- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
Относит вероятность отказа всей системы в целом по причине отказа именно данного j–го элемента можно изобразить графически. график характеризует дифференц распределение относит вероятности состояния 8ми элементов, составляющих одну систему. Относительная вероятность состояния системы – это вероятность отказа этой системы из-за отказа какой-то j-го элемента. Если в течение Т часов работы системы, состоящей из n элементов, имели место N отказов (N>>n), то ожидаемое количество отказов j-го элемента приблизительно равно Nj=N·p(Hj) т.е. p(Hj)=Nj/N.
1Дифференц распределен относит вероятности отказа системы.
2 Интегралmy фун распределения относительной вероятности отказа системы.
1
2
Универсальн
харак-ка возможных состояний системы
- интегральная фун распред вероятностей
состояний
,
характеризует вероятность
обнаружения отказавш эл-та при последоват
проверке этих эл-ов от вх к выходу.
Известно: 1.признаком отказа является отсутствие сигналов на выходе данного тракта.
2.Сигнал на входе имеется. 3.в схемах отсутствуют перегрузки и неисправность не влияет на общий источник питания. 4.О состоянии элемента в сл наличия сигнала на входе этого элемента можно судить по состоянию сигнала на его выходе. 5.Для испытания кажд элемента по комплекс вых параметру требуется одинаковое время.
П
редположим,
что вероятности всех возможных состояний
равны друг другу p(H1)=p(H2)=...=p(Hn)=1/n,
.
неопределенность состояния системы
максимальна и первое испытание может
быть проведено в любой точке испытываемого
тракта. Задача поиска: мах уменьшен
неопределенности относительно состояния
непроверенной части системы. Тракт
разделяется первым испытанием на 2
равные части. Второе испытание выбирается
в той части, в кот содержится поврежденный
элемент (если первое испытание дало «+»
результат – контролир сигнал
соответстнорме, - то поврежденный элемент
находится в последующей за контролируемой
точкой части элементов). Деление до тех
пор, пока в кажд из выделяющихся
подмножеств не останется по 1эл-ту и
неопределённость -> к 0.
60. Оптимизация поиска неисправностей с учетом временных затрат.
Трудоемкость простых испытаний (функциональных проб) обычно выражают средним количеством времени, которое необходимо одному человеку (оператору) для проведения данного испытания. Это время определяется посредством статистической обработки результатов многих испытаний.
В случае равенства относительных вероятностей состояний элементов отказавшей системы в первую очередь проверяется элемент системы, для которого трудоемкость испытаний минимальна. Такая очередность сокращает общую длительность последовательного поиска.
В любых других случаях комплексный критерий для выбора оптимальной последовательности поиска Uj может быть записан в простейшем виде:
U
j=p(Hj)/tj
где tj – время испытания j-го элемента.
Рис.13.8. Формальные схемы поиска неисправности в последовательном тракте с криволинейным распределением вероятностей состояний элементов тракта.
Д
ля
выбора оптимальной последовательности
поиска достаточно знать лишь относительные
характеристики элементов, следовательно
критерий Uj
может быть заменен критерием
,
который определяется соотношением:
.
Значение
лежит в пределах между 0 и 1 и, кроме того
.
Если известны значения относительных критериев для элементов испытуемой системы, то можно построить ступенчатые дифференциальные и интегральные функции распределения критериев. Затем по интегральному распределению строится формальная модель схемы поиска причины отказа, учитывающая и вероятности состояний элементов и необходимые затраты времени на их испытания.
Количество
необходимых испытаний в полученных
таким способом последовательностях
поиска и продолжительность комплексных
испытаний могут значительно отличаться
от тех, которые получаются для моделей
поиска. Построенных только с учетом
или
.
61. Поиск неисправностей в системах узловыми элементами совпадения.
элементы, связанные с элементов совпадения, не оказывают непосредственного влияния друг на друга. Поэтому выход из строя одного из элементов не вызывает отказа другого элемента. Вместе с тем отсутствие сигнала на одном из входов элемента совпадения вызывает исчезновение сигналов на его выходе.
О
тсутствие
послед связи между элементами, входящими
в группу элемента совпадения, приводит
к невозможности оценки состояния эл-ов
этой группы по наличию или отсутствию
сигнала на выходе одного элемента
совпадения (рис.13.9). Рис.13.9.
Фрагмент схемы сис-мы элементов
совпадения.
Рассчитанные
относительные критерии состояний
элементов, входящих в группу элемента
совпадения, могут быть использованы
только для перенумерации элементов
группы в порядке убывания величин
относительных критериев состояний
(рис.13.10).
Рис.13.10. Последовательность поиска неисправностей в системе с узловым элементом совпадения.
Сначала производятся испытания элементов, сопряженных с элементом совпадения, в порядке уменьшения значений относительных критериев состояний, а затем, если все сопряженные элементы исправны, производится испытание самого элемента совпадения.
Е
сли
после элемента совпадения в системе
имеются еще элементы, причем обладающие
вероятностью безотказной работы более
низкой по сравнению с элементом совпадения
и примыкающей к нему группой элементов
(рис.13.11),
то поиск неиправности начинают обычно
с проверки сигнала на выходе элемента
совпадения (точка С), и если сигнал на
его вых присутствует, то поиск осуществляют
в группе эл-ов, примыкающ к вых элементов
совпадения.
Рис.13.12. Варианты послед-ти поиска неисправности в схеме с узловым элементом совпадения.
