- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •12 Методы балльной оценки.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
14.Физические основы рефрактометрии.
Рефрактометрический анализ основан на определении показателя (коэффициента) преломления исследуемого вещества.
Рассмотрим две прозрачные среды 1 и 2:
При попадании пучка лучей (В) на границу раздела под углом падения α по отношению к перпендикуляру, угол α называют углом падения луча.
В этом случае часть этого пучка отразится от поверхности раздела под таким же углом α. Часть лучей отразится под тем же углом α, а другая часть В'' пересечёт границу раздела фаз и перейдёт в среду 2. Угол между лучом В'' и перпендикуляром aa обозначается β и называется углом преломления.
Изменение направления распространения света при его переходе из одной прозрачной среды в другую называют преломлением, которое характеризуется относительным показателем преломления среды 2 по отношению к среде 1. Его обозначают n21.
n21= v1 v2 (0-1), v1и v2 – скорости распространения световой волны в средах 1 и 2, v= [см/с].
Если световая волна переходит из вакуума, то показатель преломления среды 2 называют абсолютным (n2).
n2 = Сv2 (0-2), где С – скорость света в вакууме, с = 3×1010.
Относительный показатель преломления n1 можно выразить через показатели преломления обеих сред:
n21= n2n1 (0-3)
n1= Сv1, v1= Сn1, v2= Сn2.
При измерении показателей преломления жидких и твёрдых тел обычно определяют их относительные показатели преломления по отношению к воздуху.
Абсолютный показатель преломления воздуха при комнатной температуре 20º С и атмосферном давлении равен:
nвозд. = 1, 00027
На практике измерение показателя преломления проводят по следующей зависимости:
n21 = sinαsinβ (0-4) – определяется как отношение синуса угла падения α к синусу угла преломления β.
15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
Каждое химическое соединение имеет строго определённое значение показателей преломления, величина которого зависит от строения этого вещества. При прохождении света через неполярное вещество происходит деформационная поляризация молекул, Рдеф,которая вызывается за счёт смещения электронов относительно ядер атомов (электронная поляризация). А также поляризация молекул осуществляется за счёт смещения ядер атомов относительно друг друга – атомная поляризация.
В связи с поляризацией, электронной и атомной, происходит пропорциональное изменение напряжённости поля.
Центр тяжести положительных и отрицательных зарядов в молекуле при поляризации не совпадают, поэтому возникает индуцированный дипольный момент, который пропорционален напряжённости поля.
При прохождении света через полярное вещество, кроме деформационной поляризации добавляется так называемая ориентационная поляризация Рор, которая связана с тем, что под влиянием электромагнитного поля полярные молекулы ориентируются вдоль силовых линий электромагнитного поля, стремясь принять устойчивое положение, отвечающее min потенциальной энергии.
Р = Рдеф + Рор (0-5)
Так как у неполярных веществ Рор отсутствует, то: Р = Рдеф. (0-6)
В этом случае взаимосвязь деформационной поляризации с коэффициентом преломления n осуществляется формулой:
Рдеф = n2 - 1(n2+ 2)(Md ) (0-7) - формула Лорентса-Лоренса, где n - коэффициент преломления, d – плотность вещества, M – молекулярная масса вещества.
В этой формуле Рдеф называется молярной рефракцией и обозначается Rм: Рдеф = Rм
Молярная рефракция служит мерой деформационной поляризации молекул вещества и имеет размерность см3/моль.
Молярная рефракция рассчитывается для различных веществ на основе правила аддитивности, то есть рефракция молекулы равна сумме рефракций составляющих её частиц с учётом валентных связей состояний атомов и их расположения.
Для молекул различных веществ молярные рефракции приводятся в справочной литературе. Сравнивая полученную опытным путём с помощью формулы (0-7) молярную рефракцию с литературной, можно точно определить строение исследуемого вещества.
