- •Предисловие
- •Глава 1
- •§ 1.2. Линейчатые спектры атомов и теория бора о строении атома
- •§ 1.3. Дискретность энергетических уровней
- •§ 1.4. Волновое уравнение электрона. Квантовые числа
- •§ 1.5. Электронное строение атомов
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 2 строение твердого тела
- •§ 2.1. Химическая связь в молекулах
- •§ 2.2. Агрегатные состояния вещества
- •§ 2.3. Кристаллическая структура твердого тела
- •§ 2.4. Химические связи в кристаллах
- •§ 2.5. Обозначение плоскостей и направления в кристалле
- •§ 2.6. Тепловые колебания атомов
- •§ 2.7. Дефекты кристаллов
- •§ 2.8. Определение структуры кристалла
- •2.9. Жидкие кристаллы
- •Глава 3
- •§ 3.1. Электронные состояния в твердых телах
- •§ 3.2. Металлы, диэлектрики и полупроводники с точки зрения зонной теории
- •§ 3.3. Статистика носителей заряда в твердом теле
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 4
- •§ 4.1. Вывод формулы электропроводности твердых тел
- •§ 4.2. Электропроводность металлов
- •§ 4.3. Сверхпроводимость металлов
- •§ 4.4. Электропроводность собственных полупроводников
- •§ 4.5. Примесные полупроводники
- •§ 4.6. Температурная зависимость
- •§ 4.7. Полупроводники в области криогенных температур и сверхпроводимость полупроводников
- •§ 4.8. Измерение удельного сопротивления полупроводников
- •§ 4.9. Определение типа электропроводности полупроводников
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 5 кинетические явления в полупроводниках
- •§ 5.1. Влияние сильных электрических полей на электропроводность полупроводников
- •§ 5.2. Эффект ганна
- •§ S.3. Неравновесные носители заряда
- •§ 5.Л. Неоднородные полупроводники. Диффузионные и дрейфовые токи
- •§ 5.5. Измерение параметров полупроводников
- •§ 5.6. Гальваномагнитные эффекты
- •§ 5.7. Термомагнитные эффекты
- •§ 5.8. Тепловые свойства полупроводников
- •Контрольные вопросы и задачи
- •§ 6.1. Работа выхода и контактная
- •§ 6.2. Контакт полупроводника и металла
- •§ 6.3. Выпрямление на контакте полупроводника
- •§ 6.4. Контакт металла с электролитом
- •§ 6.5. Строение двойного слоя
- •§ 6.6. Контакт полупроводника с электролитом
- •§ 6.7. Собственный потенциал электрода. Методы его измерения
- •§ 6.8. Вольт-амперные характеристики контакта металла и полупроводника с электролитом
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 7
- •§ 7.1. Образование p-n-переходов
- •§ 7.2. Классификация р-n-переходов
- •% 7.3. Природа токов через р-n-переход
- •§ 7.5. Гетеропереходы
- •§ 7.6. Перенос носителей в тонких пленках
- •§ 7.7. Токи в диэлектрических и полупроводниковых пленках, ограниченные пространственным зарядом
- •§ 7.8. Сверхрешетки
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 8
- •Термоэлектрические
- •И фотоэлектрические свойства
- •Полупроводников
- •§ 8.1. Термоэлектрические явления
- •§ 8.2. Фотопроводимость
- •§ 8.3. Спектр поглощения полупроводников. Квантовый выход
- •§ 8.4. Рекомбинация носителей заряда
- •§ 8.5. Люминесценция
- •§ 8.7. Квантовые генераторы
- •§ 8.8. Твердотельные лазеры
- •§ 8.9. Понятие об оптоэлектронике
- •Контрольные вопросы
- •Поверхностные свойства полупроводников
- •9.1. Особенности строения поверхности полупроводников
- •§ 9.2. Образование поверхностного заряда
- •§ 9.3. Явление адсорбции на поверхности полупроводников
- •§ 9.4. Поверхностная электропроводность
- •§ 9.5. Эффект поля ;
- •§ 9.6. Физические явления при переносе носителей
- •§ 9.7. Каналы проводимости
- •§ 9.8. Поверхностная рекомбинация
- •§ 9.9. Быстрые и медленные состояния
- •Контрольные вопросы и задачи
- •Глава 10
- •§ 10.1. Влияние свойств поверхности на параметры 1
- •§ 10.2. Ток поверхностной утечки
- •§ 10.3. Стабильность характеристик приборов
- •§ 10.4. Стабилизация поверхностного заряда
- •Контрольны вопросы
- •Глава 11 свойства тонких пленок
- •§ 11.1. Особенности структуры пленок
- •К чему приводит дрейф обратного тока?
