- •Докт. Техн. Наук, професор кафедри вищої геодезії та астрономії ну «Львівська політехніка» Савчук с.Г.
- •1.1. Метрологія як наука про вимірювання
- •1.2. Основні етапи розвитку метрології
- •1.3. Метрологія: основні поняття та визначення
- •1.3. Основні поняття і визначення
- •1.4. Міжнародна система одиниць фізичних величин
- •1.5. Загальні поняття про технічні вимірювання
- •Контрольні питання
- •2.1. Види засобів вимірювань
- •2.4. Еталони, їхня класифікація і види
- •3.3. Відомча метрологічна служба
- •3.4. Державний метрологічний контроль і нагляд
- •3.4.1. Задачі державного метрологічного контролю і нагляду
- •3.4.2. Права й обов'язки державного інспектора
- •3.4.3. Відповідальність за порушення метрологічних правил
- •3.7. Метрологічне забезпечення й атестація нестандартизованих засобів вимірювання
- •3.8. Європейське і міжнародне співробітництво України в області метрології
- •Контрольні питання
- •Стандартизація
- •4.2. Нормативні документи зі стандартизації і види стандартів
- •4.3. Особливості застосування нормативних документів і характер їхніх вимог
- •4.4. Системи стандартів
- •5.1. Державна служба стандартизації
- •5.2. Відомча (галузева) служба стандартизації
- •5.6. Порядок розробки, побудови, викладання й оформлення технічних умов
- •5.7. Міжнародна і європейська діяльність україни в області стандартизації
- •Сертифікація
- •6.1. Основні поняття
- •6.2. Система сертифікації України
- •6.3. Законодавча і нормативна основа сертифікації
- •6.4. Організаційна структура і види діяльності УкрСепро
- •6.5. Основні функції структурних підрозділів і осіб Системи
- •6.6. Вимоги до органів з сертифікації й випробувальних лабораторій (центрів)
- •Розділ 7. Загальна характеристика геодезичних приладів, як засобів вимірювання
- •7.2. Конструкція кутомірних приладів, відлікові пристрої, перевірки і дослідження оптичних теодолітів
- •7.2.1. Структурна схема теодоліта і його основні частини
- •7.2.2. Відлікові пристрої оптичних теодолітів
- •7.2.3. Випробування, перевірки і юстирування теодолітів
- •Мал. 12. Розташування основних осей теодоліта
- •7.2.4. Дослідження теодолітів
- •1.Визначення середньої квадратичної помилки поєднання штрихів лімба.
- •2. Визначення середньої квадратичної помилки наведення.
- •3. Визначення середньої квадратичної помилки виміру горизонтального кута.
- •4. Визначення рена оптичного мікрометра.
- •Мал. 16. Схема поєднання штрихів лімба при визначенні рена
- •5. Визначення рена шкалового мікроскопа.
- •Визначення рена шкалового мікроскопа горизонтального круга теодоліта зт5к
- •6. Випробування правильності обертання алідади гк і визначення її ексценстриситету.
- •Мал. 17. Поєднання штрихів лімба на одній з установок алідади
- •Розділ 8. Конструкції сучасних нівелірів і їх особливості, перевірки і дослідження
- •8.1. Cтруктурная схема нівеліра і його основні частини
- •8.2. Перевірки і юстирування нівеліра
- •8.3. Дослідження нівелірів
- •2.Визначення ціни ділення рівня.
- •3 Визначення середньої квадратичної помилки суміщення кінців бульбашки циліндричного рівня.
- •5. Визначення найменшої відстані візування.
- •7. Дослідження нівелірів з компенсаторами.
- •Определение средней квадратической ошибки измерения превышения на станции
- •8.4. Перевірки і дослідження нівелірних рейок
- •Розділ 9. Повірки геодезичних приладів для вимірювання довжин ліній
- •9.1Електромагнітні далекоміри
- •9.1.1.Характеристика деяких типів електромагнітних далекомірів
- •9.1.2.Зміст перевірочних робіт
- •9.2. Проведення повірки світло-і радіодалекомірів
- •9.3.1Короткий огляд рулеток і землемірних стрічок
- •9.3.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для рулеток
- •10.3.3. Зміст і порядок виконання повірочних робіт для землемірних стрічок
- •Розділ 10.Повірки приладів для знімальних робіт
- •10.1. Короткий огляд приладів для наземних топографічних знімань
- •10.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для тахеометрів
- •10.3.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для бусолів
2.Визначення ціни ділення рівня.
Це дослідження робиться з метою визначення відповідності конкретного рівня, встановленого в нівелірі, технічним умовам на його встановлення: ціни ділення, чутливості і якості шліфовки внутрішньої поверхні ампули. Дослідження може виконуватися двома способами: c застосуванням рейки і за допомогою екзаменатора.
