Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Ташлыкова-Бушкевич - Физика, часть 2.pdf
Скачиваний:
67
Добавлен:
17.03.2016
Размер:
5 Мб
Скачать
☆

26.7. Частица в одномерной бесконечно глубокой потенциальной «яме»

Рассмотрим электрон, движущийся в потенциальном поле. Примером движения электрона в потенциальной «яме» является движение коллективизи- рованных электронов внутри металла.

Потенциальная энергия электрона вне и внутри одномерной прямоуголь- ной потенциальной «ямы» U (x) имеет следующие значения, рис. 26.5, а:

ì¥, x < 0;

 

ï

£ x £ l;

 

U (x) = í0, 0

Р

ï

 

î¥, x > l,

И

где l – ширина «ямы»; стенки «ямы» бесконечно высокие, энергия отсчитыва- ется от ее дна. Используем уравнение Шрёдингера для стационарных состояний (26.15). Для одномерного случая в пределах «ямы», где U = 0, это уравнение упрощается:

 

 

 

d 2ψ

2m

Eψ = 0

 

 

d 2ψ

+ k2ψ = 0 ,

У

 

(26.19)

 

 

 

dx2

+ h2

Þ

 

dx2

 

где k 2 = 2mE h2 .

 

 

 

Е

 

n

ψ n (х)

Г

 

ψ n

(х) 2

 

U → ∞ U → ∞ n

 

 

 

 

 

Е

n

 

 

Е

 

 

 

3

 

 

E3

 

3

 

 

E

3

 

 

E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

E2

 

2

 

 

E2

2

 

 

E2

 

0

l Х

1

0

 

E1

а1

E1

1

0

 

E1

а

б

 

l Х

 

 

0

 

l Х

г

 

l Х

 

 

 

 

 

кв

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 26.5. Случай одном рного движения микрочастицы

в бесконечно глубокой потенциальной «яме»:

а – бесконечно глубокая п енциальная «яма»; б – энергетический спектр Еп микрочастицы;

в и г – соответств н с тбс венные функции ψп и плотность вероятности

 

ψ n

 

2

 

 

 

 

 

обнаружения микрочастицы в «яме»

 

 

но

 

 

Общее реше

уравнения (26.19) имеет вид

 

ние

(26.20)

л

ψ (x) = asin(kx + α) ,

 

 

где а α – произвольные постоянные.

 

Функцбя ψ (x) должна удовлетворять стандартным условиям. Видно, что

ψБ(x)ив в де (26.20) однозначна и конечна. Она должна быть еще и непрерыв-

ной. За пределы «ямы» частица не проникает из-за бесконечно высоких стенок, поэтому волновая функция вне «ямы» равна нулю. Следовательно, на границах «ямы» непрерывная волновая функция также должна обращаться в нуль:

ψ (0) =ψ (l) = 0 .

Из граничного условия ψ (0) = asinα = 0 получаем, что

α = ±π m,

где m = 0, 1, 2, 3.... При m = 0, а также при четных значениях т имеем

70

ψ (x) = asin kx . При нечетных значениях т имеем ψ (x) = −asin kx . Поскольку физический смысл имеет квадрат модуля волновой функции ψ (x) 2 , который от выбора значения т, т. е. от знака ψ (x) не зависит, то без потери общности можно считать, что α = 0.

Из граничного условия ψ (l) = asin kl = 0 следует, что при a ¹ 0:

kl = ±π n ,

(26.20а)

где n = 1, 2, 3... (п = 0 отпадает, так как при этом ψ = 0

– частицы в яме нет).

Число k принимает лишь определенные дискретные значения, удовлетворяю- щие условию (26.20а). Отсюда

 

k =

π n

 

 

 

 

(26.21)

l

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и можно заключить, что поскольку по определению k = 2π λ , гдеРλ – длина

волны де Бройля для электрона в «яме», то

 

И

 

 

2π

 

π n

 

λ

 

 

 

 

 

 

 

Þ l =

2 n .

 

 

λ

= l

 

Таким образом, на ширине потенциальной «ямы» должноУукладываться целое

число полуволн де Бройля. Используем теперь выражение (26.19) и получим

уравнение для собственных значений энергии En :

Г

 

 

 

 

 

 

 

En =

h2π

2

n

2

 

Б

(26.22)

 

 

 

 

 

 

2ml2

 

, n = 1, 2, 3,....

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отрицательные значения п приводят лишь

изменению знака пси-функции и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

еh π

 

 

 

 

не дают новых состояний. При этом минимальное значение энергии частицы в

яме не равно нулю:

 

 

т

 

2

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Emin

2ml

2

.

 

 

 

 

 

 

ли

 

 

 

 

 

 

 

Следовательно, энергия частицы в бесконечно глубокой потенциальной

«яме» принимает шь

 

пределенные дискретные значения, т. е. квантуется,

 

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ее спектр – дискретный, рис. 26.5, б, в то время как классическая механика на

энергию частицы в этом случае таких ограничений не накладывает.

