- •Лабораторная работа № 1 удельное сопротивление полупроводников
- •Теория метода
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Лабораторная работа № 2 определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •Электропроводность полупроводников
- •Температурная зависимость концентрации носителей заряда
- •4. Температурная зависимость проводимости
- •3. Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •Метод измерения
- •Описание экспериментальной установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3 определение концентрации основных носителей заряда и подвижности в примесном полупроводнике с помощью эффекта холла
- •Физическая сущность эффекта Холла
- •Факторы, влияющие на погрешность измерений
- •Измерительная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4 время жизни неосновных носителей заряда в полупроводнике
- •Теоретическая часть
- •2. Измерение времени жизни носителей заряда
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 определение диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводнике методом подвижного светового зонда
- •1. Теоретическая часть
- •2. Метод измерения диффузионной длины
- •3. Схема экспериментальной установки
- •4. Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6 определение поверхностной проводимости полупроводников
- •Поверхностные состояния
- •Концентрация носителей заряда и искривление энергетических зон у поверхности полупроводника
- •Измерение поверхностной проводимости
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 7 изучение оптического поглощения полупроводников
- •Поглощение света
- •Краткая характеристика различных видов поглощения
- •Прибор для снятия спектра поглощения
- •Определение коэффициента поглощения
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 8 пьезоэлектрический эффект в кристаллах
- •Поляризация диэлектриков. Основные характеристики
- •Поляризация нецентросимметричных диэлектриков
- •Пьезоэлектрический резонатор
- •Метод резонанса – антирезонанса
- •Методика и схема измерения
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 9 тензоэффект в кремнии
- •1. Теоретические сведения
- •3. Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Содержание
Метод измерения
При определении температурной зависимости электропроводности полупроводников необходимо выбирать метод измерения, который исключает влияние термоЭДС, возникающей в местах соприкосновения подводящих проводов с полупроводником. В данной работе применяется компенсационная схема на пульсирующем токе. Через образец и последовательное включенное сопротивление R пропускается ток I (рис. 2.4). Падение напряжения Ur между измерительными зондами 1 и 2 сравнивается с напряжением на сопротивлении UR . Изменяя сопротивление R, можно установить Ur = UR.
Рис. 2.4. Включение образца и измерительного сопротивления в схему
Принципиальная схема установки, на которой проводятся измерения, показана на рис. 2.5. Ток I, проходящий через образец и эталонное сопротивление R3, с помощью переключателя П1 преобразуется в переменный (прямоугольной формы). Переключатели П1, так же как П2 и П3, представляют собой поляризованные реле, обмотки которых питаются от сети (50 Гц). Все переключатели работают синхронно и в определенном фазовом соотношении. Когда течет ток через образец в одном направлении (I+), конденсатор С1 соединен с сопротивлением R3, а С2 – с образцом. При другом направлении тока (I-) положение конденсаторов меняется. Все эти циклы переключений повторяются 50 раз в секунду и создают в цепи гальванометра Г пульсирующий постоянный ток, вызванный разностью напряжений на эталонном сопротивлении и на образце.
Изменяя сопротивление R3, можно добиться отсутствия тока через гальванометр. При этом падение напряжения между измерительными зондами Ur равно падению напряжения UR на сопротивлении R3, т. е. Ur = UR. Следовательно, при балансе схемы сопротивление магазина равно сопротивлению образца полупроводника. Из этих данных легко подсчитать проводимость образца:
, (2.19)
где s = 0,16 см2 – поперечное сечение образца;
L = 2 см – расстояние между зондами.
Для того чтобы исключить влияние термоЭДС, вызванной градиентом температуры вдоль образца, в схему вводится блокировочный конденсатор С3.
Рис. 2.5. Принципиальная схема установки для измерения сопротивления
полупроводника
Описание экспериментальной установки
Исследуемый образец в специальном зажиме помещается в электронагревательную печь. Температура образца измеряется термометром. Ток в цепь из образцового сопротивления и прямоугольного образца германия подается от стабилизированного источника питания ВС-12 через сопротивление R2 = 80 кОм. Потенциометр R1 служит для регулирования тока, величина которого контролируется миллиамперметром. Образцовое сопротивление состоит из четырехкаскадного магазина сопротивлений. Декады магазина позволяют измерять сопротивления образцов в диапазоне 1 –10 000 Ом.
Задание
1. Включить питание схемы.
2. Переменным резистором R установить ток через образец германия, равный 0,5 мА.
3. Подбирая сопротивление магазина, добиться нулевого отклонения гальванометра. Сопротивление магазина будет соответствовать сопротивлению образца германия при комнатной температуре.
4. Включить термостат.
5. Провести измерение сопротивления при нагревании образца германия через каждые 10° до температуры 140° С и охлаждении его до комнатной. Результаты измерений занести в таблицу.
6. Построить зависимость ln() от 1/Т (температура в кельвинах). По наклону температурной зависимости проводимости определить ширину запрещенной зоны полупроводника по выражению (2.18).
Таблица
T,°C |
Т, K |
R, Ом |
σ, Oм–1 ۠·см–1 |
1/T |
ln(σ) |
20 |
|
|
|
|
|
30 |
|
|
|
|
|
40 |
|
|
|
|
|
… |
|
|
|
|
|
140 |
|
|
|
|
|
