- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
Электропрогон осуществляют для того, чтобы за время проявления дефекта успеть "поймать дефект" каким-либо из рассмотренных способов, а также, чтобы проверить качество произведенного ремонта.
При электропрогоне проявляются: дефекты внутренней структуры элементов, дефекты, связанные с взаимным замыканием близко расположенных элементов вследствие их линейного расширения при нагреве.
Электропрогон целесообразно совмещать с другими методами поиска неисправности (методами простукивания, анализа монтажа и др.). Целесообразно при этом время от времени изменять напряжение питания в пределах, оговоренных в ТУ.
Электропрогон более эффективен и осуществляется с меньшими затратами времени, если одновременно осуществлять тепловой удар. Если дефект проявился, то следует вынуть из корпуса и продолжить электропрогон, закрыв плотной материей (тем самым добиваются осуществления теплового удара).
При достижении устойчивого проявления дефекта следует приоткрыть материю и оперативно, чтобы не нарушить тепловой режим, произвести измерение электрических режимов, анализ монтажа, осуществить замену или исключение каких-либо элементов и т.п.
Пропадание или проявление дефекта при этом указывает на неисправность данного элемента. Желательно заканчивать ремонт электропрогоном, длительность которого должна быть: после замены радиоэлементов - 4 ч, после регулировки и настройки - 2 ч.
Метод простукивания применяется в тех случаях, когда при механических воздействиях на СМЭ изменяются его выходные параметры. При некоторых дефектах работу СМЭ на непродолжительное время удается восстановить, ударив по его корпусу, нажав на крышку и т.п.
Причинами подобных явлений могут служить: Нарушение механических контактов из-за загрязнения, уменьшения упругости, деформации; Нарушение физической структуры материала с образованием ненадежного механического контакта (место проявления таких дефектов: пайки, проводники, выводы транзисторов и микросхем и т.п.); Большой люфт сердечника в катушках индуктивности; Взаимное замыкание близко расположенных элементов; Замыкание.
Метод простукивания можно представить состоящим из двух этапов: выявление подверженности параметров механическим воздействиям и определения неисправного элемента.
Для выявления дефекта следует ударять по корпусу в различных направлениях - сверху, с боков. Для этого удобно использовать специальный молоточек, используя для его изготовления кусок литой резины.
Ненадежный контакт может проявляться двояко: его внешнее проявление на простук может пропадать, а может быть уверенным и постоянным.
В первом случае для определения дефекта энергичными ударами резинового молоточка или рукой следует добиться устойчивого проявления дефекта. Затем, когда дефект проявился, крайне осторожно следует с помощью измерительных приборов попытаться отыскать неисправный элемент. Если при этом дефект случайно пропал, нужно энергично постучать по телевизору до устойчивого его проявления.
Для определения дефекта во втором случае добиться отсутствия проявления дефекта, предварительно ориентировочно определив область простука. Для поиска дефекта необходима тонкая, диаметром 6...8 мм палочка из изоляционного материала; ее поверхность будет негладкой, шершавой. Если место ненадежного контакта задевается палочкой - дефект проявляется сильно и резко.
При поиске места ненадежного контакта следует чередовать нажим палочки на печатную плату от слабого (при сильном проявлении дефекта) до значительного (когда дефект проявляется слабо).
При высокой плотности монтажа для выявления дефекта на предполагаемые неисправные элементы следует нажимать шилом, на острую часть которого надета изолирующая трубка.
Метод простукивания требует определенных навыков, а сама процедура поиска ненадежного контакта в ряде случаев может оказаться довольно трудоемкой и длительной.
