- •1.Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
- •2. Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
- •3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •4. Приборы рефрактометрического анализа.
- •5. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •6. Физ. Основы поляриметрического метода.
- •7. Зав-мость угла вращения плоскости поляризации от строения в-ва.
- •10. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии.
- •11. Приборы нефелометрического анализа.
- •12. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •13. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация методов спектрального анализа.
- •14.Физ. Основы спектрального анализа.
- •15. Типы и хар-тер электронных переходов.
- •16. Зависимость числа доп.Энерг.Сост. От положения в таблице.
- •17. Классиф. Хим.Элементов по способности к возбужд. И иониз.
- •18. Схемы энергетических переходов в атомах.
- •20. Зависимость длин волн рез.Спектр.Линий от полож.В таблице.
- •22. Факторы, влияющие на интенсивность спектр.Линий в спектрах атомной эмиссии.
- •23. Ширина спектральной линии. Причины уширения.
- •24. Схемы энергетических переходов в молекулах.
- •26*. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в пламенной атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •27. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в дуговой и искровой атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •28. Устройство и принцип действия трехтрубчатого плазмотрона для атомно-эмиссионного анализа с индуктивно-связанной плазмой.
- •29. Способы выделения аналитических спектральных линий элементов из полихроматического излучения анализируемого образца. Схема и принцип действия монохроматора дисперсионного типа.
- •30. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •33. Достоинства и недостатки фотографической регистрации спектров атомной эмиссии.
- •31. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
- •33. Определение интенсивности спектральной линии элемента при фотографической регистрации спектра.
- •34. Полуколич. Метод сравнения в атомно-эмиссионном анализе.
- •35. Полуколичественный метод гомологических пар в атомно-эмиссионном анализе.
- •36. Полуколичественный метод появления и усиления спектральных линий в атомно-эмиссионном анализе.
- •32. Уравнение Ломакина-Шейбе.
- •37. Методы точного количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием стандартов.
- •38-39. Общие положения теории аас.
- •41. Пламенная атомизация в атомно-абсорбционном анализе: условия проведения, механизм
- •29. Монохроматоры
- •39. Конструкция и принцип действия безэлектродной газоразрядной лампы.
- •30. Детекторы
- •26. Подготовка проб к анализу методами оптической атомной спектроскопии
- •45. Физические основы рентгеноспектрального анализа.
- •46. Схема возбуждения и испускания рентгеновских спектральных линий. Критический край поглощения.
- •47. Диспергирующие и детектирующие устройства рентгеновских спектрометров.
- •48. Основы кач-го и кол-го рентгеноспектрального анализа
- •49. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-эмиссионного анализа.
- •50. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-флуоресцентного анализа.
48. Основы кач-го и кол-го рентгеноспектрального анализа
Качественный анализ. Особенность рентгеновских спектров – монотонное изменение частот переходов и длин волн аналогичных линий испускания или краев поглощения при изменении пор-го номера Z элем-та. Для аналог-х линий и краев поглощения с увелич-м Z частоты постеп. повышаются (для легких эл-тов характеристический спектр лежит в длинноволновой рентгеновской области, для тяж. эл-тов К-серия линий находится в обл-ти жестких рентгеновских лучей – доли ангстрема). Т.обр. использование испуск-я или поглощ-я рентген-го излучения целесообразнее, когда надо определить эл-ты с большими атомными массами.
Частота ν характерис-го рентгеновского излучения атома хим. эл-та и его атомный номер Z связаны: ν=z2/n2 (n – главное квантовое число). Это выражение закона Мозли (частота рентгеновской линии пропорциональна квадрату атомного номера элемента), кот-й лежит в основе кач-го определения эл-тов (установив эксперим. длину волн рентг-го излучения, можно рассчитать Z элем-в, входящих в пробу).
Количественный анализ. Основан на измерении интенсивности характеристических линий. Но в реальном спектре регистрируется суммарная интенсивность хар-го и тормозного излучений, кот-я пропорц. силе тока i, атомарному номеру элемента Z, ускоряющему потенциалу рентгеновской трубки V: I~iZV2.
Р
ентгеновский
спектр испускания рентгеновской трубки
с мишению из молибдена при 35 кВ, выделенный
с помощью циркониевого фильтра:
1 – кривая поглощения циркония, 2 – характеристические линии молибдена на фоне тормозного излучения
При проведении колич-го анализа необх. выделить те характеристические линии, кот. в наим-й степени искажаются сплошным фоном тормозного излучения, что м.б. сделано с помощью циркониевогофильтра.
49. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-эмиссионного анализа.
Анализ по первичным спектрам.
1а




















1 2 3 4
1б
Подготовленный к анализу материал помещают на анод 1б рентгеновской трубки и на катод 1а, к-рый испускает поток электронов, разгоняемый приложенным потенциалом до энергии несколько большей энергии краев поглощения элементов, определяемых в пробе. Под действием электронов проба испускает поток характеристических квантов, который через окно рентгеновской трубки 1 направляется на анализатор 2,определяющий аналитический минимум. Они регистрируются на фотопластинке или э/м приемниками 3. Детектор и измерительная схема дают электрические сигналы, пропорциональные интенсивности линий.
Чтобы по интенсивности электрического сигнала или почернения фотопластинки определить концентрацию, аппаратура калибруется по стандартным образцам.
Для кач. анализа и отыскания характеристических линий ан. элементов проводится калибровка прибора по частотам и длинам волн.

50. Схема проведения, достоинства и недостатки рентгено-флуоресцентного анализа.
Анализ по вторичным спектрам.

Подготовленная к анализу проба помещается в держатель (кювету) узла возбуждения спектра. На пробу направляется поток рентг. квантов от ист. 1А (рентгеновская трубка, радиоактивный источник). Частоты рентг. квантов соответствуют краям поглощения элементов, определяемых в пробе. Вторичное рентгеновское излучение , возбуждаемое в пробе, направляется на анализатор спектра 2, в котором происходит отделение анализируемых линий, которые дальше детектируются приемником света 3 и регистрируются электр. схемой 4. В отличие от анализа по первичным спектрам, при рентгено-флуоресцентном анализе проба, являющаяся излучателем вторичного спектра, и источник возб-го излучения отделены др. от друга.
Этап атомизации пробы отсутствует.
Достоинства:
Универсальность (возможность определения элементов от магния до урана);
Независимость сигнала от химической формы элемента и от агрегатного состояния анализируемого вещества;
Широкий диапазон определения;
Высокая точность анализа (1%);
Экспрессность;
Относительная простота спектра;
Неразрушающий анализ.
Недостатки:
Высокие пределы обнаружения (нельзя определить элементы при их содержании <10-4-10-5%;
Трудность определения легких элементов;
Матричные эффекты (влияние окружения определяемого элемента).
