- •Содержание
- •Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа
- •Теоретические положения
- •Законы отражения света
- •Законы преломления света
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Полосы равного наклона
- •Полосы равной толщины
- •Интерференция в тонких пленках
- •Кольца Ньютона
- •Описание оборудования
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •1. Закон Брюстера, или поляризация при отражении от поверхности диэлектрика
- •2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •Поляроиды
- •Закон Малюса
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение постоянной стефана−больцмана при помощи оптического пирометра
- •Теоретические положения
- •Характеристики теплового излучения
- •Законы теплового излучения
- •Закон Стефана−Больцмана
- •Содержание работы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Фотоэлементы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Снятие вах фотоэлемента
- •Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
- •Проверка 1-го закона фотоэффекта
- •Контрольные вопросы
- •3 Постулат
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний линз методом бесселя
- •Теоретические положения
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний и положений главных плоскостей двухлинзовой оптической системы
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Исследование закона малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •Теоретические положения
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Исследование закона Малюса
- •Обработка результатов
- •Работа с фазовой пластинкой
- •Обработка результатов
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Примечание
- •Рекомендуемые задания
- •Приложение
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Коэффициенты поглощения для разных категорий оптического стекла
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Дифракция Фраунгофера на круглом отверстии
- •Примеры дифракционных картин Пятно Пуассона
- •Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •Настройка армс
- •Порядок измерений
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
Обработка результатов
1. Постройте графики зависимости коэффициента пропускания светофильтра от длины волны излучения Ι (λ):
T = U1/ U0 .
2. По виду спектральной характеристики определите типы фильтров.
– для полосовых фильтров определить основные параметры:
Imax/ I0, λ0, δλ, θ,
– для отрезающих фильтров определить λο, К.
3. Сделайте соответствующие физические выводы, охарактеризуйте цвет фильтра по полученной для него спектральной характеристике.
В качестве дополнительного задания предлагается рассчитать и построить графики зависимости коэффициента поглощения и оптической плотности от длины волны. Для упрощения расчетов потери на отражение на входной и выходной гранях светофильтра предлагается принять равными ~3 % и не зависящими от длины волны. Толщину светофильтра принять равной 2 мм.
Контрольные вопросы
Что такое абсорбция света? Сформулируйте закон Бугера. Что такое коэффициент поглощения света?
Каковы характеристики фильтров оптического излучения?
3. Как устроен монохроматор?
4. Как производится калибровка монохроматора?
Литература
1. Детлаф А.А., Яворский Б.М. Курс физики: Учеб пособие для втузов. – М: Высш. Шк., 1989. – 608 с.
2. Савельев И.В. Курс общей физики. Т.2.Учеб. пособие для студентов втузов. – М.: КНОРУС, 2009, 576 с.
3. Трофимова Т.И. Курс физики: Учеб. пособ. для вузов.- 15-е изд., стереотип. – М.: Издательский центр «Академия», 2007. –560 с.
ПРИЛОЖНИЕ 1
Спектр пропускания красного светофильтра
ПРИЛОЖНИЕ 2
Спектр пропускания желтого светофильтра
ПРИЛОЖНИЕ 3
Спектр пропускания зеленого светофильтра
длина волны, нм
ПРИЛОЖЕНИЕ 4
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 3.30
ИССЛЕДОВАНИЕ ЯВЛЕНИЯ ДИФРАКЦИИ СВЕТА
Цель работы: ознакомление с дифракционными картинами различных типов, определение углов дифракции света и ширины дифракционной щели.
Теоретические положения
Рассмотрим
дифракцию плоской монохроматической
волны от щели. Щелью будем называть
прямоугольное отверстие, ширина которого
во много раз меньше его длины. Обозначим
ширину щели а
(рис. 3.30.1).
С
Рис. 3.30.1.
