- •Сборник методических указаний к лабораторным работам
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №1
- •«Методика приготовления
- •Металлографических шлифов»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Подготовка плоской и гладкой поверхности образцов
- •Шлифование
- •Вырезка и получение плоской поверхности образцов
- •Полирование
- •2.2 Особенности подготовки микрошлифов различных металлов и сплавов
- •2.3. Выявление микроструктуры. Травление
- •2.4. Хранение микрошлифов
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчёта
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •Методические указания к лабораторной работе №2 «изучение устройства металлографического микроскопа. Методика исследования микроструктуры»
- •1. Цель работы
- •2. Теоретические сведения
- •2.1. Формирование увеличенного изображения в микроскопе
- •2.2. Разрешающая способность и увеличение микроскопа
- •2.3. Аберрации оптической системы микроскопа
- •2.4. Объективы и окуляры
- •2.5. Основные системы и узлы микроскопа
- •2.6. Глубина резкости, яркость и контрастность изображения
- •Методы повышения оптического контраста
- •2.7. Практика работы с микроскопом вертикального типа (Выбор оптики, настройка микроскопа и методика исследования микроструктуры)
- •2.7.10. Очки при работе с микроскопом можно и нужно снимать –микроскоп по определению компенсирует индивидуальные недостатки глаз.
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы по теме
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №3
- •«Первичные и вторичные фазы
- •В двухкомпонентных сплавах»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Морфология кристаллов в чистых металлах и однофазных сплавах
- •2.2. Морфология первичных кристаллов в двухфазных сплавах
- •2.3. Морфология вторичных кристаллов в двухфазных сплавах
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания
- •К лабораторной работе №4
- •«Виды эвтектики
- •В двухкомпонентных сплавах»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Понятие об эвтектике и эвтектическом превращении в двухкомпонентных сплавах
- •2.2. Микроструктура двухкомпонентных сплавов с эвтектическим превращением
- •2.3. Механизмы эвтектического превращения и морфология различных видов эвтектики в двухкомпонентных сплавах
- •2.3.1. Эвтектика грубого конгломерата
- •2.3.2. Нормальная эвтектика
- •2.3.3. Анормальная (аномальная) эвтектика
- •2.3.4. Дисперсная эвтектика
- •2.3.5. Абнормальная эвтектика
- •2.3.6. Вырожденная эвтектика
- •2.3.7. Квазиэвтектика
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания к лабораторной работе №5
- •Рекомендуемый библиографический список
- •Методические указания к лабораторной работе №6
- •Методические указания
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Деформационное упрочнение металлов при холодной пластической деформации
- •2.2. Изменение микроструктуры металлов при холодной пластической деформации
- •2.3. Изменение свойств металлов при холодной пластической деформации
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •1. Бернштейн м.Л. Структура деформированных материалов. М.: Металлургия, 1977. - 432 с.
- •Методические указания
- •1. Цель работы:
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1. Изменение структуры холоднодеформированного металла при нагреве
- •2.1.1. Возврат
- •2.1.2. Рекристаллизация
- •2.2. Изменение свойств холоднодеформированного металла при нагреве
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •2.1. Виды неметаллических включений
- •2.1.1. Сульфиды
- •Методические указания к лабораторной работе №9 «Неметаллические включения в стали»
- •1. Цель работы
- •2. Краткие теоретические сведения
- •2.1.2. Оксиды.
- •2.1.3. Силикаты
- •2.1.4. Шпинели
- •2.1.5. Нитриды
- •2.1.6. Фосфор и фосфиды
- •2.2.Методы оценки неметаллических включений в стали
- •Их характеристики и свойства
- •Продолжение таблицы 2
- •2.3. Методика определения загрязненности стали неметаллическими включениями
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Указания по оформлению отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •13. Как фосфор влияет на свойства стали?
- •7. Рекомендуемый библиографический список
- •4. Лившиц б. Г. Металлография. -м.: Металлургия, 1990. -240 с.
