- •6. Измерение фазового сдвига
- •6.1. Общие сведения и классификация приборов для измерения фазового сдвига
- •6.2. Измерение фазового сдвига методом суммы и разности напряжений
- •Преобразование частоты в фазометрах
- •6.3. Нулевой метод
- •Измерительные фазовращатели
- •6.4. Метод преобразования фазового сдвига в интервал времени
- •Неинтегрирующие цф
- •Интегрирующие цф
- •6.5. Коммутационно-модуляционный метод
- •7. Исследование формы, спектра и нелинейных искажений сигналов
- •7.1. Классификация приборов для исследования формы, спектра и нелинейных искажений сигналов
- •7.2. Обобщенная структурная схема и основные параметры электронно-лучевого осциллографа
- •Основные параметры канала y
- •7.3. Универсальные осциллографы
- •7.3.1.Одноканальные осциллографы
- •Канал вертикального отклонения
- •Канал горизонтального отклонения
- •Канал управления яркостью
- •Калибраторы амплитуды и длительности
- •7.3.2. Многоканальные осциллографы
- •7.3.3. Многофункциональные осциллографы
- •7.3.4. Цифровые осциллографы
- •7.4. Скоростные и стробоскопические осциллографы
- •7.4.1. Скоростные осциллографы
- •7.4.2. Стробоскопические осциллографы
- •7.5. Запоминающие осциллографы
- •7.6. Осциллографические измерения
- •7.6.1. Визуальное наблюдение осциллограмм
- •7.6.2. Измерение напряжений
- •Измерение напряжений методом прямого преобразования
- •Измерение напряжений методом сравнения
- •7.6.3. Измерение интервалов времени
- •Измерение методом прямого преобразования
- •Измерение методом сравнения
- •7.6.4. Измерение частоты
- •Метод интерференционных фигур
- •Метод круговой развертки
- •7.6.5. Измерение фазового сдвига
- •7.6.6. Автоматизация осциллографических измерений
- •Автоматизация управления осциллографом
- •Автоматизация считывания осциллограмм
- •7.7. Измерение обобщенных параметров импульсов
- •7.7.1. Система обобщенных параметров импульсов
- •7.7.2. Интегральные измерители параметров импульсов
- •7.8. Анализ спектра сигналов
- •7.8.1. Общие сведения и классификация анализаторов спектра
- •7.8.2. Фильтровые анализаторы спектра
- •Анализаторы спектра параллельного действия
- •Анализаторы спектра последовательного действия
- •Комбинированные анализаторы спектра
- •Основные параметры анализаторов спектра
- •7.8.3. Дисперсионные анализаторы спектра
- •7.8.4. Рециркуляционные анализаторы спектра
- •7.8.5. Цифровые анализаторы спектра
- •7.9. Измерение параметров модуляции
- •7.9.1. Измерение коэффициента амплитудной модуляции
- •Измерение среднего значения кам
- •Измерение пиковых значений кам
- •7.9.2. Измерение девиации частоты
- •Измерение методом частотного детектирования
- •Измерение по «нулям» функции Бесселя
- •7.10. Измерение нелинейных искажений
- •Измерение кг спектральным методом
- •Измерение кг интегральным методом
- •8. Измерение характеристик случайных сигналов
- •8.1. Общие сведения
- •8.2. Измерение среднего значения, средней мощности и дисперсии
- •8.3. Анализ распределения вероятностей
- •Метод измерения по относительному времени пребывания
- •8.4. Измерение корреляционных функций
- •8.5. Спектральный анализ
- •9. Измерительные генераторы
- •9.1. Классификация измерительных генераторов
- •9.2. Обобщенная структурная схема и основные параметры измерительных генераторов
- •9.3. Генераторы гармонических сигналов
- •9.3.1. Низкочастотные генераторы
- •9.3.2. Высокочастотные генераторы
- •Иг радиовещательного диапазона
- •Иг метрового диапазона
- •9.3.3. Сверхвысокочастотные генераторы
- •9.3.4. Синтезаторы частоты
- •9.3.5. Генераторы качающейся частоты
- •9.4. Генераторы импульсов
- •9.4.1. Генераторы одинарных и парных импульсов
- •9.4.2. Генераторы кодовых комбинаций импульсов
- •9.5. Генераторы сигналов специальной формы
- •9.6. Генераторы шумовых сигналов
- •Аналоговые генераторы шума
- •Цифровые генераторы шума
7.4. Скоростные и стробоскопические осциллографы
Развитие техники СВЧ, микроэлектроники, вычислительной техники, оптических квантовых генераторов (ОКГ), ядерной физики и других областей науки и техники вызвало к жизни необходимость исследования формы колебаний СВЧ и импульсных сигналов нано- и пикосекундной длительности. Для этого необходимы осциллографы с очень широкой полосой пропускания и высокими скоростями разверток. В то же время полоса пропускания самого быстродействующего универсального осциллографа не превышает 500 МГц, а скорость развертки явно недостаточна. Отметим основные причины, ограничивающие технические возможности универсальных осциллографов в этом плане.