ветовая волна длиной λ падает нормально к плоскости щели. За щелью установлена собирательная линза L, в фокальной плоскости которой находится экран Э. Параллельный пучок лучей, пройдя через щель, дифрагирует под разными углами вправо и влево от первоначального направления. Линза собирает параллельные пучки дифрагированных лучей в соответствующих точках экрана Э. Тип дифракции, при котором рассматривается дифракционная картина, образованная параллельными лучами, получил название дифракции в параллельных лучах, или дифракции Фраунгофера.Расчет дает формулу распределения интенсивности света на экране Э в зависимости от угла дифракции φ в виде:
где
,
I0
– интенсивность света в середине
дифракционной картины (в направлении
φ=0);
I
– интенсивность
света в точке, положение которой
определяется данным значением угла φ.
При значении
угла дифракции φ,
удовлетворяющего
условию
где k = ± 1, 2, 3, ..., интенсивность света равна нулю. Последнее условие и количественные соотношения можно получить при решении задачи о дифракции на щели методом графического сложения амплитуд.
Рис. 3.30.2.
Разобьем открытую часть волновой поверхности на ряд узких параллельных полосок равной ширины. Каждую из этих полосок можно рассматривать как источник волн одинаковой амплитуды и фазы. Выражая амплитуды каждой полоски векторами равной длины, найдем результирующую амплитуду, пользуясь графическим методом сложения амплитуд. Результаты при разных углах дифракции φ представлены на рис. 3.30.2.
При φ=0 (рис. 3.30.2а), т.е. в фокусе линзы L, амплитуда колебаний A0 будет максимальной.
В направлении, при котором крайние полоски отличаются по фазе на π(Δ=λ/2), результирующая амплитуда равна 2A0/π (рис. 3.30.2б), так как последняя равна диаметру полуокружности, длина которой A0.
В направлении, при котором крайние полоски отличаются по фазе на 2π (Δ=λ), результирующая амплитуда обращается в нуль (рис. 3.30.2в). Амплитуда равна нулю во всех случаях, когда разность хода между крайними лучами Δ равна λ, 2λ, 3λ, ..., kλ, т.е. минимумы освещенности соответствуют направлениям
(3.30.3)
где k – целое число, так как Δ = a sin φ.
Распределение освещенности в фокальной плоскости линзы L представлено на рис.3. Центральная светлая полоса (максимум нулевого порядка) занимает область между ближайшими правыми и левыми минимумами, т.е. область между
Интенсивность света I0 определяется квадратом А0. Следующие максимумы значительно уступают по величине центральному.
Д
Рис.3.30.3.
ействительно, при
амплитуда колебаний
(рис. 3.30.2г),
интенсивность первого
максимума
(3.30.5)
или
.
(3.30.6)
Аналогично можно найти и интенсивности остальных максимумов. Расчеты показывают, что интенсивности центрального и следующих максимумов относятся как 1 : 0,045 : 0,016 и т.д.
Р
Рис. 3.30.4.
ассмотрим дифракцию от двух параллельных щелей одинаковой ширины а и расположенных на расстоянии b друг от друга. Дифракционная картина наблюдается в фокальной плоскости линзы L. (рис. 3.30.4а). На экран со щелями падает плоская монохроматическая волна длиной λ. Положение дифракционных максимумов и минимумов от одной щели не зависит от ее положения, а определяется направлением дифрагированных лучей. Это значит, что перемещение щели параллельно самой себе не приводит к изменению дифракционной картины. Следовательно, картины, создаваемые каждой щелью в отдельности, будут совершенно одинаковыми.Результирующую картину можно определить путем сложения этих двух картин с учетом интерференции волн, идущих от каждой из щелей. Очевидно, что в тех направлениях, в которых ни одна из щелей света не дает света, не будет света и при двух параллельных щелях. Условие минимума интенсивности a sin φ = = kλ, где k = ±1, 2, 3, ..., выполняется и в данном случае. Кроме того, возможны направления, в которых колебания, посылаемые двумя щелями, взаимно уничтожаются. Возникают добавочные минимумы. Они будут наблюдаться в тех направлениях, которым соответствует разность хода
для волн, идущих от соответственных точек (отстоящих на расстоянии а + b) обеих щелей. Такие направления определяются (см. рис. 3.30.4) условием
где m = ± 0, 1, 2, 3, .... В направлениях, определяемых из условий
(a + b) sin φ = 0, λ, 2λ, ..., mλ, где m = ± 0, 1, 2,..., (3.30.8)
действие одной щели усиливает действие другой. Этим направлениям соответствуют максимумы интенсивности. Расстояния между первичными минимумами (от одной щели) зависит от ширины щели а. Если а << (а +b), то между двумя первичными минимумами может расположиться несколько минимумов и максимумов. Кривая на рис. 4,б показывает распределение интенсивностей света при дифракции на двух параллельных щелях.
