- •Раздел 2. Средства измерений оптических величин
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных
- •Раздел 1.Основы оптических измерений
- •1.1. Понятия об измерениях и измерительных средстствах
- •1.2.Классификация измерений
- •1.2.1. По виду измерений:
- •1.2.2.По методам измерений
- •1.4. Оценка результатов обработки данных измерения
- •1.3.2.Случайные погрешности (Сл.П)
- •1.5. Некоторые особенности измерения и обработки данных
- •1.6.Погрешности измерения прямого и компенсационного преобразования
- •2.1.1.Основые измерительные операции
- •5) Обработка результатов наблюдений и отсчетов.
- •2.1.2.Факторы, влияющие на точность измерения
- •2.1.3.Погрешности поперечных наводок
- •2.1.4.Погрешности продольной наводки (фокусировки)
- •2.2.Типовые средства оптических измерений
- •2.2.1. Тестовые объекты
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров. О куляр с призмой - куб
- •Окуляр Гаусса
- •Окуляр аббе
- •2.2.4. Окулярные микрометры позволяют с высокой точностью производить расчеты при измерениях. Рассмотрим принципиальные схемы наиболее часто применяемых окуляр-микрометров.
- •Окулярный микрометр с внутренним отсчетом
- •2.2.5. Коллиматоры
- •2.2.6. Зрительные и автоколлимационные трубы
- •Характеристики зт
- •2.2.7. Измерительные микроскопы
- •3.Разрешающая способность-а.
- •Раздел 3. Измерение характеристик оптического стекла Характеристики оптического стекла:
- •3.1. Гониометрические методы
- •3.2. Измерение коэффициента преломления рефрактометрическим методом
- •Раздел 4. Измерение и контроль конструктивных параметров оптических деталей.
- •4.0. Общие сведения.
- •4.1. Измерение линейных размеров
- •4.1.1. Измерение с помощью компаратора.
- •4.1.2. Измерение толщин оптических деталей c помощью микроскопа
- •4.2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей
- •4.2.1. Механический метод
- •4.2.2. Автоколлимационный метод
- •4.2.2.1. Измерение малых радиусов кривизны сферической поверхности с помощью микроскопа.
- •4.2.2.2. Измерение больших радиусов кривизны сферических поверхностей с помощью зрительной трубы
- •4.2.3. Интерференционный метод измерения радиусов кривизны сферических поверхностей (метод ньютона)
- •4.3. Измерение углов призмы , клиньев и клиновидности пластин
- •4.3.1.Способы измерения углов призм
- •4.3.2. Особенности измерения углов многогранника.
- •4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
- •3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
- •4.4. Контроль децентровки линз
- •Коллимационный метод
- •5. Измерение и контроль основных характеристик оптических приборов
- •5.1. Основные характеристики оптических приборов
- •5.2. Измерение фокусных расстояний
- •5.2.1. Метод увеличения
- •1. Измерение фокусного расстояния положительной оптической системы
- •2. Измерение фокусного расстояния отрицательной оптической системы
- •1. Окуляр 2. Дополнительная линза 3. Исследуемая оптическая система 4. Зрительная труба
- •3. Измерение фокусного расстояния короткофокусной оптической системы (микрообъектив, микроокуляр и т. Д.)
