- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
Процесс поиска состоит из ряда направленных испытаний (или функциональных проб) с последующей оценкой их результатов.
Функциональная проба или прост испытание – это испытание, состоящее в оценке работоспособности отдельного функц или энергетического элемента в системе по комплексному выходному параметру(главн вых функции испытываемого элемента).
способы поиска причин отказов: -способ внешнего осмотра; -способ сравнения, сопоставлении результатов испытаний;-способ замены устройств; -способ последовательных промежуточных измерений в контрольных точках; -способ исключения.
Основными параметрами: количество испытаний К и общая трудоемкость Т, выраженная в форме суммы затрат времени на проведение каждого испытания, вход в данную последовательность. Оптим последовательность - та, у которой К и Т – мin.
Процесс поиска причины отказа в сложной системе с приведенной последовательной структурой сделаем следующие допущения: 1. Система подразделяется на компактные элементы с последоват функц связью. 2. Разделение системы на элементы произведено так, что отказ 1 элемента не влияет на других. 3. Элемент -отказавший, если сигналы на его выходах отсутствуют или отклоняются от номиналов при наличии нормальных сигналов и энергии на его входах. 4. Система рассматривается в период нор эксплуатации, поток отказов сис-мы облад свойством ординарности и стационарности. Нормальный период – это период эксплуатации РЭА, во время которого наблюдается постоянство интенсивности отказов этой РЭА.
Поток отказов ординарный, если вероятность одновременного отказа двух и более элементов равна нулю, стационарный, если по мере возникновения отказов в процессе эксплуатации системы интенсивность отказов не меняется.
Метод последовательного поиска: испытания элементов проводят в порядке их расположения в структурной схеме системы (от первого к последнему либо от последнего к первому). При этом методе количество испытаний, необходимых для отыскания причин отказа, меняется от 1 до n-1. Выбор места последующего испытания не зависит от результатов предыдущих испытаний.
При использовании метода последовательного поиска количество необходимых испытаний заранее неизвестно, так как никаких сведений о том, какой именно элемент вышел из строя. Испытания всех элементов, предшествующих отказавшему, в принципе можно считать излишними, т.к. положительный результат испытания каждого последующего элемента только подтверждает исправность всех предыдущих.
2. Метод комбинированного поиска: точки проведения испытаний выбирают таким образом, что каждое испытание делит систему на две части, только в одном из которых может находиться отказавший элемент. При этом исключается из дальнейшего рассмотрения целая группа взаимосвязанных элементов. Выбор места каждого последующего испытания зависит от результатов предыдущих испытаний.
В простейшем варианте метод комбинированного поиска определяется как «метод средней точки», что лишь от части отражает его смысл поскольку такое определение не учитывает относительных вероятностных характеристик элементов системы (вероятности отказов Рi) и затрат времени на их испытания (трудоемкость испытаний Тi).
