- •Раздел 2. Средства измерений оптических величин
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных
- •Раздел 1.Основы оптических измерений
- •1.1. Понятия об измерениях и измерительных средстствах
- •1.2.Классификация измерений
- •1.2.1. По виду измерений:
- •1.2.2.По методам измерений
- •1.4. Оценка результатов обработки данных измерения
- •1.3.2.Случайные погрешности (Сл.П)
- •1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
- •1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
- •2.1.1.Основые измерительные операции
- •5) Обработка результатов наблюдений и отсчетов.
- •2.1.2.Факторы, влияющие на точность измерения
- •2.1.3.Погрешности поперечных наводок
- •2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
- •2.2.Типовые средства оптических измерений
- •2.2.1. Тестовые объекты
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров. О куляр с призмой - куб
- •Окуляр Гаусса
- •Окуляр аббе
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров.
- •Окулярный микрометр с внутренним отсчетом
- •2.2.5. Коллиматоры
- •2.2.6. Зрительные и автоколлимационные трубы
- •Характеристики зт
- •2.2.7. Измерительные микроскопы
- •3.Разрешающая способность-а.
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла Характеристики оптического стекла:
- •3.1. Гониометрические методы
- •3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
- •4.0. Общие сведения.
- •4.1. Измерение линейных размеров
- •4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
- •4.1.2. Измерение толщин оптических деталей c помощью микроскопа
- •4.2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей
- •4.2.1. Механический метод
- •4.2.2. Автоколлимационный метод
- •4.2.2.1. Измерение малых радиусов кривизны сферической поверхности с помощью микроскопа.
- •4.2.2.2. Измерение больших радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью зрительной трубы
- •4.2.3. Интерференционный метод измерения радиусов кривизны сферических поверхностей (метод ньютона)
- •4.3. Измерение углов призмы , клиньев и клиновидности пластин
- •4.3.1.Способы измерения углов призм
- •4.3.2. Особенности измерения углов многогранника.
- •4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
- •3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
- •4.4. Контроль децентровки линз
- •Коллимационный метод
- •5. Измерение и контроль основных характеристик оптических приборов
- •5.1. Основные характеристики оптических приборов
- •5.2. Измерение фокусных расстояний
- •5.2.1. Метод увеличения
- •1. Измерение фокусного расстояния положительной оптической системы
- •2. Измерение фокусного расстояния отрицательной оптической системы
- •1. Окуляр 2. Дополнительная линза 3. Исследуемая оптическая система 4. Зрительная труба
- •3. Измерение фокусного расстояния короткофокусной оптической системы (микрообъектив, микроокуляр и т. Д.)
- •5.2.2. Метод угловых измерений
- •5.2.3. Автоколлимационный метод Русинова
- •5.2.4. Метод узловой точки
- •5.2.5. Метод Фабири-Юдина
- •5.3. Измерение фокальных отрезков
- •5.4. Измерение рабочих отрезков
- •5.4.1. Визуальный метод измерения
- •5.4.2. Фотографический метод
- •5.4.3. Интерференционный метод
- •5.4.4. Фотоэлектрический метод
- •5.5 Измерение углового увеличения оптических систем
- •5.5.1.Измерение углового увеличения телескопической системы
- •1. Измерение углового увеличения с помощью нивелирной рейки
- •2.Измерение углового увеличения с помощью коллиматора и зрительной трубы
- •5.6. Измерение видимого увеличения микроскопа
- •5.7 Измерение линейного увеличения микрообъектива ()
- •5.8. Измерения поля зрения оптических систем
- •5.8.1.Измерение угла поля зрения телескопической системы
- •1. С помощью нивелирной рейки (или по удаленным предметам)
- •3. С помощью широкоугольного коллиматора
- •5.8.2. Измерение поля зрения лупы и микроскопа
- •5.8.3. Измерение поля зрения фотографического объектива
- •5.9. Измерение диаметров входных и выходных зрачков d и d' и их положений
- •5.9.1. Измерение диаметров входных и выходных зрачков телескопической системы
- •5.9.2. Измерение диаметров входного и выходного зрачков фотографического и проекционного объективов
- •5.10 Измерение эффективного относительного отверстия фотографического объектива
- •5.11. Измерение основных светотехнических хараетристик оптических приборов
- •5.11.1. Измерение коэффициента виньетирования фотографических объективов
- •5.11.2 Измерение распределения освещенности в плоскости изображения
- •5.11.3. Измерение коэффициента светопоглощения оптической системы и стекла
- •5.11.4. Измерение коэффициента светорассеяния оптической системы
- •5.11.5. Измерение цветопередачи фотографических объективов
- •Метод контроля цветопередачи объективов на зонном фотометре
- •Список литературы
3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
Рефрактометры - приборы для измерения n в различных средах . Слово рефрактометр образован из 2-х слов: refraktus(лат.)-преломленный и metreo(гр.)-измеряю. Принцип измерения основан на явлении полного внутреннего отражения, возникающего в тех случаях, когда лучи света идут из среды , оптически более плотной, в среду менее плотную.
