- •Учебно-методический комплекс
- •1 Классификация иэот по конструктивно-технологическим признакам -2 часа.
- •2. Пленочные элементыТонкопленочные резисторы (r). Виды, форма. Методы расчета. Материалы и требования, предъявляемые к ним. Способы корректировки номиналов.
- •2.1 Резисторы
- •2.2 Конденсаторы
- •2.3 Индуктивности
- •3 Резисторы и конденсаторы в «полупроводниковом» исполнении. Топологические решения. Методы расчета
- •3.1 Конденсаторы
- •3.2 Резисторы
- •4. Конструкционная основа для ис
- •Базовые технологические процессы изготовления ис.
- •5.1 Вакуумно-термическое испарение
- •Температуры плавления и испарения элементов Таблица 5.1.1
- •5.2. Типы и конструкции испарителей
- •5.3. Лазерное, электронно-лучевое, «взрывное» испарение
- •5.4. Катодное распыление
- •5.5 Высокочастотное распыление. Реактивное распыление
- •5.6 Получение пленок из газовой фазы
- •5.7 Хлоридные и силановый методы получения эпитаксиальных слоев
- •5.8 Легирование при эпитаксии
- •5.9. Термическое окисление Si
- •5.10. Пиролитическое получение пленок из газовой фазы при нормальном и пониженном давлении
- •5.11. Плазмохимическое осаждение
- •Формирование легированных слоев в технологии иэот.
- •6.1. Распределение примесей при диффузии и неограниченного и ограниченного источников.
- •6.2 Локальная диффузия
- •6.3 Многостадийная диффузия
- •6.4. Физико-химические основы ионного легирования
- •7. Методы формирования конфигурации элементов иэот
- •7.2 Контактная фотолитография
- •Позитивные и негативные фоторезисты
- •7.3.Фоторезисты (фр), виды, требования к ним, методы нанесения
- •7.4 Проекционная флг
- •7.5 Электрополитография
- •7.6 Рентгенолитиграфия
- •7.7 Ионнолитография
- •8 Сборочные процессы в технологии иэот
- •8.1 Методы разделения пластин и подложек
- •8.2 Методы установки кристаллов и плат в корпуса
- •8.2.1 Монтаж с использованием эвтектических сплавов
- •8.2.2 Монтаж с использованием клеев и компаундов
- •8.3 Виды выводов.
- •8.4 Термокомпрессионная, ультразвуковая и термозвуковая сварки
- •8.5 Методы и материалы для герметизации кристаллов и плат
- •9 Толстопленочная технология
- •9.1 Пасты для проводящих, резисторных и диэлектрических элементов, их характеристики. Технология нанесения и вжигания паст.
- •9.2 Методы формирования рисунка. Трафаретная печать.
- •10.2 Плазменные методы удаления материала с поверхности твердого тела. Сущность и классификация методов обработки поверхности
- •10.3 Очистка поверхности газовым травлением
- •11 Oсновные методы производства волоконных световодов
- •11.1 Одномодовые световоды. Многомодовые световоды с и ступенчатым профилем. Волоконные световоды со специальными свойствами. Полимерные световоды.
- •11.2 Модифицированный процесс evd (mcvd)
- •11.3 Принципы и особенности построения вопс (волоконно-оптической системы передач).
- •Практическое занятие n1 Определение профилей распределения примесей при термической диффузии
- •Определение режимов диффузии на основании заданных параметров распределения примеси. 1.1. Одностадийная диффузия.
- •II. Расчет дозы облучения для получения заданной концентрации примеси
- •- Линейный закон роста (кинетический контроль); (17)
- •2. Определение Rk к эпитаксиапьным слоям на низкоомной подложке
- •3. Определение Rk no распределению потенциалов вдоль образца.
- •Значения Фm некоторых металлов.
1 Классификация иэот по конструктивно-технологическим признакам -2 часа.
Гибридные ИС (ГИС), пленочные ИС (ПлИС), полупроводниковые ИС (ПИС), совмещенные ИС (СИС), многокристальные ИС и микросборки. Определение, структура. Базовый процесс изготовления планарно-эпитаксиального n-р-n транзистора со скрытым слоем.
В соответствии с принятой терминологией интегральной микросхемой называется микроэлектронное изделие, выполняющее определенную функцию преобразования и обработки сигнала и имеющее высокую плотность упаковки электрически соединенных элементов (или элементов и компонентов) и (или) кристаллов, которое с точки зрения требований к испытаниям, приемке, поставке и эксплуатации рассматривается как единое целое. Приведенное определение подразумевает, что интегральная микросхема состоит из электрорадиоэлементов, к которым относятся транзисторы, диоды, резисторы, конденсаторы и другие устройства. Часть интегральной микросхемы, которая реализует функцию какого-либо электрорадиоэлемента, выполнена нераздельно от кристалла или подложки и не может быть выделена как самостоятельное изделие, называется элементом. Та часть микросхемы, которая может быть выделена как самостоятельное изделие с точки зрения требований к испытаниям, приемке, поставке и эксплуатации, называется компонентом. В то же время следует иметь в виду, что в последние годы интенсивно развивается новое направление — функциональная микроэлектроника, некоторые устройства которой не могут быть разделены на электрорадиоэлементы. Поэтому функциональную микроэлектронику иногда называют несхемотехнической.
По конструктивно-технологическому исполнению интегральные микросхемы подразделяются на три большие группы: полупроводниковые, гибридные и прочие (Рисунок В. 1). В группу прочих входят, пленочные, вакуумные, керамические и другие микросхемы.