 

 

б

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

кроме En , невозможны: вероят-

Другие значения Е энергии электрона,

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

En , равна

ность о наружить внутри «ямы» электрон с энергией, отличной от

Б

 

 

 

 

 

решение уравнения (26.19) только нулевое.

 

нулю, так как при E ¹ E

 

 

Квантованные значения энергии Еп называются уровнями энергии, а чис- ло п, определяющее энергетические уровни частицы, называется квантовым

числом. Расстояние между соседними уровнями энергии (26.22) равно

 

DEn = En+1

- En = h2π 2

(2n +1) .

(26.22а)

 

 

 

2ml2

 

 

Отношение En к En зависит от квантового числа следующим образом:

En =

2n +1

.

 

(26.22б)

 

 

En

 

n2

 

 

71

В 1923 г. Н. Бор сформулировал принцип соответствия:

при больших квантовых числах выводы и результаты квантовой механики должны соответствовать классическим результатам.

Собственные волновые функции согласно (26.20) можно записать как

 

 

 

 

 

 

ì

 

 

 

 

π n

x, 0

£ x £ l;

 

 

 

 

 

 

 

ψ n

(x) =

ïasin

 

l

 

 

 

 

 

 

 

í

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ï

 

 

 

 

 

 

x > l.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

î0, x < 0,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

l

 

2 dx =1, и тогда

Учтем условие нормировки (26.8), согласно которому ò

 

ψ (x)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

òl

a2 sin2 π n x dx = a2

òl

(1- cos

2π n x)dx = a2 l =1.

 

0

l

 

 

 

 

 

 

2

0

 

 

l

 

2

 

 

 

Следовательно, a = 2

l . Таким образом,

нормированные собственныеРфунк-

ции в данном случае имеют вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

И

 

 

ì

2

sin

π n

x,

 

0 £ x £ l, n =1, 2,

3,...

 

 

 

ï

l

 

l

 

 

 

 

(26.23)

ψ n (x) = í

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

ï

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x < 0, x > l,

 

 

Г

 

 

 

 

î0,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

показанный на рис. 26.5, в. Также на рис. 26.5, г изображена плотность вероят-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

ности Р обнаружения частицы на разных р сстояниях от стенок «ямы», опреде-

ляемая выражением

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P =

ψ (x)

2

 

=ψ (x) ×ψ * (x) .

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

n

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Из этих графиков видно, что в низш м энергетическом состоянии ( n = 1) с наи- большей вероятностью час ицу можно обнаружить в середине «ямы», а вероят- ность нахождения ее вблизи кра в «ямы» весьма мала. В состоянии с n = 2 час- тица не может быть обнаружена в середине «ямы» и с одинаковой вероятно-

стью бывает как в лев й,

ак и в правой половине «ямы». Такое поведение час-

тицы резко отличается

т

ведения классической частицы. Если классическая

 

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

частица в подобной «яме» движется с постоянной скоростью, то вероятность ее

 

 

 

 

 

по

 

 

 

 

 

обнаружения во всех точках будет одинакова.

С уве ичениемиже энергии (т. е. с ростом квантового числа п) максимумы

распределения

ψ

(x)

 

2

располагаются все ближе друг к другу. При очень боль-

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ших значениях п картина распределения

 

 

ψ n (x)

 

2 практически «сливается» и

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

распределен е представляется равномерным. Следовательно, вероятность об-

наружения частицы

 

 

в

разных точках

потенциальной «ямы» становится

одинаковой.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отметим, что при возрастании квантового числа п энергетический спектр

частицы в бесконечно глубокой потенциальной «яме» изменяется. Дискрет- ность энергетического спектра будет играть все меньшую роль из-за уменьше- ния отношения En к En (26.22б) ( En En ≈ 2n ). Данный результат согласует-

ся с принципом соответствия.

72

26.8. Гармонический осциллятор (результаты решения)

Линейным гармоническим осциллятором в классической механике назы-

вается система, совершающая колебательное периодическое движение под дей- ствием квазиупругой силы около положения устойчивого равновесия, описы- ваемое уравнением вида (7.7) (см. тему 7 ч. I). Данная система является моде- лью, используемой при описании классических и квантовых систем. Пружин- ный, физический и математический маятники – примеры классических гармо- нических осцилляторов.

 

 

U(x)

 

 

 

Согласно классической механике одномер-

 

 

 

 

E2 = 5hω0 2

ный осциллятор совершает гармонические коле-

n = 2

 

 

 

0

 

 

Х

бания с

циклической

 

 

 

И

κ m , где

 

 

 

 

 

 

 

частотой ω0 =

n = 1

 

 

E1 = 3hω0 2

κ – постоянная квазиупругой силы.РПоэтому по-

n = 0

 

E0 = hω0 2

тенциальная энергия одномерного гармониче-

 

 

 

 

 

 

 

 

ского осциллятора (см. формулу (7.19) ч. I) мо-

Рис. 26.6. График функции

жет быть определена как

2У2

 

 

 

 

κx

2

 

 

 

U(х), определяющей

 

U =

 

=

mω0 x

.

