- •Исходные критерии модели Друде; время релаксации.
- •1.2 Статическая электропроводность металлов и ее зависимость от температуры.
- •1.4 Диэлектрическая проводимость металлов и металлооптика.
- •1.5 Модель свободных электронов Зоммерфельда.
- •Квантование основных параметров твердых тел; зависимость свойств металлов от его макро- и микроскопических характеристик.
- •Уравнение Шредингера для твердых тел; приближение Борна-Оппенгеймера; валентная аппроксимация.
- •2.2, 2.3, 2.4 Модель Кронига-Пенни.
- •2.5 Методы изображения энергетических диаграмм твердых тел: металлы, полупроводники, диэлектрики.
- •2.6 Эффективная масса носителей заряда.
- •2.7 Примитивное и квантовомеханическое понятие «дырки» в зонной теории; металл с дырочной проводимостью.
- •2.8 Анизотропия ширины запрещенной зоны, энергия Ферми, концентрация носителей заряда в идеальных твердых телах.
- •2.9. Решение уравнения Шредингера для нестехиометрических, донорных и акцепторных атомов. Спектр энергетических состояний примесных атомов.
- •2.10 Мелкие и глубокие энергетические уровни в запрещенной зоне
- •Природа проводимости и диссипации энергии в собственных полупроводниках.
- •3.6. Положение уровня Ферми в n- и p-полупроводниках: решение уравнения и его количественный анализ для частных случаев.
- •3.7. Концентрация основных и неосновных носителей заряда в примесных полупроводниках: ее зависимость от температуры и концентрации примеси.
- •3.8. Частично и полностью компенсированные полупроводники: положение уровня Ферми, концентрация носителей заряда.
- •3.9. Законы действующих масс для собственных и примесных полупроводников.
- •Понятие подвижности носителей заряда: общие положения. Дрейфовая скорость движения электронов и дырок.
- •4.2 Зависимость подвижности носителей заряда от напряженности электрического поля; критическое поля.
- •4.3 Подвижность, обусловленная рассеянием на ионизированных центрах. Её зависимость от температуры и концентрации примеси.
- •4.4 Подвижность, обусловленная рассеянием на фотонах кристаллической решетки; её зависимость от температуры и концентрации примеси.
- •4.5 Специфика определения подвижности носителей заряда для полупроводников, содержащих и донорную, и акцепторную примеси одновременно.
2.7 Примитивное и квантовомеханическое понятие «дырки» в зонной теории; металл с дырочной проводимостью.
Примитивное понятие «дырки» - квазичастица, носитель положительного заряда, равного элементарному заряду, в полупроводниках.
Квантовомеханическое понятие «дырки» - незаполненная валентная связь, которая проявляет себя как положительный заряд, численно равный заряду электрона.
Мгновенный
ток создаваемый одним электроном,
движущимся со скоростью
,
равен:
Результирующий
мгновенный ток:
.
Для зоны полностью укомплектованной электронами i=0.
Если
в зоне есть одно свободное состояние,
то суммарный ток в такой зоне равен:
,
где
.
Суммарный ток всех электронов в зоне имеющей одно вакантное состояние, эквивалентен току образованному одной частицей с зарядом +е, помещённой в это состояние. Такие частицы называются дырками. Дырки как и электроны обладают эффективной массой(положительной), а их заряд – положительный. Дырки с меньшей эффективной массой – легче, а с большей – тяжелее.
Рис. 1. Иллюстрация понятия дырки в валентной зоне.
2.8 Анизотропия ширины запрещенной зоны, энергия Ферми, концентрация носителей заряда в идеальных твердых телах.
Ширина запрещённой зоны — это ширина энергетического зазора между дном зоны проводимости и потолком валентной, в котором отсутствуют разрешённые состояния для электрона. Ширина запрещённой зоны (минимальная энергия, необходимая для перехода электрона из валентной зоны в зону проводимости) составляет от нескольких сотых до нескольких электрон-вольт для полупроводников и свыше 6 эВ для диэлектриков. Полупроводники с шириной запрещённой зоны менее ~0.3 эВ называют узкозонными полупроводниками, а полупроводники с шириной запрещённой зоны более ~3 эВ — широкозонными полупроводниками.
не
обязательно величина строго положительная.
Она может оказаться и равной нулю, или
даже отрицательной. При
зоны
проводимости и валентная смыкаются в
точке
,
и для возникновения пары свободных
носителей заряда тепловая активация
не требуется. Соответственно концентрация
носителей (а с ней и электропроводность
вещества) оказывается отличной от нуля
при сколь угодно низких температурах,
как в металлах. Поэтому такие вещества
относят к полуметаллам.
Энергия Ферми - максимальная энергия электронов при температуре в 0 К. Энергия Ферми растет с увеличением количества электронов в квантовой системе и, соответственно, уменьшается с уменьшением количества электронов [фермионов].
Энергия и импульс Ферми являются граничными энергией и импульсом перехода электрона в свободное состояние. Поверхность в пространстве импульсов при 0 К, под которой все квантовые состояния заняты, является поверхностью Ферми. При увеличении температуры возникает корреляция атомов и выделяются фононы, которые поглощаются электронами. В результате импульс электронов превышает граничный импульс Ферми, и они переходят в разрешенную зону.
Исходным уравнением для определения концентрации носителей заряда, обусловленных ионизацией мелких примесных центров(МПЦ) и глубоких примесных центров(ГПЦ), является
,
которое
с учетом площади барьера примет вид
.
Е
сли
концентрация ГПЦ мала (Ndt
〈〈nB)
или выполняется условие t〈〈τd,
то
это выражение можно переписать так: чтобы исключить из расчётов диффузионный ток используют дифференциальную форму записи
-
это графический способ
Для определения концентрации nB можно обойтись без графического по-
строения
зависимости C−2(ϕ)
, если использовать:
Тут
концентрация определяется непосредственным
дифференцированием кривой C(ϕ) (см.
рис. 3,а) и тем точнее, чем меньше
выбираются интервалы ΔC=С1-С2.
