- •4 Оглавление
- •Глава1.Температурныеполявтермическихсенсорах........................ 17
- •Глава2.Термочувствительныеэлементы 105
- •Глава3.Примерыпрактическойреализациитермическихсенсоров
- •Глава4.Взаимодействиеизлученияствердымтелом 183
- •Глава5.Фотоэлектрическиеприемникиизлучения.Определения
- •Глава6.Равновесныеинеравновесныеносители заряда 271
- •Глава7.Физическиеосновыработыфотонныхприемниковизлу-
- •Глава8.Основныенаправленияразвитиятехникирегистрацииоптическогоизлучения 411
- •Теплотаитемпература
- •Способы теплопередачи:теплопроводность
- •Уравнениетеплопроводности
- •Теплопроводностьгазов
- •Теплопроводностьитеплоемкостьтвердыхтел
- •Теплопроводностьжидкостей
- •1.3.Радиационныйспособтеплопередачи
- •Основныепонятияизаконы
- •Радиационныйтеплообменмеждутвердымителами,
- •Теплообменмеждудвумятелами,одноизкоторыхнаходится
- •Конвективныйтеплообмен
- •Основныеособенностиконвективноготеплообмена
- •Основныеуравненияконвективноготеплообмена
- •Критериитеорииподобия
- •Вынужденнаяконвекциядляплоскойповерхности
- •Теплообменвусловияхестественнойконвекции
- •Естественнаяконвекция
- •Примеррасчетаконвективноготеплообмена
- •Cтационарныетемпературныеполявэлементахтермическихсенсоровиактюаторов
- •Распределениетемпературы
- •Передачатеплачерезстенку
- •Электростатическаяаналогияуравнениятеплопроводности
- •Тепловоесопротивлениесоставнойтеплопроводящейпла-стины.
- •Параллельное соединение двух разнородных тепловых
- •Температурноеполевинтегральнойконсольнойбалочке
- •Стационарноетемпературноеполевкруглойдиафрагме
- •Однородныйнагрев
- •Точечныйисточниктепла
- •Температурнаядинамикаэлементовтермическихсенсоров
- •Решениенаосновеэлектростатическойаналогии
- •Аналитическоерешениедлятеплообмена
- •2.1.ТермочувствительныеэлементынаосновеэффектАтермоЭдс
- •Физическиепроцессывтермопарах
- •ОбъемныесоставляющиетермоЭдс
- •КонтактнаясоставляющаятермоЭдс
- •2.1.2.Эффекттермоэдсвметаллахиполупроводниках
- •Термоэлектрическиеэффектыпельтьеитомсона
- •Терморезисторы
- •Металлическиетерморезисторы
- •Кремниевыетерморезисторы
- •Транзисторы
- •Термисторы
- •Термическийвакуумметр
- •Термическиесенсорыпотокагаза
- •Термоанемометры
- •Термоанемометрыснагревателемизполикристаллическогокремния
- •Термическийсенсор,чувствительныйкнаправлениюпотока
- •VXSxuxSxucos;
- •Термическийконверторсреднеквадратичногозначениянапряжения
- •Биморфныйтермомеханическийактюатор
- •Взаимодействиеизлучениясполупроводниками
- •Уравнениямаксвелла
- •Отражениеэлектромагнитногоизлученияотграницыразделадвухсред
- •Зависимостьоптическихконстантотчастоты
- •Интерференция.Просветляющиепокрытия
- •Поглощениевполупроводниках
- •Механизмыпоглощениясветавполупроводниках
- •Собственноепоглощение.Прямыепереходы
- •СобственноепоглощениеНепрямыепереходы
- •Экситонноепоглощение
- •Примесноепоглощение
- •Внутризонноепоглощение
- •Поглощениесвободныминосителямизаряда
- •Решеточноепоглощение
- •Приемникиизлучения
- •Поотношениюксопротивлениюнагрузки:
- •Методыизмеренияпараметровфотоэлектрическихполупроводниковыхприемников
- •0,1Fрезfэкв0,2fрез,
- •Энергетическиехарактеристикиизлучения
- •IbAcos.