(26.24)

потенциальную энергию

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

Г2

 

 

гармонического осциллятора

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Графиком функции (26.24) является парабола,

 

 

 

 

 

 

 

рис. 26.6.

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Классический осциллятор не может выйти за пределы потенциальной

«ямы» с координатами − xmax ≤еx ≤ xmax , где − xmax , xmax – координаты точек поворота, в которых E = U . Частица может двигаться только в области, где E ³U , т. е. между точкамитповорота.

В квантовой теории задача о квантовом гармоническом осцилляторе

сводится к задаче о движении час ицы массой т в параболической потенциаль- ной яме (26.24). Уравнение Шрёдингера (26.15) для одномерного квантового осциллятора, для кот го по енциальная энергия имеет вид (26.24), записыва-

ется так:

 

л

ро

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

d

2ψ 2m

 

mω02 x2

 

 

 

 

б

и

 

+

 

(E -

 

)ψ = 0 ,

 

(26.25)

 

 

h2

2

 

и

 

 

dx2

 

 

 

 

имеет смысл цик-

где Е – полная энергия осциллятора. В уравнении (26.25) ω

 

лической частоты классического одномерного осциллятора. Собственные значен я энерг для этого уравнения, как можно доказать, равны

æ

1

ö

, n = 0, 1, 2, ....

(26.26)

En = çn +

 

÷ hω0

2

è

ø

 

 

БТаким образом, энергия квантового осциллятора в отличие от классиче-

ского не может быть произвольной, а квантуется (может иметь лишь дискрет- ные значения). Разность энергии между соседними уровнями определяется как

E = En+1 − En = hω0 .

Следовательно, уровни энергии квантового осциллятора расположены через равные интервалы hω0 и называются эквидистантными, рис. 26.5.

73

При n = 0 из выражения (26.26) определяется энергия нулевых колеба-

ний (нулевая энергия), равная E0 = 12 hω0 , которая была оценена еще в подтеме

26.3 на основе соотношения неопределенностей. Минимальная энергия кванто- вого осциллятора лежит выше минимума потенциальной энергии U = 0 . Нера- венство нулю E0 осциллятора – типично квантовый эффект – прямое следствие

соотношения неопределенностей. Наличие нулевой энергии подтверждается экспериментально.

Правилами отбора в квантовой механике называются условия, наклады-

ваемые на изменения квантовых чисел при разрешенных переходах системы из одного состояния в другое.

Точный расчет, выходящий за рамки данного курса, показывает, что пра-

вила отбора, характеризующие испускание и поглощение электромагнитногоР

излучения квантовым гармоническим осциллятором, имеют вид

 

n = ±1,

 

И

(26.27)

 

 

 

т. е. возможны лишь переходы между соседними уровнями энергии, рис. 26.6.

Следовательно, энергия гармонического осциллятора вУизлучательных процес-

сах может изменяться только порциями hω0

: гармонический осциллятор испус-

 

Г

 

 

кает и поглощает энергию квантами.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Решения уравнения (26.25) таковы, что имеетсяБотличная от нуля вероят-

ность обнаружить частицу за пределами обл сти − xmax ≤ x ≤ xmax , т. е. в клас-

сически запрещенной области,

г

 

 

 

 

 

 

E < U . Существование отличных от нуля

 

 

 

 

 

 

ψ

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

значений

 

 

(x)

 

за пределами пот нциальной «ямы» объясняется волновыми

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

свойствами микрочастиц.

 

 

де

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Квантовая плот

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψ n (x)

 

обнаружения частицы (кванто-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с ь вероя ности

 

 

 

вого гармонического

сцилля ора) в окрестности точки х зависит от значения

квантового числа п.

Графикитданной функции для n = 0, 1, 2

приведены на

рис. 26.7, а, б, в.

 

но

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψ 0

 

2

 

 

 

 

 

 

 

и

 

ψ1

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψ 2

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n = 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n = 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n = 2

 

 

 

 

 

 

 

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

− x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

max Х

 

0

 

xmax

 

 

− xmax

 

 

 

 

0

 

 

 

xmax Х

max

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

− xmax

0

x

Ба

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

 

 

 

 

 

 

Рис. 26.7. Плотности вероятности

 

ψ n

 

2 для квантового осциллятора при значениях

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

главного квантового числа n = 0,1, 2

 

 

 

 

 

 

При малых значениях квантового числа функции

 

ψ n (x)

 

2

имеют конеч-

 

 

ные значения в области

 

x

 

³ xmax

 

и принципиально отличаются от плотности ве-

 

 

 

74

роятности обнаружения классического осциллятора (пунктирная линия на рис. 26.7, б). С ростом числа п функция ψ n (x) 2 приближается к классической

кривой распределения. При n → ∞ график ψ n (x) 2 переходит в классическую

функцию распределения плотности вероятности.

