- •Сборник методических указаний к лабораторным работам
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №1
- •«Методика приготовления
- •Металлографических шлифов»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Подготовка плоской и гладкой поверхности образцов
- •Шлифование
- •Вырезка и получение плоской поверхности образцов
- •Полирование
- •2.2 Особенности подготовки микрошлифов различных металлов и сплавов
- •2.3. Выявление микроструктуры. Травление
- •2.4. Хранение микрошлифов
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчёта
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •Методические указания к лабораторной работе №2 «изучение устройства металлографического микроскопа. Методика исследования микроструктуры»
- •1. Цель работы
- •2. Теоретические сведения
- •2.1. Формирование увеличенного изображения в микроскопе
- •2.2. Разрешающая способность и увеличение микроскопа
- •2.3. Аберрации оптической системы микроскопа
- •2.4. Объективы и окуляры
- •2.5. Основные системы и узлы микроскопа
- •2.6. Глубина резкости, яркость и контрастность изображения
- •Методы повышения оптического контраста
- •2.7. Практика работы с микроскопом вертикального типа (Выбор оптики, настройка микроскопа и методика исследования микроструктуры)
- •2.7.10. Очки при работе с микроскопом можно и нужно снимать –микроскоп по определению компенсирует индивидуальные недостатки глаз.
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы по теме
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №3
- •«Первичные и вторичные фазы
- •В двухкомпонентных сплавах»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Морфология кристаллов в чистых металлах и однофазных сплавах
- •2.2. Морфология первичных кристаллов в двухфазных сплавах
- •2.3. Морфология вторичных кристаллов в двухфазных сплавах
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №4
- •«Виды эвтектики
- •В двухкомпонентных сплавах»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Понятие об эвтектике и эвтектическом превращении в двухкомпонентных сплавах
- •2.2. Микроструктура двухкомпонентных сплавов с эвтектическим превращением
- •2.3. Механизмы эвтектического превращения и морфология различных видов эвтектики в двухкомпонентных сплавах
- •2.3.1. Эвтектика грубого конгломерата
- •2.3.2. Нормальная эвтектика
- •2.3.3. Анормальная (аномальная) эвтектика
- •2.3.4. Дисперсная эвтектика
- •2.3.5. Абнормальная эвтектика
- •2.3.6. Вырожденная эвтектика
- •2.3.7. Квазиэвтектика
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания к лабораторной работе №5
- •Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания к лабораторной работе №6
- •Методические указания
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Деформационное упрочнение металлов при холодной пластической деформации
- •2.2. Изменение микроструктуры металлов при холодной пластической деформации
- •2.3. Изменение свойств металлов при холодной пластической деформации
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •1. Бернштейн м.Л. Структура деформированных материалов. М.: Металлургия, 1977. - 432 с.
- •Методические указания
- •1. Цель работы:
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Изменение структуры холоднодеформированного металла при нагреве
- •2.1.1. Возврат
- •2.1.2. Рекристаллизация
- •2.2. Изменение свойств холоднодеформированного металла при нагреве
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •2.1. Виды неметаллических включений
- •2.1.1. Сульфиды
- •Методические указания к лабораторной работе №9 «Неметаллические включения в стали»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1.2. Оксиды.
- •2.1.3. Силикаты
- •2.1.4. Шпинели
- •2.1.5. Нитриды
- •2.1.6. Фосфор и фосфиды
- •2.2.Методы оценки неметаллических включений в стали
- •Их характеристики и свойства
- •Продолжение таблицы 2
- •2.3. Методика определения загрязненности стали неметаллическими включениями
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Указания по оформлению отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •13. Как фосфор влияет на свойства стали?
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •4. Лившиц б. Г. Металлография. -м.: Металлургия, 1990. -240 с.
- •Методические указания к лабораторной работе №10 «Дефекты микроструктуры металлов и сплавов»
- •2.1.1. Пограничные выделения цементита
- •2.1.2. Дендритная структура
- •2.2. Дефектные структуры, сформированные при термическом воздействии
- •2.2.1. Структура литой и перегретой стали (видманштеттова структура1)
- •2.2.2. Структура пережога
- •2.2.3. Обезуглероженный слой на поверхности изделия
- •2.3. Дефектные структуры, сформированные при механическом воздействии
- •2.3.1. Полосчатая структура
- •2.3.2. Строчечная структура (карбидная ликвация)
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •2. Материаловедение /б.Н. Арзамасов и др.-м.:Машиностроение, 1986.-384 с.
2.5. Основные системы и узлы микроскопа
Конструкции металлографических микроскопов весьма многообразны: существуют вертикальные (рис. 5), горизонтальные, бинокулярные и другие микроскопы. В конструкции любого металлографического микроскопа выделяют четыре основные системы.
1. Осветительная система имеет следующие основные элементы: источник света, линзы, диафрагмы и светофильтры.
