- •Лабораторная работа № 1 удельное сопротивление полупроводников
- •Теория метода
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Лабораторная работа № 2 определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •Электропроводность полупроводников
- •Температурная зависимость концентрации носителей заряда
- •4. Температурная зависимость проводимости
- •3. Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •Метод измерения
- •Описание экспериментальной установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3 определение концентрации основных носителей заряда и подвижности в примесном полупроводнике с помощью эффекта холла
- •Физическая сущность эффекта Холла
- •Факторы, влияющие на погрешность измерений
- •Измерительная установка и методика измерений
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4 время жизни неосновных носителей заряда в полупроводнике
- •Теоретическая часть
- •2. Измерение времени жизни носителей заряда
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 определение диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводнике методом подвижного светового зонда
- •1. Теоретическая часть
- •2. Метод измерения диффузионной длины
- •3. Схема экспериментальной установки
- •4. Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6 определение поверхностной проводимости полупроводников
- •Поверхностные состояния
- •Концентрация носителей заряда и искривление энергетических зон у поверхности полупроводника
- •Измерение поверхностной проводимости
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 7 изучение оптического поглощения полупроводников
- •Поглощение света
- •Краткая характеристика различных видов поглощения
- •Прибор для снятия спектра поглощения
- •Определение коэффициента поглощения
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 8 пьезоэлектрический эффект в кристаллах
- •Поляризация диэлектриков. Основные характеристики
- •Поляризация нецентросимметричных диэлектриков
- •Пьезоэлектрический резонатор
- •Метод резонанса – антирезонанса
- •Методика и схема измерения
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 9 тензоэффект в кремнии
- •1. Теоретические сведения
- •3. Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Содержание
Контрольные вопросы
1. Основные параметры, от которых зависит проводимость полупроводников.
2. Объяснить температурную зависимость концентрации носителей заряда в примесном полупроводнике.
3. Понятие подвижности носителей зарядов. Температурная зависимость подвижности носителей зарядов.
4. Определение ширины запрещенной зоны и энергии активации примеси по температурной зависимости электропроводности.
5. Как изменится вид графика при увеличении концентрации примеси?
Рекомендуемая литература
1. Епифанов Г. И. Физика твердого тела / Г. И. Епифанов. – CПб. : Лань, 2011. – 288 с.
2. Пасынков В. В. Полупроводниковые приборы / В. В. Пасынков, Л. К. Чиркин. – М. : Высш. шк., 1987. – 477 с.
3. Бонч-Бруевич В. Л. Физика полупроводниковых приборов / В. Л. Бонч-Бруевич, С. Г. Калашников. – М. : Наука, 1977. – 672 с.
4. Павлов Л. П. Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов / Л. П. Павлов. – М. : Высш. шк., 1987. – 239 c.
Лабораторная работа № 3 определение концентрации основных носителей заряда и подвижности в примесном полупроводнике с помощью эффекта холла
Цель работы – определение концентрации основных носителей заряда и их подвижности в примесном полупроводнике на основании измерений эффекта Холла.
Физическая сущность эффекта Холла
Если образец полупроводника, по которому проходит электрический ток, поместить в магнитное поле, индукция которого перпендикулярна направлению тока, то на боковых гранях образца в направлении, перпендикулярном току и магнитному полю, возникает разность потенциалов, которая получила название ЭДС Холла.
Рассмотрим механизм возникновения эффекта Холла для случая полупроводника с электронной проводимостью.
Возьмем
образец
полупроводника, имеющий форму
параллелепипеда.
Через него по оси Х
пропускается электрический ток с
плотностью
jх.
Если поместить образец в однородное
магнитное поле, вектор магнитной индукции
которого
перпендикулярен
вектору jх
(рис. 3.1), то
движущиеся вдоль оси Х
со скоростью
носители заряда будут отклоняться под
действием силы Лоренца, пропорциональной
и
,
в направлении оси Z:
(3.1)
Рис. 3.1. Измерение напряжения Холла
Поскольку
направления скоростей и знаки заряда
электронов и дырок различны, они будут
отклоняться в одну и ту же сторону. Таким
образом, в направлении Z
появится
поперечный ток
.