Если ширина щели а значительно меньше расстояния от щели до экрана, дифракция Фраунгофера будет иметь место и при отсутствии линзы между щелью и экраном (падающая на щель волна должна быть плоской). В этом случае лучи, идущие в точку Р от краев щели, будут практически параллельны, так что все полученные ранее результаты остаются справедливыми.
Измерив на опыте по дифракционной картине от узкой щели ширину центрального максимума и зная длину волны источника света, можно определить ширину щели. По картине дифракции от двух параллельных узких щелей, зная длину волны источника и ширину каждой щели, можно определить расстояние между ними.
В более общем случае при дифракции на совокупности N щелей одинаковой ширины а и расположенных на расстоянии b друг от друга выражение для интенсивности дифрагировавших лучей имеет вид
где
Формулу (3.30.9) можно представить в виде произведения двух членов. Первый член, называемый дифракционным, имеет вид:
(3.30.10)
и описывает дифракцию на одной щели размера а. Вид этой функции совпадает с приведенным на рис.3. Второй член, равный
,
(3.30.11)
описывает интерференцию излучения, приходящего от различных щелей, и носит название интерференционного.
Числитель в формуле (3.30.11) обращается в нуль при
δ=0, π/N, 2π/N, …, (N-l)π/N, π, (N+1)π/N,...
однако
для каждого N-гo
значения
=
0, π,
2π,
... в
нуль обращается и знаменатель.
Воспользовавшись предельным переходом,
можно получить, что для этих значений
угла функция (3.30.11) имеет одинаковое
максимальное значение, равное N2.
Таким
образом, для этих значений угла δ
интенсивность
будет максимальной. Между этими
максимумами, называемыми главными,
располагаются (N
– 1)
добавочных
минимумов, соответствующих нулевым
значениям числителя в формуле (3.30.11).
Так как между любыми двумя соседними
добавочными минимумами имеется
добавочный максимум, интенсивность
которого существенно меньше интенсивности
ближайших главных максимумов, то общее
число добавочных максимумов между
главными равно (N
– 2).
Вид функции (3.30.11), описывающей распределение интенсивности при дифракции Фраунгофера на N = 4 щелях, изображен на рис. 3.30.5в. Характерными точками этого графика являются:
главные дифракционные минимумы |
sinφ =λ /b, 2λ /b, 3λ /b,… |
добавочные интерференционные минимумы |
sinφ = λ /Nd, 2λ /Nd, 3λ /Nd, ...., (N-1)λ /Nd, (N+1)λ /Nd,..., (2N-1)λ /Nd, (2N+1)λ /Nd,... |
главные интерференционные максимумы |
sinφ = 0, λ /d, 2λ /d, 3λ /d, .... |
Таким образом, получив на экране дифракционную картину от решетки и подсчитав число добавочных минимумов или максимумов между главными максимумами, можно определить число щелей решетки.
а)
б)
в)
Рис. 3.30.5. Дифракция Фраунгофера на четырех щелях:
а – интерференционный член (5), б – дифракционный член (4),
в – общий вид дифракционной картины (3).