Полупроводниковой называется микросхема, все элементы и межэлементные соединения которой выполнены в объеме и на поверхности полупроводника. Если все элементы и межэлементные соединения микросхемы выполнены в виде пленок, то она называется пленочной. Гибридная микросхема содержит, кроме пленочных элементов, также компоненты. В зависимости от толщины пленок и способа их получения пленочные и гибридные микросхемы подразделяются на тонко- и толстопленочные.
Тонкопленочная ИМС — интегральная микросхема с толщиной пленок до 1 мкм, элементы которой изготовляются преимущественно методами вакуумного распыления и осаждения.
Толстопленочная ИМС — интегральная микросхема с толщиной пленок 10—70 мкм, элементы которой изготовляются методами трафаретной печати (сеткография).
Применяются также совмещенные микросхемы. Основу совмещенной микросхемы представляет полупроводниковый кристалл со сформированными в нем транзисторами и диодами, а пассивные элементы полностью или частично выполнены в виде напыленных на поверхность кристалла тонких пленок.
Интегральные микросхемы подразделяют па цифровые и аналоговые. Если микросхема предназначена для преобразования и обработки сигналов, изменяющихся по закону дискретной функции, то она называется цифровой. К аналоговым относятся микросхемы, предназначенные для преобразования и обработки сигналов, изменяющихся по закону непрерывной функции, в частности линейные микросхемы.
Рисунок 1.1. Классификация интегральных микросхем по конструктивно-технологическим признакам.
Чрезвычайно важными характеристиками микросхем являются степень интеграции и плотность упаковки.
Степень интеграции представляет показатель сложности микросхемы и характеризуется числом содержащихся в ней элементов и компонентов. Если обозначить число элементов и компонентов через N, то степень интеграции К можно определить по формуле К= = lq/V, где К округляется до ближайшего большего целого числа.
Так, микросхема, содержащая до 10 (включительно) элементов и компонентов, обладает первой степенью интеграции; содержащая свыше 10 до 100 элементов и компонентов — второй степенью интеграции и т. д.
Кроме того, в зависимости от количества элементов и (или) компонентов конструктивно-технологического исполнения (металл— диэлектрик — полупроводник (МДП) или биполярные), а также функционального назначения (цифровые или аналоговые) различают микросхемы малого (МИС), среднего (СИС), большого (БИС) и сверхбольшого (СБИС) уровня интеграции (Таблица В. 1).
В последние годы появились сверхскоростные интегральные микросхемы (ССИС). Критериями быстродействия таких микросхем являются: время задержки распространения сигнала для цифровых ИМС не более 2,5 нс/вентиль, нижняя граница диапазона рабочих частот для аналоговых ИМС свыше 300 МГц.
Таблица 1
Уровень интеграции
|
Количество элементов и (или) компонентов, шт. |
||
Цифровые ИМС |
Аналоговые ИМС
|
||
МДП |
Биполярные |
||
МИС |
До 100 |
До 100 |
До 30 |
СИС |
Свыше 100 до 1000 |
Свыше 100 до 500 |
Свыше 30 до 100 |
БИС |
Свыше 1000 до 10000 |
Свыше 500 до 2000 |
Свыше 100 до 300 |
СБИС |
Свыше 10000 |
Свыше 2000 |
Свыше 300 |
Плотностью упаковки называется отношение числа элементов и компонентов микросхемы к ее объему. Микросхемы, предназначенные для использования в конкретной аппаратуре и изготовляемые непосредственно на предприятии, производящем данную аппаратуру, называются микросхемами частного применения.
В ряде случаев разработчики конкретной радиоэлектронной аппаратуры для улучшения показателей ее миниатюризации изготавливают так называемые микросборки (МСБ), в состав которых входят элементы, компоненты и (или) интегральные микросхемы (в корпусах или без них), а также другие электрорадиоэлементы в различных сочетаниях. Устройство, состоящее из микросборок, интегральных микросхем и компонентов, представляет собой микроблок.
Наибольшими степенью интеграции и плотностью упаковки обладают полупроводниковые интегральные микросхемы, затем в порядке уменьшения этих показателей следуют тонкопленочные и толстопленочные (в том числе гибридные) микросхемы и микро-сборки.
С точки зрения унификации процессов производства целесообразно применять в определенной аппаратуре микросхемы единого конструктивно-технологического исполнения (полупроводниковые или гибридные).
Совокупность типов интегральных микросхем, выполняющих различные функции, имеющих единое конструктивно-технологическое исполнение и предназначенных для совместного использования в РЭА и ЭВА, образует серию микросхем.
Наиболее современным результатом поступательного развития и взаимного обогащения микроэлектроники и вычислительной техники является разработка и широкое применение микропроцессорных БИС и СБИС. Микропроцессор (МП) представляет собой программно-управляемое устройство, осуществляющее обработку цифровой (иногда аналоговой) информации и построенное на основе одной или нескольких БИС или СБИС. С появлением микропроцессоров в производстве РЭА и ЭВА усилился процесс «вертикальной интеграции», когда законченное электронное устройство изготавливается в виде одной или нескольких БИС или СБИС, причем и БИС (СБИС), и устройство в целом разрабатываются и производятся на одном предприятии.
Другим наиболее современным направленном развития интегральных микросхем является производство и применение матричных БИС (СБИС) па основе базовых кристалле»!, т. е. кристаллов с большим количеством регулярно расположенных элементов, соединяемых между собой различным образом в зависимости' от функционального назначения изготавливаемой БИС (СБИС).
Решение задач комплексной' миниатюризации РЭА и ЭВА, усложнение конструкций электронных устройств и углубление специализации выполняемых ими функций ведут к необходимости более тесного взаимодействия специалистов в областях схемотехники, системотехники, конструирования и технологии. Другими словами, становится еще более необходимой интеграция знаний и профессий специалистов.
