- •Докт. Техн. Наук, професор кафедри вищої геодезії та астрономії ну «Львівська політехніка» Савчук с.Г.
- •1.1. Метрологія як наука про вимірювання
- •1.2. Основні етапи розвитку метрології
- •1.3. Метрологія: основні поняття та визначення
- •1.3. Основні поняття і визначення
- •1.4. Міжнародна система одиниць фізичних величин
- •1.5. Загальні поняття про технічні вимірювання
- •Контрольні питання
- •2.1. Види засобів вимірювань
- •2.4. Еталони, їхня класифікація і види
- •3.3. Відомча метрологічна служба
- •3.4. Державний метрологічний контроль і нагляд
- •3.4.1. Задачі державного метрологічного контролю і нагляду
- •3.4.2. Права й обов'язки державного інспектора
- •3.4.3. Відповідальність за порушення метрологічних правил
- •3.7. Метрологічне забезпечення й атестація нестандартизованих засобів вимірювання
- •3.8. Європейське і міжнародне співробітництво України в області метрології
- •Контрольні питання
- •Стандартизація
- •4.2. Нормативні документи зі стандартизації і види стандартів
- •4.3. Особливості застосування нормативних документів і характер їхніх вимог
- •4.4. Системи стандартів
- •5.1. Державна служба стандартизації
- •5.2. Відомча (галузева) служба стандартизації
- •5.6. Порядок розробки, побудови, викладання й оформлення технічних умов
- •5.7. Міжнародна і європейська діяльність україни в області стандартизації
- •Сертифікація
- •6.1. Основні поняття
- •6.2. Система сертифікації України
- •6.3. Законодавча і нормативна основа сертифікації
- •6.4. Організаційна структура і види діяльності УкрСепро
- •6.5. Основні функції структурних підрозділів і осіб Системи
- •6.6. Вимоги до органів з сертифікації й випробувальних лабораторій (центрів)
- •Розділ 7. Загальна характеристика геодезичних приладів, як засобів вимірювання
- •7.2. Конструкція кутомірних приладів, відлікові пристрої, перевірки і дослідження оптичних теодолітів
- •7.2.1. Структурна схема теодоліта і його основні частини
- •7.2.2. Відлікові пристрої оптичних теодолітів
- •7.2.3. Випробування, перевірки і юстирування теодолітів
- •Мал. 12. Розташування основних осей теодоліта
- •7.2.4. Дослідження теодолітів
- •1.Визначення середньої квадратичної помилки поєднання штрихів лімба.
- •2. Визначення середньої квадратичної помилки наведення.
- •3. Визначення середньої квадратичної помилки виміру горизонтального кута.
- •4. Визначення рена оптичного мікрометра.
- •Мал. 16. Схема поєднання штрихів лімба при визначенні рена
- •5. Визначення рена шкалового мікроскопа.
- •Визначення рена шкалового мікроскопа горизонтального круга теодоліта зт5к
- •6. Випробування правильності обертання алідади гк і визначення її ексценстриситету.
- •Мал. 17. Поєднання штрихів лімба на одній з установок алідади
- •Розділ 8. Конструкції сучасних нівелірів і їх особливості, перевірки і дослідження
- •8.1. Cтруктурная схема нівеліра і його основні частини
- •8.2. Перевірки і юстирування нівеліра
- •8.3. Дослідження нівелірів
- •2.Визначення ціни ділення рівня.
- •3 Визначення середньої квадратичної помилки суміщення кінців бульбашки циліндричного рівня.
- •5. Визначення найменшої відстані візування.
- •7. Дослідження нівелірів з компенсаторами.
- •Определение средней квадратической ошибки измерения превышения на станции
- •8.4. Перевірки і дослідження нівелірних рейок
- •Розділ 9. Повірки геодезичних приладів для вимірювання довжин ліній
- •9.1Електромагнітні далекоміри
- •9.1.1.Характеристика деяких типів електромагнітних далекомірів
- •9.1.2.Зміст перевірочних робіт
- •9.2. Проведення повірки світло-і радіодалекомірів
- •9.3.1Короткий огляд рулеток і землемірних стрічок
- •9.3.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для рулеток
- •10.3.3. Зміст і порядок виконання повірочних робіт для землемірних стрічок
- •Розділ 10.Повірки приладів для знімальних робіт
- •10.1. Короткий огляд приладів для наземних топографічних знімань
- •10.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для тахеометрів
- •10.3.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для бусолів
3 Визначення середньої квадратичної помилки суміщення кінців бульбашки циліндричного рівня.
Це дослідження робиться, як правило, одночасно з визначенням ціни ділення рівня, коли поблизу гвинта екзаменатора знаходиться окуляр нівеліра. Для виконання його еліваційним гвинтом бульбашка рівня виводиться приблизно на середину, а угвинчуванням гвинта екзаменатора ретельно поєднуються кінці бульбашки рівня. Якщо впродовж 5 - 10 секунд кінці бульбашки рівня не розійшлися, то робиться відлік за шкалою гвинта екзаменатора з точністю 0,1 ділень (таблиця. 20).
