- •Классификация электромагнитной обстановки и степени жесткости испытаний объектов на помехоустойчивость
- •Общие положения
- •1.2 Воспроизведение электромагнитных помех при испытаниях автоматических и автоматизированных систем технологического управления электротехническими объектами
- •2 Каналы передачи электромагнитных помех и способы их ослабления
- •Моделирование механизмов связи
- •2.2 Упрощенные модели передачи электромагнитных помех и методы их снижения
- •2.2.1 Связь через общее полное сопротивление
- •2.2.2 Магнитная связь
- •2.2.4 Связь излучением
- •2.2.3 Емкостная связь
- •3 Особенности практической реализации методов снижения помех и оценка вероятных уровней помех
- •3.1 Общие положения
- •3.2 Основные концепции выполнения заземления и прокладки кабелей
- •3.3 Фильтры
- •3.4 Устройства защиты от перенапряжений
- •3.5 Ограничение уровней гармоник напряжений и токов
- •4 Ограничения коммутационных электромагнитных помех в цепях управления с индуктивными элементами
- •4.1 Физические процессы при коммутациях в индуктивных цепях
- •4.2 Критерии оценки схем защиты от помех
- •4.3 Схемы защиты от помех для устройств постоянного тока
- •4.4 Схемы защиты от помех для устройств переменного тока
- •4.5 Схемы защиты от помех для трехфазных установок
- •4.6 Схемы защиты от помех для люминесцентных ламп
- •5 Подавление помех
- •Грозозащита — концепция грозозащитных зон
- •5.2 Проблемы эмс в лабораториях высоких напряжений и в электрофизических установках
- •5.3 Измерения дифференциальными усилителями
- •6 Экспериментальное определение помехоустойчивости
- •6.1 Имитация помех, поступающих по проводам
- •6.1.1 Имитация низкочастотных помех и миллисекундных импульсов в сетях низкого напряжения
- •6.1.2 Имитация широкополосных низкоэнергетических помех в виде пачек импульсов коммутационных перенапряжений
- •6.1.3 Имитация широкополосных мощных перенапряжений (гибридный генератор)
- •6.1.4 Имитаторы разрядов статического электричества
- •6.1.5 Имитация узкополосных помех
- •6.1.6 Серийные приборы
- •6.2 Имитация квазистатических полей и электромагнитных волн
- •6.2.1 Имитация узкополосных полей помех
- •6.2.2 Имитация широкополосных волновых электромагнитных полей
- •6.2.3 Имитация квазистатических полей и электромагнитных волн при помощи генератора тока
- •7 Измерение параметров средств защиты от помех
- •7.1 Экранирующее действие оболочек кабелей
- •7.1.1 Экранирование квазистатических магнитных полей оболочки
- •7.1.2 Экранирование квазистатических электрических полей
- •7.1.3 Экранирование электромагнитных волн
- •7.2 Экранирующие корпусы приборов и стенки помещений
- •7.3 Коэффициент затухания материалов экрана
- •7.4 Коэффициент затухания уплотнений
- •7.5 Коэффициент затухания, обусловленный поглощающими стенами
- •7.6 Коэффициент затухания фильтра
- •8 Некоторые общие проблемы электромагнитной совместимости
- •8.1 Подавление помех, вызываемых выключением катушек
- •8.2. Подавление помех, создаваемых универсальными коллекторными двигателями
- •8.3 Разряды статического электричества
- •8.4 Защита сети электропитания
7.3 Коэффициент затухания материалов экрана
Коэффициент затухания материала экрана, т.е. чистое свойство материала, независимо от геометрических размеров подлежащего изготовлению экрана, определяется согласно рис. 7.8. Разница коэффициентов затухания без экрана и с ним является коэффициентом затухания материала
Как и в других случаях, результат измерения зависит не только от испытуемого объекта, но и от измерительной установки. Так, при различных конструкциях антенн, их диаграммах направленности и расстояниях до образца, а также различных размерах образцов, получают различные результаты измерений для одного и того же материала. Поэтому были разработаны модифицированные методики, которые, хотя тоже не приводят к единым результатам, однако в их совокупности допускают более точную оценку свойств материалов экранов [Л.].