- •§ 11.3. Эпитаксиальные слои
- •§ 11.5. Ферромагнитные пленки
- •Контрольные вопросы
- •Оглавление
Контрольны вопросы
С чем связано изменение обратных токов -германиевых и кремниевых при боров с изменением напряжения при постоянной температуре?
Почему величина поверхностной составляющей обратного тока, как пра вило, больше величины объемной составляющей?
225
Глава 11 свойства тонких пленок
§ 11.1. Особенности структуры пленок
Структура пленок значительно отличается от структуры объемного материала того же состава. Иногда пленки имеют иное кристаллическое строение по сравнению с массивным материалом. Структура пленок может меняться при изменении их толщины. В толстых пленках, осаждаемых на инородную подложку, возрастает плотность дефектов, что приводит к разупоридочению структуры.
Процессы получения пленок связаны с взаимодействием осаждающихся атомов с поверхностью твердого тела. На границах фаз протекают сложные процессы, заметно влияющие на механизм осаждения пленок, их сцепление с подложкой, характер зарождения и роста пленки.
Под зарождением понимают возникновение зародышей твердой фазы из паровой или жидкой фазы. Рост пленки происходит после возникновения зародышей за счет их увеличения и слияния. Последующий рост связан с образованием сплошного слоя осаждаемого вещества и его утолщением. Структура образующейся пленки зависит от количества и размеров зародышей. При большой частоте расположения и малых размерах зародышей структура получается мелкозернистой, а при малой частоте и крупных размерах зародышей пленки приобретают крупнозернистую структуру. Структура пленок определяет их свойства.
226
3Как
связаны между собой обратный ток и
скорость поверхностной ре
комбинации?
4Чем
обусловлены
токи
поверхностной утечки?
Всегда ли
наличие каналов па поверхности
полупроводника приводит
к увеличению
обратных токов?
Почему
ширина р-n-иерехода
у поверхности кристалла значительно
мень
ше, чем в объеме?
Почему с ростом
температуры напряжение поверхностного
пробоя растет?
Почему
во влажной среде шум типа l/f
резко
возрастает?
Почему
у МДП-транзисторов шумовые характеристики
хуже, чем у планарных?
Как
влияет состояние поверхности на
коэффициент передачи по току
транзистора?
Что лучше, с точки
зрения стабильности параметров
полупроводниковых
приборов большая
или малая скорость рекомбинации?
Что такое «старение»
полупроводниковых приборов?
Как
влияет состояние поверхности на
величину порогового напряжения
МДП-транзисторов?
Чем в основном
обусловлено образование подвижного
заряда в оксиде?
Почему
для стабилизации поверхностного
заряда используют диэлектри
ческие
пленки?
К чему приводит дрейф обратного тока?
§
11.2. Металлические пленки
Металлические пленки применяют для изготовления тонкопленочных резисторов и обкладок тонкопленочных конденсаторов, а также для создания токопроводящих дорожек и контактных площадок в интегральных микросхемах.
Основными методами получения металлических пленок являются термовакуумное напыление и ионно-плазмеиное распыление.
С помощью первого метода можно получать пленки металлов любой толщины. Пленки получаются чистыми, так как процесс проводится в высоком вакууме.
Методом ионно-плазменного распыления получают пленки любых, в том числе тугоплавких, металлов. Они имеют более высокую адгезию и лучшую стабильность характеристик.
Па структуру тонких пленок независимо от способа их получения существенное влияние оказывают температура подложки при испарении, степень вакуума, свойства испаряемых металлов и свойства материала подложки.