Отметим, что рассмотренная модель гармонического осциллятора и свя-

занная с ним задача о движении частицы в параболической потенциальной «яме» является идеализацией, которая справедлива только при малых отклоне- ниях колеблющейся частицы от положения равновесия. В реальных системах потенциальная энергия U частицы, совершающей колебания около положения равновесия, имеет более сложный вид. При возрастании амплитуды колебаний движение частицы будет все больше усложняться, отличаясь от гармонических

Если поместить частицу в потенциальную «яму» с конечной высотой сте- нок, то с точки зрения законов классической физики она может выйти из этой

колебаний. Такое движение называют ангармоническим движением, а соответ-

ствующий осциллятор – ангармоническим осциллятором.

 

Р

И

 

 

 

26.9. Прохождение частицы через одномерный потенциальный барьер.

Туннельный эффект

 

У

 

 

 

 

 

Г

 

 

Б

 

 

 

«ямы» лишь при условии, что ее полн я энергия превышает глубину потенци-

альной «ямы». Иначе, частица, находящ яся внутри потенциальной «ямы», «за-

перта» в ней.

 

 

а

 

В квантовой механике сущ ству т принципиальная возможность прохож-

 

 

к

 

дения («просачивания») час иц сквозь потенциальные барьеры. Это явление на-

зывается туннельным эффек оме. Для его описания вводится понятие коэф-

фициента прозрачн сти (пропускания) D потенциального барьера:

D =

Iпрох

=

jпрох

,

(26.28)

 

 

т

 

jпад

 

 

о

Iпад

 

 

 

где Iпад и jпад – соответственно интенсивность волны де Бройля, падающей на

барьер, и п отностьипотока частиц, падающих на барьер; Iпрох и

jпрох – соответ-

ственно бнтенсивностьл де-бройлевской волны, прошедшей барьер, и плотность потока част ц, прошедших барьер.

Коэфф циент прозрачности D можно рассматривать как вероятность пре-

одолен я частицы потенциального барьера. Из обратимости по времени следу-

и

 

 

 

ет, что для переходов в «прямом» и «обратном» направлениях коэффициенты

прозрачности одинаковы.

 

 

 

Б

 

 

 

Аналогично можно определить коэффициент отражения барьера R как

вероятность того, что поток частиц (частица) отразится от барьера:

 

R =

Iотр

=

jотр

,

(26.29)

 

 

 

Iпад

jпад

 

где Iотр и jотр – соответственно интенсивность волны де Бройля, отразившейся

75

от барьера, и плотность потока частиц, отразившихся от барьера и полетевших в обратном направлении. Расчеты показывают, что прозрачность барьера зави- сит от его «формы» и высоты.

Таким образом, согласно определению, R + D = 1. Кроме того, значения R и D не зависят от направления движения частицы.

Существуют два простейших варианта одномерных потенциальных барьеров – прямоугольный потенциальный барьер в виде ступеньки, когда по- тенциальная энергия U при х = 0 скачком изменяется на конечную величину U0, а также потенциальный барьер прямоугольной формы высотой U0 и шириной l, рис. 26.8, а, б. Потенциальная энергия определяется соответственно так:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ì0,

x < 0;

 

 

 

 

 

 

(область 1)

 

 

 

 

 

 

 

 

ì0,

x < 0;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ï

, 0 £ x £ l;

 

 

И

 

 

 

 

 

U (x) = í

, x > 0,

 

 

 

U (x) = íU0

 

 

(область 2)

 

 

 

 

 

 

 

 

îU0

 

 

 

 

 

 

 

 

ï

x > l.

 

 

 

 

 

 

 

Р

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

î0,

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(область 3).

 

 

Е1 U

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

U

 

 

 

Г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

U0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

U0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Е2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

2

 

 

 

3

 

 

 

 

 

а

 

 

1

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

Х

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

ψ2

(x)

l

 

 

 

 

 

Х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψ1

(x)

 

 

 

а

ψ3(x)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

Х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

г

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

ψ (x)

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Х

 

 

 

 

 

 

 

ти

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 26.8. Прох ждение час ицы через одномерный потенциальный барьер:

а и б – соответственно ступенчатыйти симметричный прямоугольный потенциальный барьер;

 

 

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в – закономернос

зменен я ψ -функции в областях 1, 2 и 3; г – график распределения

 

 

 

 

п отности вероятности

ψ (x)

2

местоположения частицы

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Пусть с ева на границу барьера налетает частица (или поток частиц) с

полной энерг

ей Е, см. рис. 26.8, а. «Классическая» частица с энергией E > U0

Б

на р с. 26.8, а) пройдет над барьером (R = 0), а при E < U0 ( E = E2 на

( E = E1

рис. 26.8, а) отразится от него и будет двигаться в обратную сторону. В кванто- вой механике для микрочастицы при энергиях, превосходящих высоту барьера (и даже в отсутствие какого-либо барьера, например, при прохождении частицы над потенциальной ямой), есть вероятность надбарьерного отражения, когда частица отразится от барьера и будет двигаться в обратную сторону.