Для визначення ціни ділення рівня можна використовувати спеціальну рейку з міліметровими діленнями, встановлену на відстані 10 - 15 м на одній висоті з нівеліром. Після приведення нівеліра в робоче положення зорову трубу наводять на рейку і элевационным гвинтом встановлюють зображення кінців бульбашки рівня так, щоб відлік по лівому кінцю бульбашки був мінімальним (1 - 3 ділення), а по правому кінцю бульбашки - максимальним (див. мал. 24).
Далі барабаном оптичного мікрометра наводять биссектор сітки ниток на найближчий штрих рейки і беруть відліки по лівому і правому кінцям бульбашки рівня в діленнях його шкали з точністю до 0.1 ділення.
Обертанням элевационного гвинта на угвинчування точно наводять биссектор (чи середню нитку) на наступний штрих рейки і через 5 - 10 сік беруть відліки по кінцях бульбашки рівня, роблячи відповідні записи у відомості.
Наведення на подальші штрихи продовжують до тих пір, поки зображення лівого кінця бульбашки не опуститься максимально вниз шкали, а зображення правого кінця, відповідно, не підніметься вгору до самого початку шкали.
Потім приступають до зворотного ходу. Для цього виконують повторне наведення элевационным гвинтом, спочатку «збивши» його на ¼ частину обороту, а потім знову, працюючи їм на угвинчування, наводять биссектор сітки ниток на останній штрих рейки, на який було виконано наведення в прямому ході. Ці дії складають один напівприйом. При виконанні дослідження элевационный гвинт повинен обертатися в один бік. Якщо в прямому ході гвинт працює тільки на угвинчування, то в зворотному він повинен працювати тільки на вигвинчування. Або навпаки: в прямому - на вигвинчування, а в зворотному - на угвинчування. 2-ою напівприйом виконується в тій же послідовності, зі зміною висоти нівеліра підйомними гвинтами. Повне дослідження включає 4 прийоми.
Порядок запису і обчислення в одному з прийомів вимірів наводяться в таблицю. 18. Ціну ділення рівня τ обчислюють за формулою:
,
(33)
де n - число досліджуваних штрихів на рейці в напівприйомі;
µ – ціна ділення рейки в мм;
–
число
напівділень рівня, що відповідає величині
зміщення бульбашки рівня між попереднім
і подальшим відліками;
–
середнє
значення різниці відліків по кінцях
бульбашки рівня з прямого і зворотного
ходів;
S - відстань від нівеліра до рейки. Якщо ділення досліджуваної шкали рівня не відповідають їх номінальній величині, рівній 2 мм, то отримане значення τ треба помножити на коефіцієнт співвідношення їх значень До (для Н05 - До = 2.5). Знайдене значення τ порівнюється з його допустимою величиною для відповідного класу приладів і робиться висновок про придатність досліджуваного нівеліра для виконання робіт. Згідно ГОСТ 10528-90, ціна ділення рівня високоточних нівелірів типу Н05 не повинна перевищувати (10 ± 1)″, точних - (15 ± 1,5)″, а по інструкції [3] τ для високоточних нівелірів - не більше 12″ і для точних - не більше 30″.
Таблиця 18 Визначення ціни ділення рівня високоточного нівеліра по лінійці (рейці).