Структура тонких пленок, полученных путем термовакуумного напыления, зависит от температуры испаряемого материала. С точки зрения влияния этого фактора, все металлы распределяются на три группы. К первой группе относятся металлы с температурой плавления выше 1900е С (вольфрам, тантал, молибден и др.); ко второй— металлы с температурой плавления от 600 до 1900° С (золото, серебро, медь, никель, железо, хром, титан, платина), к третьей — металлы с температурой плавления ниже 650° С (сурьма, висмут, теллур, кадмий, цинк, индий, магний).
Для первой группы металлов характерно образование сплошных неориентированных слоев с малой величиной зерна, менее 15 нм, для второй группы типично образование крупнокристаллической структуры. Металлы третьей группы образуют пленки, состоящие из крупных монокристаллов, ориентированных по отношению к подложке.
Скорость испарения по-разному влияет на структуру пленки для различных групп металлов, что связано с различием в подвижности атомов на подложке в процессе осаждения пленки. Время подвижного состояния на подложке у металлов третьей группы наибольшее, поэтому наибольшее влияние скорость испарения оказывает на структуру пленок металлов этой группы. У этих металлов различие в значениях температуры плавления и испарения невелико, поэтому на подогреваемой подложке могут создаваться островки металла в жидком состоянии. При больших скоростях испарения эти островки соединяются между собой, образуя крупные кристаллиты. При малой скорости испарения кристаллизация происходит с самого начала процесса осаждения. У металлов первой и второй групп затвердевание конденсата происходит быстрее, чем у металлов третьей группы, и наблюдается зависимость структуры от скорости испарении. При малых скоростях на подложке осаж-
227
дается большое количество атомов остаточного газа, что влияет на структуру пленки и величину ее сопротивления.
Влияние остаточных газов на свойства пленок тем больше, чем меньше толщина пленки. Остаточные газы осаждаются не только в процессе роста пленки, но и после прекращения осаждения, поскольку продолжается процесс адсорбции остаточного газа поверхностью пленки.
Свойства и структура пленок зависят от состояния поверхности и свойств подложек. Несовершенства и загрязнения поверхности подложек изменяют условия конденсации атомов металлов, изменяется подвижность атомов, что сказывается на структуре пленки.
Эксперименты показали, что температура подложки влияет на структуру осаждаемой пленки в большей степени, чем все остальные факторы. На холодной подложке пленки имеют мелкокристаллическую структуру, на подогретой — крупнокристаллическую. При прогреве мелкокристаллической структуры она превращается в крупнокристаллическую.
На свойства пленок наибольшее влияние оказывает их толщина независимо от способа получения пленки. Условия получения пленок влияют на их свойства в меньшей степени.
В первую очередь толщина пленки влияет на ее удельное сопротивление. Как правило, удельное сопротивление пленок больше, чем у массивных образцов того же химического состава,
Сверхтонкие пленки не являются сплошными, а состоят из островков вещества, разделенных областями, не покрытыми осаждаемым материалом. Электропроводность в такой пленке появляется только тогда, когда островки соединятся между собой. При рассмотрении электропроводности металлов говорилось о том, что удельное сопротивление металлов зависит от длины свободного пробега электронов. В тонких пленках эта длина ограничена столкновениями электронов с поверхностью пленки. С увеличением толщины пленки длина свободного пробега возрастает и соответственно снижается сопротивление пленки.
Длина свободного пробега электрона в пленке ограничивается не только се поверхностью, но и структурными дефектами. На структуру пленки влияет температура подложки в момент осаждения, поэтому удельное сопротивление зависит от температуры подложки, уменьшаясь с возрастанием температуры. Снижение удельного сопротивления наблюдается у пленок, полученных на холодной подложке после прогрева в вакууме. Температура структурных превращений пленок близка к температуре рекристаллизации металла и существенно зависит от толщины пленок. Степень изменения удельного сопротивления после прогрева у тонких пленок более велика, чем у толстых.
У пленок, полученных ионно-плазменным распылением, удельное сопротивление при прогреве изменяется сильнее, чем у термически осажденных пленок.