- •IBdAcos,
- •Мощностьиспектральныйсоставизлученияабсолютночерныхтел
- •Энергетическийисветовойпотокиизлучения
- •Цветовоезрение
- •Xyz(условныеобозначениясм.Нарис.5.18):
- •Приемцветногоизображенияприпомощиприемников
- •650Нмсераялиния
- •Равновесныеинеравновесныеносителизаряда
- •Равновесныеносителизарядавполупроводниках
- •Неравновесныеносителизарядаквазиуровеньферми
- •Рекомбинацияносителейзарядавремяжизни
- •1Nстt
- •Механизмырекомбинации
- •Излучательнаярекомбинация
- •Imax 2g
- •Межзоннаяоже-рекомбинация
- •Рекомбинациячерезлокальныецентры
- •Поверхностнаярекомбинация
- •Распределениенеравновесныхносителейзаряда
- •Уравнениянепрерывностидляэлектроновидырок
- •Диффузионноеуравнение
- •Лавинныефотодиоды
- •Фотосопротивления
- •Фотоприемникинаосновеструктурметалл–диэлектрик–полупроводник
- •Приповерхностныеобластипространственногозаряда
- •10 Blip 10
- •Целипримененияоптическихсистемиихстроение
- •Болометрическиематрицы
- •Принципдействияихарактеристикитепловыхприемниковизлучения
- •Параметрытпи
- •Болометры
- •Линейчатыеиматричные
- •Составипринципработыизмерительногостенда
- •–Осьлинейкифотоприемников(лфп)иЛфпу;
- •Характеристикилинейчатыхфотоприемныхустройств
- •Тепловизионныематрицы
- •Линейчатыеиматричныепзи-приемникиизображениянаосновеInAs
- •Преобразованиесветовогопотокавцифровуюинформацию
- •Оцифровываниесигнала
- •Приборы,отображающиеоптическуюинформацию
- •ВикторАлексеевичГридчин,ИгорьГеоргиевичНеизвестный,ВладимирНиколаевичШумский физикамикросистем
- •Часть2Учебноепособие
- •630092,Г.Новосибирск,пр.К.Маркса,20
2.1.2.Эффекттермоэдсвметаллахиполупроводниках
Еслиприниматьвовниманиетолькотермическуюдиффузиюэлек-тронов,товметаллахэлектроныдолжнывсегданакапливатьсявозлехолодногоспаяизнаккоэффициентатермоЭДСдолженбытьотрица-тельным.Однакоцелыйрядметалловимеетположительныйкоэффи-циенттермоЭДС,болеетого,егознакдлянекоторыхметалловнепо-стоянныйвширокоминтервалетемператур.
ЭтосвязаносособенностямиизмененияуровняФермиирассеяни-емэлектроноввметаллах.УровеньФермиугорячегоспаяоказываетсяниже,чемухолодного(см.(2.1.12)),идляеговыравниваниявозникаетпотокэлектронов,направленныйотхолодногоспаякгорячему.Крометого,повышеннаятемпературагорячегоспаяможетвызватьболеесильноерассеяниеэлектронов,чтоприводиткуменьшениюлокально-гозначениякоэффициентадиффузиипосравнениюсобластьюхолод-ногоспая.
ВкладвтермоЭДСуказанныхпроцессовзависитоттемпературы,концентрацииэлектронов,особенностейзоннойструктурыметалла,
чтовитогевлияетиназнаккоэффициентатермоЭДС.Втабл.2.1при-веденытермоЭДСрядаметалловотносительноплатины,причемтем-пературагорячегоспая100C,ахолодного–0C[2.4].
Табл и ц а2.1
ТермоЭДСнекоторыхметалловотносительноплатины
Материал |
ТермоЭДС,мкВ К |
Материал |
ТермоЭДС,мкВ К |
Висмут |
–7,34 |
Углерод |
0,70 |
Никель |
–1,48 |
Медь |
0,76 |
Палладий |
–0,57 |
Золото |
0,78 |
Платина |
0 |
Вольфрам |
1,12 |
Алюминий |
0,42 |
Молибден |
1,45 |
Свинец |
0,44 |
Железо |
1,89 |
Индий |
0,69 |
Сурьма |
4,89 |
Разнообразныетехническиетребования,предъявляемыектермо-парам(преждевсего–диапазонрабочихтемператур)привеликсозда-
ниюнесколькихтиповтермопар,получившихширокоераспростране-ниевтехнике.
Втабл.2.2указанысоставыпроводников,входящихвтермопары,
ипредельныерабочиетемпературы,докоторыхвозможноихисполь-зование[2.1].
Наиболееупотребительныетермопары
Табл и ц а2.2
Материал |
Предельнаярабочаятемпература,°C |
,мкВ К |
1.Медь–константан 100 %Cu;60%Cu+40 %Ni |
400 |
43 |
2.Хромель–копель 10 %Cr+90 %Ni;56 %Cu+44 %Ni |
800 |
70 |
3.Хромель–алюмель 10 %Cr+90 %Ni;2 %Al+1 %Cr+97%Ni |
1200 |
40 |
4.Платина–платинородий100 %Pt;90 %Pt+10 %Rh |
1600 |
8 |
Втермопарахметалл–полупроводниккоэффициенттермоЭДСпримернонадвапорядкавыше,чемуметаллических.Поэтойпричинетермоэлектрическиехарактеристикиполупроводниковобыкновенноприводят,неуказываяметалл,которыйслужилвторойветвьютермо-пары.