Вычислим вероятность надбарьерного отражения, рис. 26.8, а. В случае одномерного движения частицы слева направо вдоль оси Х уравнение Шрёдин- гера (26.15) запишется для областей 1 и 2 соответственно в виде (26.16):

76

d 2ψ1

+ k 2ψ1 = 0 ,

d 2ψ 2

+η2ψ 2 = 0 ,

d x2

d x2

 

 

где k = 2mEh; η = 2m(E −U0 )h. Общие решения будут следующими:

при x < 0 ψ1(x) = A1eik x + B1e−ik x ,

при x > 0 ψ 2 (x) = A2eiη x ,

где A1, B1 и A2 – постоянные. Решение уравнения Шрёдингера для области 1 является линейной комбинацией двух решений (26.16а). Первое слагаемое вол-

гаемое – отраженной от барьера частице. В области 2 частица, прошедшая над барьером, может двигаться только в положительном направлении оси Х.

новой функции ψ1(x) соответствует падающей на барьер частице,Ра второе сла-

Согласно условию непрерывности волновой функции на границе облас-

тей 1 и 2 запишем, что

ψ1

 

x=0 =ψ 2

 

x=0

,

dψ1

 

=

dψ 2

.

И

 

 

 

 

 

d x

 

d x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x=0

 

x=0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда уравнения, связывающие постоянные A1,

B1 и A2 ,Уимеют вид

A + B = A

 

 

и ik A − ik B = iη A .

1

 

 

1 2

 

 

 

 

 

1

Г1

2

Следовательно,

k −η

 

 

 

 

 

 

 

 

2k

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B1 =

 

A1

,

 

A2

=

 

 

A1 .

 

 

k +η

 

k

+η

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

Теперь получаем, что при движении над потенциальным барьером частица дей-

ствительно с некоторой вероятностью должна отражаться и менять направле-

 

 

 

 

 

ть

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ние движения. Согласно опред л нию (26.29) эта вероятность R равна

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

еæ

ö2

 

 

 

 

 

R =

 

B1

 

 

= ç

 

E

-

E -U0

÷ .

(26.30)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

 

2

 

ç

 

E +

E -U0

÷

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

1

 

 

 

è

 

 

 

 

 

 

 

 

ø

 

 

 

 

 

 

 

коэффициент прохождения D ( D = 1− R ):

Аналогично можно выч сли

 

 

л

о

 

 

 

η

 

 

 

A

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D =

 

 

2

 

 

 

 

.

 

 

(26.30а)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k

 

A

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

слева направо с энергией E < U0

При движении частицы (или потока частиц)

жи

 

удет мнимым и волновая функция экспоненциально затухает

коэфф циент η

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

внутрь потенциальногоб

барьера (область x > 0 ),

очень быстро становясь пре-

небре мо малой. Отраженный поток равен падающему потоку частиц, т. е. частицы не могут проникнуть далеко и должны полностью отразиться от барье- ра с вероятностью R = 1.

В классической физике проникновение частиц под барьер запрещено. Однако вероятность проникновения микрочастицы под барьер (область x > 0 , рис. 26.8, а) отлична от нуля. Микрочастицу можно обнаружить в запрещенной с точки зрения классической физики области, где E < U0 , в которой кинетиче-

ская энергия классической частицы p2 (2m) была бы отрицательна:

77

E =

p2

+ U(x),

p2

< 0 ,

2m

2m

 

 

 

а ее импульс был бы мнимым.

Поясним прохождение микрочастицы в запрещенную область с помощью

соотношения неопределенностей (26.2). Неопределенность импульса Dpx мик-

рочастицы, движущейся вдоль оси Х, на отрезке x = l составляет Dpx ³ h(2l) .

Тогда связанная с этим разбросом в значениях импульса кинетическая энергия

( px )2 (2m) может оказаться достаточной для того, чтобы полная энергия час-

тицы Е оказалась больше потенциальной U0 .

Р

Туннельный эффект. Рассмотрим одномерный прямоугольный потенци-

 

И

альный барьер, показанный на рис. 26.8, б. Пусть слева (область 1) на него ле-

тит частица (или поток частиц). На языке квантовой теории будем рассматри-

 

 

 

 

 

У

 

вать, как на барьер слева «падает» де-бройлевская волна

 

 

 

Ψ(x,t) = Aei(k x−ω t) ,

Г

(26.31)

где k =

 

 

 

 

2mE h. Частота ω прошедших волн, так же как и отраженных, одна и

 

 

 

Б

 

 

та же (ω = E h). Поэтому в дальнейших расчетах исследуем координатную

часть этих волн ψ (x) .

