- •Оптические методы анализа Лекция 1
- •1.В зависимости от типа взаимодействий света с веществом различают:
- •2.Атомно-абсорбционный анализ
- •3.Способы атомизации образцов в ааа
- •3.1. Атомизация в пламенах
- •4. Электротермические атомизаторы.
- •7. Атомизация
- •8. Метод холодного пара.
- •Оптические методы анализа Лекция 2
- •9. Гидридный метод
- •3.2. Подгруппа меди.
- •3.3. Be, Мg и щелочноземельные Me.
- •3.4. Подгруппа цинка.
- •3.5. Элементы III группы.
- •3.6. Элементы IV, V и VI групп.
- •3.7. Платиновые металлы.
- •Оптические методы анализа Лекция 3
- •4. Качественный анализ по электронным спектрам поглощения
- •Оптические методы анализа. Лекция 4.
- •1. Метод Комаря (Комарь н.П.)
- •2. Метод Юнгпена-Тонга и Кинга.
- •3. Метод Цилена и Конника
- •Оптические методы анализа Лекция 5
- •3. Аналитические характеристики фотометрического анлиза.
- •1.Правильность спектрофотометрических данных.
- •2 .Нижняя граница определяемых содержаний при фотометрических определениях.
- •4.Воспроизводимость фотометрических методов анализа.
- •Оптические методы анализа Лекция 6
- •2. Экстракционно-фотометрическй метод.
- •3. Спектр0ф0т0метрическ0е титрование
- •4. Фотометрические реакции
- •Оптические методы анализа Лекция 7
- •1. Атомно-эмиссионныи спектральный анализ.
- •3. Источники возбуждения спектров
- •4. Методы количественного анализа.
- •Оптические методы анализа Лекция 8
- •1. Люминесцентный анализ
- •4. Качественный анализ.
- •5. Количественный анализ.
- •Оптические методы анализа лекция 9
- •1. Рефрактометрический анализ
- •2. Поляриметрический анализ
- •3. Нефелометрия и турбидиметрия.
- •4 .Методы комбинационного рассеяния света
- •Оптические методы анализа лекция 10
- •1. Лазерная спектроскопия
- •3. Лидар на к р.
- •4. Лидар на дифференциальном поглощении рассеянного света.
- •Оптические методы анализа Лекция 11
- •1 .Холостой опыт
- •2. Способы обработки данных.
- •2.2. Наклонный линейный фон. Метод базисной линии.
- •2.5. Фон с выраженным максимумом и(или) минимумом. Метод двух длин волн.
- •2.6. Фон любой формы. Метод дифференцирования сигнала (метод измерения производной).
- •3. Методы, основанные на использовании эвм.
- •Оптические методы анализа лекция 12
- •1. Методы подготовки проб
- •1.1. Металлы
- •1.2. Минералы и родственные геохимические пробы.
- •1.3. Органические вещества
- •2. Сухое озоление
- •3. Мокрое озоление
- •5. Потери определяемых элементов и загрязнение раствора пробы.
- •5.1. Стабильность разбавленных растворов
- •6. Очистка посуды
- •Оптические методы анализа Лекция 13
- •1. Спектроскопические методы определения следов элементов
- •2. Ошибки при измерении сигналов
- •2.1. Систематические ошибки
- •2.2. Случайные ошибки
- •4. Полоса пропускания электрической схемы
- •5. Измерение шума.
- •I) Оптимизация отношения сигнал/шум.
- •2) Влияние случайного шума на воспроизводимость анализа.
- •3) Влияние отношения сигнал/шум на предельную обнаруживаемую концентрацию определяемого элемента в пробе.
4. Методы количественного анализа.