Вмикросистемнойтехникевтермическихсенсорахособоеполо-жениезанимаютдвавидакремния:монокристаллическийиполикри-сталлический.Нарис.2.2показанатемпературнаязависимостькоэф-фициентатермоЭДСдлякремнияp-типасразнымуровнемлегирования[2.5и2.6].ПовышениестепенилегированияприводиткуменьшениюэффектатермоЭДС,посколькупосвоимсвойствамполу-проводникиначинаютприближатьсякметаллам.Возрастаниекоэф-фициентатермоЭДСвобластинизкихтемператур,T100К ,иллюст-
рируетдействиеэффектафононногоувлечения.
Дляпрактическихцелейудобнопредставлятькоэффициенттермо-ЭДСкремнияввидезависимостинеотконцентрациипримесныхато-мовимеханизмоврассеяния,аотудельного сопротивления.
10
КоэффициенттермоЭДС,мкВ/К
2,41016/см3
5
1,01018/см3
1,51019/см3
0
0 100 200 300
Температура,К
Рис.2.2.КоэффициенттермоЭДСРSi
дляразличныхуровнейлегирования
Наосновеобобщенияэкспериментальныхданныхпредложенаап-проксимациякоэффициентатермоЭДСприкомнатнойтемпературефункцийвида[2.5]:
mkln
e 0
, (2.1.17)
где05106Oмм;
m2,5.
Уровнилегированиякремния,обычноприменяемыевтехнологииинтегральныхсхем,приводяткзначениямкоэффициентатермоЭДС
0,3...0,6мВ/К.Нарис.2.3приведеныэкспериментальныеданные
длякремнияиихаппроксимацияпоформуле(2.1.17)[2.7].
ТемпературнаязависимостькоэффициентатермоЭДСполикри-сталлическогокремнияприведенанарис.2.4[2.8].Абсолютнаявели-
чинакоэффициентатермоЭДСпритемпературе300С
тервале200...500мкВ/К.
лежитвин-
Термопаракремний–алюминийоказаласьидеальносовместимойстехнологиейинтегральныхсхемимикросистемихорошоподходитдляизготовленияразличныхсенсоровтермическогосигнала.Нарис.2.5показанфрагментбатареитермопар,используемойвсенсореИК-излучения[2.7].КоэффициенттермоЭДС,определяемыйдлятаких
КоэффициенттермоЭДС,мкВ/К
2000
2
1
1500
1000
500
0
0,00001 0,0001 0,001 0,01 0,1 1
Удельноесопротивление,Омм
Рис.2.3.ЗависимостькоэффициентатермоЭДСотудельногосопротивлениякремния(1)иаппроксимация(2)поформуле(2.1.17)
α,мкВ/К
550
500
450
400
350
300
250
200
150
PIPII
BIBII
50 100 150 200 250 300 350 400 Т,К
Рис.2.4.АбсолютнаявеличинакоэффициентатермоЭДСдляпо-ликристаллическогокремния,легированногобором(BI,BII)
ифосфором(PI)(PII):
сплошныелинии–расчет[2.8]
интегральныхтермопар,хорошосогласуетсяповеличинессоответст-вующимипостепенилегированиязначениямидляобъемныхобразцов,которыеприменяютсявфизическомэксперименте.
ΔT
Эпитаксиальный
n-Si
SiO
p-Si Al
Рис.2.5.Фрагмент термобатареиИК-сенсора[2.7]
Новыевозможности,благодаряприменениюдиэлектрическойизо-ляции,открылисьвсвязисприменениемтермопарполикремний–алюминий,поликремний–золото.Слоиполикремниявтакихтермопа-рахобычноимеюттолщину0,4мкмиповерхностноесопротивлениеот250до2500Ом/квадрат.
Желаниеповыситьчувствительностьтермическихсенсоровприво-
диткприменениюиных,чемкремний,материаловдляпостроениятермопар,например,висмут–сурьма,висмут–теллур.Приэтом,одна-ко,проблемасовместимостипроцессовсозданиятакихтермопарсостандартнойкремниевойтехнологиейинтегральныхсхемоказываетсявесьмасерьезной,чтоприводиткудорожаниюизготавливаемыхком-понентовмикросистемнойтехники.
