- •Оптические методы анализа Лекция 1
- •1.В зависимости от типа взаимодействий света с веществом различают:
- •2.Атомно-абсорбционный анализ
- •3.Способы атомизации образцов в ааа
- •3.1. Атомизация в пламенах
- •4. Электротермические атомизаторы.
- •7. Атомизация
- •8. Метод холодного пара.
- •Оптические методы анализа Лекция 2
- •9. Гидридный метод
- •3.2. Подгруппа меди.
- •3.3. Be, Мg и щелочноземельные Me.
- •3.4. Подгруппа цинка.
- •3.5. Элементы III группы.
- •3.6. Элементы IV, V и VI групп.
- •3.7. Платиновые металлы.
- •Оптические методы анализа Лекция 3
- •4. Качественный анализ по электронным спектрам поглощения
- •Оптические методы анализа. Лекция 4.
- •1. Метод Комаря (Комарь н.П.)
- •2. Метод Юнгпена-Тонга и Кинга.
- •3. Метод Цилена и Конника
- •Оптические методы анализа Лекция 5
- •3. Аналитические характеристики фотометрического анлиза.
- •1.Правильность спектрофотометрических данных.
- •2 .Нижняя граница определяемых содержаний при фотометрических определениях.
- •4.Воспроизводимость фотометрических методов анализа.
- •Оптические методы анализа Лекция 6
- •2. Экстракционно-фотометрическй метод.
- •3. Спектр0ф0т0метрическ0е титрование
- •4. Фотометрические реакции
- •Оптические методы анализа Лекция 7
- •1. Атомно-эмиссионныи спектральный анализ.
- •3. Источники возбуждения спектров
- •4. Методы количественного анализа.
- •Оптические методы анализа Лекция 8
- •1. Люминесцентный анализ
- •4. Качественный анализ.
- •5. Количественный анализ.
- •Оптические методы анализа лекция 9
- •1. Рефрактометрический анализ
- •2. Поляриметрический анализ
- •3. Нефелометрия и турбидиметрия.
- •4 .Методы комбинационного рассеяния света
- •Оптические методы анализа лекция 10
- •1. Лазерная спектроскопия
- •3. Лидар на к р.
- •4. Лидар на дифференциальном поглощении рассеянного света.
- •Оптические методы анализа Лекция 11
- •1 .Холостой опыт
- •2. Способы обработки данных.
- •2.2. Наклонный линейный фон. Метод базисной линии.
- •2.5. Фон с выраженным максимумом и(или) минимумом. Метод двух длин волн.
- •2.6. Фон любой формы. Метод дифференцирования сигнала (метод измерения производной).
- •3. Методы, основанные на использовании эвм.
- •Оптические методы анализа лекция 12
- •1. Методы подготовки проб
- •1.1. Металлы
- •1.2. Минералы и родственные геохимические пробы.
- •1.3. Органические вещества
- •2. Сухое озоление
- •3. Мокрое озоление
- •5. Потери определяемых элементов и загрязнение раствора пробы.
- •5.1. Стабильность разбавленных растворов
- •6. Очистка посуды
- •Оптические методы анализа Лекция 13
- •1. Спектроскопические методы определения следов элементов
- •2. Ошибки при измерении сигналов
- •2.1. Систематические ошибки
- •2.2. Случайные ошибки
- •4. Полоса пропускания электрической схемы
- •5. Измерение шума.
- •I) Оптимизация отношения сигнал/шум.
- •2) Влияние случайного шума на воспроизводимость анализа.
- •3) Влияние отношения сигнал/шум на предельную обнаруживаемую концентрацию определяемого элемента в пробе.
3. Аналитические характеристики фотометрического анлиза.
В аналитической практике широко используют следующие метрологические и аналитические характеристики: правильность, воспроизводимость (сходимость), нижняя граница определяемых содержаний, коэффициент чувствительности, предел обнаружения или определения.
1.Правильность спектрофотометрических данных.