Н05 № 00194; 20.03.2011 р. Відстань до рейки 12,4 м
№ прийому |
t повітря,°С |
Відліки по рейці |
Відліки по рівню |
П-л |
відстань по лінійці |
Число напівділень рівня, r |
|
||||||||||||||||
прямій хід |
зворотний хід |
Прямий хід |
зворотний хід |
середнє |
|
||||||||||||||||||
Л |
П |
Л |
П |
|
|
|
|
||||||||||||||||
1 |
. |
8.1 |
3.9 |
23.1 |
4.0 |
22.9 |
+19.2 |
+18.9 |
+19,05 |
. |
. |
|
|||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
8,50 |
|
||||||||||||
+22,0 |
8.2 |
8.3 |
18.5 |
8.0 |
18.9 |
+10.2 |
+10.9 |
+10,55 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
8,25 |
|
||||||||||||
. |
8.3 |
12.0 |
15.0 |
12.5 |
14.1 |
+3.0 |
+1.6 |
+2,30 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
9,05 |
|
||||||||||||
. |
8.4 |
16.5 |
10.2 |
17.1 |
9.9 |
6.3 |
7.2 |
-6,75 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
9,20 |
|
||||||||||||
. |
8.5 |
20.2 |
6.3 |
22.5 |
4.5 |
-13.9 |
-18.0 |
-15,95 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
. |
. |
|
||||||||||||
+22,3 |
8.2 |
6.0 |
21.0 |
6.0 |
21.0 |
+15.0 |
+15.0 |
+15,00 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
10,00 |
|
||||||||||||
. |
8.3 |
11.0 |
16.0 |
11.0 |
16.0 |
+5.0 |
+5.0 |
+5,00 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
8,05 |
|
||||||||||||
. |
8.4 |
15.0 |
12.0 |
15.0 |
11.9 |
-3.0 |
3.1 |
-3,05 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
9,50 |
|
||||||||||||
. |
8.5 |
20.1 |
6.6 |
19.5 |
7.9 |
-13.5 |
-11.6 |
-12,55 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
1 |
6,80 |
|
||||||||||||
. |
8.6 |
23.1 |
3.8 |
23.2 |
3.8 |
-19.3 |
-19.4 |
-19,35 |
. |
. |
|
||||||||||||
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
. |
Σ |
69,35 |
||||||||||||
τ″ = 3.84″ на 0.8 мм τ″ = 9.6″ на 2 мм * 12 τдоп. = 12″
В даному випадку, для прикладу, в обробку узяті виміри по одному прийому, при повному дослідженні 4 прийомами в обробку беруться усі прийоми.
Значення τ знаходиться по кожному прийому і обчислюється його середнє значення або ж підсумовуються усі відліки в усіх чотирьох прийомах відразу по останніх колонках таблиці.
Таблиця 19 Визначення ціни ділення рівня на екзаменаторові. Нівелір Н05, μ = 1,0" .
Відлік за шкалою |
Прямий хід |
Зворотний хід |
Δl' |
τ |
||||||||||
Л |
П |
П-Л |
Δl |
Л+П |
Л |
П |
П-Л |
Δl |
Л+П |
|
|
|||
Об'єктив до гвинта екзаменатора, t = 21,6°З |
||||||||||||||
0 |
1,5 |
20,6 |
+19,1 |
. |
22,1 |
1,6 |
20,9 |
+19,3 |
. |
22,5 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,3 |
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
5,10 |
3,92 |
||
10 |
4,2 |
18,0 |
+13,8 |
. |
22,2 |
4,0 |
18,4 |
+14,4 |
. |
22,4 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,4 |
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
5,15 |
3,88 |
||
20 |
7,0 |
15,9 |
+8,4 |
. |
22,4 |
6,5 |
16,0 |
+9,5 |
. |
22,5 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,3 |
. |
. |
. |
. |
5,2 |
. |
5,25 |
3,80 |
||
30 |
9,5 |
12,6 |
+3,1 |
. |
22,1 |
9,0 |
13,3 |
+4,3 |
. |
22,3 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,3 |
. |
. |
. |
. |
5,0 |
. |
5,15 |
3,88 |
||
40 |
12,2 |
10,0 |
-2,2 |
. |
22,2 |
11,6 |
10,9 |
-0,7 |
. |
22,5 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,4 |
. |
. |
. |
. |
5,1 |
. |
5,25 |
3,80 |
||
50 |
15,0 |
7,3 |
-7,7 |
. |
22,3 |
14,1 |
8,3 |
-5,8 |
. |
22,4 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,3 |
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
5,10 |
3,92 |
||
60 |
17,6 |
4,6 |
-13,0 |
. |
22,2 |
16,5 |
5,8 |
-10,7 |
. |
22,3 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,3 |
. |
. |
. |
. |
5,1 |
. |
5,20 |
3,85 |
||
70 |
20,2 |
1,9 |
-18,3 |
. |
22,1 |
19,1 |
3,3 |
-15,8 |
. |
22,4 |
. |
. |
||
Окуляр до гвинта екзаменатора, t = 22,0°C |
||||||||||||||
150 |
2,0 |
20,4 |
+18,4 |
. |
22,4 |
2,2 |
20,1 |
+17,9 |
. |
22,3 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
.4.9 |
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
4,90 |
4,08 |
|
||
140 |
4,5 |
18,0 |
+13,5 |
. |
22,5 |
4,6 |
17,6 |
+13,0 |
. |
22,2 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,2 |
. |
. |
. |
. |
4,8 |
. |
5,00 |
4,00 |
||
130 |
