- •Раздел 2. Средства измерений оптических величин
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных
- •Раздел 1.Основы оптических измерений
- •1.1. Понятия об измерениях и измерительных средстствах
- •1.2.Классификация измерений
- •1.2.1. По виду измерений:
- •1.2.2.По методам измерений
- •1.4. Оценка результатов обработки данных измерения
- •1.3.2.Случайные погрешности (Сл.П)
- •1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
- •1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
- •2.1.1.Основые измерительные операции
- •5) Обработка результатов наблюдений и отсчетов.
- •2.1.2.Факторы, влияющие на точность измерения
- •2.1.3.Погрешности поперечных наводок
- •2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
- •2.2.Типовые средства оптических измерений
- •2.2.1. Тестовые объекты
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров. О куляр с призмой - куб
- •Окуляр Гаусса
- •Окуляр аббе
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров.
- •Окулярный микрометр с внутренним отсчетом
- •2.2.5. Коллиматоры
- •2.2.6. Зрительные и автоколлимационные трубы
- •Характеристики зт
- •2.2.7. Измерительные микроскопы
- •3.Разрешающая способность-а.
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла Характеристики оптического стекла:
- •3.1. Гониометрические методы
- •3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
- •4.0. Общие сведения.
- •4.1. Измерение линейных размеров
- •4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
- •4.1.2. Измерение толщин оптических деталей c помощью микроскопа
- •4.2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей
- •4.2.1. Механический метод
- •4.2.2. Автоколлимационный метод
- •4.2.2.1. Измерение малых радиусов кривизны сферической поверхности с помощью микроскопа.
- •4.2.2.2. Измерение больших радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью зрительной трубы
- •4.2.3. Интерференционный метод измерения радиусов кривизны сферических поверхностей (метод ньютона)
- •4.3. Измерение углов призмы , клиньев и клиновидности пластин
- •4.3.1.Способы измерения углов призм
- •4.3.2. Особенности измерения углов многогранника.
- •4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
- •3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
- •4.4. Контроль децентровки линз
- •Коллимационный метод
- •5. Измерение и контроль основных характеристик оптических приборов
- •5.1. Основные характеристики оптических приборов
- •5.2. Измерение фокусных расстояний
- •5.2.1. Метод увеличения
- •1. Измерение фокусного расстояния положительной оптической системы
- •2. Измерение фокусного расстояния отрицательной оптической системы
- •1. Окуляр 2. Дополнительная линза 3. Исследуемая оптическая система 4. Зрительная труба
- •3. Измерение фокусного расстояния короткофокусной оптической системы (микрообъектив, микроокуляр и т. Д.)
- •5.2.2. Метод угловых измерений
- •5.2.3. Автоколлимационный метод Русинова
- •5.2.4. Метод узловой точки
- •5.2.5. Метод Фабири-Юдина
- •5.3. Измерение фокальных отрезков
- •5.4. Измерение рабочих отрезков
- •5.4.1. Визуальный метод измерения
- •5.4.2. Фотографический метод
- •5.4.3. Интерференционный метод
- •5.4.4. Фотоэлектрический метод
- •5.5 Измерение углового увеличения оптических систем
- •5.5.1.Измерение углового увеличения телескопической системы
- •1. Измерение углового увеличения с помощью нивелирной рейки
- •2.Измерение углового увеличения с помощью коллиматора и зрительной трубы
- •5.6. Измерение видимого увеличения микроскопа
- •5.7 Измерение линейного увеличения микрообъектива ()
- •5.8. Измерения поля зрения оптических систем
- •5.8.1.Измерение угла поля зрения телескопической системы
- •1. С помощью нивелирной рейки (или по удаленным предметам)
- •3. С помощью широкоугольного коллиматора
- •5.8.2. Измерение поля зрения лупы и микроскопа
- •5.8.3. Измерение поля зрения фотографического объектива
- •5.9. Измерение диаметров входных и выходных зрачков d и d' и их положений
- •5.9.1. Измерение диаметров входных и выходных зрачков телескопической системы
- •5.9.2. Измерение диаметров входного и выходного зрачков фотографического и проекционного объективов
- •5.10 Измерение эффективного относительного отверстия фотографического объектива
- •5.11. Измерение основных светотехнических хараетристик оптических приборов
- •5.11.1. Измерение коэффициента виньетирования фотографических объективов
- •5.11.2 Измерение распределения освещенности в плоскости изображения
- •5.11.3. Измерение коэффициента светопоглощения оптической системы и стекла
- •5.11.4. Измерение коэффициента светорассеяния оптической системы
- •5.11.5. Измерение цветопередачи фотографических объективов
- •Метод контроля цветопередачи объективов на зонном фотометре
- •Список литературы
1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
В практике оптических измерений применяются статистические (многократные), технические и однократные измерения. Критерием их применимости является определенные соотношения между случайной (сл) и нескомпенсированной систематической (нс) погрешностями.
1.5.1.Технические измерения проводятся с помощью таких измерительных приборов, предел суммарной погрешности которых гарантируется заводом изготовителем или метрологическими службами (при соблюдении ТУиИЭ), при этом должно обеспечиваться
нс 0,6 (2.13)
1.5.2. При однократных (иногда их называют обыкновенными) измерениях их погрешности определяются только нс, т.к. cл малы (сл) и пренебрегаются ,что соответствует условиям
хпред нс hx (2.14)
здесь h-цена деления отсчетного устройства, нс пред - паспортные или метрологические данного прибора, 4- оптические измерения,8- прочие измерения.