Потім, вигвинчуванням гвинта екзаменатора, кінці бульбашки рівня розводяться на 5-7 ділень, а подальшим угвинчуванням вони знову ретельно суміщаються, і робиться відлік за шкалою гвинта. Всього виконується 10 таких поєднань, що складає один напівприйом. При другому напівприйомі, що виконується в аналогічній послідовності, усі 10 поєднань кінців бульбашки рівня робляться вигвинчуванням гвинта екзаменатора. Всього виконується 3 - 5 таких прийомів.
Величина середньої квадратичної помилки суміщення кінців бульбашки рівня в кожному напівприйомі обчислюється за формулою Бесселя. А остаточне її значення - за формулою
,
(37)
де k - загальне число виконаних напівприйомів.
Таблиця 20 Визначення середньої квадратичної помилки поєднання кінців бульбашки рівня.
Нівелір Н05
№ п/п |
Відлік по гвинту (угвинчування) |
ν |
Відлік по гвинту (вигвинчування) |
ν |
1 |
38,2 |
+0,55 |
37,6 |
. |
2 |
37,4 |
- 0,25 |
37,2 |
- 0,32 |
3 |
37,3 |
- 0,35 |
37,9 |
+0,38 |
4 |
37,9 |
+0,25 |
37,4 |
- 0,12 |
5 |
37,5 |
- 0,15 |
37,4 |
- 0,12 |
6 |
37,8 |
+0,15 |
37,9 |
+0,38 |
7 |
37,4 |
- 0,25 |
37,4 |
- 0,12 |
8 |
37,8 |
+0,15 |
37,6 |
+0,08 |
9 |
37,9 |
+0,25 |
37,6 |
+0,08 |
10 |
37,3 |
- 0,35 |
37,2 |
- 0,32 |
Ср. = 37,65 |
Ср. = 37,52 |
|||
mсум.1 = 0,31″ |
mсум 2 = 0,25″ |
|||
mсум. = 0,28″
4. Визначення ціни ділення шкали оптичного мікрометра.
Оптичний мікрометр призначається для точнішого узяття відліку по рейці; тому до його вузлів висуваються певні точностные вимоги: до механізму, що нахиляє плоскопаралельну пластинку, середньої ціни ділення шкали мікрометра і її відхилення від номінального значення. Відмінність середньої ціни ділення шкали оптичного мікрометра від її номінального значення виникає, в основному, внаслідок неякісного виготовлення або зносу механізму, що нахиляє плоскопаралельну пластинку, і неякісного нанесення поділок на шкалі.
Дослідження виконуються в лабораторних умовах в наступній послідовності. Нівелір встановлюється на тумбі або добре встановленому штативі, а на відстані 6 - 10 м, строго вертикально, шкала з міліметровими (чи близькими до міліметра) діленнями. До початку досліджень шкалу компарують з помилкою, що не перевищує 0,007 мм. Дослідження виконуються шістьма прийомами, між якими підйомними гвинтами змінюється висота нівеліра на 0,8 - 1,0 мм (можна також змінювати і положення шкали). Прийом складається з прямого і зворотного ходів, причому в кожному прийомі перший штрих, на який наводиться биссектор, має бути різним.
Освітлення шкали має бути рівномірним і досить сильним.
Після приведення нівеліра в робоче положення ретельно суміщуються кінці бульбашки рівня (у нівеліра з компенсатором круглий рівень ретельно наводиться в нуль-пункт) і угвинчуванням барабанчика мікрометра биссектор послідовно наводиться на 5 - 8 штрихів (залежно від відстані між осями штрихів шкали). При цьому барабан мікрометра повинен обернутися від 0 до 100 - 105 ділень. Відліки за шкалою мікрометра робляться з точністю 0,1 ділень (таблиця. 21). При виконанні зворотного ходу барабан обертається на вигвинчування і биссектор наводиться на ті ж штрихи, але в зворотній послідовності. При обертанні барабана мікрометра на угвинчування і на вигвинчування необхідно постійно стежити за зображенням кінців бульбашки і при необхідності знову ретельно поєднувати.
Ціна ділення шкали оптичного мікрометра обчислюється за формулою
,
(38)
де b - довжина інтервалу шкали лінійки, відома за результатами компару- вання, мм;
а - число ділень шкали мікрометра.
Після обчислення середнього значення ціни ділення шкали мікрометра, робиться оцінка роботи механізму, що нахиляє плоскопаралельну пластинку. Для цього підраховується число позитивних і негативних різниць відліків, отриманих як різницю «угвинчування» мінус «вигвинчування», а потім знаходиться середня величина цієї різниці. Якщо середнє значення різниці з 6 прийомів буде більше одного ділення шкали, то при виконанні нівелювання наведення бісектора на штрих рейки необхідно виконувати обертанням барабана тільки в один бік, наприклад, на угвинчування.