Так как образец имеет конечные размеры
в направлении оси Z,
то произойдет накопление зарядов на
верхней грани и возникнет их недостаток
на нижней. Противоположные грани
заряжаются, и возникает поперечное
электрическое поле
.
Поле
растет до тех пор, пока не скомпенсирует
поле силы Лоренца и поперечный ток
не станет равным нулю. Результирующее
поле E
в образце будет повернуто относительно
на
некоторый угол
,
называемый углом Холла. При равенстве
силы Лоренца силе со стороны электрического
поля
,
где
,
и при условии, что дрейфовая скорость
основных носителей вдоль оси Х
пропорциональна величине напряженности
электрического поля
,
, (3.2)
тангенс угла Холла пропорционален магнитной индукции
Коэффициент
пропорциональности
имеет размерность подвижности и
называется холловской подвижностью.
Она отличается от микроскопической
подвижности
,
которая характеризует электропроводность
полупроводника. Из теории кинетических
явлений в твердом теле следует:
(3.3)
(3.4)
где
– время релаксации носителей заряда;
– эффективная масса носителей. Обозначения
<
>
и <
>
указывают на усреднение стоящих в
треугольных скобках величин по энергии.
Из (3.3) и (3.4) следует, что отличие между
и
состоит в способе усреднения времени
релаксации по энергии.
Холл
экспериментально установил, что поле
для слабых
магнитных полей удовлетворяет следующему
эмпирическому соотношению:
(3.5)
то
есть оно пропорционально плотности
тока
и величине магнитной индукции
с коэффициентом пропорциональности
,
зависящим только от свойств полупроводника.
Коэффициент пропорциональности называется коэффициентом Холла и численно равен напряженности электрического поля при единичной плотности тока и единичной магнитной индукции.
Из (3.2) и (3.5) следует
(3.6)
Используя закон Ома в дифференциальной форме, устанавливающий связь между плотностью тока и напряженностью электрического поля
(3.7)
где
– удельная
проводимость полупроводника, получаем
из (3.6)
. (3.8)
Для примесного полупроводника n-типа
(3.9)
где n – концентрация электронов;
– микроскопическая
подвижность электронов.
Подставляя (3.9) в (3.8), получаем:
(3.10)
где
– холловская подвижность электронов;
– коэффициент,
называемый Холл-фактором.
Аналогично для полупроводника p-типа
(3.11)
где p – концентрация дырок;
– Холл-фактор
для дырочного полупроводника.
При смешанной проводимости, когда существенны оба типа носителей заряда,
(3.12)
Как следует из (3.3) и (3.4), Холл-фактор равен величине
(3.13)
то есть зависит от времени релаксации, которое определяется механизмом рассеяния носителей заряда, и функциональной связи времени релаксации с энергией носителей заряда.
Подсчитано,
что в невырожденных полупроводниках
при рассеянии на тепловых колебаниях
решетки
=
=
=
1,18, при рассеянии на ионах примеси
=
1,93, а при рассеянии на нейтральных
примесях
= 1.
При низких температурах (для Ge T < 250 K, для Si T < 100 K) обычно доминирует рассеяние на ионах примеси, а при высоких температурах (для Ge и Si в том числе и при комнатной температуре) преобладает рассеяние на тепловых колебаниях кристаллической решетки.
Таким образом, для определения концентрации основных носителей заряда необходимо измерить постоянную Холла.
С помощью зондов измеряют холловскую разность потенциалов:
, (3.14)
где h – толщина образца вдоль оси Z при заданной магнитной индукции и токе
(3.15)
где d – ширина образца в направлении магнитного поля.
Из (3.5) с учетом (3.14) и (3.15) следует, что
(3.16)
Отсюда определяется постоянная Холла:
(3.17)
По известному значению постоянной Холла находится концентрация электронов для полупроводника n-типа или концентрация дырок для полупроводника p-типа с использованием соотношений (3.18) или (3.19):
(3.18)
(3.19)
При известной величине проводимости с использованием соотношения (3.8) вычисляется холловская подвижность.
Как следует из (3.12), в том случае, когда в проводимости существенны оба типа носителей заряда, определить раздельно их концентрацию и подвижность с помощью только эффекта Холла невозможно.
