- •1.Охарактеризуйте зонную схему кристаллических тел, полупроводников, проводников, диэлектриков. Хуй
- •2.Получите зависимость концентрации свободных носителей в полупроводнике от положения уровня Ферми.
- •3.Охарактеризуйте положение уровня Ферми и концентрацию носителей в собственных полупроводниках.
- •4.Охарактеризуйте положение уровня Ферми и концентрация носителей в примесных полупроводниках.
- •5.Получите зависимость концентрации носителей в примесных полупроводниках от температуры. Раскройте закон действующих масс.
- •6.Охарактеризуйте неравновесных носителей. Раскройте процесс рекомбинации носителей.
- •8.Раскройте процесс рекомбинации носителей. Рассмотрите виды рекомбинации.
- •11.Рассмотрите основные механизмы рассеяния носителей. Охарактеризуйте подвижность носителей. )комбо блять.
- •9.Охарактеризуйте движение электронов под действием внешнего электрического поля.
- •12.Охарактеризуйте электропроводность чистых металлов.
- •13.Охарактеризуйте электропроводность собственных полупроводников.
- •14.Охарактеризуйте электропроводность примесных полупроводников.
- •15.Приведите уравнение токов в полупроводниках.
- •16.Охарактеризуйте составляющие плотности тока в полупроводниках и электрическое поле объемных зарядов.
- •17.Охарактеризуйте контакт электронного и дырочного полупроводников.
- •18.Рассмотрите р-n-переход в равновесном состоянии.
- •19.Получите зависимость контактной разности потенциалов обедненной
- •20.Рассмотрите р-n-переход при прямом смещении.
- •21.Рассмотрите р-n-переход при обратном смещении.
- •23.Охарактеризуйте вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли.
- •28.Рассмотрите вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли. ) ахуенное комбо.
- •24.Рассмотрите Вольт-фарадные характеристики мдп-структур.
- •25.Классифицируйте и охарактеризуйте полевые транзисторы.
- •26.Рассмотрите полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •27.Статические вольт-амперные характеристики мдп-транзисторов.
- •29.Охарактеризуйте тепловой ток и дифференциальное сопротивление p-n-перехода. Хуй
- •30.Рассмотрите вах реального p-n-перехода. Хуй
- •30.Рассмотрите эффект поля. Охарактеризуйте мдп-структуры.
23.Охарактеризуйте вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли.
28.Рассмотрите вах тонкого перехода. Приведите формулу Шокли. ) ахуенное комбо.
Тонким р-n переходом называют электронно-дырочный переход, толщина которого столь мала, что можно пренебречь процессами рекомбинации и генерации носителей заряда в области объемного заряда р-n-перехода.
На рис. показана ВАХ р-n-перехода. Как видно из рисунка р-n-переход обладает ярко выраженной односторонней (униполярной) проводимостью, т.е. проявляет высокие выпрямляющие свойства.
Подчеркнем, что перенос заряда через р-n-переход осуществляется с помощью неосновных носителей, т.к. область р-n-перехода обеднена основными носителями.
При обратном смещении на р-n-переходе (U<0) , а скобка , следовательно, обратный ток р-n-перехода стремится к
Формула Шокли (она выше написана блять!) Jн- плотность тока насыщения
24.Рассмотрите Вольт-фарадные характеристики мдп-структур.
Рассмотрим емкость МДП-стуктуры с полупроводником n-типа при изменении напряжения смещения на металлическом электроде при наложении переменного сигнала.
В режиме обогащения в МДП-структуре с полупроводником n-типа (плюс на металлическом электроде) электроны притягиваются к поверхности и в приповерхностном слое полупроводника возникает заряд QS притянутых электронов, по величине равный заряду QМ, индуцируемому на металлическом электроде (рис. 5.3). С увеличением напряжения толщина заряженного слоя сохраняется практически неизменной и рост заряда QS происходит за счет повышения объемной плотности. Поэтому емкость структуры не зависит от приложенного напряжения.
В состоянии обеднения электроны отгоняются от поверхности полупроводника и в приповерхностном слое образуется неподвижный заряд ионизированных доноров QС= qNДdП, где dОПЗ- толщина области поверхностного заряда(ОПЗ) (рис. 5.4). Емкость такой структуры будет складываться из емкостей двух последовательно соединенных конденсаторов: конденсатора образованного диэлектрическим слоем dД и конденсотора образованного обедненным слоем dОПЗ.
Емкости этих конденсаторов при единичной площади равны:
Емкость СОПЗ зависит от падающей на полупроводнике разности потенциалов, так как с ее изменением меняется толщина обедненного слоя dОПЗ, играющая роль расстояния между обкладками конденсатора.
25.Классифицируйте и охарактеризуйте полевые транзисторы.
Полевые транзисторы содержат три полупроводниковые области исток, сток и канал, а так же управляющий электрод затвор. Исток и сток сильно легированные области полупроводника.
По структуре и способу управления проводимостью канала различают три типа полевых транзисторов:
- полевые транзисторы с изолированным затвором, между металлическим затвором и каналом расположен слой диэлектрика (МДП-транзисторы);
- полевые транзисторы с управляющим переходом металл-полупро-водник (с диодом Шоттки), металлический электрод затвора образует выпрямляющий контакт с каналом, на который в рабочем режиме подается обратное напряжение;
- полевые транзисторы с управляющем p-n-переходом, в качестве затвора используют слой полупроводника образующий с каналом p-n-переход, в рабочем режиме имеющий обратное включение
Полевые транзисторы по типу проводимости канала подразделяются на транзисторы с каналом n или p -типа.
Если канал n-типа, то рабочими носителями являются электроны и на сток подается положительный потенциал. В случае канала p-типа рабочими носителями являются дырки и на сток подается отрицательный потенциал.
В полевых транзисторах используется движение носителей заряда одного знака, которые под действием электрического поля, созданного вдоль канала, перемещаются от истока к стоку.
Характерной особенностью полевых транзисторов является малый ток затвора. Входное сопротивление полевых транзисторов на постоянном токе составляет 1081010 Ом. Поэтому полевые транзисторы являются приборами, управляемыми напряжением, в отличие от биполярных транзисторов, которые управляются током.