Изменение удельного сопротивления пленки с нагревом можно объяснить следующим образом. В пленках, осажденных на холод-
228
ную подложку, возникают значительные механические напряжения. Прогрев снимает их и удаляет примеси, адсорбированные пленкой в процессе осаждения. Все это улучшает структуру пленки и снижает ее удельное сопротивление.
Пленки металлов, термически обработанные в вакууме сразу после напыления, стабильны по свойствам и обладают хорошей механической прочностью.
Поскольку тонкие металлические пленки применяют для изготовления резисторов, то для них важным параметром является температурный коэффициент сопротивления — ТКС. Этот параметр определяется для стабильных пленок, прошедших термообработку. Экспериментально установлено, что ТКС зависит от толщины пленки; для тонких пленок он меньше, чем для толстых, и у пленок он меньше, чем у тех же объемных материалов. У некоторых тонких пленок ТКС становится даже отрицательным. Толщина пленки, при которой ТКС становится отрицательным, может быть различной в зависимости от технологии получения пленок и от условий их получения — давления в установке, природы газа и т. п.
На термоэлектрические свойства пленок большое влияние оказывает технологический режим их получения. Изменяя параметры технологического цикла, можно получить разную величину термо-э. д. с. У топких пленок термо-э. д. с. значительно меньше, чем у массивных образцов, и с уменьшением толщины пленки знак термоэ. д. с. может измениться на противоположный.
Пленки, полученные обоими методами, имеют примерно одинаковую плотность, но она меньше плотности объемного материала. На плотность пленок влияет их толщина, с ее увеличением значение плотности пленок приближается к плотности объемного материала. Плотность пленок возрастает с ростом скорости осаждения, так как при этом структура пленок становится более крупнокристаллической.
Адгезионные свойства у ионно-плазменных пленок лучше, чем у термоосажденных. Адгезия зависит от материала пленки, чистоты поверхности подложки, скорости осаждения и температуры подложки. Установки для ионно-плазменного распыления позволяют перед началом процесса производить ионную очистку подложек. Такая очистка активизирует поверхность и способствует образованию зародышей.
Механические напряжения в пленках, полученных распылением, значительнее, потому что в процессе осаждения температура подложки не остается постоянной вследствие бомбардировки частицами разряда и теплового излучения мишени.
Перспективы развития микроэлектроники связывают с применением пленочных сверхпроводников. В сверхпроводящих пленках наблюдается целый ряд интересных эффектов, таких, как возникновение сверхпроводимости в материалах, не обладающих сверхпроводимостью, и туннелирование в сверхпроводниках. Созданы сверхпроводящие пленки карбидов и нитридов тантала, сплавов ниобий — цирконий, ниобий — титан, ниобий — олово, ванадий —
229
титан, ванадии — кремний, ванадий — германий, ванадий — галлий.
Пленки сплава ниобия и ванадия толщиной около 100 нм способны пропускать большие токи, сравнимые с токами через массивные материалы. В пленках существенную роль играют размерные эффекты: толщина пленки и размер зерен.
Сверхпроводимость сохраняется до весьма малых толщин. В пленках свинца сверхпроводимость отсутствует лишь при толщинах, меньших 0,7 нм, а в пленках теллура и олова критическая толщина равна соответственно 1,1 и 4,0 нм.
Сверхпроводящее состояние характеризуется критической температурой, которая зависит от толщины пленки и в некоторых пленках возрастает с уменьшением толщины. В сверхпроводящих пленках олова и таллия зависимость критической температуры от толщины имеет максимум, а для пленок свинца кривая зависимости монотонно спадает с уменьшением толщины пленки. Такая взаимосвязь критической температуры и толщины объясняется структурными особенностями пленок и возникающими в них механическими напряжениями. Эффект роста критической температуры а пленках называют усилением сверхпроводимости.
Максимальный рост критической температуры наблюдается а многослойных структурах, состоящих из чередующихся слоев сверхпроводника толщиной около 60 им и диэлектрика. Для сверхпроводящих пленок алюминия Ткр=1,19 К, а для семислойной структуры, состоящей из четырех слоев алюминия и трех слоев оксида кремния, Ткр=5,7 К.