- •5.2.2. Метод угловых измерений
- •5.2.3. Автоколлимационный метод Русинова
- •5.2.4. Метод узловой точки
- •5.2.5. Метод Фабири-Юдина
- •5.3. Измерение фокальных отрезков
- •5.4. Измерение рабочих отрезков
- •5.4.1. Визуальный метод измерения
- •5.4.2. Фотографический метод
- •5.4.3. Интерференционный метод
- •5.4.4. Фотоэлектрический метод
- •5.5 Измерение углового увеличения оптических систем
- •5.5.1.Измерение углового увеличения телескопической системы
- •1. Измерение углового увеличения с помощью нивелирной рейки
- •2.Измерение углового увеличения с помощью коллиматора и зрительной трубы
- •5.6. Измерение видимого увеличения микроскопа
- •5.7 Измерение линейного увеличения микрообъектива ()
- •5.8. Измерения поля зрения оптических систем
- •5.8.1.Измерение угла поля зрения телескопической системы
- •1. С помощью нивелирной рейки (или по удаленным предметам)
- •3. С помощью широкоугольного коллиматора
- •5.8.2. Измерение поля зрения лупы и микроскопа
- •5.8.3. Измерение поля зрения фотографического объектива
- •5.9. Измерение диаметров входных и выходных зрачков d и d' и их положений
- •5.9.1. Измерение диаметров входных и выходных зрачков телескопической системы
- •5.9.2. Измерение диаметров входного и выходного зрачков фотографического и проекционного объективов
- •5.10 Измерение эффективного относительного отверстия фотографического объектива
- •5.11. Измерение основных светотехнических хараетристик оптических приборов
- •5.11.1. Измерение коэффициента виньетирования фотографических объективов
- •5.11.2 Измерение распределения освещенности в плоскости изображения
- •5.11.3. Измерение коэффициента светопоглощения оптической системы и стекла
- •5.11.4. Измерение коэффициента светорассеяния оптической системы
- •5.11.5. Измерение цветопередачи фотографических объективов
- •Метод контроля цветопередачи объективов на зонном фотометре
- •Список литературы
4.3.3. Измерение углов оптических клиньев
Рассмотрим наиболее распространенные методы:
1.Автоколлимационный. 2.Интерференционный. 3.Фотоэлектрический.
1. Автоколлимационные способы : рассмотрим только 3 из них:
а) с помощью гониометра ( Рис 4.6, см.п.5.3.1) = [180 - (a1 - a2)],
б) с помощью Ак. Для т.А (Рис.4.7) запишем закон преломления
nsin2
= 1sin
, при
- малом
n2
,
n =
[a1 -
a2] /
2n
а2
а1 а1
Зт Зт А А
а2 а2 а2
Рис.4.6 Рис.4.7 Aк Рис.45.8 Aк
в) третий способ является следствием 2-го способа (Рис.4.8) и заключается в том, что поворотом призмы с лимбом автоколлимационное изображение совмещают с перекрестием Ак и отсчет значения производят по лимбу .
nsin = 1sin n =(а2 - а1)/n
П
огрешности:
для 2-го и 3-го способа, проведя
логарифмическое дифференцирование,
получим =
( - n/n)
z
,y).
2.Интерференционный метод (Рис.5.9)применяется для более точных измерений клиньев с углами в несколько минут. Для этой цели используют интерферометры. Пучки лучей, идущие от К., отражаются от граней клина и образуют интерференционную картину в виде полос равного наклона, параллельных ребру клина, из Рис. h = y = N / 2n, = N / 2ny
М Доказать ,что погрешность Nлу.
К h Используя интерферометры можно
у определить не только клиновидность Рис.4.9 плоскопараллельной пластинки, но и
выделить положение ребра и основание клина. В этом случае используют интерферометры, работающие в сходящемся пучке лучей, где вместо микроскопа (М) применяют ЗТ.
3.Фотоэлектрический метод (омп 1975, n5, c. 27-28)
А.Г. Якушенковым (МИГиК) предложена фотоэлектрическая установка для контроля клиновидности пл. парал. пл-нок. Технические характеристики: диапазон измер.- 20’’, погрешность 0,3’’
П
ринципиальная
схема (Рис.5.10а)
15 16
-f f ‘д а)
1 2 3 4 5 12 13 14
7 8’ 8 9 10 11
6
Рис.4.10
Обозначения:1- коллиматор,2-клин, 3- объектив датчика, 4- оптический компенсатор,5-зеркальные конденсоры, 6-модулятор,7-разделительная призма,8- фотоприемник, 8’-
б) обтюратор, 9-усилитель, 10- привод, 11- индикаторный прибор,
12,13-осветитель шкалы, 14,15-проекционная система, 16- экран, (3-8) - датчик,(3-11)- следящая система, 10- обтюратор.
Для т.А (Рис.5.10 б) из закона преломления: + = n (n-1)
Принцип измерения. Световой поток, прерываемый модулятором 6 проходя через клин 3, объективами 4,5 проектируется на разделительную призму 7 и с помощью зеркал 5 формируется на фотоприемнике 8.
Если поток симметричен относительно ребра призмы 7, то за один период вращения обтюратора 10’ на фотоприемнике Uср = u(t) = 0
При наличии клина Uср 0, тогда привод отрабатывает это рассогласование за счет обратной связи до нуля и на выходе приборов 11,16 имеем
(n-1) = y/ f’ (n-1), = y/ [f’ (n-1)]