- •Методические указания к лабораторной работе №10 «Дефекты микроструктуры металлов и сплавов»
- •2.1.1. Пограничные выделения цементита
- •2.1.2. Дендритная структура
- •2.2. Дефектные структуры, сформированные при термическом воздействии
- •2.2.1. Структура литой и перегретой стали (видманштеттова структура1)
- •2.2.2. Структура пережога
- •2.2.3. Обезуглероженный слой на поверхности изделия
- •2.3. Дефектные структуры, сформированные при механическом воздействии
- •2.3.1. Полосчатая структура
- •2.3.2. Строчечная структура (карбидная ликвация)
- •3. Материалы, приборы, оборудование
- •4. Порядок выполнения работы
- •5. Содержание отчета
- •6. Контрольные вопросы
- •7. Рекомендуемый список литературы
- •2. Материаловедение /б.Н. Арзамасов и др.-м.:Машиностроение, 1986.-384 с.
2.2. Разрешающая способность и увеличение микроскопа
Для характеристики оптических приборов применяют понятие увеличение - отношение размеров изображения к размеру его источника. Общее увеличение микроскопа равно произведению увеличений объектива и окуляра (или гомали):
Nм = Nоб × Nок . (1)
Обычно объективы имеют увеличение от ×6 до ×100, а окуляры от ×7 до ×20. Поэтому общее увеличение микроскопа лежит в пределах от ×42 до ×2000. Технически возможно применять объективы и окуляры, которые дают общее увеличение значительно больше. Однако, это нецелесообразно. Большие увеличения не являются самоцелью. Назначение микроскопа состоит в том, чтобы обеспечить различение как можно более мелких элементов структуры, т.е. в максимальном использовании разрешающей способности оптической системы - способности различать две точки, находящиеся на минимальном расстоянии. Разрешающая способность обратно пропорциональна d (измеряется в точках на мм). В англоязычных странах используют единицы dpi (dots per inch - точек на дюйм). Разрешающая способность человеческого глаза равна 1/dгл ≈ 1/ 0,2 мм ≈ 5 мм-1.
Таким образом, цель использования микроскопа состоит в повышении разрешающей способности человеческого глаза за счет использования линз.
Разрешающая способность оптической системы имеет предел, обусловленный волновыми свойствами света.
При наблюдении объекта в излучении с длиной волны λ невозможно различить его элементы, разделенные расстоянием намного меньшим, чем λ. Изображение точки, создаваемое даже идеальной оптической системой, не вносящей никаких искажений, воспринимается глазом как светлое пятно вследствие дифракции света. Если две точки расположены близко друг от друга, их дифракционные картины накладываются, давая в плоскости изображения сложное распределение освещенности (рис.2).
Рис. 2. Распределение освещенности Е в изображении двух близких точек
Наименьшая относительная разница освещенностей, которая может быть замечена человеческим глазом, составляет около 4%. Этому соответствует наименьшее расстояние между точками, при котором их изображение можно различить, - предельное разрешение d пред. Предельное разрешаемое расстояние для светового микроскопа можно определить из известного условия дифракции:
d пред = λ / 2А, (2)
где λ - длина волны излучения. При освещенности полихроматическим излучением - λ -длина волны, интенсивность излучения на которой максимальна. В белом свете наибольшей интенсивностью характеризуются желто-зеленые цвета с длиной волны 550 нм; А - величина, называемая числовой апертурой объектива:
А = n · sin α /2, (3)
где n - показатель преломления среды между фронтальной линзой объектива и объектом исследования; α/2 - апертурный угол (половинный угол раскрытия пучка лучей, поступающих от объектива; иначе называемый отверстным углом). Величина угла раскрытия вследствие конструктивных особенностей объектива не может превышать 140°.