а

 

 

 

Будем решать стационарное ур внение Шрёдингера для свободной час-

 

 

к

 

 

 

 

тицы (26.16). В табл. 26.1 представлен вид ур внения Шрёдингера и его реше-

ние для трех пространственных областей, выделенных на рис. 26.8, б. Отметим,

ikx

−ikxое

 

что в случае, когда E >U0

, константа q определяется так: q = 2m(E −U0 )

h.

т

 

 

Иначе, если E < U0 , то q – мним число: q = iβ , где β = 2m(U0

− E)

h. Сла-

гаемые, содержащие e и e , соответствуют волнам, распространяющимся соответственно в пол жи е ьн м и о рицательном направлениях оси Х.

Вид волновых функций, являющихся решениями уравнения Шрёдингера

для областей 1, 2 3 на р с. 26.8, в, приведенных в табл. 26.1, свидетельствует:

 

л

1) в об асти 1 волнвая функция ψ1(x) представляет собой сумму двух

плоских во н – падающейина барьер и отраженной от барьера. Падающая волна

характеризуется амп итудой A1, а отраженная – амплитудой B1 ;

и

 

2) в о ласти 2 при E > U0 имеются две плоские волны – падающая и от-

Б

 

раженнаябот границы областей 2 и 3. При E <U0 функция ψ 2 (x) описывает со-

стоян е част цы, прошедшей в классически запрещенную область, и не соот-

ветствует плоским волнам, распространяющимся в обе стороны, так как показа- тели экспонент действительные. Можно показать, что при β l >> 1 в случае вы-

сокого и широкого барьера B2 » 0 . Вероятность ψ (x) 2 убывает по экспоненте с

глубиной проникновения частицы в запрещенную область 2 вдоль оси Х; 3) в области 3 – область за барьером – имеется только плоская волна,

прошедшая через барьер с амплитудой А3 и распространяющаяся в положи- тельном направлении оси Х.

78

Таблица 26.1

Вид решений стационарного уравнения Шрёдингера в случае движения частицы слева на одномерный прямоугольный потенциальный барьер

Область

 

 

Уравнение

 

 

 

 

Решение

 

 

 

 

 

Решение

 

 

 

 

 

 

Шрёдингера

 

 

 

 

при E > U0

 

 

 

 

при E < U0

 

 

1

 

 

d 2ψ1

+ k 2ψ1 = 0

ψ

 

 

(x) = A eikx

+ B e−ikx

 

 

ψ

 

(x) = A eikx

+ B e−ikx

 

x < 0

 

 

d x2

1

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

1

 

1

 

 

 

1

 

 

 

1

 

 

2

 

d 2ψ 2

 

+ q2ψ 2 = 0

ψ

 

 

(x) = A eiqx

+ B e−iqx

 

 

ψ

 

(x) = A eβx

+ B e−βx

 

0 ≤ x ≤ l

 

 

2

 

 

2

 

 

 

d x2

 

 

 

 

2

 

2

 

 

 

2

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

И

 

 

 

 

 

3

 

d 2ψ 3

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р

 

 

 

 

 

 

 

+ k ψ = 0

 

 

 

 

 

 

ikx

 

 

 

 

 

 

 

x > l

 

 

dx2

 

3

 

 

 

 

ψ 3(x) = A3e

 

 

У

= A3e

ikx

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ψ 3( x )

 

 

 

Качественный вид функций ψ (x)

 

для

 

Г

E < U0

показан

на

 

случая

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

ψ (x)

 

 

рис. 26.8, в. Также на рис. 26.8, г показан вид плотности вероятности

 

ме-

стоположения частицы: слева от барьера мы имеем падающую и отраженную

а

 

 

волны, а за барьером – только прошедшую волну. Внутри барьера функция

щую систему четырех уравнений длякоэффициентов интегрирования:

 

 

ψ (x) имеет неволновой характер и является неоднородной.

′

в точ-

Условия непрерывности волновой фун ции ψ и ее производной ψ x

ках x = 0 и x = l в случае, когда эн ргия частицы Е меньше U0 , дают следую-

ψ

 

(0) =ψ

 

т

A + B = A + B ,

 

 

1

 

 

2

 

е1

1

2 2

 

ψ

 

 

о

или

A e

β l + B e−β l = A eikl ,

(26.32)

 

2

 

 

3

 

 

2

2

3

 

ψ1′(0) =ψ 2′(0) ,

или

ik( A1 − B1 ) = β (B2 − A2 ) ,

 

ψ

2′(l) =ψ

3′(l) ,

или

β (B2eβ l − A2e−β l ) = ikA3eikl .