В качестве источника света используют низковольтные электрические лампы накаливания, в современных микроскопах - галогенные или ксеноновые лампы. Для уменьшения рассеяния световых лучей и повышения четкости изображения применяют коллекторную линзу, светофильтры четырех цветов, укрепленные в диске и диафрагмы: апертурную и полевую. Апертурная диафрагма ограничивает пучок световых лучей, входящих в систему микроскопа. Полевая диафрагма ограничивает размер поля зрения.
2. Оптическая система. Включает объектив, окуляр, зеркала и призмы.
Объективы характеризуются увеличением, фокусным расстоянием, апертурой, которые указаны на корпусе, а также рабочим расстоянием между поверхностью объекта исследования и фронтальной линзой. В зависимости от среды между фронтальной линзой и объектом объективы делятся на сухие и иммерсионные. Последние должны работать с той иммерсионной средой, на которую они рассчитаны. В металлографии в качестве иммерсионных сред применяют глицерин, кедровое масло. Для уменьшения рассеяния света фронтальную линзу объектива часто покрывают просветленным слоем, при-
дающим поверхности линзы голубовато - фиолетовую окраску в отраженных лучах. Такие объективы следует особенно оберегать от механических повреждений, т.к. твердость слоя меньше, чем твердость стекла.
Окуляры увеличивают изображение, создаваемое объективом. Основной характеристикой окуляра является его увеличение, которое указывается на корпусе. Окуляры выбирают в зависимости от применяемого объектива.
Зеркала и призмы не дают рассеиваться световому потоку.
Выбор оптики для создания требуемого увеличения проводится по таблице увеличений.
Таблица увеличений микроскопа МИМ – 7
Объективы |
На матовом стекле |
Визуальное наблюдение |
|||||
Окуляры |
|||||||
×7 |
×10 |
×15 |
×7 |
×10 |
×15 |
×20 |
|
F=23,2 А=0,17 F=13,9 А=0,30 F=8,16 А=0,37 F=6,16 А=0,65 F=2,77 А=1,25 F=2,79 А=1,00* |
70 115 200 250 575 575 |
120 200 340 440 1000 1000 |
160 270 450 600 1350 1350 |
60 100 170 250 500 500 |
90 140 240 320 720 720 |
130 200 360 500 1080 1080 |
170 300 500 650 1440 1440 |
* объектив применяется только для темного поля.
Рис. 5 Ход лучей в микроскопе вертикального типа
3. Механическая система. В нее входят предметный столик, штатив, тубус, макро- и микровинты. Штатив микроскопа обеспечивает жесткость системы "объектив - предметный столик", плавность и стабильность фокусировки при наблюдении и фотографировании. Предметный столик перемещается в горизонтальной плоскости в двух взаимно перпендикулярных направлениях с помощью винтов. Величина перемещения отсчитывается по шкале. Столик может свободно перемещаться относительно вертикальной оси с помощью макро- и микровинтов. Для закрепления шлифов используются пружинные зажимы. К столику прилагаются металлические вкладыши с отверстиями различной величины.
4. Фотосистема. Для фиксирования микроструктуры большинство микроскопов оснащено фотокамерами; а там, где их нет,- применяют фотона-
садки. Фотокамера дает возможность получать снимки размером 13x18 и 9x12 см на фотопластинах, а фотонасадки - снимать структуру на фотопленку. В современных микроскопах применяются цифровые фотокамеры: микроструктуры рассматривают на мониторах с соответствующим разрешением, и печатают на соответствующих принтерах.
На рис. 5 представлен ход лучей в микроскопе вертикального типа.
Этот микроскоп применяется для массового контроля микроструктуры. Микроскоп позволяет изучать микроструктуру визуально при увеличении от 60х до 1440х и фотографировать при увеличении от 70х до 1350х.
Световые лучи от источника света 1 проходят через коллектор 2, отражаясь от зеркала 3, проходят через светофильтр 4 и апертурную диафраг-
му 5 (ограничивает световой пучок и уменьшает в нем долю рассеянного света, не участвующего в формировании изображения), линзу 6, поляризатор 21 (при исследованиях в поляризованном свете), фотозатвор 7, полевую диафрагму 8 (ограничивающую размер освещенного поля на объекте), пента- призму 9, рамку 10 с линзой 22 и попадают на полупрозрачную отражатель-
ную пластинку 11. От этой пластинки световые лучи направляются в объек-
тив 12 и на объект (микрошлиф) 18. Отражаясь от него, световые лучи, несу- щие изображение, попадают опять в объектив 12, проходят через полупроз- рачную пластину 11, анализатор 20 (при исследованиях в поляризованном свете), ахроматическую линзу 14 и зеркалом 18 направляются в окуляр 19 для визуального наблюдения. При фотографировании объекта тубус с окуляром и зеркалом 18 выводится из хода лучей, и изображение проходит через фотоокуляр 15, отражается зеркалом 16 и попадает на фотопластинку 17 (или на матовую пластинку).