Из (2) видно, что разрешающая способность микроскопа тем лучше, чем больше числовая апертура А и меньше длина волны света. Возможность изменения длины волны видимого света весьма ограниченна (от 400 нм - для фиолетовых до 800 нм для красных волн), поэтому на разрешающую способ-
ность можно влиять, главным образом, через числовую апертуру А. Коэффи-
циент преломления n для воздуха равен 1 (рис.3, левая часть). Если между фронтальной линзой объектива и образцом ввести жидкую среду, называемую иммерсионной, с более высоким коэффициентом преломления лучей n =1,51, то разрешающая способность микроскопа улучшится (рис.3, правая часть). В этом случае максимальная числовая апертура составит: Аmax =1,51×sin 700 = 1,51×0,94 = 1,43, тогда как у обычных "сухих" объективов максимальная чис-
Рис. 3. Влияние иммерсионной среды на освещенность и разрешающую способность объектива
вая апертура А=0,9. Иммерсионные объективы имеют А>1, все остальные – А< 1. Зная максимальный угол раскрытия (140°) и среднюю длину лучей белого света (λ=0,589 нм), можно определить предельное разрешаемое расстояние для светового микроскопа dпред = 0,5 × 0,589 : 1,43 = 0,2 мкм.
Наилучшая разрешающая способность оптического микроскопа составит 1/ dпред ≈ 1/ 0,2 мкм ≈ 5000 мм-1.
«Диаметр» типичного металлического атома ≈ 0,2- 0,3 нм, т.е. более, чем в тысячу (!) раз меньше dпред светового микроскопа. Таким образом, если необходимо исследовать детали структуры размером < 0,2- 0,3 мкм, то это невозможно сделать с помощью световой микроскопии.
Существование предела разрешения у объектива позволяет ввести понятие предельного или полезного увеличения микроскопа. Полезное увеличение микроскопа Nполез - это такое увеличение, при котором может быть достигнут предел разрешения объектива. По определению:
Nполез = dглаз / dпред , (4)
где dглаз - предел разрешения глаза человека, равный примерно 0,2 мм.
Таким образом, подставив в (4) выражение (2) для dпред и заменив dглаз и λ соответствующими числовыми значениями (dглаз = 200 мкм, λmin = 0,400 мкм,
λmаx = 0,800 мкм при использовании белого света), получим: минимальное полезное увеличение Nполез=200 мкм : 0,5·0,800 мкм ·А = 500·А; максимальное
полезное увеличение Мполез = 200 мкм : 0,5 ·0,400 мкм ·А = 1000·А. Следова-
тельно, полезное увеличение микроскопа составляет:
Nполез = (500 ÷ 1000)A. (5)
Эта формула выведена Аббе1 и часто выражается в виде: 500A ≤Nполез ≤1000A.
Существование предела разрешающей способности влияет на выбор увеличения. Увеличения от 500×А до 1000×А называются полезными, т.к. при них глаз наблюдателя различает все элементы структуры объекта, разрешаемые микроскопом. Увеличение меньше 500×А не позволяет рассмотреть все требуемые детали объекта, так как предел разрешения глаза в этом случае меньше разрешения, обеспечиваемого микроскопом. Увеличение больше 1000×А является «бесполезным», поскольку не позволяет выявить новые детали в изображении объекта, так как разрешающая способность оптики использована полностью и лишь приводит к заметному искажению и размытию контуров деталей изображения, т.е. к ухудшению качества изображения вследствие дифракционных явлений. Из формулы (5) следует, что максимальное полезное увеличение микроскопа Nmaxполез = 1000Аmax, где Аmax - максимальная величина числовой апертуры объектива.
Разрешающая способность микроскопа зависит только от характеристик объектива и не зависит от характеристик окуляра. Но увеличение микроскопа Nм создается как объективом Nоб , так и окуляром Nок .
1 Эрнст Аббе (1840-1905). В 20 лет начал работу инженером в маленькой механической мастерской «Karl Zeiss, Jena» и быстро превратил ее в крупное предприятие. С 1865 г. и до конца жизни - ее владелец, «главный теоретик» и «главный конструктор» этой знаменитой и лучшей до середины XX века оптической фирмы; с 1870 г. профессор теоретической физики. В XXI веке эта фирма возвращает себе былую славу.