7,1 |
15,4 |
+8,3 |
. |
22,5 |
7,0 |
15,2 |
+8,2 |
. |
22,2 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,0 |
. |
. |
. |
. |
5,2 |
. |
5,10 |
3,92 |
||
120 |
9,6 |
12,9 |
+3,3 |
. |
22,5 |
9,7 |
12,7 |
+3,0 |
. |
22,4 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
4,8 |
. |
. |
. |
. |
5,0 |
. |
4,90 |
4,08 |
||
110 |
11,9 |
10,4 |
-1,5 |
. |
223 |
12,1 |
10,1 |
-2,0 |
|
22,2 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
. |
. |
. |
4,90 |
. |
4,08 |
||
100 |
14,4 |
8,0 |
-6,4 |
. |
22,4 |
14,5 |
7,6 |
-6,9 |
. |
22,1 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
5,1 |
. |
. |
. |
. |
5,2 |
. |
5,15 |
3,98 |
||
90 |
17,0 |
5,5 |
-11,5 |
. |
22,5 |
17,0 |
5,1 |
-12,1 |
. |
22,1 |
. |
. |
||
. |
. |
. |
. |
4,9 |
. |
. |
. |
. |
5,1 |
. |
5,00 |
4,00 |
||
80 |
19,4 |
3,0 |
-16,4 |
. |
22,4 |
19,6 |
2,6 |
-17,0 |
. |
22,2 |
. |
. |
||
Δlср. = 5,08; τср. = 3,96″ • 2,5 = 9,9″; τ доп. = 12″
;
Детальне дослідження рівня робиться за допомогою екзаменатора (мал. 25), який є станиною 7, забезпечену трьома підйомними гвинтами 2. Балка 4 може нахилятися відносно горизонтальній осі 3 (у невеликих межах), нахил здійснюється обертанням микрометренного гвинта 6, а величина нахилу визначається за шкалою 7. Для приведення станини в горизонтальне положення служить круглий рівень 8.
Визначення ціни ділення рівня робиться таким чином. Після приведення екзаменатора по круглому рівню в робоче положення на балку паралельно її осі встановлюється увесь нівелір або тільки циліндричний рівень 5. Поряд з нівеліром (рівнем) на екзаменатор укладається термометр і вимірюється температура повітря з точністю до 0,1°З перед початком і у кінці кожного прийому. При виконанні досліджень зміна температури повітря в районі розташування екзаменатора не повинна перевищувати 2°С. В деяких конструкціях екзаменатора, з метою захисту рівня від тепла, витікаючого від тіла спостерігача і від його дихання, досліджуваний рівень закривається скляним ковпаком. Після того, як нівелір (рівень) прийме температуру навколишнього повітря приступають до досліджень, які виконуються в наступній послідовності.
Поворотом дзеркала, а при необхідності і застосуванням додаткового освітлення, забезпечується хороше рівномірне освітлення рівня.
Потім шкала 7 микрометренного гвинта встановлюється на початковий відлік.За допомогою элевационного гвинта бульбашка рівня переміщається в крайнє положення (до об' єктиву або окуляра), що дозволяє робити відліки по обох його кінцях (якщо на екзаменаторові встановлений тільки рівень, то переміщення бульбашки в крайнє положення робиться микрометренным гвинтом). Після того, як бульбашка рівня заспокоїться (для цього зазвичай необхідно біля однієї хвилини), робляться відліки по лівому і правому його кінцям (таблиця. 19). Потім, діючи на угвинчування (прямий хід), шкала вимірювального гвинта ретельно встановлюється на відліки 10, 20, ., 70, одночасно беруться відліки по кінцях бульбашки рівня.
У зворотному ході установка гвинта екзаменатора виконується на вигвинчування.
У другому прийомі зорова труба нівеліра (чи рівень) обертається на 180°, шкала гвинта екзаменатора встановлюється на відлік 150, а еліваційним гвинтом бульбашка рівня нівеліра знову встановлюється на початковий відлік.
Всього виконується два прийоми. Після їх закінчення виконуються обчислення в наступній послідовності.
1. Обчислюється різниця П - Л і сума П + Л відліків по правому і лівому кінцям бульбашки рівня.
2. Обчислюється величина Δl переміщення бульбашки рівня в прямому і зворотному ході, а також середня величина Δl′ цього переміщення
(34)
3. Після цього знаходиться середнє значення Δlcp. Переміщення бульбашки рівня з двох прийомів
,
(35)
де n - число різниць Δl′.
4. І, нарешті, обчислюється ціна ділення рівня, а також середнє її значення
,
(36)
де k - число ділень шкали, на яке обертається гвинт екзаменатора; μ - ціна ділення шкали екзаменатора.
Ціна ділення рівня τ, визначена на різних ділянках ампули, для нівелірів усіх типів не повинна відрізнятися від середнього значення τср. більш ніж на 20 %, що свідчитиме про правильність кривизни внутрішньої поверхні ампули досліджуваного нівеліра.
