Порядок выполнения работы

1. Получить у инженера эскиз заготовки, варианты расположения установочных пальцев, приспособление с комплектом установочных пальцев, заготовку и индикаторы.

2. Исследовать возможность установки заготовки в приспособлении по каждому варианту схемы базирования, указанному в п. 1. Для этого в заготовке имеются четыре базовых отверстия 1, 2, 3, 4 (рис.1.4).

Возможность установки заготовки по каждому варианту схемы (да, нет) фиксируется в графе 3 таблицы 1.

Рис. 1.4. Схема измерения смещения заготовки

3. Закрепить в стойках индикаторы и произвести измерения возможных смещений заготовки (в пределах зазоров между диаметрами отверстий в заготовке и диаметрами установочных пальцев) в вариантах схем, по которым заготовка устанавливалась в приспособление (п. 2.). Максимальные возможные смещения заготовки производятся в направлении размеров Х и Y, определяющих координаты отверстия 5 в заготовке, обрабатываемого при исследуемой схеме базирования (см. рис.1.4). Величины смещений определяют величину погрешности базирования ε_δx и ε_δy. Данные измерений поместить в таблицу.

4. Определить теоретически максимальную погрешность базирования в данном приспособлении для исследуемых вариантов схем. Для этого:

4.1. Замерить диаметры D базовых отверстий 1, 2, 3, 4, диаметры цилиндрических пальцев 2, 3, диаметр d_п и ширину ленточки b срезанного пальца 1 и в соответствии с заданными вариантами схем базирования определить зазоры в соединениях пальцев с отверстиями:

S_i = D_i – d_пj;

где i = 1, 2, 3, 4 – номера отверстий;

j = 1, 2, 3 – номера пальцев,

и зазор между срезанным пальцем и отверстием 1 в направлении меньшей оси срезанного пальца

S₁ = d_п  S₁ / b.

4.2. Определить погрешность базирования для размеров Х и Y. При установке на два цилиндрических пальца и при установке на цилиндрический и срезанный пальцы для размера, направленного вдоль большей оси срезанного пальца, она будет равна наименьшему из зазоров т. е.

_{x теор} = _{y теор} = S_{i min}.

При установке на цилиндрический и срезанный пальцы для размера, направленного вдоль меньшей оси срезанного пальца, погрешность базирования будет равна наименьшему из зазоров S_i и S₁.

4.3. Определить погрешность от возможного дополнительного углового смещения заготовки в приспособлении при неодинаковых зазорах в базовых отверстиях:

_{L теор} = arctg ((S_{i max} - S_{i min}) / L)

где L – межосевое расстояние между установочными пальцами.

4.4. Разложить _{L теор} вдоль размеров Х и Y.

Например:

_ℓх = _Lтеор  sinβ; _ℓу = _Lтеор  cosβ ,

где β – угол между горизонталью (вертикалью) и линией, соединяющей центры одного из базовых отверстий 1, 2, 3, 4 и отверстия 5 (рис.1.5).

Рис. 1.5. Геометрические параметры заготовки

4.5. Определить максимальную погрешность получения размеров Х и Y:

_{x max} = _{x теор} + _Lx;

_{y max} = _{y теор} + _Ly.

1.4.5. Сравнить величины, полученные в результате замеров погрешности базирования с рассчитанными значениями и с допусками на размеры Х и Y (см. таблицу).

На основании сравнения определить варианты расположения установочных пальцев с учетом их размеров и конфигурации, обеспечивающие наивысшую точность размеров при обработке отверстия 5 в заготовке.