- •Содержание
- •Глава 1 Обзор литературы 7
- •Глава 2 Методики эксперимента 50
- •Глава 3 Результаты 56
- •Глава 1 Обзор литературы
- •1.1 Основные сведения о фуллерене
- •1.1.1 Геометрия молекулы
- •1.1.2 Фуллерит
- •1.1.3 Легирование фуллеритов
- •1.1.4 Электронная структура твердого с60, оптические и фотоэлектрические свойства тонких пленок с60
- •1.1.5 Синглетные и триплетные состояния
- •1.2 Фотолюминесценция
- •1.2.1 Общие сведения
- •1.2.2 Экситонные явления
- •1.2.3 Люминесценция, флуоресценция, фосфоресценция. Стимулированное излучение
- •1.2.4 Анализ экспериментальных результатов и теоретических моделей фотолюминесценции с60
- •1.3 Получение пленок с60 методами вакуумного напыления
- •1.3.1 Общие закономерности вакуумного напыления из молекулярного пучка
- •1.3.2 Рост тонких пленок фуллерена
- •1.4 Получение структур фуллерена с Me-tpp
- •1.5 Композитные структуры на основе фуллерена
- •1.6 Фотоэлектрические устройства с использованием фуллерен-содержащих материалов
- •1.7 Исследование влияние рентгеновского облучения на с60
- •Постановка задачи
- •Глава 2 Методики эксперимента
- •2.1 Методика получения тонких пленок на основе фуллерена
- •2.2 Получение спектров фотолюминесценции
- •Глава 3 Результаты
- •3.1 Результаты растровой электронной микроскопии
- •3.1.1 Результаты для пленок с60-a2b6
- •3.1.2 Результаты для пленок с60-tpp
- •3.2 Результаты атомно-силовой микроскопии
- •3.2.1 Результаты для пленок с60-a2b6
- •3.3 Результаты измерений спектров фотолюминесценции
- •3.3.1 Результаты для пленок с60-a2b6 Зависимость от содержания примеси
- •Сравнение спектров, полученных непрерывным и импульсным лазером
- •Исследование влияния подложки на спектры фл
- •Исследование влияние рентгеновского облучения на фотолюминесценцию
- •3.3.2 Результаты для пленок с60-MeTpp
- •3.4 Квантово-химические расчеты
- •Список литературы
1.2.2 Экситонные явления
Известно, что в ряде случаев в
полупроводниках, прежде чем реализуется
излучательная рекомбинация, электроны
и дырки успевают образовать экситоны
– связанные состояния, которые оказываются
устойчивыми благодаря кулоновскому
притяжению, и могут свободно перемещаться
по кристаллу. Энергия связи при этом
. Самое нижнее (основное) экситонное
состояние соответствует n=1,
и именно в этом состоянии происходит
излучательная рекомбинация электрона
и дырки в экситоне. Таким образом, в ФЛ
полупроводников при низких температурах
должна наблюдаться линия излучения
свободных экситонов (СЭ), смещенная
относительно Ер на энергию связи
электрона и дырки Еn.
Под низкой понимается температура, при
которой средняя тепловая энергия в
расчете на одну частицу (это величина
порядка kвТ) меньше
Еn, то есть экситон
в основном состоянии устойчив. Эти
представления согласуются с
экспериментальным спектром ФЛ
полупроводникового кристалла СdS,
приведенным на рис. 7. Свободный электрон
может быть захвачен примесным атомом,
при этом образуется экситон, связанный
на примеси, или экситонно-примесный
комплекс (ЭПК). В спектрах ФЛ ЭПК
проявляются в виде узких линий,
расположенных по энергии ниже линий
свободных экситонов на величины энергий
связи экситона Е0 с различными
нейтральными и ионизированными примесями.
При низких температурах (kвТ
меньше Е0) типичной является
ситуация, когда экситон успевает
образовать ЭПК, после чего происходит
рекомбинация электрона и дырки с
излучение фотона, энергия которого
равна Eg
- E1 - E0.
В молекулярных кристаллах фуллерита, при поглощении света тоже возможно образование экситонов, но с рядом особенностей. Для полного рассмотрения люминесценции в фуллеренах важно учитывать экситонные явления. Существует два типа электрон-дырочного возбуждения: синглетные (без поворота спина) и триплетные (без обменного взаимодействия и лежащие ниже по энергии). Оптические процессы в фуллерене одинаково зависят от межмолекулярных и от внутримолекулярных экситонных процессов. Первые процессы могут приводить к образованию экситона Френкеля (электрон и дырка находятся на одной молекуле фуллерена), вторые – к экситонам с переносом заряда в которых два заряда располагаются на разных молекулах [8]. Внутри запрещенной зоны фуллерена существуют запрещенные экситоны Френкеля с энергией 1.55, 1.87 и 2.2 эВ. Разрешенные экситоны появляются при энергии 3.6 эВ
Энергия экситона с переносом заряда оценивается с помощью следующих уравнений:
(2)
где I – потенциал ионизации, А – энергия сродства к электрону, Р – энергия поляризации, 2Р – энергия поляризации, которую создают два бесконечно удаленных друг от друга заряда, находящихся в кристалле, C(r) – энергия кулоновского взаимодействия, P(r) – изменение энергии поляризации при сближении зарядов на расстояние r. Особенности которые можно наблюдать в оптических спектрах фуллерена, являются результатом смешивания двух этих типов экситонных состояний. Авторы работы [8] определили некоторые спектральные особенности пленок фуллерена С60. Было получено, что синглетный электронный переход происходит при энергии 1.84 эВ, триплетный при 1.50 эВ, а гашение люминесценции появляется при 2.35 эВ. При увеличении толщины пленки экситонные явления могут сдвигаться.
