
||
Подбор одной линии по методу подбора для порошкового образца – Whole Powder Pattern Fitting |
|
GUI |
Индицирование (LSI-индекс, LP-поиск) |
|
GUI |
Декомпозиция порошкового образца (метод Поули, метод ЛеБейля) |
|
GUI |
Уточнение структуры методом Ритвельда |
P |
GUI |
Количественный анализ методом Ритвельда |
P |
GUI |
Определение структуры (имитация отжига, переворот заряда), отображение электронной плотности |
P |
|
Данные измерений и параметры уточнения |
|
|
Лабораторные и синхротронные рентгеновские данные, постоянная длина волны и данные нейтронных времяпролетных измерений |
|
GUI |
Время подсчета переменных (VCT) |
|
GUI |
Данные от одного кристалла |
P |
|
Комбинированное уточнение рентгеновских и нейтронных порошковых данных |
P |
GUI |
Комбинированное уточнение данных о порошке и одном кристалле1) |
P |
|
Отсутствие зависимости от рентгеновских данных (могут подбираться все данные XY) |
|
GUI |
Поддержка неэквидистантных шагов по оси X |
|
GUI |
Поддержка отрицательных значений по оси X |
|
GUI |
Одновременное уточнение по любому числу дифракционных моделей с любым числом пиков, точек данных и параметров |
|
GUI |
Уточнение любого числа структур в дифракционной модели с любым числом мест в структуре и атомов в месте |
P |
GUI |
Все параметры можно фиксировать, уточнять, связывать и ограничивать |
|
GUI |
Количественный фазовый анализ |
|
|
Поддержка методов добавок и калибровки |
|
GUI |
Количественное определение фаз с частичными или неизвестными кристаллическими структурами |
|
GUI |
Коррекция микроабсорбции методом Бриндли (Brindley) |
|
GUI |
Анализ степени кристалличности |
|
GUI |
Модели формы пиков |
|
|
Аналитический подбор профилей |
|
GUI |
Функции профиля |
|
|
PVII, измененный PV, TCHZ PV, Voigt |
|
GUI |
Асимметрия |
|
|
SPV, SPVII (для подбора одной линии) |
|
GUI |
Простая и полная осевые модели (Чири и Коэльо) (Cheary & Coelho, 1998a, b) |
|
GUI |
Коррекция асимметрии по Фингеру (Finger) (Фингер и др., 1994 г.) |
|
GUI |
Определение размера кристаллического блока по методу Шеррера (Scherrer) |
|
GUI |
Прямой сверточный подход |
|
GUI |
Измеряемые функции инструментов |
|
GUI |
Фундаментальный подход к параметрам |
|
GUI |
Анализ нестандартных кристаллических блоков и анализ деформаций |
|
GUI |
Уточняемые параметры инструментов |
|
GUI |
Determination of mean sample absorption coefficient and sample thickness |
|
GUI |
Tube tails correction |
|
GUI |
Support of user-defined convolutions |
|
GUI |
Фоновые модели |
|
|
Полиномы Чебышева n-го порядка |
|
GUI |
Одиночные пики (PV, SPV, PVII, SPVII, Гаусс, Лоренц, Фойхт, FPA) |
|
GUI |
Фон типа 1/x |
|
GUI |
Модулированный фон |
|
|
Модели преимущественной ориентации |
|
|
Марч-Доллас (March-Dollase) |
|
GUI |
Сферические гармоники |
|
GUI |
Анизотропные модели уточнения |
|
|
Расширение пиков |
|
|
Сдвиги пико |
|
|
Преимущественная ориентация |
|
|
Температурные факторы |
P |
|
Связи и ограничения |
|
|
Любые линейные и нелинейные условия |
|
GUI |
Функции коррекции Может применяться ко всем параметрам, требующим уточнения |
P |
|
Ограничения на длину связи (Антибамп, парабола, минимизация энергии решетки, пользовательский режим) |
P |
|
Жесткие и мягкие тела со всеми уточняемыми параметрами |
P |
|
Редактор жестких тел |
|
|
Процедуры минимизации |
|
|
Маркварт |
|
GUI |
Метод BFGS |
|
GUI |
Линейная минимизация |
|
GUI |
Экстраполяция |
|
GUI |
Метод разреженных матриц |
|
GUI |
Прочее |
|
|
Расширяемый язык макросов/ |
|
|
поддержка пользовательских параметров уточнения и модели уточнения |
|
|
Возможность полностью автоматической работы |
|
|
1) Данные об одном кристалле недоступны в GUI-режиме |
|
|