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

В этой системе четырех уравнений имеется пять неизвестных. Однако ес-

ли задать п отностьипотока частиц,

падающих на барьер, то задача упрощается.

Можно показать, что в случае однородного движения вдоль оси Х эта плотность

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

задается соотношением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

j =

ih

 

(ψ

 

dψ *

 

 

−ψ

* dψ

) ,

 

 

2m

 

d x

 

 

 

d x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в которое подставляется ψ = A eikx . Таким образом, получают

Б

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

2 hk .

 

 

 

j

пад

=

 

A

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

m

 

 

 

 

 

 

 

 

Аналогично для плотности потока отраженных частиц и частиц, прошедших через барьер, соответственно находим

j

прох

=

 

A

 

2 hk

, j

отр

=

 

B

 

2 hk .

 

 

 

 

 

 

 

3

 

m

 

 

 

1

 

m

 

 

 

 

 

 

79

Обычно в подобных задачах плотность jпад выбирают такой, чтобы A1 = 1. В этом случае система (26.32) будет неоднородной системой четырех линейных уравнений относительно четырех неизвестных коэффициентов. Ре-

шая систему, определяют A3 ,

а затем и прозрачность барьера, которая согласно

выражению (26.28)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D =

 

 

 

3

 

 

 

 

=

 

A

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

 

2

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

будет равна при β l

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

>> 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D » D expé-

2

 

2m(U

0

- E) l

ù ,

 

 

 

 

 

 

 

 

(26.33)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

ê

h

 

 

 

 

 

 

 

ú

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ë

 

 

 

 

 

 

 

 

 

û

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где т и Е – масса частицы и ее энергия;

 

 

 

 

 

 

 

 

E

æ

 

E

ö

– коэффициент, близ-

 

 

D = 16

 

 

ç1-

 

÷

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

ç

 

 

÷

 

 

 

 

Р

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

U0 è

 

U0 ø

 

И

 

 

U

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

кий к единице. Как следует из выражения (26.33), чем шире барьер l, тем мень-

ше вероятность прохождения сквозь него частицы.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если потенциальный барьер имеет сложную

 

 

 

 

 

 

 

 

форму, например, как на рис. 26.9, то прозрачность

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

барьера можно приближенно определить так:

 

Е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

é

 

2

x2

 

 

 

 

 

 

 

ù

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D » D0 exp

ê

 

Б

 

 

 

 

 

ú

,

 

(26.33а)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ê

-

 

h xò

2m(U (x) - E) dx

ú

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ë

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

û

 

 

 

 

 

 

х1

х2

 

Х

где x1

и

x2 –аоординаты начала и конца потенци-

 

Рис. 26.9. Потенциальный

ального барькра U(x)

 

для данного значения полной

 

 

барьер произвольной

 

энергии Е частицы, т. е. значения координат, при ко-

 

 

 

формы

 

 

 

 

 

е

 

 

 

 

 

 

 

– постоянный множитель,

зави-

 

 

 

 

 

 

 

 

орых

U (x) = E ; D0

сящий от формы барьера. Э

 

равенс во (26.33а) является приближенным и тем

точнее, чем меньше (U − E) по сравнению с Е.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Туннельный эффект играет заметную роль в тех случаях, когда прозрач-

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ность барьера D не с шком мала. С помощью формулы (26.33) можно оценить

ширину потенциаиьного барьера, для которого возможен туннельный эффект:

 

 

 

 

л

m(U

0 − E) l h ~ 1

или

 

l ≤ h

 

m(U0 − E) .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Следовательно, туннельный эффект возможен, когда

D

 

б

 

 

 

 

 

линейные размеры потенциального барьера соизме-

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Квантовая частица

римы

с

атомными

 

 

размерами.

Например,

при

 

 

и

 

 

 

 

U

 

− E = 10эВ

для

 

 

электрона

 

m ≈10−30 кг,

при

Б

«Классическая»

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

 

 

 

частица

 

 

l ≈ 10−10 м коэффициент прозрачности D ≈ 1 e. С уве-

 

 

0 1

2

E U0

 

 

личением массы частицы и разности

 

U0 − E

про-

 

 

Рис. 26.10. Зависимость

зрачность барьера уменьшается. На рис. 26.10 при-

 

 

D от E U0

частицы

 

ведена

 

 

 

 

зависимость

 

 

 

D(E U0 ),

 

рассчитанная по

 

 

 

 

 

 

 

 

формуле (26.33),

–

 

сплошная линия и зависимость

80

D(EU0 ) для «классической» частицы – пунктирная линия. Данные зависимо-

сти подчеркивают квантово-механическую специфику микрочастиц. Начальные представления о туннельном барьере были определены М. А.

Леонтоновичем и Л. И. Мандельштамом в 1927 г. (проблема квантования для

ангармоничного осциллятора).

