- •Содержание
- •Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа
- •Теоретические положения
- •Законы отражения света
- •Законы преломления света
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Полосы равного наклона
- •Полосы равной толщины
- •Интерференция в тонких пленках
- •Кольца Ньютона
- •Описание оборудования
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •1. Закон Брюстера, или поляризация при отражении от поверхности диэлектрика
- •2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •Поляроиды
- •Закон Малюса
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение постоянной стефана−больцмана при помощи оптического пирометра
- •Теоретические положения
- •Характеристики теплового излучения
- •Законы теплового излучения
- •Закон Стефана−Больцмана
- •Содержание работы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Фотоэлементы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Снятие вах фотоэлемента
- •Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
- •Проверка 1-го закона фотоэффекта
- •Контрольные вопросы
- •3 Постулат
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний линз методом бесселя
- •Теоретические положения
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний и положений главных плоскостей двухлинзовой оптической системы
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Исследование закона малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •Теоретические положения
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Исследование закона Малюса
- •Обработка результатов
- •Работа с фазовой пластинкой
- •Обработка результатов
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Примечание
- •Рекомендуемые задания
- •Приложение
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Коэффициенты поглощения для разных категорий оптического стекла
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Дифракция Фраунгофера на круглом отверстии
- •Примеры дифракционных картин Пятно Пуассона
- •Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •Настройка армс
- •Порядок измерений
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
Описание оборудования
У
стройство
интерференционного объекта приведено
на рис. 3.24.2.
Объект
содержит две стеклянные пластинки 1
и 2,
которые прижаты
друг к другу с помощью оправок 3
и 4.
На соприкасающихся
поверхностях пластинок напылены
отражающие
полупрозрачные покрытия, что
увеличивает контрастность наблюдаемой
картины интерференции. Оправки прижимаются
тремя винтами 6
к оправе 5.
Воздушный клин возникает
при неравномерном прижатии оправок
друг к другу (2 винта должны быть
ослаблены).
П
Рис. 3.24.2.
учок лучей, испускаемый полупроводниковым лазером 1 (см. рис. 3.24.3), расширяется с помощью микрообъектива 2, закрепленном в магнитной оправе на экране с отверстием 3, и освещает интерференционный объект 4. Картина интерференции наблюдается на экране 5, удаленном от объекта на расстояние 500 мм. В этом случае для полос, локализованных в центральной зоне экрана размером 20-30 мм, угловая расходимость интерферирующих лучей составляет ~3-4 °, что позволяет пренебречь ею и использовать приведенные выше модельные представления. Ширина интерференционных полос В' на экране измеряется в мм с помощью масштабной сетки на экране.При необходимости можно увеличить расстояние от объекта до экрана вдвое, установив вместо экрана 5 зеркало 5' (рис. 3.24.4) и наблюдая интерференционные полосы на экране с отверстием 3.
Период
интерференционных полос B,
локализованных в зазоре, следует
рассчитывать по
формуле
Рис. 3.24.3.
Рис. 3.24.4.
где L – расстояние от объекта до экрана (см. рис. 4: L=484 мм или
L
=
484
мм
+ 584
мм
= 1068
мм
в
зависимости от собранной схемы),
– угловая расходимость излучения после
объектива
(для используемого в РМС3 объектива
= 3,4°)
Порядок выполнения работы и обработка результатов
1. Включить полупроводниковый лазер. Вращением котировочных винтов направить луч лазера по центру отверстия в экране.
2. Установить микрообъектив в магнитной оправе с обратной стороны экрана и подвижками его в поперечных направлениях добиться наиболее полного освещения интерференционного объекта.
3. Небольшим поворотом винтов 6 (см. рис. 3.24.2) отрегулировать толщину зазора между стеклянными пластиками в объекте. ВНИМАНИЕ! Категорически запрещается затягивать винты, т.к. это может привести к появлению сколов на пластинках. Вращение винта должно быть плавным без дополнительных усилий в конечном положении. Для появления клиновидного зазора следует ослабить 1 или 2 винта.
Интерференционную картину можно предварительно визуально наблюдать в отраженном (под углом ~ 45−60°) или проходящем свете от настольной лампы или иного светильника (см. рис. 3.24.5а). Более точную регулировку следует проводить в лазерном пучке, добиваясь получения прямых линий, как показано на рис. 3.24.5б, 3.24.5в. Для ориентации полос вдоль линий шкалы масштабной сетки следует повернуть оправу с объектом вокруг оптической оси до нужного положения.
а)
б)
в)
Рис. 3.24.5. Примеры визуально наблюдаемых интерференционных полос
(а – непосредственно на объекте, б и в – на экране для различных углов клина).
4. Измерить координаты максимумов интерференционных полос не менее трех соседних порядков. Координаты следует измерять с точностью не менее ± 1 мм. Полученные данные занести в табл. 1.
M |
Линейные координаты полос (мм) |
||
X1 |
X2 |
X3 |
|
|
|
|
|
Таблица 1
5. Для каждой пары полос вычислить период полос
и усреднить результаты. Полученное среднее значение использовать для расчета угла воздушного клина по формулам (5) и (6).
Рис.3.24.6. Габаритный чертеж PMC 2.
Расстояние от объекта до основного экрана L = 625 мм,
Расстояние от объектива до экрана – 751 мм.
Расстояние между соседними пазами в основании – 100 мм