Коаксиальная измерительная ТЕМ - ячейка со сплошным внутренним проводником. У коаксиальной измерительной ТЕМ - ячейки с внутренним проводником образец материала располагается в середине коаксиальной линии с постоянным волновым сопротивлением (рис. 7.9). Образец имеет форму шайбы, внутренний проводник ячейки проходит внутри шайбы. Тем самым измерительная установка обеспечивает условия дальней зоны. Векторы напряженностей электрического и магнитного полей ориентированы параллельно поверхности образца. Часть приходящей от измерительного генератора волны отражается, часть проходит через образец, а остальная рассеивается в образце, т.е. превращается в джоулево тепло. Коэффициент затухания электромагнитных волн определяется
для тонкостенных образцов
Рис. 7.9 – Коаксиальная измерительная ячейка для ТЕМ-волн с проходящим внутренним проводником (ASTM — Американское общество испытаний и материалов, США [Л.].
для толстостенных образцов
где d — толщина шайбы.
Измеренный коэффициент затухания зависит от качества контакта образца с внутренним и наружным проводниками ячейки. Для того, чтобы устранить влияние контакта, была разработана разъемная коаксиальная измерительная ячейка.
Разъемная коаксиальная измерительная ячейка. Для улучшения контакта с образцом в этой ячейке образец материала в форме диска расположен между торцами двух сжимаемых половин коаксиальной линии (рис. 7.10). Места соединений между половинами внутреннего и наружного проводника шунтированы емкостями. Для того чтобы учесть это емкостное влияние, проводится опыт холостого хода, при котором вместо образца устанавливается шайба в стенке наружного провода и круглая прокладка в стыке внутреннего провода заданной толщины, изготовленные из исследуемого материала.
Рис. 7.10 - Коаксиальная измерительная ТЕМ - ячейка, (NBS — Национальное бюро стандартов, США [Л.])
В сравнении с измерительной ячейкой, показанной на рис. 7.9, разъемное устройство позволяет получить более воспроизводимые и лучше согласующиеся с теорией результаты измерений. Верхняя граничная частота обеих ячеек определяется образованием высших мод и достигает приблизительно 1,6 ГГц.
Двойная измерительная ячейка. Двойная ТЕМ - ячейка служит для определения коэффициента затухания квазистатических электрических и магнитных полей и состоит из двух обычных ТЕМ-ячеек прямоугольного поперечного сечения, которые подобно направленному ответвителю связаны друг с другом электромагнитным полем через отверстие (рис. 7.11). Испытуемый образец закрепляется под отверстием, причем качество контакта играет существенную роль. В противоположность обеим вышеописанным ТЕМ-ячейкам в двойной ТЕМ - ячейке векторы напряженности электрического поля направлены нормально, а напряженность магнитного поля — тангенциально поверхности образца. Благодаря наличию двух выходов в нижней ячейке можно раздельно определить коэффициенты затухания квазистатических магнитного и электрического полей [Л.]. Сумма выходных сигналов а1 и а2 соответственно при отсутствии образца и с образцом дает коэффициент затухания электрического поля
, (7.9)
их разность – коэффициент затухания магнитного поля
. (7.10)
Рис. 7.11 – Двойная измерительная ячейка для ТЕМ-волн с апертурной связью (NBS [Л.])
Рис. 7.12 – Измерительная ячейка "дуаль - чембер" (нормы [9.22]):
а — коэффициент затухания электрического поля;
б — коэффициент затухания магнитного поля
В измерительной ячейке с экранирующим корпусом по нормам ASTM (American Society for Testing and Materials — Американское общество испытаний и материалов) [Л.] образец может быть расположен непосредственно между двумя электрическими или магнитными диполями (рис. 7.12). Векторы электрической и магнитной напряженности полей ориентированы в этом устройстве нормально к поверхности образца (имитация ближней зоны).
Из-за собственных резонансов и неоднородного распределения поля результаты измерений коэффициента затухания слабо согласуется с результатами, полученными другими методами или расчетами.
Коэффициент затухания может быть определен путем измерения сопротивлений связи [Л.], а также расчетом во временной области [Л.].