В заключение отметим, что квантовые эффекты используются в ряде пе- редовых технологий, хотя и проявляются на уровне атомных систем. Квантовая механика стала в значительной мере «инженерной» наукой, знание которой не- обходимо и физикам-исследователям, и инженерам. Законы квантовой механи- ки позволяют изучать и объяснять свойства атомов и молекул, а также разнооб- разных макроскопических систем таких, как жидкости, плазма, твердые тела. Специфические явления квантовой механики не имеют аналогов в классиче-

ской механике (ньютоновской и релятивистской) и используются при поиске и

 

 

 

 

Р

создании новых материалов, в том числе магнитных, полупроводниковых и

сверхпроводящих.

 

 

 

И

 

 

 

 

Туннельное прохождение микрочастиц сквозь потенциальный барьер ле-

жит в основе многих явлений физики твердого тела (явленияУв контактном слое

на границе двух полупроводников, эффект Джозефсона и т. д.), а также атомной

 

 

 

Г

 

 

 

 

Б

 

и ядерной физики (α-распад, спонтанное деление атомных ядер, протекание

 

 

на

 

термоядерных реакций, например, на Солнце и звёздах при температуре в де-

сятки и сотни миллионов градусов).

к

 

 

Примером прибора, основанного

использовании явления туннельного

е

 

 

 

эффекта, является сканирующий тунн льный микроскоп, созданный в 1982 г.

Г. Биннигом и Х. Рёрером (Ноб л вс ая премия, 1986 г.). С середины 90-х го- дов ХХ в. метод туннельной микроскопии завоевал большую популярность как альтернатива электронным микроскопам. Принцип работы сканирующих тун- нельных микроскоп в заключае ся в сканировании тонким металлическим ост-

рием – зондом – поверхн с

образца (твёрдого электропроводящего тела, ор-

ганической пленки

б

ти

 

гической структуры) на расстоянии 3 – 10 Å. Что-

 

ло

 

ли

 

 

бы исследовать тонк е д электрики (в виде пленки), их помещают на поверх- ность проводящегоб материала. При приложении между образцом и зондом раз- ности потенциа ов U ~ 0,1−1 В в цепи появляется ток, обусловленный тунне-

лированием электронов через зазор между ними. Поскольку вероятность тунне-

лирован я через потенциальный барьер экспоненциально зависит от ширины барьераБ(см. формулу (26.33)), то при уменьшении зазора между зондом и об- разцом всего на 0,1 нм ток возрастает примерно в 10 раз. Таким образом, изме- рение туннельного тока между острием и образцом позволяет определить про- филь исследуемой поверхности в зависимости от координат, рис. 26.11, а. Раз- решающая способность микроскопа по х, у достигает 1 Å, а по z – порядка 0,01 Å. Микроскоп может также работать в режиме туннельной спектроскопии и снимать вольт-амперные характеристики точек поверхности. Среди областей

применения сканирующего туннельного микроскопа выделяют исследования атомного строения поверхностей металлических, сверхпроводящих и полупро-

81

водниковых структур, технологические исследования в области микроэлектро- ники и нанотехнологий и т. д. В настоящий момент достаточно широко исполь- зуются криогенные туннельные микроскопы. Предварительное охлаждение ма- териала до азотных температур позволяет получать за счет увеличения прово- димости образца на порядок более качественные изображения поверхностей, особенно с разрешениями на уровне единиц нанометров и больше.

На базе сканирующего туннельного микроскопа был создан сканирую- щий атомно-силовой микроскоп (1986), который позволяет исследовать и не-

проводящие вещества, магнитно-силовой микроскоп (1987), дающий возмож-

контактным, позволяет измерять с разрешением в доли нанометраРне только рельеф (рис. 26.11, б, в), но и силы трения, а также упругость и вязкость иссле-

ность изучать магнитные свойства поверхности, и т. д. Например, принцип ра-

боты атомно-силового микроскопа основан на зависимости силы взаимодейст-

вия тел от расстояния между ними. Режим работы микроскопа, называемый

дуемого образца. Шероховатость поверхности фольги сплава системы Al-Fe со-

ставляет в среднем 49,0 нм, рис. 26.11, г.

 

 

 

 

 

 

 

И

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Z, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Y, мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Х, мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

 

 

 

е

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Z, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

т

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

200

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Y,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

л

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Х, мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Х, мкм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

 

 

 

 

г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р с. 26.11. Результаты исследований, выполненных с помощью приборов,

 

 

 

 

 

 

 

основанных на использовании явления туннельного эффекта:

 

 

 

 

 

 

 

а – ильпроф поверхности кристалла AlGaAs (сканирующий туннельный микроскоп) [16];

 

 

 

 

 

 

б – 3D изображение топографии поверхности фольги сплава Al-0,3 ат. % Fe;

Бв и г – 2D изображение топографии поверхности (б) и соответствующая диаграмма

распределения неровностей вдоль выделенной линии (в) (атомно-силовой микроскоп) [17]

82