1. Влияние емкости и индуктивности вводов отклоняющих пластин ЭЛТ на форму фронта осциллограммы. Начинают влиять даже емкости в единицы пикофарад, а в сочетании со значительной индуктивностью вводов реальными становятся паразитные резонансы в такой цепи на частотах исследуемых сигналов.
2. Влияние конечного времени пролета электронов между отклоняющими пластинами ЭЛТ — типичная причина, ограничивающая диапазон рабочих частот всех электровакуумных приборов. Если время пролета становится соизмеримым с периодом повторения исследуемого сигнала, ЭЛТ уже нельзя считать безынерционным прибором. Если же оно равно или кратно периоду сигнала, то отклонение пятна вообще будет отсутствовать.
3.
Уменьшение яркости осциллограммы при
высоких скоростях перемещения луча по
экрану ЭЛТ. Например, если требуется
получить изображение импульса с
нс при ширине осциллограммы 100 мм,
скорость должна быть 20 000 км/с. В то же
время яркость осциллограммы должна
быть достаточной для фотографирования.
4. Практическая трудность создания УВО с очень широкой полосой пропускания (например, более 500 МГц) и высокоскоростных ГР.
Перечисленные недостатки универсальных осциллографов были преодолены только с появлением скоростных и стробоскопических осциллографов.
7.4.1. Скоростные осциллографы
Скоростные осциллографы обеспечивают исследование формы колебаний СВЧ и кратковременных импульсных сигналов с помощью специальной ЭЛТ — трубки бегущей волны (ТБВ). Она имеет отклоняющую систему в виде линии бегущей волны. Благодаря синхронизации фазовой скорости распространения электромагнитной волны, создаваемой в этой линии исследуемым сигналом, и скорости электронного луча исключается влияние времени пролета электронов и существенно повышается чувствительность ТБВ. Хотя во многих случаях она еще недостаточна (что послужило одной из основных причин разработки стробоскопических осциллографов), но позволяет исследовать форму сигналов в реальном масштабе времени (без временного или частотного преобразования). Кроме того, могут исследоваться однократные и редкоповторяющиеся сигналы, что делает скоростные осциллографы незаменимыми приборами при решении целого ряда измерительных задач.
Как видно из рис. 7.14, характерной особенностью скоростного осциллографа является отсутствие УВО. Исследуемый сигнал либо прямо, либо через ЛЗ подается на отклоняющую систему ТБВ. Таким образом, широкополосность и чувствительность канала вертикального отклонения полностью определяются параметрами ТБВ.
Отклонение луча по горизонтали осуществляется в ТБВ, как и в обычных ЭЛТ, с помощью пластин X. Поэтому канал X в целом аналогичен
Р
ис.
7.14. Структурная схема скоростного
осциллографа.
используемому в универсальном осциллографе, а получение требуемых характеристик развертывающего напряжения достигается схемными решениями. При этом в различных режимах работы осциллографа развертка либо должна быть очень быстрой (например, в режиме ждущей развертки), либо может быть сравнительно медленной (например, в режиме автоколебательной развертки при наблюдении нескольких периодов сигнала). Характерной особенностью канала X является возможность осуществления синхронизации и запуска развертки световыми сигналами (например, от ОКГ) с помощью оптического преобразователя, преобразующего эти сигналы в электрические. Кроме того, в скоростных осциллографах отсутствует усилитель Z. Поэтому подсвет прямого хода луча осуществляется с помощью специальной импульсной схемы подсвета.
Измерения в скоростных осциллографах проводятся с помощью калибратора длительности и формирователя растров. Если функции калибратора длительности нам уже известны, то назначение формирователя растров требует пояснений.
В связи с отсутствием УВО применение калибратора амплитуды становится невозможным. В то же время нелинейность канала Y вносит существенную погрешность в результаты измерения Ux. Для ее уменьшения формируют горизонтальный растр, создаваемый напряжением ступенчатой формы (например, 0, 2, 4, 6 В и т. д.) с погрешностью установки каждой «ступеньки» не более ±1 %. Для наблюдения линий растра на экране ТБВ выход формирователя соединяется со входом Y, а развертка синхронизируется схемой формирования «ступенек». Поскольку напряжение растра и исследуемый сигнал подаются на ТБВ поочередно, применение метода наиболее эффективно при регистрации растра и осциллограммы на фотопленку с последующим визуальным сравнением изображений или измерением их параметров с помощью специальных оптических устройств.