По способу оценки интенсивностей линий в спектре различают следующие методы. Визуальные способы регистрации спектров используют при стилоско-пизеских и стилометрических измерениях, главным образом для металлов. В первом случае производят визуальное сравнение интенсивности спектральных линий определяемого элемента и близлежащих линий из спектра основного компонента пробы. В силу особенностей глаза как приемника излучения с достаточной точностью можно только установить либо равенство интенсивностей соседних линий, либо выделить наиболее яркую линию из наблюдаемой группы. Спектральная чувствительность глаза максимальна для желто-зеленого света с длиной волны примерно 550 нм. Уже в соседних зеленой (510 нм) и оранжевой (620 нм) областях спектра чувствительность глаза примерно в 2 раза меньше, а в голубой (470 нм) и красной (720 нм) областях снижается примерно на порядок по сравнению с максимальной. В целом интервал исследуемых длин воин ограничен видимой областью спектра (410-750 нм). Стилометрический анализ отличается от стилоскопического наличием дополнительного устройства, позволяющего ослаблять до нужной величины более яркую линию аналитической пары. Это достигается применением клинообразных фильтров или поляризаторов. Кроме того, в стилометрах имеется возможность сближать в поле зрения сравниваемые линии. В большинстве случаев стилоскопические измерения носят только полуколичественный характер. Предел обнаружения элементов визуальным методом обычно хуже в 10-100 раз по сравнению с другими способами регистрации спектра. Сами по себе измерения достаточно утомительны и не документальны. Однако большие преимущества визуальных спсобов заключаются в их простоте, высокой производительности и низкой стоимости оборудования. Метод широко применяют для целей экспресс анализа в случаях, когда не требуется высокая точность результатов, например на складах и заготовительных пунктах при контроле и сортировке металлов из металлического лома. С помощью переносных приборов можно проводить анализ без пробоотбора, например контролировать готовую продукцию или уже вмонтированные изделия. Иногда полуколичественный анализ на стилоскопах выполняют в предварительном порядке, т.е. для обоснования выбора методики дальнейшего количественного анализа пробы.
Фотографический эмиссионный спектральный метод - метод измерения относительной интенсивности линий путем фотографирования спектров. На фотопластинке после проявления получают ряд линий, степень почернения которых измеряется при помощи микрофотометра. Последняя пропорциональна интенсивности излучения, значит и концентрации соответствующего элемента.
При фотографической регистрации связь между интенсивностью света I и почернением S выражается соотношением: S = lgI-j’, где j’ - постоянная.
При этом в качестве аналитического сигнала обычно принимают разность почернений линий определяемого элемента (S1) и внутреннего стандарта (S2). Для близко расположенных линий и в пределах прямолинейного участка характеристической кривой 1=2= и j’1=j’2. Тогда
S = S1-S2 = lg(I1/I2)
Полагая концентрацию элемента сравнения постоянной, основное градуировочное уравнение, применяемое в атомно-эмиссионном анализе можно записать в следующем виде:
S = . b1lgC1 + lgA
Метод трех эталонов. Для определения наиболее вероятного положения прямой (градуировочного графика) требуется не менее трех образцов (два для определения параметров прямой и один - для проверки гипотезы линейности). На этом основании простейший способ градуировки получил в атомно-эмиссионном анализе название метода трех эталонов". Непременными условиями градуировки по методу трех эталонов являются:
а) получение аналитических сигналов от образцов сравнения и анализируемых проб в одних и тех де условиях, т.е. выполнение градуировочной процедуры одновременно с выполнением рабочих измерений;
б) идентичность образцов сравнения анализируемым пробам по составу, структуре, размерам и другим характеристикам.
Выполнение этих условий позволяет учитывать влияние изменчивости условий анализа на ход градуировочного графика и компенсировать возможные влияния матрицы проб на аналитические сигналы.
Процедура построения графика проста. В спектрах образцов сравнения с концентрациями С1, С2, .... См измеряют разность почернений линий аналитической пары S1, S2, … Sm (или отношение интенсивностей при фотометрической регистрации спектров), по которым и строят прямую.
Метод постоянного графика.
При строгом постоянстве всех условий анализа параметры градуировочного графика, построенного в координатах lg(I1/I2) – lgC должны оставаться неизменными во времени. В такой ситуации целесообразно по возможности тщательно определить эти параметры и далее пользоваться полученным графиком в течение длительного времени. Особенно это выгодно при выполнении массовых анализов. В случае фотографической регистрации градуировочные графики претерпевают сдвиг из-за колебаний свойств фотоэмульсии от одной пластинки к другой и недостаточно точного воспроизведения условий проявления. Если при этом измеряемые почернения находятся в области прямолинейного участка характеристической кривой, то наиболее простым способом учета свойств фотоматериала может быть построение графика в координатах (S/) – lgC. Для этого необходимо знать фактор контрастности γ для каждой спектрограммы. С этой целью обычно спектры фотографируют через трехступенчатый ослабитель с известным пропусканием ступенек.
Фотоэлектрические способы регистрации спектров.
Сущность этих способов заключается в том, что световой поток нужной аналитической линии отделяют от остального спектра пробы с помощью монохроматора и преобразуют в электрический сигнал. Мерой интенсивности линии служит значение этого сигнала (сила тока или напряжение).