Правильность измерений отражает близость к нулю систематической погрешности и характеризуется разностью среднего результата серий измерений (Х) и истинного значения измеряемой величины. Правильность спектрофотометрических данных можно оценить по результатам исследования стандартных образцов (эталонов), свойства которых считаются известными. Спектрофотометрическое исследование дает два вида результатов, одни из которых выражены в единицах длины волны (частоты), а другие – оптической плотности (пропускания). В соответствии с этим в спектрофотометрии используют стандарты для проверки шкалы длин волн и шкалы оптических плотностей или пропусканий. Поверку шкалы длин волн спектрофотометра лучше всего производить по спектру излучения ртутной лампы. В этом спектре в области 220 – 1150 нм имеется ряд весьма узких пиков, положение которых известно с точностью до 0,01 нм. Для текущего контроля шкалы длин волн могут использоваться растворы или стеклянные фильтры с редкоземельными элементами, обладающие весьма узкими полосами поглощения. Поверка шкалы пропускания спектрофотометров по действующей на территории бывшего СССР системе стандартизации производится по наборам нейтральных светофильтров, аттестованных на образцовом приборе. Пропускание этих светофильтров мало зависит от длины волны и позволяет проверить линейность шкалы пропускания. За рубежом в качестве эталона оптической плотности используют чаще всего раствор 0,06006 г/л K2Cr2O7 в 0,005 М H2SO4. Оптическую плотность этого раствора неоднократно измеряли на приборах разных типов при длинах волн 235, 257, 313 и 350 нм, соответствующих максимумам и минимумам поглощения. Средние значения оптических плотностей составляют 0,7483, 0,8645, 0,2916 и 0,6403 соответственно. Наблюдаемые для разных приборов отклонения от этих величин не превышали 0,004 для 235 нм и 0,002 для прочих длин волн.
Длина волны |
235 |
257 |
313 |
350 |
Абсорбция |
0,7483 |
0,8644 |
0,2916 |
0,6403 |
Отклонения |
0,004 |
0,002 |
0,002 |
0,002 |
2 .Нижняя граница определяемых содержаний при фотометрических определениях.
Оценочные расчеты Смин можно провести на основе уравнения:
Смин = Амин/максlмакс
Если при спектрофотометрических измерениях принять Амин = 0,001, макс = 1*105, lмакс = 1 см,
то Смин = 1*10-8 моль/л.
При фотоколориметрических измерениях Амин = 0,02 и макс по меньшей мере в 2 раза ниже, поэтому при аналогичных условиях фотометрирования Смин приблизительно в 4 раза меньше. Увеличение толщины слоя до предельного значения (10 см) может позволить снизить Смин на порядок. Однако на практике работают с кюветами толщиной 1-2 см, коэффициеты экстинкции в большинстве случаев не превышают 5*104, кроме того, в ходе выполнения анализа добавляют реактивы, производят разбавление растворов, в результате чего минимальные определяемые концентрации следовых количеств элементов увеличиваются до значений примерно 5*10-7 моль/л при спектрофотометрических определениях и до 2,5.10-6 моль/л при фотоколориметрических. Для элемента с относительной атомной массой 100 минимальные концентрации составляют соответственно 0,05 и 0,3 мкг/мл. Если принять, что оптические плотности исследуемых растворов указанных концентраций измеряют в кювете толщиной 2 см, объем которой равен примерно 10 мл, то общее содержание элемента в этом объеме составит соответственно 0,5 и 3 мкг. Отсюда следует, что при навеске анализируемой пробы в 1 г обычный спектрофотометрический анализ позволяет определять минимальную массовую долю следов элементов на уровне 5.10-5 %, а фотоколориметрический - на уровне 3*10-4 %.
3. Определяемый минимум характеризует наименьшее массовое содержание (мкг) вещества, которое еще может быть количественно определено по данной методике. Он может быть рассчитан по формуле
m = CminV = 103 B V Amin/(l)
Здесь B - атомная масса определяемого элемента,
- число атомов определяемого элемента, содержащихся в молекуле светопоглощающего соединения,
V - значение конечного объема фотометрируемого раствора в мл
При теоретическом прогнозировании определяемого минимума необходимо учитывать также воспроизводимость результатов, влияние фона и погрешности измерения оптических плотностей. Для учета влияния фона и погрешности измерения А.Б.Бланк на основе метрологического обоснования предложил принять Amin = 5 SА (где SА - стандартное отклонение, соответствующее оптической плотности Амин).Тогда, полученные при этом условии выражения определяемого минимума примут следующий вид:
m = 5*103 B V SА/(l)