Д
ля
т. А и В запишем закон преломления
A n
д
ля
т. А
n
B
n Sin 90 = no Sin , (3.3)
д
ля
т. В
no Sin = Sin . (3.4)
С учетом того , что следует:
из (3.3) n= no Sin() = no (Sin Cos - Sin Cos) ,
из (3.4) Sin
= Sin
/ no
,
,
,
(3.5)
з
десь
в (3.5) при
90o,
при
90o ,
при =90o
(3.6) -рефрактометр Пульфриха,
при =60o
(3.7) -
рефрактометр Аббе.
Погрешность измерения для рефрактометра Пульфриха, полученная из (3.6) имеет вид, :
(3.8)
(3.9)
Проведем оценку допустимой погрешности измерения угла . При no= const. имеем n =0,5n-1Sin2 0,5n-1 ,
2nn , при n=1,5 =3n=4,5 10-5=9”.
Задание для самостоятельной работы: определить n для (3.5) и (3.7).
Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
4.0. Общие сведения.
Под конструктивными параметрами оптических деталей понимают : линейные размеры деталей, радиусы линз, зеркал, углы призм, клиньев.
При измерении этих параметров применяются следующие методы:
1. Механический - деталь соприкасается с мерительным инструментом.
2
.
Оптические методы: применяются
в тех случаях,
- коллимационный когда механический метод
- автоколлимационный не позволяет получить задан
- интерференционный ную точность или контакт при
- поляризационный измерении нежелателен или
- голографический невозможен.
Фотоэлектрический метод, где оптическая информация преобразуется фото-электронными средствами. Это метод прогрессивной технологии оптического приборостроения и применяется для автоматизации процессов измерения.
4.1. Измерение линейных размеров
Проводят с помощью спец. измерительных средств: оптических микрометров, компараторов , оптиметров, длинномеров, измерительных машин, оптикаторов ,измерительных микроскопов.
4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
В основу его устройства и измерения положен принцип компарирования (компаратор (лат) - сравнивающий). Суть метода измерения состоит в том, что ось измерения (шкалы) и ось измерительной детали должны быть параллельны между собой . Компаратор (Рис4.1) состоит из микроскопов: 4- отсчетного, 7- визирного; 1,5,10 - основания, 9- подвижного столика, 3- шкалы.
Оси микроскопов параллельны между собой и перпендикулярны к подвижному столику, микроскопы жестко соединены между собой и с основанием прибора. Шкала и детали крепятся на подвижном столике и параллельны между собой.
Рассмотрим погрешность измерения с помощью компаратора.
Пусть измеряемая деталь размером L установлена относительно шкалы 3 с погрешностью . При этом измеренная длина Lд детали и погрешность ее измерения L будут равны
а2
L
а1
Lд=
a1 -
a2 =L
cos
L = L - Lcos= L(1-cos) = Lsin2 L2/2 (4.1)
т.е. имеем погрешность второго порядка малости.
Рис.4.1. Компаратор
При измерениях,когда перемещаются микроскопы, то погрешность измерения имеет первый порядок малости ( L = H ,где H- расстояние от измеряемой детали до точки крепления микроскопов).
По принципу компарирования построены компараторы типа:
-ИЗА - 2 (продольный) - L = 0- 200 мм L = 0,1 мкм
-ИЗВ - 1 (2,3) -(вертикальный) - L= 0- 100 мм
-ИКУ - (горизонтальный длинномер) - L=0- 250 мм
