- •Розділ 2. Розрахунки параметрів напівпровідникових матеріалів
- •2.1. Короткі теоретичні відомості
- •2.1.1. Питома провідність напівпровідників
- •2.1.2. Потенціал Фермі
- •2.1.3. Дрейфовий струм
- •2.1.4. Дифузійний струм
- •2.2. Приклад розв’язування задачі
- •3.1.1. Діоди із p-n-переходом
- •Рекомендована література
- •3.1. Короткі теоретичні відомості
- •3.1.1.1. Діод із ступінчатим переходом
- •3.1.1.2. Діод із плавним переходом
- •3.1.1.3. Ємнiсть p-n-переходу
- •3.1.1.4. Струм діода за умов прямого зміщення
- •3.1.1.5. Зворотний струм насичення діода
- •3.1.1.6. Напруга пробою діода
- •3.1.2. Діод Шотткі
- •3.1.2.1. Діод Шотткі за умов рівноваги
- •3.1.2.2. Діод Шотткі за умов зовнішнього зміщення
- •3.1.2.3. Еквівалентна схема
- •3.2. Приклад розв’язування задачі
- •Рекомендована література
3.1.1.4. Струм діода за умов прямого зміщення
Щільність повного струму дiода за умов прямого змiщення і “товстих” областей n – і p – типу Wn > Lp і Wp > Ln :
JFD
= q
|
(3.38) |
де UFD – напруга прямого зміщення діода; Dp, Dn – коефіцієнт дифузії відповідно дірок і електронів; pn0, np0 – концентрація відповідно неосновних дірок у напівпровіднику n – типу і концентрація неосновних електронів у напівпровіднику p – типу; Lp, Ln – дифузійна довжина дірок і електронів; Wn і Wp – товщина областей n – і p – типу.
Струм крiзь діод розраховують множенням густини струму JFD на площу перетину p-n-переходу S .
Струм діода за умов прямого змiщення і “тонких” областей. Для дiода, в якого одна з областей (у нашому випадку це буде область p - типу) тонка, тобто Wp < Ln (дифузiйна довжина електронiв Ln бiльша товщини областi Wp) в областi p-типу концентрацiйний профiль надлишкових неосновних електронiв розраховують за виразом:
|
(3.39) |
Якщо визначальним механізмом перенесення надлишкових неосновних електронiв у p-областi є дифузія, то щільність струму неосновних електронів в цій області розраховують за виразом :
JDn(x)
=
|
(3.40) |
Щільність повного струму дiода визначають як суму струмiв неосновних носiїв на межах ОПЗ, де ще не почався процес рекомбiнацiї :
JFD
=
|
(3.41) |
Cтрум крізь дiод із ступiнчатим однобічним p-n-переходом (NA >> ND i xp< xn) за умови, що xp 0, розраховують за виразом :
JFD
=
|
(3.42) |
Якщо обидвi нейтральнi областi будуть тонкими, то щільність повного струму дiода з p-n-переходом визначають за формулою
JFD
=
|
(3.43) |
а струм через діод визначають множенням виразу (3.43) на площу перетину p-n-переходу S.
3.1.1.5. Зворотний струм насичення діода
Якщо на дiод з p-n-переходом подати зворотну напругу URD вiд зовнiшнього джерела живлення то висота потенцiального бар'єра зросте і буде дорівнювати
- |
(3.44) |
Товщина областi просторового заряду зросте. Умови рiвноваги на p-n-переходi дiода будуть порушенi. Струм дифузiї крiзь перехiд значно зменшиться, а переважати буде дрейфовий струм. Зворотний струм крізь діод за умов зворотного зміщення визначають як суму діркового та електронного струмів на границях ОПЗ :
IRD
= qS
|
(3.45) |
Зваживши, що за умови | URD | > 4UT зворотний струм насичення діода розраховують за виразом :
ISD = qS . |
(3.46) |
Для діода з p-n-переходом, за умов тонких нейтральних областей і зворотного зміщення переходу, зворотний струм насичення визначають за виразом :
ISD
= qS
|
(3.47) |
Cтрум IFD, який протікає крізь діод за напруги прямого зміщення UFD , розраховують за виразом :
IFD = ISD . |
(3.48) |
За
умов прямого зміщення exp
1,
тому на практиці частіше використовують
спрощену форму вольт - амперної
характеристики (3.48)
IFD
ISD
exp |
(3.49) |

,
sh
.