1.5.3. Статистические измерения проводятся в том случае, когда случайные погрешности преобладают или соизмеримы с систематическими.
При этом должны выполняться следующие условия
или
(2.15)
и априорные оценки
,
,
где
-
погрешность наводок (в оптических
измерениях ).
В этом случае суммарная погрешность определяется оценками вида
(2.16)
где
,
,
(j=1,m) ,m- число составляющих
нсj ,
.
Б
лок-схема
алгоритма вычисления погрешностей
В
ыводы.
При выполнении измерений кроме
числовых результатов эксперимента
следует записывать: время проведения
эксперимента (с точностью
до часа), температуру, давление,
влажность окружающей среды и другие
внешние условия, влияющие на результаты
эксперимента.
Таким образом, согласно указанным выражениям можно решать прямую и обратную задачи определения точности измерения.
Прямая задача позволяет по данным измерения определить суммарную погрешность измерения.
Обратная задача позволяет по заданной общей погрешности определить требования к ее составляющим ,в том числе к измерительным приборам , и назначить число n, вероятность P. А также позволяет определить возможно ли решить поставленную задачу измерения.
Эти задачи обычно решаются при разработке ТУ и ТЗ прибора.
1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
Схемы измерительных приборов (ИП) прямого и компенсационного преобразования представим на Рис.1.6.1 и Рис. 1.6.2 соответственно
Рис.2.6.1 Рис.2.6.2
1.6.1. Пусть ИП состоит из N последовательно соединенных элементов, имеющих функциональные зависимости
,
;
,
,
1.6.2. Аналогично п. 1.6.1 получим
у=к/(1+к)х ( )х ( i ) х ; при к
ln у=-ln i +ln х ;у/у= - i i) +х / х , хуi
1.7.ПОГРЕШНОСТИ КОСВЕННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ
Пусть измеряемая величина описывается функционально
Запишем ее полный дифференциал
,
,
тогда
,
Если каждая из составляющих величин
xi измерена прямым измерением
и известна
,
то
Рассмотрим частные случаи:
1)
,
,
2)
,
3)
Раздел 2. СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ОПТИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН
2.1. ОБОБЩЕННАЯ ОПТИКО - ЭЛЕКТРОННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ УСТАНОВКА
Оптико - электронную измерительную установку можно представить в виде функциональной схемы, составленной из крупных блоков или узлов, логически необходимых для проведения оптических измерений
12
1 2 3 4 3 5 6 7 8
Рис.2.1 Функциональная схема О-Э измерительного устройства
На Рис.2.1 обозначены:
-1-ОСВЕТИТЕЛЬ(конденсор с лампой, лазерный или естественный источник света),который служит для создания равномерной освещенности;
-2-ТЕСТ-ОБЪЕКТ - это специального вида измерительный элемент (точка,щель,перекрестье,растр,мира и т. п.);
-3- оптические системы изображающие (ОС),которые формируют изображение тест-объекта с целью изучения характеристик исследуемой ОС и представляют собой одну из четырех типов ОС: 00-зрительная труба, 01-01-объектив,10-микроскоп,11-репродукционный объектив; 1,2,3- единый функциональный блок (например,коллиматор) , служащий для получения входной измерительной информации о тест- объекте;
-4- ОБЪЕКТ ИЗМЕРЕНИЯ;
-6-АНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЯ ,который состоит из специального анализирующего(отсчетного) устройства 5-сетки, марки, сканирующей щели, диска с растрами и т.п. и приемника излучения 12- глаз или фотоприемник ;анализатор изображения выделяет информацию о рассогласовании между изображением тест-объекта и нулем отсчетного устройства, эта информация может быть двух видов:
1) электрический сигнал(фотоэлектрический анализатор, напр. ФЭУ),
2) зрительно-нервный(в визуальных анализаторах- ГЛАЗ человека).
Операция совмещения изображения тест-объекта с изображением анализатора наз. наведением, узлы 3,5,6 -устройствами наведения.
- 7-УСТРОЙСТВА ОБРАБОТКИ (УО), которые представляют собой аналоговые и аналого-цифровые преобразователи, передающие информацию в ЭВМ или оператору (автоматические или полуавтоматические устройства обработки). С помощью УО выполняют две задачи: 1-ая - операция наведения по сигналу рассогласования воздействием на устройства 6 7 11 9 6 , 2-ая -преобразование сигнала с отсчетного устройства в вид удобный для документирования 1178.
- 8 - РЕГИСТРИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО (РУ)
- 9 - УСТАНОВОЧНОЕ УСТРОЙСТВО (УУ),которое служит для установки и перемещения отдельных при настройке и измерении. Оно представляет собой станину (корпус) с направляющими. Сюда могут входить передаточные механизмы, привода и фиксаторы. УУ непосредственно связано с отсчетным устройством, которое позволяет фиксировать смещение узлов.
- 10 - ОТСЧЕТНОЕ УСТРОЙСТВО (ОУ) , которое предназначено для получения измерительной информации в форме, удобной для восприятия и передачи в устройства обработки и регистрации. ОУ - это сложные механические, оптические и оптико-механические узлы, имеющие развертывающие устройства для определения дробных частей шкалы(напр. окулярные микрометры, винтовые микрометры и т.п.).
- 11 - УПРАВЛЯЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, которое предназначено для воспроизведения программы наводки, измерения, обработки и регистрации в автоматическом и полуавтоматическом режимах измерения.
