- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •12 Методы балльной оценки.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
86. Дифференциальный термический анализ.
В основе ДТА лежит рег-ция изм-я температуры образца изучаемого материала при его нагревании или охлаждении.При проведении ТА образец размещают в спец.тигель, а затем помещают в электропечь.После этого тигель вместе с образцом плавно нагревают с опред. скоростью нагрева и через заданные промежутки времени регестр. его тем-ру.Рез-ты измерений использ. для построения граф.зав-ти тем-ры образца от времени нагрева.
T-тем-ра; t-время => T=f(t)
Эта зав-ть наз темпер кривой нагревания.Если в процессе нагревания в исслед вещ-ве происх какое-либо превращение(хим реакция),кот связ с поглощением или выделением теплоты,то зав-ть T=f(t) более или менее заметно отклоняется от прямолинейн направления:
87. Дифференциальные кривые нагревания.
Данный вид анализа проводят с целью точного определения тепловых эф-тов,происх в образцах при нагревании(охлаждении).Чаще всего нагревании. Этот вид анализа проводят с пом диф термопар,кот предст собой 2 одинаков термопары,включён навстречу друг другу.Термопара предст собой 2 разнородных проводника,с 1 стороны спаянные между собой.Проводники вып-ся из разных видов ме сплавов на основе платины,радия,хрома,никеля,меди.Для изгот-я терпопары исп 2 проволоки сварен между собой в точечн контакт,его наз спай
К свободным концам подключ измерит прибор-минивольтметр.При наличии перепада температур между спаем и свободными концами в термопаре возн ЭДС,пропорц-е перепаду температур.Зная ЭДС и тем-ру свободных концов,опред тем-ру спая,кот помещают в исслед объект. В практике примен стандартн термопары из стандартн сплавов,для кот сущ градуировочн таблицы.В случ записи ДТА-кривых исп след схему.Спай 1ой термопары размещ в тигель с образцом,а спай др термопары-в тигель с инертным вещ-вом(с эталоном).Оба тигеля размещ в электропечи и нагрев в одинаков режиме.
Наиб часто использ платино-радий платиновые термопары,в кот 1 проволока из платины,2 из сплава платины и радия.Миливольтметр mV1 исп-ся для рег-ции темпер кривой,т.е. измер-е тем-ры образца в прцессе нагрева.Миливольтметр mV2 исп-ся для рег-ции ДТА-кривой,показ-й разность температур между образцом и эталоном.Если при нагреве в образце не происх никаких изменений, связ с выделением/поглощением тепла,то тем-ры образца и эталона одинаковые=>ЭДС обоих термопар тоже одинаковы и взаимокомпенсируют др друга,и прибор mV2 показывает 0.
Если в образце будут происх какие-либо процессы,связ-е с поглощением/ выдел-ем теплоты,то его тем-ра станет либо больше,либо меньше тем-ры эталона,ЭДС термопар будут отличаться и не будут компенсировать др друга.Прибор mV2 в данном случае покажет значение ЭДС,пропорц-е вел-не термо эф-та,а полярность этой ЭДС покажет направ-е эф-та,т.е. экзо/эндо эф-т.
ДТА-кривая предст собой набор пиков,направл вверх или вниз относительно нулевой или базисной линий.
Запись ДТА кривых позвол чётко опред начало,max и окончание термич эф-та. Для того,чтобы опред тем-ры при кот им место термоэф-ты одновремнно с ДТА-кривой записыв тепературн кривую Т,проекции на кот позвол определить тем-ру в люб точке.